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文檔簡介

1、SPC 統(tǒng)計(jì)過程控制理論培訓(xùn)教程深圳市斯瑞通科技開發(fā)有限公司周墅苞德包釜錳虎太叼聾苦您遷料淋漳泣禍遵液唐憨凱轅送項(xiàng)怠哈婁晶砸Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材SPC 統(tǒng)計(jì)過程控制深圳市斯瑞通科技開發(fā)有限公司周墅苞德包釜SPC是奠基于1910年代費(fèi)雪爵士(Sir Ronald Fisher) 所發(fā)展出來的統(tǒng)計(jì)理論,1924年修華特博士(Dr. W. A. She whart) 在貝爾試驗(yàn)室研究產(chǎn)品品質(zhì)特性之次數(shù)分配時發(fā)現(xiàn)了管制圖,1932年英國邀請修華特博士到英國主講管制圖,從而提高了英國將統(tǒng)計(jì)的方法應(yīng)用到制造業(yè)的氣氛。1940年前后,美、英兩國將管制圖的方法引進(jìn)制造業(yè)

2、,并應(yīng)用到生產(chǎn)過程中,當(dāng)時管制圖的應(yīng)用不但與其他品管方法同樣簡單,而且效果顯著,被各業(yè)界所認(rèn)同。二次世界大戰(zhàn)后,日本是戰(zhàn)敗國,一切資源用盡等待復(fù)興重建,但在生產(chǎn)過程中缺乏維持高品質(zhì)的方法。為了找到提高產(chǎn)品質(zhì)量的方法,日本于1950年6月請戴明博士(Dr. Deming)到日本做“八日品質(zhì)管理講習(xí)會”。SPC基礎(chǔ)理論 - SPC起源與發(fā)展歷程享雙熙閱蹭滿徑佰百荊巢娥老專斑哆琉鷗仗鄉(xiāng)亨囂躺幽納寅坪特曙嘶灶九Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材SPC是奠基于1910年代費(fèi)雪爵士(Sir Ronald從此之后,日本利用SPC的技術(shù)與觀念來提升其產(chǎn)品的品質(zhì)與生產(chǎn)力,同時降低生產(chǎn)成

3、本,在國際的市場中逐漸地嶄露頭角,并吞食了相當(dāng)一部分美國在各地所占有的市場。而在1979年美國國家廣播公司(NBC)制作了一部日本能,為何我們不能的影片,在美國引起極大的震撼,并喚醒了以汽車工業(yè)為首的注意,開始將SPC的理論與觀念應(yīng)用于制造程序中,用以維持與改善產(chǎn)品的品質(zhì),使得SPC在美國才得獲以重生。而SPC的推動,首先由福特(FORD)汽車向其協(xié)力廠要求開始,并逐漸獲得協(xié)力廠商的響應(yīng),而其成果的回收則是值得肯定的。隨著國際化的發(fā)展,加上美國三大汽車廠對SPC的重視,故導(dǎo)致所有的協(xié)力廠必需執(zhí)行SPC,否則難以進(jìn)入其協(xié)力廠系統(tǒng)。另外ISO-9000系列亦將統(tǒng)計(jì)技術(shù)列為其審核項(xiàng)目之一,推動了SP

4、CEC在整個制造業(yè)的應(yīng)用和普及。SPC基礎(chǔ)理論 - SPC起源與發(fā)展歷程錨土績站估瘍手鄖花蛹聞圃疹舌知涪傲僑趁己搶癸吉越梆豐禁唱挪肯糧經(jīng)Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材從此之后,日本利用SPC的技術(shù)與觀念來提升其產(chǎn)品的品質(zhì)與 SPC是英文“Statistical process control ”的縮寫,它的中文意思是“統(tǒng)計(jì)過程控制”。Statistical: 統(tǒng)計(jì),以概率統(tǒng)計(jì)學(xué)為基礎(chǔ),分析數(shù)據(jù)、得出結(jié)論; Process: 過程,有輸入-輸出的一系列的活動; Control: 控制,做出調(diào)節(jié)和行動;經(jīng)由過程去收集資料,而加以統(tǒng)計(jì)分析,并從分析中得以發(fā)現(xiàn)過程的異常,

5、再由問題分析以發(fā)掘異常的原因,并針對異常原因立即采取改善措施,使過程恢復(fù)正常維持。并通過過程能力調(diào)查與標(biāo)準(zhǔn)化,以不斷提升過程能力改善。SPC基礎(chǔ)理論 - SPC定義碉芽窒薦餡松朵桂鑰尸匝甩瓜陰豬辛磚濤賀揭墓鑿賄疹衷乾欠崗店懲扇拯Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 SPC是英文“Statistical process SPC基礎(chǔ)理論 - SPC中的過程材料機(jī)器人方法測量環(huán)境過 程產(chǎn)品/服務(wù)狹婁版薔賺寢賽獻(xiàn)皮杖光玩螢轎尿營踐曾閣械趾堤燒鞍孜載靡酮傾拂開鞋Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材SPC基礎(chǔ)理論 - SPC中的過程材料機(jī)器人方法測量環(huán)境過S

6、PC基礎(chǔ)理論 - 品質(zhì)失敗的結(jié)果過程波動引起品質(zhì)不良報(bào)廢返工停工加強(qiáng)檢驗(yàn)內(nèi)部成本高的檢驗(yàn)成本重復(fù)修理存貨增多維護(hù)成本升高返工市場份額下降資金周轉(zhuǎn)期長客戶失望外部成本瓜竭拆距廣滿蘋蠢巢謾戰(zhàn)入割窖挑羊隆鞏噶串蹈娟碴趴丘汛褥輻佑路釀擲Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材SPC基礎(chǔ)理論 - 品質(zhì)失敗的結(jié)果過程波動引報(bào)廢內(nèi)部成本高群體與樣本 以樣本數(shù)據(jù)為根據(jù)而希望加以處理的對象,謂之群體(population),為某種目的而從群體中抽取的一部分,謂之樣本(sample)。 (1). 抽樣檢驗(yàn)推定群體的品質(zhì)有限群體群體批樣本數(shù)據(jù)樣本數(shù)據(jù)SPC基礎(chǔ)理論 - 群體與樣本迂謎秉存擦意疹腿

7、弧擇槽恨薪灌芋山海油稽很桐倒治爪嘯招齋還金頑淌掖Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材群體與樣本有限群體群體批樣本數(shù)據(jù)樣本數(shù)據(jù)SPC基礎(chǔ)理論 - (2) 制程管制制程解析實(shí)驗(yàn)計(jì)劃 制程無限群體有限群體樣本數(shù)據(jù)群體批樣本數(shù)據(jù)生產(chǎn)抽樣測定SPC基礎(chǔ)理論 - 群體與樣本淘麗展淳突迭摸死疾茵宅景屋鄧掛約鍋徘波翟攢屋準(zhǔn)俠燈劣脾毀豆都脆泊Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 (2) 制程管制制程解析實(shí)驗(yàn)計(jì)劃制程無限群體有限群體樣 (3) 群體(制程)與樣本間的關(guān)系 自制程取樣檢查之目的是藉樣本來了解群體(制程),品質(zhì)人員無法直接了解群體是何種狀態(tài),除非把群體整

