8C型儀器性能的測試方法

距離幅度特性的測試方法一、70°探頭距離幅度特性的測試方法1目的：掌握70°探頭測試采用WGT-3試塊（或DB-H2試塊）測試方法和要領(lǐng)。2設(shè)備：GCT-8C型探傷儀、WGT-3試塊（或DB-H2試塊）、70°探頭(帶保護膜)、直鋼尺、耦合劑、壓塊開機，連接探頭到對應(yīng)通道，儀器置A超顯示狀態(tài)，校正好零點，軌型置P60，抑制置開。將70°探頭置于WGT-3試塊上，探測深度為了10mm的橫通孔如圖所示。前后平移探頭，適當調(diào)節(jié)儀器增益，找出深度10mm橫通孔反射回波（應(yīng)在刻度線1.2大格），調(diào)節(jié)增益使其反射回波波幅達到滿刻度的80％，將此時增益的讀數(shù)dB填入表內(nèi)dB值相對應(yīng)的深度10mm中。然后再將70°探頭分別探測深度為20mm、30mm、40mm、50mm、65mm、70mm的橫通孔，并將探測得到的不同深度的dB值填入相對應(yīng)的深度欄內(nèi)。最后找出最大讀數(shù)（dB）與最小讀數(shù)（dB）相減，所得的dB值即為ΔW5。制表如下圖所示深度10203040506070水平位置27.55582.5110137.4165192.4出波刻度1.22.333.54.75.878.2dB值ΔW5最大讀數(shù)（dB）－最小讀數(shù)（dB）dB大－dB?。絛B測試結(jié)果分析：標準：ΔW5≤12dB實測：ΔW5＝dB經(jīng)測試后，70°的探頭距離幅度特性合格或不合格。二、37°探頭距離幅度特性的測試方法1目的37°探頭采用WGT-3試塊（或DB-H1試塊）測試方法和要領(lǐng)。2設(shè)備：GCT-8C型探傷儀、37°探頭(帶保護膜)、WGT-3試塊（或DB-H1試塊）、直鋼尺、耦合劑、壓塊3開機，連接探頭到對應(yīng)通道，校正好零點，儀器置A超顯示狀態(tài)，軌型置P60，抑制置開。將37°探頭置于WGT-3試塊上，探測深度為20mm的橫通孔如圖所示。前后平移探頭，適當調(diào)節(jié)增益，找出深度20mm的橫通孔反射回波（應(yīng)在刻度線1大格），調(diào)節(jié)增益使其反射回波波幅達到80％，將此時增益讀數(shù)dB值，填入表內(nèi)dB值相對應(yīng)的深度20mm中。然后再將37°探頭分別探測深度為40mm、65mm、70mm、90mm、150mm的橫通孔，并將所探測得到的不同深度的dB值填入相對應(yīng)的深度欄內(nèi)。其中dB值最大的讀數(shù)為WB＝dB，20mm深度的dB值為W3＝dB，150mm深度的dB值為W4＝dB。深度2040657090150水平距離1530455368113出波刻度123.23.54.57.5dB值ΔW3ΔW3＝WB－W3ΔW4ΔW4＝WB－W44.測試結(jié)果分析：標準：ΔW3≤12dB；ΔW4≤8dB實測：ΔW3＝dBΔW4＝dB經(jīng)測試后，37°探頭距離幅度特性合格或不合格。三.、0°探頭距離幅度特性的測試方法1目的：掌握0°探頭測試方法和要領(lǐng)。2設(shè)備：GCT-8C型探傷儀、0°探頭(帶保護膜)、階梯試塊、直鋼尺、耦合劑、壓塊3開機，連接探頭到對應(yīng)通道，校正好零點，儀器置A超顯示狀態(tài)，軌型置P60，抑制置開。將0°探頭置于階梯試塊的A面上，分別探測深度為20mm、30mm、40mm、50mm、60mm、80mm、100mm、150mm、的底面，適當調(diào)節(jié)增益，使不同深度的底面反射波波幅都能達到80％，記錄下不同深度下增益讀數(shù)（dB）填入表內(nèi)。讀數(shù)最大的增益讀數(shù)為WA（dB），20mm深度的增益讀數(shù)為W1（dB），150mm深度的增益讀數(shù)為W2（dB），則ΔW1、ΔW2由下式算出：深度203040506080100150出波位置0.81.21.62.02.43.24.06dB值ΔW1（dB）＝WA（dB）－W1（dB）ΔW2（dB）＝WA（dB）－W2（dB）測試結(jié)果分析：標準：ΔW1≤12dbΔW2≤8db實測：ΔW1＝dBΔW2＝dB經(jīng)測試后，0°探頭距離幅度特性合格或不合格。缺陷檢出能力、信噪比的測試方法一、70°探頭缺陷檢出能力、信噪比的測試方法1.設(shè)備：GCT-8C型探傷儀、CSK-1A試塊，GTS-60試塊、70°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。3.開機，不接探頭，儀器置A超顯示狀態(tài)，軌型置P60，增益置最大，抑制置開，調(diào)節(jié)A通道增益使電噪聲電平≤10％（滿刻度的），記錄此時增益讀數(shù)為S０＇＝dB4.