RRC重建立比例高的優(yōu)化分析案例

1、FDD-LTE 網(wǎng)規(guī)網(wǎng)優(yōu) -LTE 網(wǎng)規(guī)網(wǎng)優(yōu) -XCKJ 小區(qū) RRC 重建立比例高的優(yōu)化分析案例網(wǎng)管版本設(shè)備軟件版本單板軟件版本瀏覽量33知識序號WHD21大幅超過了業(yè)務(wù)區(qū)的平均值 1% ，被列為 RRCFDD-LTE 網(wǎng)規(guī)網(wǎng)優(yōu) /FDD-LTE 無 產(chǎn)品線系統(tǒng) /FDD-LTE設(shè)備硬件版本單板硬件版本故障錯誤代碼作者 TianSenYa問題描述（故障現(xiàn)象）40.00%TOP 小區(qū)，影響用戶感知，急需解決。我們針對該問題進行了相關(guān)數(shù)據(jù)排查小區(qū) XCKJ 一周的 RRC 連接重建比例平均值為 重建比例較高組網(wǎng)環(huán)境問題原因分析首先我們來介紹一下，中國電信關(guān)于 RRC 重建立比例定義的公式：RRC

2、 重建立比例 =RRC 重建立請求次數(shù) /（RRC 重建立請求次數(shù) +RRC 連接建立請求次數(shù) ）從計算公式來看， 如果要降低 RRC 重建立比例， 最好的方法就是要降低 RRC 重建立請求次數(shù)。 通常 情況下，觸發(fā) RRC 重建立的原因有以下幾種情況：RLC 達到最大重傳次數(shù)，1） UE 檢測到無線鏈路失敗；這種失敗一般又分為兩種情況，一種情況是 另一種情況是上 / 下行失步，隨機接入失敗2 ）切換失敗，包括系統(tǒng)內(nèi)和系統(tǒng)外的切換；該類失敗是指如果網(wǎng)絡(luò)側(cè)發(fā)送給 UE 的 RRC 連接重配置 消息中包含 Mobility ControlInfo ，則執(zhí)行切換。若切換失敗， UE 會發(fā)起 RRC

3、重建立請求，并在重建立 原因封裝時攜帶 HO failure 。3）E-UTRA 側(cè)移動性失敗；4）底層制式完整性校驗失敗；該類失敗不常見，多為終端問題。原因是由于信令的完整性保護失敗 發(fā)生 RRC 重建立，例如： UE 和基站的機密算法或者完整性保護算法不一致。5）RRC 連接重配失敗。通過以上分析，我們從 OMC 后臺統(tǒng)計的失敗原因最多的就是：其它原因觸發(fā)的 RRC 重建立，根據(jù) 這個原因我們進行了相關(guān)的排查，結(jié)果如下：檢查無線參數(shù)鄰區(qū)參數(shù)中影響切換準備失敗的最需關(guān)注的幾個參數(shù)是 MCC （鄰接小區(qū)所在的移動國家碼）、 MNC （鄰接小區(qū)所在移動網(wǎng)絡(luò)碼）、 eNBID （鄰接小區(qū)所在 eN

4、odeB 標識）、 TAC （跟蹤區(qū)碼）、 PCI 、cell LocalId （小區(qū)標識）、頻段指示、上行鏈路的中心載頻 （MHz） 和下行鏈路的中心載頻 （MHz） 。進行切換 準備失敗問題分析時需重點關(guān)注切換問題小區(qū)的上述鄰區(qū)參數(shù)與鄰區(qū)所對應(yīng)小區(qū)的真實參數(shù)（MCC 、MNC、eNBID 、TAC 和 cellLocalId （小區(qū)標識）是否相符，如果不符，很容易導(dǎo)致切換準備失敗。經(jīng)過仔細檢查以上參數(shù)配置均正確，未發(fā)現(xiàn)異常問題。PCI 混淆和沖突經(jīng)過排查，發(fā)現(xiàn)幾組 PCI 復(fù)用距離過近的小區(qū)，特別是： XCKJ-181535 和 LXGC-180868 。如下 圖紫色區(qū)域所示：另外，從近一