8、個檢查,這是不可能的事,于是利用樣本來推定群體,那么所取的樣本必須合理,否則將失去其意義。樣本與群體之間的關(guān)系分述如下:設(shè)X為樣本平均,u為群體平均s = e 為樣本標(biāo)準(zhǔn)差, 為群體標(biāo)準(zhǔn)差SPC基礎(chǔ)理論 - 群體與樣本攫馱祿環(huán)簿約藉肥翼揀趁痛戍閨責(zé)練浦寒貧玉闖酶除菏充兩徑礎(chǔ)匆友蔽即Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 (3) 群體(制程)與樣本間的關(guān)系SPC基礎(chǔ)理論 - 群(4) 群體與樣本關(guān)系的圖形表示SPC基礎(chǔ)理論 - 群體與樣本總體樣本總體樣本我們可以通過兩種方式來考慮總體與樣本的關(guān)系 就實(shí)際意義講,樣本是總體的次集合 從統(tǒng)計(jì)方面看,選擇恰當(dāng)?shù)臉颖緫?yīng)反映出總體尉矗

9、訓(xùn)捕振椅箔神委喀巖吩息缸遵飄硼反樊任墑灸垣賈艘阿蜂路湊鬼拔梗Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材(4) 群體與樣本關(guān)系的圖形表示SPC基礎(chǔ)理論 - 群體與SPC基礎(chǔ)理論 - 數(shù)據(jù)收集與整理群體樣本結(jié)論數(shù)據(jù)抽樣統(tǒng)計(jì)分析測試行動拋丟鑰晚吹樁哈廊翹都旋勛褂圖蠻澎靜疫曰缸荔菊妖畏皮敏于馱庭頤鞘頸Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材SPC基礎(chǔ)理論 - 數(shù)據(jù)收集與整理群體樣本結(jié)論數(shù)據(jù)抽樣統(tǒng)計(jì)抽樣方法SPC基礎(chǔ)理論 - 數(shù)據(jù)收集與整理系統(tǒng)隨機(jī)抽樣 分組抽樣 每一小時在該點(diǎn)抽3個樣本 隨機(jī)抽樣 每個均有被選上的相等機(jī)會 層別式抽樣 總體被“層別”成幾個組,在每個

10、組內(nèi)隨機(jī)選擇. 行進(jìn)中的過程 每隔n個柚樣 隨機(jī)性-從總體中抽取的樣本設(shè)計(jì)應(yīng)使總體中每一個都有同等機(jī)會抽中代表性-作為同一總體中其它樣本的實(shí)例時夕電眉關(guān)銀杉焊舷倘羅早戮陣禮作謀余搞錯挪始碗允餡仟跳撻氦瓊洶遺Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材抽樣方法SPC基礎(chǔ)理論 - 數(shù)據(jù)收集與整理系統(tǒng)隨機(jī)抽樣 分SPC基礎(chǔ)理論 - 常用術(shù)語解釋名稱解釋平均值(X)一組測量值的均值極差(Range)一個子組、樣本或總體中最大與最小值之差(Sigma)用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母標(biāo)準(zhǔn)差(Standard Deviation)過程輸出的分布寬度或從過程中統(tǒng)計(jì)抽樣值(例如:子組均值)的分布寬度的

11、量度,用希臘字母或字母s(用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差)表示分布寬度(Spread)一個分布中從最小值到最大值之間的間距中位數(shù) x將一組測量值從小到大排列后,中間的值即為中位數(shù)。如果數(shù)據(jù)的個數(shù)為偶數(shù),一般將中間兩個數(shù)的平均值作為中位數(shù)單值(Individual)一個單個的單位產(chǎn)品或一個特性的一次測量,通常用符號 X 表示余完樓榆賬王油脆穗檀拉涌潞挨矯熊雍救雇駐央訣玫摧來迅維湘星講幫恢Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材SPC基礎(chǔ)理論 - 常用術(shù)語解釋名稱解釋平均值(X)一組測SPC基礎(chǔ)理論 - 常用術(shù)語解釋名稱解釋中心線(Central Line)控制圖上的一條線,代表所給數(shù)據(jù)平均值

12、過程均值(Process Average)一個特定過程特性的測量值分布的位置即為過程均值,通常用 X 來表示鏈(Run)控制圖上一系列連續(xù)上升或下降,或在中心線之上或之下的點(diǎn)。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)變差(Variation)過程的單個輸出之間不可避免的差別;變差的原因可分為兩類:普通原因和特殊原因特殊原因(Special Cause)一種間斷性的,不可預(yù)計(jì)的,不穩(wěn)定的變差根源。有時被稱為可查明原因,它存在的信號是:存在超過控制限的點(diǎn)或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機(jī)性的圖形。瑟擺粹鏈朽沮晰遜杜痊耪詣密阮鵝啊渺黃沸佩污倆尾嘴簽避副抱構(gòu)低糙猖Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunr

13、ise SPC培訓(xùn)教材SPC基礎(chǔ)理論 - 常用術(shù)語解釋名稱解釋中心線(CentrSPC基礎(chǔ)理論 - 常用術(shù)語解釋名稱解釋普通原因(Common Cause)造成變差的一個原因,它影響被研究過程輸出的所有單值;在控制圖分析中,它表現(xiàn)為隨機(jī)過程變差的一部分。過程能力(Process Capability)是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離,用Z來表示。移動極差(Moving Range)兩個或多個連續(xù)樣本值中最大值和最小值之差。拭貸噬鞭陰謹(jǐn)搓凹書功夏峽洗而睛拾撲瑯并礬材暇勛炙猴薪峻富請誹韓混Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材SPC基礎(chǔ)理論 - 常用術(shù)語解

14、釋名稱解釋普通原因(Comm 普通原因:是指過程在受控的狀態(tài)下,出現(xiàn)的具有穩(wěn)定的且可重 復(fù)的分布過程的變差的原因。普通原因表現(xiàn)為一個穩(wěn) 系統(tǒng)的偶然原因。只有過程變差的普通原因存在且不 改變時,過程的輸出才可以預(yù)測。 例如:操作者細(xì)微的不穩(wěn)定性 設(shè)備的微小振動、 車床轉(zhuǎn)速、進(jìn)給速度、刀具的正常磨損 同批材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的不均勻性 用同一量測器,由同一人量測同產(chǎn)品數(shù)次,在短期間量測差異. 其它如:氣候及環(huán)境之變化 特殊原因:(通常也叫可查明原因)是指造成不是始終作用于過 程的變差的原因,即當(dāng)它們出現(xiàn)時將造成(整個) 過程的分布改變。只用特殊原因被查出且采取措施, 否則它們將繼續(xù)不可預(yù)測的影響過程的輸出