將70°探頭連接對應(yīng)通道上，在CSK-1A試塊R100校正好零點，探頭置GTS-60試塊上，偏斜20°角，前后移動探頭，用二次波探測GTS-60試塊的Φ4平底孔回波。Φ4平底孔回波應(yīng)出在7.2大格上，調(diào)節(jié)增益使Φ4平底孔反射波波幅達到80％時。此時增益的讀數(shù)dB并按下式（1）算出。在此基礎(chǔ)上保持探頭不動，釋放增益，使Φ4平底孔反射回波前面的雜波達到80％時增益讀數(shù)dB并按下式（2）算出。St＝S2－S0＇（1）St—檢出能力，S2—增益讀數(shù)。S0＇—電噪聲電平S噪＝S3－S2（2）S3—雜波80％時增益讀數(shù)。5.測試結(jié)果分析標準：缺陷檢出能力≥20dB，信噪比≥10dB實測：St＝dBS噪＝dB經(jīng)測試后，70°探頭的缺陷檢出能力及信噪比合格或不合格。二、37°探頭缺陷檢出能力、信噪比的測試方法1.設(shè)備：GCT-8型探傷儀、CSK-1A試塊，GTS-60試塊、37°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。2.開機，儀器置A超顯示狀態(tài)，軌型置P60，增益置最大，抑制置開，調(diào)節(jié)H通道增益使電噪聲電平≤10％（滿刻度的），記錄此時增益讀數(shù)為S０＇。3.將37°探頭連接對應(yīng)通道上，在CSK-1A試塊R100校正好零點，探頭置GTS-60試塊上，前后移動探頭，探測GTS-60試塊的螺孔和3mm深度的上斜裂，調(diào)節(jié)增益使兩波等高，并使波幅達到80％。此時增益讀dB并按下式（1）算出。在此基礎(chǔ)上保持探頭不動，釋放增益，使3mm深的上斜裂反射回波前面的雜波達到80％時增益讀數(shù)dB并按下式（2）算出：St＝S2－S0＇（1）S噪＝S3－S2（2）S3—雜波80％時增益讀數(shù)4測試結(jié)果分析標準：缺陷檢出能力≥22dB，信噪比≥8db實測：St＝dBS噪＝db經(jīng)測試后37°探頭的缺陷檢出能力及信噪比合格或不合格。三.0°探頭缺陷檢出能力、信噪比的測試方法1.設(shè)備：GCT-8C型探傷儀、CSK-1A試塊，GTS-60試塊、0°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。3.開機，儀器在置A超顯示狀態(tài)，軌型置P60，增益置最大，抑制置井，調(diào)節(jié)I通道增益使電噪聲電平≤10％（滿刻度的），記錄此時衰減器讀數(shù)為S0＇。4.將0°探頭連接對應(yīng)I通道上，在CSK-1A試塊100高度校正好零點，探頭置GTS-60試塊上，探測試塊底面，調(diào)節(jié)增益使底面反射波幅達到80％。此時增益讀數(shù)dB并按下式（1）算出。在此基礎(chǔ)上保持探頭不動，釋放衰減器，使底面反射回波前面的雜波達到80％時衰減器讀數(shù)dB并按下式（2）算出：St＝S2－S0＇（1）St—檢出能力，S2增益讀數(shù)，S0＇—電噪聲電平S噪＝S3－S2（2）S3—雜波80％時增益讀數(shù)測試結(jié)果分析標準：缺陷檢出能力≥24dB，信噪比≥16Db實測：St＝dBS噪＝dB經(jīng)測試后0°探頭的缺陷檢出能力及信噪聲比合格或不合格。四、GCT-8C型探傷儀阻塞范圍的測試方法1.設(shè)備：GCT-8C型探傷儀、CSK-1A試塊，階梯試塊、0°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。3.開機，儀器置A超顯示狀態(tài)，軌型置P60，抑制置開。在CSK-1A試塊100高度校正好零點，用0°探頭探測階梯試塊50mm厚度處，調(diào)節(jié)增益使該處底波達到滿刻度的80％，然后將靈敏度提高2dB，再探測階梯試塊20mm厚度處。此時底波超過滿刻度的80％，則阻塞范圍小于20mm，若低于80％，則大于20mm，若剛好80％，則阻塞范圍等于20mm。4.測試結(jié)果分析標準：阻塞范圍不大于20mm。實測：20mm處底波波幅為％經(jīng)測試后該儀器的阻塞范圍合格或不合格。五、GCT-8C型探傷儀70°探頭探傷靈敏度余量的測試方法1.設(shè)備：GCT-8C型探傷儀、CSK-1A試塊，WGT-3試塊、70°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。2.開機，不接探頭，儀器置A超顯示狀態(tài)，軌型置P60，抑制置關(guān)，增益置最大，調(diào)節(jié)增益使電噪聲電平≤10％（滿刻度的），記錄下增益讀數(shù)S0＝dB。