光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背景簡(jiǎn)介

講背景簡(jiǎn)介光學(xué)測(cè)試?yán)碚撆c技術(shù)光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背景簡(jiǎn)介共15頁(yè)，您現(xiàn)在瀏覽的是第1頁(yè)!推薦參考書(shū)：蘇大圖編：光學(xué)測(cè)試技術(shù)，北京理工大學(xué)出版社，2005年楊國(guó)光主編：近代光學(xué)測(cè)試技術(shù)，浙江大學(xué)出版社，2004年李旭等編：光電檢測(cè)技術(shù)，科學(xué)出版社，2005年范志剛編：光電測(cè)試技術(shù)(第2版)，電子工業(yè)出版社，2008年浦昭邦主編：光電測(cè)試技術(shù)，機(jī)械工業(yè)出版社，2005年光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背景簡(jiǎn)介共15頁(yè)，您現(xiàn)在瀏覽的是第2頁(yè)!組織中國(guó)國(guó)家計(jì)量局(政府機(jī)構(gòu))中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院(國(guó)家質(zhì)檢總局)中國(guó)計(jì)量學(xué)院(莊松林院士)中國(guó)計(jì)量測(cè)試學(xué)會(huì)(科協(xié)下屬)光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背景簡(jiǎn)介共15頁(yè)，您現(xiàn)在瀏覽的是第3頁(yè)!中國(guó)計(jì)量測(cè)試學(xué)會(huì)網(wǎng)站：./0jljc/Xsjlxh.asp27個(gè)專(zhuān)業(yè)委員會(huì)(光輻射計(jì)量專(zhuān)業(yè)委員會(huì)主任委員、多相流測(cè)試專(zhuān)業(yè)委員會(huì)主任委員)6個(gè)工作委員會(huì)光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背景簡(jiǎn)介共15頁(yè)，您現(xiàn)在瀏覽的是第4頁(yè)!二套四個(gè)概念計(jì)量(Metrology)：對(duì)物理量的標(biāo)定，傳遞與控制，重點(diǎn)是確保精度。測(cè)量(Measurement)：獲取物理量的方法，重點(diǎn)是獲取方法。檢驗(yàn)(Inspection)：產(chǎn)品質(zhì)量的評(píng)估技術(shù)。測(cè)試(Measuring&Testing)：測(cè)量與試驗(yàn)的總稱(chēng)，側(cè)重于技術(shù)方法。光學(xué)計(jì)量(對(duì)光學(xué)量的標(biāo)定)：光強(qiáng)、亮度、照度、光譜、色度等標(biāo)定。光學(xué)測(cè)量(對(duì)光學(xué)參數(shù)的測(cè)量)：D(通光孔徑)、f(焦距)、2W(視場(chǎng))、MTF(像質(zhì))。光學(xué)檢測(cè)：對(duì)光學(xué)元件及光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行質(zhì)量評(píng)估。光學(xué)測(cè)試：用光學(xué)方法進(jìn)行精密測(cè)試。光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背景簡(jiǎn)介共15頁(yè)，您現(xiàn)在瀏覽的是第5頁(yè)!光學(xué)測(cè)試技術(shù)的特色非接觸性：形成光探頭，快，30萬(wàn)公里/秒，無(wú)重量遙測(cè)，軟表面(液面、高溫表面)特種測(cè)量(深孔、微控等)高靈敏度：波長(zhǎng)在亞微米數(shù)量級(jí)高精度：超精度測(cè)量，精度為正負(fù)0.1微米三維性：全部信息實(shí)時(shí)性：光電響應(yīng)ps(皮秒)－fs(飛秒)，快速響應(yīng)，生產(chǎn)線(xiàn)控制，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)控制光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背景簡(jiǎn)介共15頁(yè)，您現(xiàn)在瀏覽的是第6頁(yè)!測(cè)試技術(shù)的一般組成光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背景簡(jiǎn)介共15頁(yè)，您現(xiàn)在瀏覽的是第7頁(yè)!光學(xué)測(cè)試技術(shù)主要講述的內(nèi)容光源光電探測(cè)器光學(xué)測(cè)試技術(shù)光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背景簡(jiǎn)介共15頁(yè)，您現(xiàn)在瀏覽的是第8頁(yè)!光電探測(cè)器分類(lèi)：光子探測(cè)器：光電子發(fā)射探測(cè)器、光電導(dǎo)探測(cè)器、光伏探測(cè)器、光電磁探測(cè)器；熱探測(cè)器：測(cè)輻射溫差熱電偶、熱電堆、電阻測(cè)輻射熱器、熱釋電探測(cè)器。性能參數(shù)：響應(yīng)率、單色靈敏度、響應(yīng)時(shí)間、頻率響應(yīng)、信噪比、暗電流、線(xiàn)性度、噪聲特性等光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背景簡(jiǎn)介共15頁(yè)，您現(xiàn)在瀏覽的是第9頁(yè)!光學(xué)測(cè)試技術(shù)概念光學(xué)測(cè)試技術(shù)：利用光學(xué)原理實(shí)現(xiàn)精密測(cè)量的技術(shù)。近代光學(xué)測(cè)試技術(shù)：利用激光、計(jì)算機(jī)等光機(jī)電一體化實(shí)現(xiàn)精密測(cè)量的技術(shù)。光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背景簡(jiǎn)介共15頁(yè)，您現(xiàn)在瀏覽的是第10頁(yè)!光學(xué)測(cè)試技術(shù)與近代光學(xué)測(cè)試技術(shù)70年代以前的光學(xué)測(cè)試：光干涉技術(shù)光散射技術(shù)光度色度技術(shù)光譜技術(shù)光電技術(shù)光成像技術(shù)光偏振技術(shù)薄膜測(cè)試技術(shù)80年代后的近代光學(xué)測(cè)試：激光數(shù)字干涉技術(shù)光散斑技術(shù)光全息技術(shù)光掃描技術(shù)光衍射技術(shù)光纖傳感技術(shù)光診斷技術(shù)光納米技術(shù)光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背景簡(jiǎn)介共15頁(yè)，您現(xiàn)在瀏覽的是第11頁(yè)!精密光學(xué)測(cè)試技術(shù)的四大發(fā)展方向靜態(tài)->動(dòng)態(tài)：在線(xiàn)控制(online)；逐點(diǎn)->全場(chǎng)：三維形貌實(shí)時(shí)測(cè)量；動(dòng)態(tài)->智能：存儲(chǔ)、識(shí)別、知識(shí)庫(kù)、識(shí)知；模塊->芯片：技術(shù)集成在一個(gè)芯片上。光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背景簡(jiǎn)介共15頁(yè)，您現(xiàn)在瀏覽的是第12頁(yè)!光學(xué)測(cè)試技術(shù)的一般組成光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背景簡(jiǎn)介共15頁(yè)，您現(xiàn)在瀏覽的是第13頁(yè)!光源分類(lèi)：波段：紅外、可見(jiàn)光、紫外；時(shí)間：連續(xù)光與脈沖光；頻率：?jiǎn)紊夂蛷?fù)合光；相干性：相干光源與非相干光源；發(fā)光機(jī)制：光致發(fā)光、電致發(fā)光、場(chǎng)致發(fā)光、化學(xué)發(fā)光等。光源參數(shù)：輻射能、輻射通量、輻射強(qiáng)度輻射照度、輻射出射度、輻射亮度、光譜輻射量等等。常用光源：熱輻射光源、氣體放電光源、固體發(fā)光光源、激光器等光學(xué)測(cè)試技術(shù)講稿背