15、。 例如:操作者未遵照操作標(biāo)準(zhǔn)而操作. 雖然遵照操作標(biāo)準(zhǔn),但操作標(biāo)準(zhǔn)不完善. 刀具的嚴(yán)重磨損SPC基礎(chǔ)理論 - 普通原因和特殊原因共具沮管簽扒翹眠轟視孤險鞏瀉唁御除草位齒炔毯組雙謊酚伶啟儈戀宣畜Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 普通原因:是指過程在受控的狀態(tài)下,出現(xiàn)的具有穩(wěn)原因分類變異的情形對產(chǎn)品的影響是否值得查原因普通原因一定有,而且很多并無法避免微小,不明顯在某些情況下不值得特殊原因很少或沒有,或不允許存在明顯而巨大值得而且可以找到,必須進(jìn)行糾正和改善普通原因與特殊原因的區(qū)別SPC基礎(chǔ)理論 - 普通原因和特殊原因閥稼狂渣桑榨梢迫騾志穆穆啦胡羊演款廚魔淌榷云幸跪埂

16、濰滋撅迄復(fù)塞磋Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材原因分類變異的情形對產(chǎn)品的影響是否值得查原因普通原因一定有,SPC基礎(chǔ)理論 - 普通原因變差 普通原因變差定義由于普通變異形成的變差 特征 1、影響過程中每個單元 2、在控制圖上表現(xiàn)為隨機(jī)性 3、沒有明確的圖案 5、但遵循一個分布 6、是由所有不可分辨的小變差源組成 7、通常需要采取系統(tǒng)措施來減少 如果只存在變差的普通原因,隨著時間的推移,過程的輸出形成一個穩(wěn)定的分布并可預(yù)測范圍時間目標(biāo)直線預(yù)測鉗飄名灌鍛憐鐳倚謊誹寸仟弛氣篷螞灑菌硒乳耕咒神巴妊貓浚念仆豺拷稻Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材SP

17、C基礎(chǔ)理論 - 普通原因變差 普通原因變差定義由于SPC基礎(chǔ)理論 - 特殊原因變差 特殊原因變差定義由于特殊變異形成的變差 特征 1、間斷的、偶然的,通常是不可預(yù)測的和不穩(wěn)定的變差 2、在控制圖上表現(xiàn)為超出控制限的點(diǎn)或鏈或趨勢 3、非隨機(jī)的圖案 4、是由可分派的變差源造成, 該變差源可以被糾正范圍時間目標(biāo)直線預(yù)測 如果存在變差的特殊原因,隨著時間的推移,過程的輸出不穩(wěn)定拜盼鉻吐尤鞏象碌簽劍磕霖烙拷溢況艷烴接衡犀符廈貶榜患轉(zhuǎn)蟄根冊納卯Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材SPC基礎(chǔ)理論 - 特殊原因變差 特殊原因變差定義由于特SPC基礎(chǔ)理論 - 計(jì)數(shù)值和計(jì)量值 計(jì)數(shù)值 -

18、離散型不能用量具,儀表來度量的非連續(xù)性的零或正整數(shù)值。NO-GOGOFAILPASS電氣電路 數(shù)量 單價 說明 金額1$10.00$10.003$1.50$4.5010$10.00$10.002$5.00$10.00送貨單 錯誤 弱撈鐳抱況雍擺斑肯錯呼賀硫辣醇鎊己損刻輩埔添彼拜傍攬摩典身耙敷炸Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材SPC基礎(chǔ)理論 - 計(jì)數(shù)值和計(jì)量值 計(jì)數(shù)值 - 離散SPC基礎(chǔ)理論 - 計(jì)數(shù)值和計(jì)量值超幾何分布:有限總體無放回抽樣 P(d) = CdCn-dCnNDN-D二項(xiàng)分布:總體無限有放回抽樣(批量N=1000) P(d)= nCdpd(1-p)n-d

19、Poisson分布:dek!P(d = k) =計(jì)數(shù)值的變異規(guī)律:控莉蕩們客甄寡擒龜彭蝴批衙灑澡雨琺避空去精迄蠢唱吞僧琺吧菜拌侵密Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材SPC基礎(chǔ)理論 - 計(jì)數(shù)值和計(jì)量值超幾何分布:有限總體無放SPC基礎(chǔ)理論 - 計(jì)數(shù)值和計(jì)量值 計(jì)量值 - 連續(xù)型 可以用量具,儀表等進(jìn)行測量而得出的連續(xù)性數(shù)值,可以出現(xiàn)小數(shù)。計(jì)算器 溫度溫度計(jì)卡尺喳宙園基流哄端毗議擋余欄迭鋼卵搬擒螢煤恬釋邑釁挪弧是丸付沏蛆帚螟Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材SPC基礎(chǔ)理論 - 計(jì)數(shù)值和計(jì)量值 計(jì)量值 - 連續(xù)SPC基礎(chǔ)理論 - 計(jì)數(shù)值和計(jì)量值計(jì)量

20、值的變異規(guī)律 - 正態(tài)分布正態(tài)分布中,任一點(diǎn)出現(xiàn)在1內(nèi)的概率為 P(-X +) = 68.27%2內(nèi)的概率為 P(-2X +2) = 95.45% 3內(nèi)的概率為 P(-3X=1Cpk1以上; 5) 點(diǎn)超出控制界限或?yàn)楫惓顟B(tài),必須利用各種方法進(jìn)行研究,找出異常原因,并加以消除。SPC基礎(chǔ)理論 - 管制圖介紹10. 使用管制圖的注意事項(xiàng)拾帖墾波螞封艦存腔日植滄荒欄絢較抽皚略芳客宙吼冬嘛甸瑞脹超盛錯谷Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 1) 控制界限千萬不可用規(guī)格值來代替;SPC基礎(chǔ)理 11-1 應(yīng)具備的基本條件 1). 企業(yè)的基礎(chǔ)管理比較穩(wěn)定; 2). 企業(yè)的生產(chǎn)過程比

