射線照相質(zhì)量課件

1、射線檢測第5章 射線照相的質(zhì)量 5.1 射線照相靈敏度的影響因素5.1.1 靈敏度5.1.2 絕對靈敏度5.1.3 相對靈敏度5.1.4 像質(zhì)計(jì)靈敏度5.1.5 影響射線照相靈敏度的三大要素5.2.1 射線照相對比度5.2.2 射線照相清晰度5.2.3 射線照相顆粒度5.3 射線照相質(zhì)量及其判定標(biāo)準(zhǔn)5.1 射線照相靈敏度的影響因素 1：靈敏度定義； 是指射線照相底片上能夠發(fā)現(xiàn)沿射線穿透方向的最小缺陷或最小細(xì)節(jié)的能力，稱為靈敏度。 2：絕對靈敏度概念；(JB4730-2005采用的是絕對靈敏度表示方法) 絕對靈敏度:是指射線底片上能夠發(fā)現(xiàn)沿射線穿透方向上最小缺陷實(shí)際尺寸；絕對靈敏度法:是用底片上

2、可識別的最小金屬絲編號來表示靈敏度。 4：像質(zhì)計(jì)靈敏度 為便于定量評價射線照相靈敏度，常用與被檢工件或焊縫的厚度有一定百分比關(guān)系的人工結(jié)構(gòu)，如金屬絲直徑、或孔徑、或槽深 等組成所謂透度計(jì)，又稱為像質(zhì)計(jì)， 像質(zhì)計(jì)作為底片影像質(zhì)量的監(jiān)測工具，由此得到靈敏度稱為像質(zhì)計(jì)靈敏度。5.1.5 影響射線照相靈敏度的三大要素射線照相對比度（缺陷影像與其周圍背景的黑度差）；射線照相不清晰度（影像輪廓邊緣黑度過渡區(qū)的寬度）；射線照相顆粒度（影像黑度的不均勻程度）射線照相靈敏度是這三種因素的綜合結(jié)果。 圖5-1 射線照相影像對比度、不清晰度和顆粒度的概念示意（以小厚度差為T的階邊影像為例） 5.2 射線照相對比度

3、5.2.1 射線照相對比度D 是指射線照相底片上相鄰兩區(qū)域的黑度差D。稱為射線照相對比度（或射線照相襯度）。 射線照相對比度一般情況，對比度越高，缺陷影像越容易識別。因此，為檢出較小缺陷，獲得較高的靈敏度，必須設(shè)法提高底片對比度。 5.2.3 射線照相清晰度 射線照相清晰度是指射線底片上影像邊緣輪廓的清晰程度。（清晰度常用不清晰度表示） 當(dāng)一束射線穿過厚度不均勻的試件而在底片上形成影像時，厚度變化處的黑度不是突變的，而是存在一個黑度過渡區(qū)，因而影像輪廓不很鮮明，存在一定程度的模糊，這種情況稱作“不清晰度”。 不清晰度由兩個因素構(gòu)成，即幾何不清晰度和固有不清晰度。 階邊影像的射線照相不清晰度圖3

4、-3 階邊影像的射線照相不清晰度幾何不清晰度Ug公式：幾何不清晰度大小取決于：射源尺寸df、焦距F缺陷至膠片距離b。 焦點(diǎn)尺寸越小、焦距越大、缺陷至膠片距離越小，幾何不清晰度越小。若以L1表示源到 缺陷距離 ，L2表 示缺陷到膠片距離， 幾不清晰度也可表 示為： Ug= dfL2/L1例題：用焦點(diǎn)3mm的X射線機(jī)透照厚度為30 mm的平板對接焊縫，焦距600mm , 求幾何不清晰度。 解：已知 d=3mm,b=30mm,F=600mm 代入公式：b.固有不清晰度Ui 固有不清晰度是由于照射到膠片上的射線在乳劑層中激發(fā)出的電子的散射所產(chǎn)生的。 當(dāng)光子穿過乳劑層時，會在乳劑中激發(fā)出電子，由于電子的

