《核醫(yī)學(xué)上崗證》第四章-參數(shù)選取

SPECT質(zhì)量控制采集參數(shù)的質(zhì)控重建參數(shù)的質(zhì)控常見(jiàn)質(zhì)控的解釋與測(cè)試質(zhì)控調(diào)試過(guò)程圖例功能與作用：對(duì)圖像初步定位，接收垂直于準(zhǔn)直器孔或偏差在許可角度之內(nèi)的射線。分類：按能量分為高、中、低能；按形狀分為平行孔、針孔、扇形等；按功能分為高靈敏度、高分辨率和通用型。臨床常規(guī)使用的：平行孔和針孔準(zhǔn)直器。準(zhǔn)直器準(zhǔn)直器

平行孔

R=

針孔

R=注：r=準(zhǔn)直孔半徑

b=準(zhǔn)直器表面到物體的距離c=準(zhǔn)直器上面到晶體的距離te=準(zhǔn)直器的有效厚度t=針眼到晶體的厚度

de=針眼的有效直徑2r(te+b+c)te(t+b)det怎樣選取準(zhǔn)直器根據(jù)所用核素能量選取相應(yīng)的高、中、低能準(zhǔn)直器根據(jù)臟器的大小選取不同類型的準(zhǔn)直器（平行孔或針孔）根據(jù)采集方式選取不同的準(zhǔn)直器（高靈敏度或高分辨率）平行孔最佳分辨率在準(zhǔn)直器表面，成像大小不隨距離變化針孔準(zhǔn)直器有放大功能，成像大小隨距離變化矩陣與分辨率、靈敏度和計(jì)數(shù)的關(guān)系是一組數(shù)字陣列，可劃分為單個(gè)像素或者說(shuō)由象素組成。大矩陣，小像素，圖像細(xì)膩清晰，要求計(jì)數(shù)量高，分辨率好。小矩陣，大像素，圖像粗糙，計(jì)數(shù)量要求低，靈敏度高。像素單元的儲(chǔ)存容量取決于圖像模式：字模式和字節(jié)模式。像素大小不變總計(jì)數(shù)不同引起的圖像差異怎樣選取矩陣基本原則是滿足儀器的分辨率：像素點(diǎn)≤1/2分辨率動(dòng)態(tài)采集選取小矩陣：64、128靜態(tài)采集矩陣要適中：128、256斷層采集的矩陣能滿足旋轉(zhuǎn)半徑時(shí)的分辨率要求即可怎樣選取ZOOM（放大系數(shù)）ZOOM實(shí)際上是宏觀上縮小了有效視野，而使局部圖像得到了放大。放大后圖像像素值的計(jì)算要除以ZOOM系數(shù)。ZOOM系數(shù)的選取：使圖像占據(jù)視野的80%為原則。腦斷層參數(shù)選擇舉例矩陣選擇：儀器的系統(tǒng)分辨率=8mm，像素點(diǎn)應(yīng)該≤1/2分辨率，即2/8=4mm；設(shè)定探頭的視野為500mm，zoom=2，矩陣的計(jì)算為：500/4=125；125/2=63。采集時(shí)間不宜超過(guò)30分鐘：每幀的采集時(shí)間取決于總采集幀數(shù)n，即t=30分/n。探頭的旋轉(zhuǎn)半徑越小越好，盡可能貼近頭部。腦斷層參數(shù)選擇舉例采集幀數(shù)以不丟失分辨率為前提：頭顱的直徑通常為160mm左右，其周長(zhǎng)為2πr，約等于480mm，將480mm圓周分成若干分，使每份弧長(zhǎng)≤1/2分辨率(4mm)，即n=480/4=120幀，360/120=3度。采集方式：原則上小采集角度（≤3度）用連續(xù)式；大采集角度（≥6度）用步進(jìn)式。SPECT質(zhì)量控制采集參數(shù)的質(zhì)控重建參數(shù)的質(zhì)控常見(jiàn)質(zhì)控的解釋與測(cè)試質(zhì)控調(diào)試過(guò)程圖例圖像重建濾波反投影（FBP）

主要種類：Butterworth、Shepp、Ramp、Gaussion、Hann、Hamm。主要參數(shù)：截止頻率。主要過(guò)程與特點(diǎn)：⑴兩次傅立葉轉(zhuǎn)換⑵主要濾掉圖像中的高頻部分⑶可分為高通濾波和低通濾波⑷小截止頻率使圖像平滑，大截止頻率使圖像銳化。圖像重建參數(shù)選擇——濾波函數(shù)濾波函數(shù)對(duì)重建圖像的影響濾波函數(shù)對(duì)重建圖像的影響圖像重建迭代法（Iteration）主要種類：OSEM、VuePoint、PSF、AW-OSEM。主要參數(shù)：迭代次數(shù)，子集數(shù)目。主要過(guò)程與特點(diǎn)：⑴

是一種逐步逼近方法⑵

子集越大圖像質(zhì)量越好⑶

擴(kuò)大一倍子集和增加一次迭代次數(shù)效果相同⑷

迭代次數(shù)不是越多越好。迭代原理圖像重建參數(shù)選擇——迭代法FBPEM305K29K10KSPECT質(zhì)量控制采集參數(shù)的質(zhì)控重建參數(shù)的質(zhì)控常見(jiàn)質(zhì)控的解釋與測(cè)試質(zhì)控調(diào)試過(guò)程圖例儀器質(zhì)控——均勻性均勻性：視野內(nèi)各點(diǎn)計(jì)數(shù)值之間的差異積分均勻性微分均勻性有效視野均勻性（UFOV）

中心視野均勻性（CFOV）中心視野的均勻性≤3.5%。若漂移大于其值，或每日連續(xù)變化大于0.5%，應(yīng)立即校正。影響均勻性的主要因素能峰設(shè)置不正確溫度變化光電倍增管高壓漂移準(zhǔn)直器損壞旋轉(zhuǎn)中心漂移探頭軸向傾斜儀器質(zhì)控——分辨率分辨率：儀器可以分辨兩點(diǎn)之間最小間隔的能力固有分辨率