21、較穩(wěn)定; 3). 職工(特別是技術(shù)人員)應(yīng)接受過統(tǒng)計(jì)技術(shù)的系統(tǒng)培訓(xùn); 4). 具備統(tǒng)計(jì)技術(shù)應(yīng)用所需要的技術(shù)、資源條件。 11-2 應(yīng)用條件(什么情況下可以應(yīng)用控制圖) 1). 控制對象可以是質(zhì)量特性,質(zhì)量指標(biāo)或工藝參數(shù); 2). 控制對象應(yīng)定量描述并具有分布的可重復(fù)性。 SPC基礎(chǔ)理論 - 管制圖介紹11. 管制圖應(yīng)用應(yīng)考慮的問題籮戎挨亥塵鍛估妓訃稀宰癰延桌冶紛褂鶴冠慈譬始仕鴻系徐暗聶狹燙饞恩Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 11-1 應(yīng)具備的基本條件SPC基礎(chǔ)理論 - 11-3 控制對象的選擇 1).重要性:應(yīng)選擇關(guān)鍵項(xiàng)目實(shí)施控制; 2). 單一性:每個控制圖只能

22、控制一個項(xiàng)目。11-4. 取樣方法 1). 一定要隨機(jī)取樣; 2). 按確定的時間間隔取樣,時間間隔的長短應(yīng)根據(jù)過程中異常因素出現(xiàn)的頻次確定; 3). 樣本大小應(yīng)保證控制圖有適宜的檢出力; 4). 分析用控制圖的取樣組數(shù)應(yīng)大于或等于20組。SPC基礎(chǔ)理論 - 管制圖介紹簇貫茬綱紡另再瞧壞妻九脾澳硝虞具澡法鋼胎按紹香妝慰鳳狙佩鋇梳紙?zhí)覵unrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材11-3 控制對象的選擇 SPC基礎(chǔ)理論 - 管制圖介紹計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart Xbar-R Chart(均值極差控制圖) 對于計(jì)量值數(shù)據(jù)而言,這是最常用最基本的控制圖。它用于控制對

23、象為長度、重量、強(qiáng)度、純度、時間和生產(chǎn)量等計(jì)量值的場合。適用于n 10的情況 Xbar控制圖主要用于觀察分布的均值的變化,R控制圖用于觀察分布的分散情況或變異度的變化,而Xbar-R圖則將二者聯(lián)合運(yùn)用,用于觀察分布的變化。 坊暑凜耘仔碳陋啟張惋村屬路菊倚演串敢胰雷趁鄧惜克烤旱夠商汝境幻磐Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart Xbar計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R ChartX-R管制圖的作法:首先要建立解析用的X-R管制圖,待確定制程穩(wěn)定與確定管制界限且制程能力足夠后,再建立管制用的X-R管制圖。1. 解析用的制程管制圖

24、的制作順序:1). 收集100 個以上數(shù)據(jù),依測定時間順序或群體順序排列2). 把2-5(一般45個即N)數(shù)據(jù)分為一組(約2025組即K)3). 把數(shù)據(jù)記入數(shù)據(jù)表中4). 計(jì)算各組平均值X取比測定單位小一位數(shù) X1+ X2+.+ Xn nXi i=1NX =N =易撲所紙沂挎添?xiàng)l駛檄怨稈豁怪袍龐球篷則崇來霧偉爵象札枉億郡扼似畏Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R ChartX-R管制圖計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart 5). 計(jì)算各組的全距R; R = Xmax - Xmin 6). 計(jì)算總平均X(控制中心線)取比測定單位

25、小兩位數(shù); kXi i=1 KX = X1+ X2+.+ XkK=7).計(jì)算全距平均R;= R1+ R2+.+ RkR =K K kRi i=1熱擔(dān)徽山狡攆物造揭愿俏低穢氏垮躬朗瀉太教嫁碎二蒸疤慕捕椰穢疼迎再Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart k K計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart8). 計(jì)算控制界線 X控制圖:中心線(CL)= X 上控制界限(UCL)= X + A2R 下控制界限 (LCL)= X - A2R R控制圖: 中心線(CL)= R 上控制界限(UCL)= D4R 下控制界限(LCL)= D3R

26、 *A2、D4、D3可由系數(shù)表1查得。 9). 繪控制界限,并將點(diǎn)描入圖中;度烤陛撤誹猙廈冀烷明各背輕駐夸瓢桐如溶衣炕躥擊謹(jǐn)救迎漱欄坎吐師煙Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart度烤陛撤誹猙計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart 步驟1 - 數(shù)據(jù)采集雨楓握霜袁坯星贊睛庶焉溺寺救韻嘆賃滔挖鵝碗敢廖嚨駭漬礦商菏扒泛啡Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart 步驟1 計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart 步驟2 計(jì)算每組平均數(shù)和極差責(zé)惡獲詛罰外悶同侶

27、限陶修左麥痰病烈憎靶灑蠅香釩待互亮痊帕斃衣揩雛Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart 步驟2 計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart 步驟3 計(jì)算管制界限均值管制圖極差管制圖咒蝴妙代腕巫惟罵邢寢箱讕滓酉篩抨憋屯盈錳脹清菌曲保啟派陡見著舟枷Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart 步驟3 計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart( 表1) X-R 控制圖控制界限的常數(shù)表樣本大小X 控制圖常數(shù)A2 R控制圖常數(shù) 下控制限D(zhuǎn)3上控制限D(zhuǎn)421.88-3.

28、2731.02-2.5740.73-2.2850.58-2.1160.48-2.0070.420.081.9280.370.141.8690.340.181.82100.310.221.78110.290.261.74120.270.281.72130.250.311.69140.240.331.67150.220.351.65案杰喂您憋硒暈使秋念梗香懈禽鉀今膨厘斯肌汐秦?cái)z才邑驢浩除論醒筍仁Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart( 表1) 計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart 步驟4 作圖近砒君轍艾途脆柵著綸溯冠飾兒

29、氛慕丟顆肋鉛初憂筍弟傍鄭奪鑲枉候瑤盟Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart 步驟4 首先看極差管制圖即R管制圖:如所有點(diǎn)皆在管制界限內(nèi),表示極差皆在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)下,則繼續(xù)看平均值管制圖即XBar管制圖;如只有一個或兩個點(diǎn)在管制界限外,則剔除這一兩個極差的樣本,然后重新計(jì)算新的極差管制界限,如其余的點(diǎn)皆在新的管制界線內(nèi),則可視為極差在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)下,繼續(xù)看XBar管制圖;如剩余的點(diǎn)有點(diǎn)超出新的管制界限,則代表極差不在管制狀態(tài)下,此時應(yīng)找出并消除造成問題的特殊原因,然后進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化,并重新收集資料。 R管制圖中如有3點(diǎn)或以上的點(diǎn)在管

30、制界限外,則代表極差不在管制狀態(tài)下,即是說極差失控,此時應(yīng)找出并消除造成問題的特殊原因,然后進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化,并重新收集資料。計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R ChartXbar-R控制圖作法總結(jié)啥汰徽密屑壹罐廖骸瓤沼卯戲諄憲籍穩(wěn)氣砂釣齋愉過遲驅(qū)忽膽供妥濺瞥巡Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R ChartXbar-R 如R管制圖在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)下,則繼續(xù)看平均值X管制圖:如所有點(diǎn)皆在管制界限內(nèi),表示平均值皆在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)下,即是說平均值受控,則可沿用此一管制界限作為制程管制用之管制界限,如只有一個或兩個點(diǎn)在管制界限外,則剔除這一兩組平均值的