3.將70°探頭對接于A插座上，在CSK-1A試塊R100校正好零點，探頭置WGT-3試塊上，探測深65mm處Φ3橫通孔，前后移動探頭調(diào)節(jié)增益使深65mm處Φ3橫通孔反射波幅達到滿刻度的80％（出波刻度為7.6大格，水平距離178.5mm），此時增益讀數(shù)S1dB并按下式算出靈敏度余量。S＝S1－S0（dB）S—探傷靈敏度余量，S1—增益讀數(shù)，S0—電噪聲電平4.測試結(jié)果分析標準：70°探頭探傷靈敏度余量≥40dB實測：70°探頭探傷靈敏度余量dB經(jīng)測試后70°探頭探傷靈敏度余量為dB合格或不合格。六、GCT-8C型探傷儀37°探頭探傷靈敏度余量的測試方法1.設(shè)備：GCT-8C型探傷儀、CSK-1A試塊，WGT-3試塊、37°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。2.開機，不接探頭，儀器置A超顯示狀態(tài)，軌型置P60，抑制置關(guān)，增益置最大，調(diào)節(jié)增益使電噪聲電平≤10％（滿刻度的），記錄下增益讀數(shù)S0＝dB。3.將37°探頭對接于H插座上，在CSK-1A試塊R100校正好零點，探頭置WGT-3試塊上，探測深65mm處Φ3橫通孔，前后移動探頭調(diào)節(jié)增益使深65mm處Φ3橫通孔反射波幅達到滿刻度的80％（出波刻度為3.3大格，水平距離49mm），此時增益讀數(shù)S1dB并按下式算出靈敏度余量。S＝S1－S0（dB）S—探傷靈敏度余量，S1—衰減器讀數(shù)，S0—電噪聲電平4.測試結(jié)果分析標準：37°探頭探傷靈敏度余量≥40dB實測：37°探頭探傷靈敏度余量dB經(jīng)測試后37°探頭探傷靈敏度余量為dB合格或不合格。七、GCT-8C型探傷儀0°探頭探傷靈敏度余量的測試方法1.0°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，CSK-1A試塊、WGT-3試塊、2.開機，不接探頭，儀器置A超顯示狀態(tài)，軌型置P60，抑制置關(guān)，增益置最大，調(diào)節(jié)增益使電噪聲電平≤10％（滿刻度的），記錄下衰減器讀數(shù)S0＝dB。3.將0°探頭對接于I插座上，在CSK-1A試塊100mm高反校正好零點，探頭置WGT-3試塊上，探測110mm的底面第一次反射回波，調(diào)節(jié)增益使110mm底面第一次反射回波幅達到滿刻度的80％（出波刻度為4.4大格），此時增益讀數(shù)S1dB并按下式算出靈敏度余量。S＝S1－S0（dB）S—探傷靈敏度余量，S1—增益讀數(shù)，S0—電噪聲電平4.測試結(jié)果分析標準：0°探頭探傷靈敏度余量≥36dB實測：0°探頭探傷靈敏度余量dB經(jīng)測試后0°探頭探傷靈敏度余量為dB合格或不合格。八GCT-8C型探傷儀相對靈敏度的測試（一）0°探頭相對靈敏度測試1設(shè)備：(通用儀)，CSK-1A試塊、WGT一3試塊、0°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。2.開機，不接探頭，儀器置A超顯示狀態(tài)，軌型置P60，抑制置關(guān)，增益置最大，調(diào)節(jié)增益使電噪聲電平≤10％（滿刻度的），記錄下衰減器讀數(shù)S0＝dB。3.將0°探頭對接于I插座上，在CSK-1A試塊100高度校正好零點，探頭置WGT一了試塊上，探測110mm的底面，調(diào)節(jié)增益使其最高回波幅達到滿刻度的80％（出波刻度為8大格），此時增益讀數(shù)S1dB并按下式算出相對靈敏度。S=S1-S。S—相對靈敏度，S1—增益讀數(shù)，S0—電噪聲電平4.測試結(jié)果分析標準：0°探頭相對靈敏度≥55dB實測：0°探頭探傷靈敏度余量dB經(jīng)測試后0°探頭相對靈敏度為dB合格或不合。（二）37°探頭相對靈敏度測試1設(shè)備:通用儀)，CSK-1A試塊、37°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。2.開機，不接探頭，儀器置A超顯示狀態(tài)，軌型置P60，抑制置關(guān)，增益置最大，調(diào)節(jié)增益使電噪聲電平≤10％（滿刻度的），記錄下增益讀數(shù)S0＝dB。3.將37°探頭對接于H插座上，在CSK-1A試塊測R100圓弧，調(diào)節(jié)增益使其最高回波幅達到滿刻度的80％（出波刻度為4大格），此時增益讀數(shù)S1dB并按下式算出相對靈敏度。S=S1-S。S—相對靈敏度，S1—增益讀數(shù)，S0—電噪聲電平4.