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文檔簡介

1、34影響因素：晶胞體積，結(jié)構(gòu)因子，bragg球差是磁透鏡中心區(qū)和邊沿區(qū)對電子的折射能力不同引起的。增大透鏡引起的，可以通過引入一強度和方位都可以調(diào)節(jié)的矯正磁場來進行補償。色差事電子波德波長或能量發(fā)生一定幅度的改變而造成的，穩(wěn)定加速電壓和透鏡電流可減少色差。10.X料結(jié)構(gòu)分析中的異同點。答：原理:X特點：1 電子波長的波長比X234應(yīng)用：硬 X 射線適用于金屬部件的無損探傷及金屬物象分析，軟 X 射線可用12波譜儀：用來檢測X能譜儀：用來檢測X 射線的特征能量的儀器。優(yōu)點：1 能譜儀探測X2 在同一時間對分析點內(nèi)所有元素X 射線光子的能量進行測定和計數(shù)，在幾34 不必聚焦，對樣品表面無特殊要求，

2、適于粗糙表面分析。缺點：12114923Si16X045sin ?法。173mm20-120um，無磁金屬制成。20-0-20作用aB20原子散射因數(shù) f 事以一個電子散射波德振幅為度量單位的一個原子散射一個電子在相同條件下散射波振幅的f 反映了原子將 X 射線向某一個方向原子散射因數(shù)與其原子序數(shù)有何關(guān)系，z 越大，f 越大。因此，重原子對 X 射線5.K缺點？的定量分析。KAl2O3JCPDSK1 .xx 射線，誰揭示了x答：xxx透射電鏡特點： A 電子束透過薄膜樣品 B 用于觀察樣品的形態(tài) C 通過電子衍掃描電鏡特點： A B、用于觀察樣品的形貌（具有立體感） C、通過電子束激發(fā)樣品的特征X10%80%范圍內(nèi)。 DTADSCDTA:DSC:以下(1650Xps1.激發(fā)光源 軟化 xUV 2.電子能量分析儀器 表面分析電子能量 3.高真空系統(tǒng) 超高真空腔室 UHV 避免光電子與氣體分子碰撞的（1）. 色譜法的優(yōu)點(2). 色譜法的缺點要求： 固定相- 離子交換樹脂離組分 -離子型的有機物或無機物（親和力SESE1BESE2BEBE層次，不利于分析，因此，BESE，BE（1.IR（2.（3.吸收峰的強度則主要取決于振動過程中偶極矩變化的大小和能級躍遷的幾率DTADTA4）5）試樣的裝填 6）熱中性體（參比物）減小方法：1.控制整個測溫范圍內(nèi)無熱

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