5、周的切換統(tǒng)計來看，該小區(qū)主要存在越區(qū)覆蓋所致，詳見下圖：所以控制覆蓋是解決該問題的主要手段。覆蓋控制和鄰區(qū)關(guān)系梳理通過后臺網(wǎng)管導(dǎo)出鄰區(qū)關(guān)系切換列表進行查看， 發(fā)現(xiàn)切換關(guān)系較多的是同 0:460:11:181532:50 和 0:460:11:181532:48 等小區(qū)存在的問題。通過地圖查詢，我們發(fā)現(xiàn)同 XCKJ站點存在切換關(guān)系的小區(qū)距離都比較遠，而周邊的LXGC則更近。該問題應(yīng)該是越區(qū)覆蓋 +PCI混淆造成的。 下面我們就進行了覆蓋控制、 PCI修改和鄰區(qū)關(guān)系重新梳理等工作。 詳見下圖：THT1 11THeKXm.s?Xw *a s s a a a s a a a s a a s a a s

6、 a aM*H*H* ssX Ms譽L nss 50 一 Evnwi HDPmMIHIDss500astisdo%o?ZM 冶 saooioisatHwsa a Ss.nlles5d%o?5w 5 *s2COMSS4M.ENOfuMMfDCM2stt】 s2cdsfnNefutKMDCM322 気 2s2e6mt9sis&io? .35K sCOM0MQEN8FwomFOOH25wa 5RCOM8stMENeFIMMMfooB=-i2z - sconl0sENBrunaoaFDCMstt wss.ooaesuossdtoQUSW a ssojfsciQYZSW - 9snno$&io? IHn

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8、iCD21CD5WIW 2s3M KW sV*Fh 1 W 2IiI1ii1?mi?gI!1IIX yI?Mi!HiIII554U!561VlrAIrl排查結(jié)果：該小區(qū) RRC 重建比例較高的問題主要有幾點原因造成：、 小區(qū)存在越區(qū)覆蓋、 PCI 復(fù)用距離不足導(dǎo)致混淆、 大量的模三干擾問題解決方案覆蓋優(yōu)化：通過針對 XCKJ 小區(qū)天饋下傾角的 RF 調(diào)整以及 CP 參考信號功率的調(diào)整，使其覆蓋控制 在規(guī)劃范圍內(nèi)；PCI 優(yōu)化：由于存在 PCI 復(fù)用不足的問題，我們將 XCKJ 小區(qū)的 PCI 有優(yōu)化前的 144145146 更 改為 153 、154 、 155 ；和小區(qū) 181535XCKJ

9、 鄰區(qū)關(guān)系重新梳理；RRC 連接重建比例由優(yōu)化前的 40.00% ，700 左右，下降至優(yōu)化后的 60 次左右。詳鄰區(qū)優(yōu)化：小區(qū) 180868LXGC 、小區(qū) 181532HCCWJ2014 年 12 月 23 日進行了一系列的優(yōu)化調(diào)整，調(diào)整后 下降至優(yōu)化后的 6.38% ，RRC 重建請求次數(shù)由優(yōu)化前的每天 見下圖所示：總結(jié)及注意事項下面是我們針對本次優(yōu)化的總結(jié)，影響 RRC 連接重建比例高的問題原因如下：PCI 復(fù)用距離不足導(dǎo)致混淆或者沖突切換失敗，進而導(dǎo)致重建立； 鄰區(qū)錯配和漏配導(dǎo)致切換失敗，進而觸發(fā)重建立； 干擾導(dǎo)致切換失敗，進而觸發(fā)重建立； 參數(shù)配置錯誤導(dǎo)致切換失敗，進而觸發(fā)重建立； 總之，在 LTE 網(wǎng)絡(luò)中優(yōu)化 R