測試結(jié)果分析標準：37°探頭相對靈敏度≥65dB實測：37°探頭探傷靈敏度余量dB經(jīng)測試后37°探頭相對靈敏度為dB合格或不合。（三）70°探頭相對靈敏度測試1設(shè)備：(通用儀)，CSK-1A試塊、70°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。2.開機，不接探頭，儀器置A超顯示狀態(tài)，軌型置P60，抑制置關(guān)，增益置最大，調(diào)節(jié)增益使電噪聲電平≤10％（滿刻度的），記錄下衰減器讀數(shù)S0＝dB。3.將70°探頭對接于C插座上，在CSK-1A試塊測R100圓弧，調(diào)節(jié)增益使其最高回波幅達到滿刻度的80％（出波刻度為大格），此時增益讀數(shù)S1dB并按下式算出相對靈敏度。S=S1-S。S—相對靈敏度，S1—增益讀數(shù)，S0—電噪聲電平4.測試結(jié)果分析標準：70°探頭相對靈敏度≥65dB實測：70°探頭探傷靈敏度余量dB經(jīng)測試后70°探頭相對靈敏度為dB合格或不合。九GCT-8C型探傷儀分辨率測試（一）0°探頭分辨力測試1設(shè)備：通用儀，CSK-1A試塊、、0°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。3.抑制置0，將0°探頭對接于插座上，探頭置CSK-1A試塊上，探測85mm,91mm兩臺階，移動探頭，方法一：調(diào)節(jié)增益使兩反射回波等高，高度為H1（一般為滿幅20%-30%）衰減器讀數(shù)dB，調(diào)節(jié)增益使兩反射回波波谷H2上升至H2，衰減器讀數(shù)dB；H=H2-H1；方法二：調(diào)節(jié)增益使兩反射回波等高達滿幅100%，然后測量波谷高度h，則該探頭分辨力為R=20lg(100/h),若h=0或兩波能完全分開，取R>30dＢ。4.測試結(jié)果分析標準：0°探頭分辨力≥１８dB實測：0°探頭分辨力dB經(jīng)測試后0°探頭分辨力為合格或不合。（二）７0°探頭分辨力測試1設(shè)備：通用儀，CSK-1A試塊、、７0°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。3.抑制置0，將７0°探頭對接于插座上，探頭置CSK-1A試塊Ａ面上，探測?５０mm,?４４mm兩圓弧，移動探頭，方法一：調(diào)節(jié)增益使兩反射回波等高，高度為H1（一般為滿幅20%-30%）增益讀數(shù)dB，調(diào)節(jié)增益使兩反射回波波谷H2上升至H1，增益讀數(shù)dB；H=H2-H1；方法二：調(diào)節(jié)增益使兩反射回波等高達滿幅100%，然后測量波谷高度h，則該探頭分辨力為R=20lg(100/h),若h=0或兩波能完全分開，取R>30dＢ。4.測試結(jié)果分析標準：７0°探頭分辨力≥１４dB實測：７0°探頭分辨力dB經(jīng)測試后７0°探頭分辨力為合格或不合。（三）３７°探頭分辨力測試1設(shè)備：通用儀，CSK-1A試塊、、３７°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。3.抑制置0.，將３７°探頭對接于插座上，探頭置CSK-1A試塊Ｂ面上，探測?５０mm,?４４mm兩圓弧，移動探頭，方法一：調(diào)節(jié)增益使兩反射回波等高，高度為H1（一般為滿幅20%-30%）增益讀數(shù)dB，調(diào)節(jié)增益使兩反射回波波谷H2上升至H1，增益讀數(shù)dB；H=H2-H1；方法二：調(diào)節(jié)增益使兩反射回波等高達滿幅100%，然后測量波谷高度h，則該探頭分辨力為R=20lg(100/h),若h=0或兩波能完全分開，取R>30dＢ。4.測試結(jié)果分析標準：３７°探頭分辨力≥１４dB實測：３７°探頭分辨力dB經(jīng)測試后３７°探頭分辨力為合格或不合。十動態(tài)范圍測試（一）0°探頭動態(tài)范圍測試1設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，CSK-1A試塊、WGT-3試塊、0°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。3.抑制置關(guān)，軌型置P60，將0°探頭對接于I插座上，探頭置WGT-3試塊上，探測110mm的底面第一次反射回波，調(diào)節(jié)增益使110mm底面第一次反射回波幅達到滿刻度的100％（出波刻度為4.4大格），此時衰減器讀數(shù)S1dB。調(diào)節(jié)增益使110mm底面第一次反射回波幅剛好消失，此時增益讀數(shù)S2dB。