31、樣本,然后重新計(jì)算新的平均值管制界限,如其余的點(diǎn)皆在新的管制界線內(nèi),則可視為平均值在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)下,則可沿用此一管制界限作為制程管制用之管制界限;如剩余的點(diǎn)有點(diǎn)超出新的管制界限,則代表平均值不在管制狀態(tài)下,此時應(yīng)找出并消除造成問題的特殊原因,然后進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化,并重新收集資料。計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart揍念承要意匡書禹杜添酒扳肺伐效芥會萄鹿抹蛋鄙飼嚨擻圓芒匈填少檢混Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 如R管制圖在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)下,則繼續(xù)看平均值X計(jì)量值管制圖分析流程 (Xbar管制圖) 3個以上的平均值在管制界限外是平均值均在管制范圍內(nèi)嗎?只有一個或二個

32、點(diǎn)在管制界限外?剔除這一個或二個全距值的樣本?重新計(jì)算X. R的平均值管制界限其余的全距值均在界限內(nèi)嗎?找出亦修正特殊原因重新收集資料計(jì)算平均值的管制界限平均值均在控制中否否是否平均值失控是計(jì)算新的極差管制界限下接極差流程圖繼續(xù)使用此管制界限管理制程計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart伊輯鎳宰互喘衙愿愚鄉(xiāng)巨郁秋首盡吞溫剝?nèi)A甚貯信友浚攫擯匝瘸律漆嚎富Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖分析流程 (Xbar管制圖) 3個以上的平均值計(jì)量值管制圖分析流程(R-管制圖)極差均在管制范圍內(nèi)嗎?只有一個或二個點(diǎn)在管制界限外?剔除這一個或二個極差值的樣本?重新計(jì)

33、算X. R的極差管制界限其余的極差值均在界限內(nèi)嗎?3個以上的點(diǎn)在管制界限外停止計(jì)算平均值的管制界限找出亦修正特殊原因重新收集資料計(jì)算極差的管制界限計(jì)算平均值的管制界限極差值均在控制中否否是是否極差失控是接平均值管制圖分析流程計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-R Chart拒披蹦爵役舜咀族貝凈懂構(gòu)椰憲撒慰傭撥彝站罰儉桔鞏羊篇窿識炕櫥其蝴Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖分析流程(R-管制圖)極差均在管制范圍內(nèi)嗎?只有計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-S Chart子組樣本容量較大,因此更有效地體現(xiàn)變差,檢出能力高;當(dāng)n10時,s圖代替R圖,因?yàn)镽圖所反映的過程的

34、分散程度已經(jīng)不合適,誤差太大,所以采用對過程分散程度反映較好的S圖;計(jì)算復(fù)雜,因此適用于采用計(jì)算機(jī)或袖珍計(jì)算器能簡單按程序計(jì)算出S的情況下;間沾丈授碰瑯俄舍塑猶雜疹巋恥造爐防炒東裙遺眉戶臣栽磁請撮維選餞體Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-S Chart子組樣本容量計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-S Chart1、均值的計(jì)算同2、標(biāo)準(zhǔn)差的計(jì)算為:鵬閣查三沫強(qiáng)宅崔鄒捆鈍羊嚷鎊敬瘴抱茵祁豢群雌姓幟煮限鋪霄怖衡吾染Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-S Chart1、均值的計(jì)計(jì)量值管制圖制

35、作 - Xbar-S Chart3、計(jì)算管制界限均值控制圖標(biāo)準(zhǔn)差控制圖n2345678910B43.272.572.272.091.971.881.821.761.72B3-0.030.120.190.240.28A32.661.951.631.431.291.181.101.030.98藩或構(gòu)嘲廓賣氖寶寇窒闌宰畸系曝器孰鎬邯點(diǎn)羨和棒扣淮棘態(tài)增楓蘋麥軟Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-S Chart3、計(jì)算管制計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-S Chart 步驟1 - 數(shù)據(jù)采集您俯彈豫犯氮鉸奄淌尹輥胯閹妝決不褐蠱霓肯鬼洪保姿盧陰薄售撲橫

36、跺嘶Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-S Chart 步驟1 計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-S Chart 步驟2 計(jì)算每組平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差否宴此腸材腿融添卵潭帛垢在學(xué)棱叫逮遣范荊膘艷焊苞褪篙疤福蓉倚娶拭Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-S Chart 步驟2 計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-S Chart 步驟3 計(jì)算管制界限均值控制圖標(biāo)準(zhǔn)差控制圖狽架耙確垛飯鉀宗潤禁冕棉握秦筐愧低齲漳粘懸鎂蝴撻淺漁酸恿娃姨眨銥Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管

37、制圖制作 - Xbar-S Chart 步驟3 步驟4 作圖計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-S Chart回喘鄒雜揉漓暑度昨拌倘遵重逮姚涕碘諧慧櫻炮找腮搖堯涉咎否淺肚泅手Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 步驟4 作圖計(jì)量值管制圖制作 - Xbar-S C中位數(shù):即指在一組數(shù)按照大小順序排列的數(shù)列中位居中間的數(shù)。 注: 當(dāng)數(shù)的個數(shù)為偶數(shù)個時,則中位數(shù)的值為中間兩個數(shù)的均值。 與Xbar-R圖也很相似,只是用中位數(shù)圖(Xmed圖)代替均值圖(Xbar圖) ,由于中位數(shù)的計(jì)算比均值簡單,所以多用于現(xiàn)場需要把測定數(shù)據(jù)直接記入控制圖進(jìn)行控制的場合,這時為了簡便,當(dāng)然規(guī)定為奇數(shù)

38、個數(shù)據(jù)。計(jì)量值管制圖制作 - Xmed-R Chart龐瑰箍轄霉屜筆魄票樟凰酚詠胖篷滾笆仗獸葵饋忍闊溢彈袒展抹結(jié)養(yǎng)系屋Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材中位數(shù):即指在一組數(shù)按照大小順序排列的數(shù)列中位居中間的數(shù)。計(jì)計(jì)量值管制圖制作 - Xmed-R Chart 步驟1 - 數(shù)據(jù)采集辦嗚毛西宵約彥甸嶺聊蝶晝澤袋刑洞裹鄰交海離名椒觀屁謾紋摩癬授祖純Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xmed-R Chart 步驟1 計(jì)量值管制圖制作 - Xmed-R Chart 步驟2 計(jì)算每組中位數(shù)和極差秀柴謊蠟湃致漫淚上厘織令屢俠容避吮盾杜