5、作用，會使鹵化銀顆粒感光，形成潛影。膠片顯影后，使影像邊界輪廓模糊。 固有不清晰度的大小主要取決于射線的能量，能量越大，固有不清晰度就越大。c.散射線的影響 來自工件中的散射線（即“前散射”）使工件中的結(jié)構(gòu)和缺陷以及工件輪廓影像模糊； 來自側(cè)面的散射線（即“側(cè)散射”）使工件輪廓影像發(fā)生“邊蝕”而模糊不清； 來自膠片后面的散射線（即“背散射”）使整個底片影像模糊不清。 幾何不清晰度Ug 公式 Ug = dfL2L1 射線照相幾何不清晰度 b：缺陷到膠片距離；L2：工件表面到膠片距離；L1：射源到工件表面距離；固有不清晰度的影響因素射線的能量（MeV或管電壓）對Ui的影響300KV： Ui=0.1

6、2 mm；Ir192：Ui=0.17 mm；CO60：Ui=0.35 mm；2MV：Ui=0.32 mm；8MV：Ui=0.60 mm；射線的能量 Ui 屏一片貼緊程度對Ui的影響 5.2.3 射線照相顆粒度 顆粒度： 顆粒性是指均勻曝光的射線底片上影像黑度分布不均勻的視覺印像。而顆粒度則是用測微光密度計(jì)測出的數(shù)據(jù)，按一定方法求出的所謂底片黑度漲落值。 顆粒性印像并非由單個顯影的感光銀粒所形成，而是由許多銀粒交互重疊組成的銀團(tuán)產(chǎn)生的。 .顆粒度的大小受下列因素的影響 膠片類型： 膠片感光速度越快、顆粒度就越大。射線能量： 射線能量越高，顆粒度越大顯影條件：包括顯影時間、顯影溫度、顯影配方。增感

7、屏影響：使用熒光屏?xí)龃箢w粒度 x射線管的能量可以通過管電壓調(diào)節(jié)，可以按試件的厚度選用合適的管電壓，從而獲得高對比度和高靈敏度。而射線的能量是由同位素的種類決定的，每一種放射性同位素放射出射線的波長是特定的，其能量不可調(diào)節(jié)，改善射線成像質(zhì)量的一個有效方法是使用梯噪比等級更高的膠片。 5.3 射線照相質(zhì)量及其判定標(biāo)準(zhǔn)5.3.1合格底片的質(zhì)量要求底片作為檢測工件質(zhì)量評定的唯一依據(jù)，它必須是符合標(biāo)準(zhǔn)要求的，根據(jù)現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)對合格底片有以下質(zhì)量要求：顯示像質(zhì)計(jì)靈敏度符合標(biāo)準(zhǔn)要求；評定區(qū)內(nèi)底片黑度符合標(biāo)準(zhǔn)要求；底片上各類標(biāo)記擺放符合標(biāo)準(zhǔn)要求；底片上有效評定區(qū)內(nèi)不能有偽缺陷；散射線屏蔽檢查背散射防護(hù)的方法：

8、在暗盒背面貼“B”鉛字標(biāo)記，按檢測工藝的規(guī)定進(jìn)行透照和暗室處理。若在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的“B”字影像，則說明背散射防護(hù)不夠，應(yīng)增大背散射防護(hù)鉛板的厚度。若底片上不出現(xiàn)“B”字影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“B”字影像，則 說明背散射防護(hù)符合要求。.5.3.2不合格底片的判定1.檢測質(zhì)量未達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)要求：（1）底片上像質(zhì)計(jì)靈敏度未達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)要求，表明檢測靈敏度低；（2）有效評定區(qū)內(nèi)黑度未達(dá)標(biāo)準(zhǔn)要求，細(xì)微缺陷可能會漏檢。2.底片質(zhì)量未達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)要求：（1）無像質(zhì)計(jì)；（2）底片黑度太低；（3）偽缺陷；（4）無搭接標(biāo)記、無中心標(biāo)記。練習(xí)題1 黑度計(jì)是用來測量射線照相底片黑度的。（）2 像質(zhì)計(jì)是用來檢驗(yàn)射線影像質(zhì)量的器件。 （）3 焦距的選擇，在射線檢測中對幾何不清晰度影響不大。（）4 無損檢測人員根據(jù)工藝規(guī)程，可以自己編寫工藝卡并按其執(zhí)行。 （）5 幾何不清晰度Ug值可用下式計(jì)算： Ugdfb/(F-b) （）6 評定底片時底片上有效評定區(qū)內(nèi)不允許存在偽缺陷。（）7 底片有效評定區(qū)內(nèi)底片的黑度范圍應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)要求。（）8 一般檢測散射線對膠片的影響，將膠片底面放鉛字“B”。 （）1下列哪種原因會導(dǎo)致幾何不清晰度減小？（ D ） A 射線源尺寸減小； B