探頭保持不動，抑制置開，調(diào)節(jié)增益，分別回波幅達到滿刻度的100％和剛好消失，增益讀數(shù)分別為S3dB和S4dB。S=S2-S1S。=S4-S3S—增益小時的讀數(shù)，S0—增益大時的讀數(shù)，4.測試結(jié)果分析標準：0°探頭抑制關(guān)≥16dB，抑制開2dB-6dB。實測：0°探頭抑制關(guān)dB，抑制開dB。經(jīng)測試后0°探頭動態(tài)范圍合格或不合。（二）37°探頭動態(tài)范圍測試1設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，CSK-1A試塊、WGT-3試塊、37°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。3.抑制置關(guān)，軌型置P60，將37°探頭對接于H插座上，探頭置WGT-3試塊上，探測?3*65mm橫通孔的反射回波，調(diào)節(jié)增益使其最大反射回波幅達到滿刻度的100％（出波刻度為大3.2格），此時增益讀數(shù)S1dB。探頭保持不動，調(diào)節(jié)增益使反射回波幅剛好消失，此時增益讀數(shù)S2dB。探頭保持不動，抑制置開，調(diào)節(jié)增益，分別回波幅達到滿刻度的100％和剛好消失，增益讀數(shù)分別為S3dB和S4dB。S=S2-S1S。=S4-S3S—增益關(guān)時的讀數(shù)，S0—增益開時的讀數(shù)，4.測試結(jié)果分析標準：37°探頭抑制關(guān)≥16dB，抑制開2dB-6dB。實測：37°探頭抑制關(guān)dB，抑制開dB。經(jīng)測試后37°探頭動態(tài)范圍合格或不合。（三）70°探頭動態(tài)范圍測試1設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，CSK-1A試塊、WGT-3試塊、70°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。3.抑制置關(guān)，軌型置P60，將70°探頭對接于插座上，探頭置WGT-3試塊上，探測?3*65mm橫通孔，調(diào)節(jié)增益使其最大反射回波幅達到滿刻度的100％（出波刻度為7.1大格），此時增益讀數(shù)S1dB。探頭保持不動調(diào)節(jié)增益使反射回波幅剛好消失，此時增益讀數(shù)S2dB。探頭保持不動，抑制置開，調(diào)節(jié)增益，分別回波幅達到滿刻度的100％和剛好消失，增益讀數(shù)分別為S3dB和S4dB。S=S2-S1S。=S4-S3S—增益小時的讀數(shù)，S0—增益大時的讀數(shù)，4.測試結(jié)果分析標準：70°探頭抑制關(guān)≥16dB，抑制開2dB-6dB。實測：70°探頭抑制關(guān)dB，抑制開dB。經(jīng)測試后70°探頭動態(tài)范圍合格或不合。十一契內(nèi)回波幅度測試一）0°探頭契內(nèi)回波幅度測試1設(shè)備：通用儀(GCT-8C型探傷儀)，階梯試塊、0°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。２.抑制置關(guān)，軌型置P60，將0°探頭對接于GCT-8C型探傷儀I插座上，探頭置階梯試塊上，探測５0mm高度的底面，調(diào)節(jié)增益使其最高反射回波為滿幅８０％，此時增益讀數(shù)為S1ｄＢ，將探頭置于空氣中，擦去表面油層，調(diào)節(jié)增益使其最高反射回波為滿幅８０％，此時增益讀數(shù)為S２ｄＢＳ＝S2-S1３.測試結(jié)果分析標準：0°探頭契內(nèi)回波幅度≤－２６dB，實測：0°探頭契內(nèi)回波幅度dB。經(jīng)測試后0°探頭契內(nèi)回波幅度合格或不合。二）７0°探頭契內(nèi)回波幅度測試1設(shè)備：通用儀(GCT-8C型探傷儀，)ＷＧＴ－３試塊、７0°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。２.抑制置關(guān)，軌型置P60，將７0°探頭對接于GCT-8C型探傷儀Ｃ插座上，探頭置ＷＧＴ－３試塊上，探測?３＊６５mm高度的橫通孔，調(diào)節(jié)增益使其最高反射回波為滿幅８０％，此時增益讀數(shù)為S1ｄＢ，將探頭置于空氣中，擦去表面油層，調(diào)節(jié)增益使其最高反射回波為滿幅８０％，此時增益讀數(shù)為S２ｄＢＳ＝S2-S1３.測試結(jié)果分析標準：７0°探頭契內(nèi)回波幅度≤－３２dB，實測：７0°探頭契內(nèi)回波幅度dB。