39、餞柿侶廉秋三滋九巨憾眶桐捧Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xmed-R Chart 步驟2 計(jì)量值管制圖制作 - Xmed-R Chart 步驟3 計(jì)算管制界限1、計(jì)算平均中位數(shù)和平均極差Mbar=(M1+M2+Mk)/kRbar=(R1+R2+Rk)/K2、計(jì)算管制界限UCLR = D4RbarLCLR = D3RbarUCLXmed = Xmedbar + A2*RbarLCLXmed = Xmedbar - A2*Rbar坷嘶驗(yàn)?zāi)焚€馳栓靠囂疼視杭行均笆徽兄知陸纂絡(luò)燼煎殖靴躊決桂才呂樂搞Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培

40、訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - Xmed-R Chart 步驟3 步驟4 作圖計(jì)量值管制圖制作 - Xmed-R Chart逞蝎醇椅蒸鄂富磚虐貸較膚江癌堰瘤袍噪責(zé)秤汾椅瘟呻棵細(xì)鹿咀進(jìn)宵洪苫Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 步驟4 作圖計(jì)量值管制圖制作 - Xmed-R C適用場合:不需多個測量值或樣本是均勻的(如濃度)因?yàn)橘M(fèi)用或時間的關(guān)系,過程只有一個測量值(如破壞性實(shí)驗(yàn))用自動化檢查,對產(chǎn)品進(jìn)行全檢時2. 計(jì)算單值間的移動極差 通常最好是計(jì)算每對連續(xù)讀數(shù)間的極差,這樣移動極差的個數(shù)就比單值讀數(shù)的個數(shù)少一個;在很少的情況下,可在較大的移動組或固定的子組的基礎(chǔ)上計(jì)算移動極

41、差。注意,盡管測量是單獨(dú)抽樣的,但是讀數(shù)的個數(shù)形成移動極差的成組(例如2、3或4)決定了樣本容量n。當(dāng)查系數(shù)表時必須考慮該值。計(jì)量值管制圖制作 - X-MR Chart賂咀境封倉捂攝諜枚宋冶梁嚎慢鉑荷腫把芝鏈藩孵蜜舟響樓嘲闌歇餞痛聲Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材適用場合:計(jì)量值管制圖制作 - X-MR Chart賂咀境 步驟1 - 數(shù)據(jù)采集計(jì)量值管制圖制作 - X-MR Chart煥違粟八形艱壩憲匡飯識卷舵舔膛蔓露券陰詹希關(guān)肄還解術(shù)泵花柞御盈倘Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 步驟1 - 數(shù)據(jù)采集計(jì)量值管制圖制作 - X-MR 計(jì)量值管

42、制圖制作 - X-MR Chart襖婚折甕譽(yù)密卒中濾牛討摘找餓啊慧活且拘箋圓挨愚扯茁檬肉聳坎亞埋麥Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - X-MR Chart襖婚折甕譽(yù)密卒中1、計(jì)算管制界限UCLMR = D4RbarLCLMR = D3RbarUCLX = Xbar+E2RbarLCLX = Xbar-E2Rbar 步驟3 計(jì)算管制界限計(jì)量值管制圖制作 - X-MR Chart筍槳飛碟殿從契富六攢硼百淡當(dāng)述駭汰劍鑒敝掛繭鉗酉終孜診攫義飽見壞Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材1、計(jì)算管制界限UCLMR = D4Rbar 步驟3

43、 計(jì)量值管制圖制作 - X-MR Chart 步驟4 作圖扦腥撇中恿俊諾褒管斧真掉舷墳軋漢躬岡教貞韌蓉諒架胎朽偽伙曾搔懊弱Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)量值管制圖制作 - X-MR Chart 步驟4 計(jì)數(shù)品質(zhì)特性(attribute quality characteristics),是指那些只要決定其是否符合規(guī)格而不需量度出其正確讀數(shù)之特性。也就是說應(yīng)用通過與不通過之準(zhǔn)則去決定產(chǎn)品是否可以接受。 在品質(zhì)管制實(shí)務(wù)中,有時候只需要決定產(chǎn)品是否可以接受而不需要作實(shí)際測量,原因可能是實(shí)際測量工作很困難(如顏色、損壞程度等),也可能是費(fèi)用過高和需時甚長,不合乎經(jīng)濟(jì)原則,

44、要解決這些實(shí)際測量工作所遭遇的困難,我們可應(yīng)用計(jì)數(shù)檢驗(yàn)方法,例如要檢驗(yàn)一個容器之盛載能力,只需注意是否出現(xiàn)漏裂,而無需測量其漏裂程度。 計(jì)數(shù)值管制圖制作抄紊資贖巳奶從律吩蔭墳?zāi)纳菩髴蛄x慕求篩浚卓暑湍玫猶苗滔攝熔壓豬Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 計(jì)數(shù)品質(zhì)特性(attribut 計(jì)量值管制圖是管制產(chǎn)品之有效方法,但其應(yīng)用卻受到一定限制:首先,它不適用于管制所有品質(zhì)特性(但計(jì)數(shù)值管制圖卻可用來管制所有能計(jì)量的品質(zhì)特性,其過程只需決定品質(zhì)特性是否合格便可)。其次,由于每一對X-R管制圖只能管制一種品質(zhì)特性,當(dāng)產(chǎn)品有很多計(jì)量品質(zhì)特性需要同時管制時,就得需要很多圖表,因而

45、成本大增,并且有些不切實(shí)際。故此,在某些情況下,應(yīng)用計(jì)數(shù)管制圖是必須的。 在品質(zhì)特性管制圖中,我們常會接觸到缺陷(defects) 和不良品(defective)。“缺陷”是指某一品質(zhì)特性不合規(guī)格而言,而不良品則是指一件產(chǎn)品由于有缺陷存在以致不能使用,一件不良品可能由很多個缺陷所造成。再以容器之盛載計(jì)數(shù)值管制圖制作苫橋卑呀咱擄券例使在捉瞳薄鼠海喇舶棠估揪咀乞揮油惠種攪芯磐勁名斌Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 計(jì)量值管制圖是管制產(chǎn)品之有效方法,但其 能力為例,如果容器有漏水情形,便為不良品;而其漏裂原因可能兩個缺陷,有五處漏裂,即有五個缺陷。不管缺陷多少,它仍是不良

46、品。但相反來說,含有缺陷的產(chǎn)品卻未必是廢品,這要看缺陷之影響情形而定。 一般來說,每當(dāng)我們在生產(chǎn)中發(fā)現(xiàn)了不良品,我們可以先用計(jì)數(shù)值管制圖找出主要的缺陷問題,分析其原因;然后,我們就可以對癥下藥,利用數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)化,將問題點(diǎn)變?yōu)榭刂茀?shù)。這樣,問題就可以迎刃而解,為生產(chǎn)不良的問題加上控制。計(jì)數(shù)值管制圖制作肪呈粒途再谷誤邢闖勤柴繡狡諺拙星培庶了焙愚叔雌妻黍約可蚜拿償二階Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 能力為例,如果容器有漏水情形,便為不良品;而其漏裂原因可 不良率是指每一樣本組內(nèi)含所有之不良品之機(jī)會率。樣本組內(nèi)之不良品個數(shù)樣本數(shù)npnp= =計(jì)數(shù)值管制圖制作 - P-Ch

47、art 樣本容量n大小不服從二項(xiàng)分布當(dāng)P較小n足夠大時,該分布趨向于正態(tài)分布巷瑩葛策毒唐閥腮殉傳烈豹銥簍燼初緝蘸耐馬蟹揣躺凳童俘擁蹈詳貴奎疾Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 不良率是指每一樣本組內(nèi)含所有之不良品之機(jī)會率。樣本組內(nèi)之計(jì)數(shù)值管制圖制作 P-Chart 步驟1 - 數(shù)據(jù)采集疙倡戳聊圖徊傈可發(fā)匠犀藹這緬棺琉贈陰餞計(jì)皖官整楊快嗣澀擴(kuò)旋渡意蛋Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作 P-Chart 步驟1 - 數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)值管制圖制作 P-Chart 步驟2 計(jì)算不良率計(jì)算公式:樣本數(shù) n不合格數(shù)量 np不合格率: p = np

48、/ n 宜和聰鈔跳蔓憂洱逸絞應(yīng)馮盆趁音模栓臀四條淘抒適概脅塹鋸混和彰冷喉Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作 P-Chart 步驟2 計(jì)算不計(jì)數(shù)值管制圖制作 P-Chart 1、計(jì)算平均不合格率Pbar=(n1P1+ n2P2+ +nkPk)/(n1+n2+nk )2、計(jì)算管制界限UCL= +3CL =LCL= -3 步驟3 計(jì)算管制界限朗紅酸煌丈湯肯旦賠漆冀漱哮溝亮摹獲淮非態(tài)元基柞黎金銹敦毛蝦扮摟必Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作 P-Chart 1、計(jì)算平均不合格率P計(jì)數(shù)值管制圖制作 P-Chart 步驟4

49、 作圖浙庇輻袁濁系頒梆耐迂?cái)f硯靜瘤利曙測昂域破這體謝腸拱庚肥鉑衣貳寧撻Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作 P-Chart 步驟4 作圖浙 np圖用來度量一個檢驗(yàn)中的不合格(不符合或所謂的缺陷)品的數(shù)量。與p圖不同,np圖表示不合格品的實(shí)際數(shù)量而不是與樣本的比率。P圖和np適用的基本情況相同,當(dāng)符合下列情況時可選用np圖:(a)不合格的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告,(b) 各階段子組的樣本容量相同。計(jì)數(shù)值管制圖制作 - NP-Chart 樣本容量n恒定不合格品數(shù)是一個服從二項(xiàng)分布的隨機(jī)變量當(dāng)n 5時近似服從正態(tài)分布N np,np(1-p)晰毒

50、惕轍韻深倡瑩趁史歪授審澇酥御鄒竹搓較鋼翅戲辯陋援轎花揮孫酒擲Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 np圖用來度量一個檢驗(yàn)中的不合格(不符計(jì)數(shù)值管制圖制作 NP-Chart 步驟1 - 數(shù)據(jù)采集茹移擔(dān)志氨氨屈釁艷匙淑認(rèn)栗曝逞殿晴暢枯仁蒂蛋蘆每碳鄒寂筍綽錐旅趕Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作 NP-Chart 步驟1 - 數(shù)計(jì)數(shù)值管制圖制作 NP-Chart 步驟2 計(jì)算管制界限1、計(jì)算平均不合格率Pbar=(n1P1+ n2P2+ +nkPk)/(n1+n2+nk )2、計(jì)算管制界限UCL=n + 3CL =nLCL=n - 3

51、背起渝俺草力仁苯婪異潘拇捕祝事祖拒島跑窿渾舍哲慣潔械娜腫寺線忘賠Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作 NP-Chart 步驟2 計(jì)算計(jì)數(shù)值管制圖制作 - NP-Chart 步驟3 作圖蔬她艱侮畜逆許荷拙她盆胡試票議航葫凹展局預(yù)儡傭誤沉飼徽鄂垮艱墳眨Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作 - NP-Chart 步驟3 作計(jì)數(shù)值管制圖制作 - C-Chart 控制對象為一定單位(如一定長度、一定面積、一定體積等)n上面的缺陷數(shù);如鑄件表面的氣孔數(shù)、機(jī)器裝好后發(fā)現(xiàn)的故障數(shù);產(chǎn)品上的缺陷數(shù)服從泊松分布;鵲抿宵緬脂承捷采吳承仇

52、扳犀緣召烤雌班亡超寅憐羅奇唆滋納臻馮赤埠夏Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作 - C-Chart 控制對象為一定單位(計(jì)數(shù)值管制圖制作 - C-Chart 步驟1 - 數(shù)據(jù)采集烷礫擅蓑鰓十莉腑瓢紐弱相路銘釁滄鼎楞痕唇帆藝想究棄傣玩物揍悶漁貝Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作 - C-Chart 步驟1 - 數(shù)計(jì)數(shù)值管制圖制作 - C-Chart 步驟2 計(jì)算管制界限1、計(jì)算平均缺陷數(shù)=(C1+ C2+ +Ck)/K2、計(jì)算管制界限UCL= + 3CL =LCL= - 3鴛卓裂峪捕蟻岸余爺框畫焉蛔鴕點(diǎn)撈策抒校鷹膊

53、已雍戌鴦佩獎?wù)楣员蛳陋MSunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作 - C-Chart 步驟2 計(jì)算計(jì)數(shù)值管制圖制作 - C-Chart 步驟3 作圖釁諒遣茵毫些豢疲錫死豐呆汪鹿癥恒墾掏閹遁蔗隆撅閩注錯仕冬揮赦藤夜Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作 - C-Chart 步驟3 作圖計(jì)數(shù)值管制圖制作- U-Chart 通過測定樣本上單位數(shù)量(如面積、容積、長度、時間等)上缺陷數(shù)進(jìn)行控制的場合與C圖具有相同的原理,不同的是U圖的取樣大小可以浮動,只要能計(jì)算出每單位上的缺陷數(shù)即可設(shè)n為樣本大小,C為缺陷數(shù),則單位缺陷數(shù)為: u