經(jīng)測試后７0°探頭契內(nèi)回波幅度合格或不合。三）３７°探頭契內(nèi)回波幅度測試1設(shè)備：通用儀(GCT-8C型探傷儀，)ＷＧＴ－３試塊、３７°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。２.抑制置關(guān)，軌型置P60，將３７°探頭對接于GCT-8C型探傷儀H插座上，探頭置ＷＧＴ－３試塊上，探測Φ３＊６５mm高度的橫通孔，調(diào)節(jié)增益使其最高反射回波為滿幅８０％，此時增益讀數(shù)為S1ｄＢ，將探頭置于空氣中，擦去表面油層，調(diào)節(jié)增益使其最高反射回波為滿幅８０％，此時增益讀數(shù)為S２ｄＢＳ＝S2-S1３.測試結(jié)果分析標準：３７°探頭契內(nèi)回波幅度≤－３０dB，實測：３７°探頭契內(nèi)回波幅度dB。經(jīng)測試后３７°探頭契內(nèi)回波幅度合格或不合。十二斜探頭前沿長度和折射角測試（一）３７°探頭前沿長度和折射角測試1設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，CSK-1A試塊、３７°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。150直鋼尺，計算器，筆。2開機，抑制置開，軌型置P60，將３７°探頭連接到G通道，置CSK-1A試塊A面測R100圓弧，移動探頭，調(diào)節(jié)增益使其最高回波達滿幅80%時，探頭保持不動，用直鋼尺量出探頭前沿到圓弧端的距離(測三次取平均值)L1mm，即探頭前沿長度L=100-L1３將探頭置CSK-1A試塊B面測?50mm移動探頭，調(diào)節(jié)增益使其最高回波達滿幅80%時，探頭保持不動，用直鋼尺量出探頭前沿到試塊端面的距離(測三次取平均值)X1mm。B=arctanX1-L-35/70３.測試結(jié)果分析標準：３７°探頭折射角誤差；0≤△≤3度，實測：３７°探頭折射角誤差度。經(jīng)測試后３７°探頭折射角合格或不合。（二）70°探頭前沿長度和折射角測試1設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，CSK-1A試塊、70°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。150直鋼尺，計算器，筆。2開機，抑制置開，軌型置P60，將７0°探頭連接到A通道，置CSK-1A試塊A面測R100圓弧，移動探頭，調(diào)節(jié)增益使其最高回波達滿幅80%時，探頭保持不動，用直鋼尺量出探頭前沿到圓弧端的距離(測三次取平均值)L1mm，即探頭前沿長度L=100-L1３將探頭置CSK-1A試塊A面測?50mm移動探頭，調(diào)節(jié)增益使其最高回波達滿幅80%時，探頭保持不動，用直鋼尺量出探頭前沿到試塊端面的距離(測三次取平均值)X1mm。B=arctanX1-L-35/30３.測試結(jié)果分析，標準：70°探頭折射角誤差；-3度≤△≤0度，實測：70°探頭折射角誤差d。經(jīng)測試后70°探頭折射角合格或不合。十三聲速寬度測試（一）0°探頭聲速寬度測試11設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，WGT-3試塊、0°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。直鋼尺，計算器２.抑制置開，軌型置P60，將0°探頭對接于I插座上，探頭置WGT-3試塊上，探測Φ3*80mm高度的橫通孔，調(diào)節(jié)增益使其最高反射回波為滿幅８０％，探頭不動，用直鋼尺量出探頭至試塊端面的距離L=mm,提高6dB，探頭分別向前，向后移動探頭使其反射回波為滿幅８０％，用直鋼尺分別測得L1mm，L2mm，即N=（L-L1)+（L2-L）３.測試結(jié)果分析，標準：0°探頭聲速寬度≥25mm實測：0°探頭聲速寬度mm。經(jīng)測試后0°探頭聲速寬度合格或不合。（二）37°探頭聲速寬度測試11設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，WGT-3試塊、37°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。直鋼尺，計算器２.抑制置開，軌型置P60，將37°探頭對接于H插座上，探頭置WGT-3試塊上，探測?3*65mm高度的橫通孔（出波位置2.9格上，），，調(diào)節(jié)增益使其最高反射回波為滿幅８０％，探頭不動，用直鋼尺量出探頭至試塊端面的距離L=mm,提高6dB，探頭分別向前，向后移動探頭使其反射回波為滿幅８０％，用直鋼尺分別測得L1mm，L2mm，即N=（L-L1)+（L2-L）３.