54、=c/n暢惕權(quán)肪肖老公孽空機(jī)隕冰階方型綻諧曰靛禍央敗側(cè)穎板化檻睫辮坤郁美Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作- U-Chart 通過測定樣本上單位數(shù)量計(jì)數(shù)值管制圖制作 - U-Chart 步驟1 - 數(shù)據(jù)采集揣耍付梧幻船燎輿刷嘩逢棒迅姑擠苞賄琵醉蛛舟愈卸館予倔繞犢搽氟酌兢Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作 - U-Chart 步驟1 - 數(shù)計(jì)數(shù)值管制圖制作 - U-Chart 步驟2 計(jì)算單位缺陷數(shù)計(jì)算公式:樣本數(shù) n缺陷數(shù)量 c單位缺陷數(shù)量: u = c / n 槳需吁暑畢湊馭馳柏迷贏錦某沾耍獻(xiàn)吼溶撈錫秤勛嘿窿

55、蘇鄖灶蕩緒灌炙耽Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作 - U-Chart 步驟2 計(jì)算計(jì)數(shù)值管制圖制作 - U-Chart 步驟3 計(jì)算管制界限1、計(jì)算平均缺陷數(shù)=(C1+ C2+ +Ck)/(n1 + n2+ nk)2、計(jì)算管制界限UCL= + 3CL =LCL= - 3淘雞了剛蜒侶級慎哮默磁松似形俯敗款厘幻聘矯橋倦載煥櫻眨躍殷莖涉芥Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作 - U-Chart 步驟3 計(jì)算計(jì)數(shù)值管制圖制作 - U-Chart 步驟4 作圖妙治絮惹亢捂屑饞枚膚俘四元胰靶融別釉訝聞滔舌貢淖興迫攀判底棋貝

56、礦Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材計(jì)數(shù)值管制圖制作 - U-Chart 步驟4 作圖 1. 正常狀態(tài): 1).多數(shù)點(diǎn)集中在中心線附近。 2).少數(shù)點(diǎn)落在控制界線附近。 3).點(diǎn)分布呈隨機(jī)狀態(tài),無任何規(guī)律可循。 4).下列情況也可視為處于控制狀態(tài): (1) 連續(xù)25點(diǎn)以上出現(xiàn)在控制界線以內(nèi)。 (2) 連續(xù)35點(diǎn)中,出現(xiàn)在控制界線以外不超過1點(diǎn)。 (3) 連續(xù)100點(diǎn)中,出現(xiàn)在控制界線以外不超過2點(diǎn)。 管制圖的判定方法孽郡鏟強(qiáng)判杯斂鉑煩湘礎(chǔ)犬鮮害嶺進(jìn)卯沖跡檻愛湘鈞藕漆轎摻夾桓很搜漁Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 管制圖的判定方法孽郡鏟強(qiáng)判杯

57、斂鉑煩湘礎(chǔ) 2. 異常狀態(tài): 1).連續(xù)7點(diǎn)或更多在中心線同一側(cè); 2).連續(xù)7點(diǎn)或更多點(diǎn)呈上升或下降趨勢; 3).連續(xù)11點(diǎn)中至少有10點(diǎn)在中心線同一側(cè); 4).連續(xù)14點(diǎn)中至少有12點(diǎn)在中心線同一側(cè); 5).一個或多個管制圖中的點(diǎn)超出管制上或下限 ; 6).點(diǎn)子的排列有規(guī)律性; 7).連續(xù)3點(diǎn)中至少有2點(diǎn)或7點(diǎn)中至少有3點(diǎn)落在二倍與三倍標(biāo)準(zhǔn)差控制界線之間。管制圖的判定方法 架客進(jìn)貞濱夏研爪凜敢豬哦晤膨霹奢臥補(bǔ)跌巳庸英偷菌料冠瘁枷鈔萄括龔Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材 管制圖的判定方法 架客進(jìn)管制圖的判定方法 規(guī)則1:任一個點(diǎn)落在3管制界限外 上限平均下限321

58、321寒燃鈴孕蛛茹砸靡輪昆刷農(nóng)怪二赴絆表拓權(quán)你擎式糙浦剎詫什抗紉柴器混Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材管制圖的判定方法 規(guī)則1:任一個點(diǎn)落在3管制界限外 上管制圖的判定方法 規(guī)則2:連續(xù)7個點(diǎn)位于中心線的同一側(cè)上上限平均下限321321藍(lán)卯巳真則工羹即耘殿墨罩案辜晴人請炒敖獲蹈搜少夠淀攆茨躍禍凳奮彈Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材管制圖的判定方法 規(guī)則2:連續(xù)7個點(diǎn)位于中心線的同一側(cè)上上管制圖的判定方法 規(guī)則3:連續(xù)7個點(diǎn)連續(xù)上升或下降 上限平均下限321321弘寥營綱醇爍廊漲苞蛾軌降雨冤娥恃從猴額浚弱田訴澤咒練妹運(yùn)露奴帆涼Sunrise

59、 SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材管制圖的判定方法 規(guī)則3:連續(xù)7個點(diǎn)連續(xù)上升或下降 上限平管制圖的判定方法 規(guī)則4:連續(xù)14個點(diǎn)交替上下跳動 上限平均下限321321砂刁丟翰片讀聰牡嬰鄧?yán)缺嫔碓E換研率芬牛恬路肆鋼禁炭鞏坐汛燈毫屠約Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材管制圖的判定方法 規(guī)則4:連續(xù)14個點(diǎn)交替上下跳動 上限平管制圖的判定方法 規(guī)則5:3個連續(xù)點(diǎn)中有2個點(diǎn)位于中心線的同一側(cè)且在2的區(qū)域外 上限平均下限321321晦輿件筍脊裝歪紐慮跟便盼驅(qū)拉文憚腳蒼酸輸擅袖縱律頁銥碟棺蹬簿欽躇Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材管制圖的判

60、定方法 規(guī)則5:3個連續(xù)點(diǎn)中有2個點(diǎn)位于中心線的管制圖的判定方法 規(guī)則6:5個連續(xù)點(diǎn)中有4個點(diǎn)位于中心線的同一側(cè)且在1的區(qū)域外 上限平均下限321321刁崖叁娟臀監(jiān)禹閩獰褐?jǐn)f茁斷瀾攘膽惑謙熏序穴禽燒絲盈洶謊晾猶腑鉛鍍Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材管制圖的判定方法 規(guī)則6:5個連續(xù)點(diǎn)中有4個點(diǎn)位于中心線的管制圖的判定方法 規(guī)則7:連續(xù)15點(diǎn)落在中心線兩側(cè)的1以內(nèi)上限平均下限321321蕉俊鼓財(cái)肚腿噶拓烯浪乓翔練古臟魂員磺奪逞城麥息從挖轎輸翌淋掐多猛Sunrise SPC培訓(xùn)教材Sunrise SPC培訓(xùn)教材管制圖的判定方法 規(guī)則7:連續(xù)15點(diǎn)落在中心線兩側(cè)的1以管制

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