測試結(jié)果分析，標準：37°探頭聲速寬度≥15mm實測：37°探頭聲速寬度mm。經(jīng)測試后37°探頭折聲速寬度合格或不合。（三）70°探頭聲速寬度測試11設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，WGT-3試塊、70°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。直鋼尺，計算器２.抑制置開，軌型置P60，將70°探頭對接于A插座上，探頭置WGT-3試塊上，探測?3*65mm高度的橫通孔（出波位置7.3格上，），，調(diào)節(jié)增益使其最高反射回波為滿幅８０％，探頭不動，用直鋼尺量出探頭至試塊端面的距離L=mm,提高6dB，探頭分別向前，向后移動探頭使其反射回波為滿幅８０％，用直鋼尺分別測得L1mm，L2mm，即N=（L-L1)+（L2-L）３.測試結(jié)果分析，標準：70°探頭聲速寬度≥60mm實測：70°探頭聲速寬度mm。經(jīng)測試后70°探頭聲速寬度合格或不合。十四聲速偏斜角測試（一）0°探頭聲速偏斜角測試11設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，WGT-3試塊、0°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊。直鋼尺，計算器２.抑制置開，軌型置P60，將0°探頭對接于I插座上，探頭置WGT-3試塊上，探測?3*80mm高度的橫通孔，前后移動和左右擺動探頭，調(diào)節(jié)增益使其最高反射回波為滿幅８０％，然后用直鋼尺量出探頭晶片中心軸線與?3*80mm橫通孔中心垂直線間的距離L，橫通孔深度為H，即0°探頭聲速偏斜角=arctanL/H３.測試結(jié)果分析，標準：0°探頭聲速偏斜角≤2°實測：0°探頭聲速偏斜角。經(jīng)測試0°探頭聲速偏斜角合格或不合。（一）37°探頭聲速偏斜角測試11設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，CSK-1A試塊、37°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊，量角器，，計算器２.抑制置開，軌型置P60，將37°探頭對接于H插座上，探頭置CSK-1A試塊上，探測25mm厚度的上端角，前后移動和左右擺動探頭，調(diào)節(jié)增益使其最高反射回波為滿幅８０％，，然后用量角器量出探頭側(cè)面與試塊端面垂直線的夾角，即為37°探頭聲速偏斜角３.測試結(jié)果分析，標準：37°探頭聲速偏斜角≤2°實測：37°探頭聲速偏斜角。經(jīng)測試37°探頭聲速偏斜角合格或不合。（三）70°探頭聲速偏斜角測試1設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，CSK-1A試塊、70°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊，量角器，計算器２.抑制置開，軌型置P60，將70°探頭對接于D插座上，探頭置CSK-1A試塊上，探測25mm厚度的下端角，前后移動和左右擺動探頭，調(diào)節(jié)增益使其最高反射回波為滿幅８０％，然后用量角器量出探頭側(cè)面與試塊端面垂直線的夾角，即為70°探頭聲速偏斜角3.測試結(jié)果分析，標準：70°探頭聲速偏斜角≤2°實測：70°探頭聲速偏斜角。經(jīng)測試70°探頭聲速偏斜角合格或不合。十五保護膜衰減值的測定1設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，CSK-1A試塊、70°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊，計算器2開機，抑制置關(guān)，軌型置P60，將７0°探頭連接到A通道，置CSK-1A試塊A面測R100圓弧，移動探頭、調(diào)節(jié)增益使其最高反射回波為滿幅８０％，此時增益讀數(shù)為W1dB。去掉保護膜，置CSK-1A試塊A面測R100圓弧，移動探頭、調(diào)節(jié)增益使其最高反射回波為滿幅８０％，此時增益讀數(shù)為W2dBW=W2-W1W為保護膜衰減值3.測試結(jié)果分析，標準：保護膜衰減值≤8dB實測：保護膜衰減值dB經(jīng)測試37°探頭聲速偏斜角合格或不合。十六、鋼軌探傷儀器的水平線性和垂直線性的測試儀器水平線性、垂直線性是否良好，直接關(guān)系到缺陷的定位定量。（一）水平線性的測試方法（畫圖）1設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，CSK-1A試塊（或WGT-3試塊、階梯試塊）、0°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊，計算器2.將儀器軌型置P60、增益適當、抑制關(guān)、將0°探頭對接于I插座上，將探頭置于CSK-1A試塊厚度為25mm中心，調(diào)節(jié)增益，使第二次底面反射回波為滿刻度50％時的前沿對準刻度2，第,十次底面反射回波為滿刻度50％時的前沿對準刻度10；調(diào)節(jié)增益，測出第4.6.8次底波波高為50%時的讀數(shù)B4、B6、B8的前沿與刻度4、6、8之間的偏差a4、a6、a8。找出最大偏差為amax時基線全長為b，則水平線性誤差ΔL用下式算出：ΔL＝amax/0.8b×100％ amax—a4、a6、a8中絕對值最大的一個3.測試結(jié)果分析，標準：水平線性的誤差值≤2%實測：水平線性的誤差值dB經(jīng)測試0°探頭水平線性的誤差合格或不合。（二）垂直線性的測試方法1設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，WGT-3試塊、70°探頭(帶保護膜)、耦合劑、壓塊，計算器2.將儀器軌型置P60、增益適當、抑制關(guān)、將70°探頭對接于A插座上，將探頭置于WGT-3試塊上測?3*65mm高度的橫通孔，調(diào)節(jié)增益使?3*65mm橫通孔最高反射回波幅度大于100％。調(diào)節(jié)增益，依次記錄每衰減2dB的反射回波高度值（衰減器保留有20dB以上余量）直至16dB。將每衰減2dB后孔波高度的實測值和理論值比較，取最大正偏差d（＋）與最大負偏差（－）的絕對值之和為垂直線性誤差Δd0Δd0＝［︳d（＋）︱＋︳d（－）︳］×100％衰減量（dB）0246810121416波高理論值10079.463.150.139.831.625.120.015.8（％）波高實測值（％）偏差值3.測試結(jié)果分析，標準：垂直線性的誤差值Δd0≤15%實測：垂直線性的誤差值Δd0dB經(jīng)測試70°探頭垂直線性的誤差值合格或不合八、通用儀器阻塞范圍的測試方法CTS-9008系列1.設(shè)備：CTS-9008探傷儀、CSK-1A試塊、DB-D1(a、b)試塊、2.5PD20、探頭線、耦合劑、壓塊2.開機將儀器面板深度探測范圍設(shè)置為50mm，工作方式選擇置單1，增益置大，發(fā)射強度置強，抑制置零，將直探頭與儀器插座對接好。將直探頭置于CSK-1A試塊厚25mm處，調(diào)節(jié)衰減器及零點位移，使25mm處底面兩次反射回波最高為50%時前沿分別對準刻度線5和10。此時全長刻度線代表縱波50mm。4.將直探頭置于DB-D1試塊上厚度48mm處，使其第一次底波B1最高（出波在刻度線4.8格上），調(diào)節(jié)衰減器使此底波幅度為垂直刻度80％。在DB-D1試塊上由厚至薄測量底波B1的幅度，找出此幅度保持在垂直刻度70％以上的最小板厚d1=mm定為儀器在這一探傷靈敏度下的阻塞范圍，并以鋼中縱波傳播距離表示。3.測試結(jié)果分析，標準：0°探頭阻塞范圍≤10mm實測：0°探頭阻塞范圍為mm經(jīng)測試0°探頭阻塞范圍合格或不合。九、斜探頭的入射點和折射角的測試為確保對缺陷的準確定位，探測前必須測定斜探頭的聲束入射點（包括前沿長度）和折射角（K值）。入射點和前沿長度的測定方法（畫圖）（一）K≤1.5探頭前沿長度和折射角測試1設(shè)備：CTS-9008型探傷儀，CSK-1A試塊、K1探頭、探頭線、耦合劑、壓塊。150直鋼尺，計算器，筆。2開機將儀器面板聲程探測范圍設(shè)置為200mm，工作方式選擇置單1，增益置大，抑制置零，發(fā)射強度置強，將K1探頭連接到儀器插座，置CSK-1A試塊A面測R100圓弧，移動探頭，調(diào)節(jié)增益使其最高回波達滿幅50%時，探頭保持不動，用直鋼尺量出探頭前沿到圓弧端的距離(測三次取平均值)L1mm，即探頭前沿長度L=100-L1３將探頭置CSK-1A試塊B面測?50mm移動探頭，調(diào)節(jié)增益使其最高回波達滿幅50%時，探頭保持不動，用直鋼尺量出探頭前沿到試塊端面的距離(測三次取平均值)X1mm。B=arctanX1-L-35/704.測試結(jié)果分析標準：３5°-45°探頭折射角誤差；≤1.5°，實測：K1探頭折射角誤差°。經(jīng)測試后K1探頭折射角合格或不合。（二）K1.5-K.25探頭前沿長度和折射角測試1設(shè)備：GCT-8C型探傷儀，CSK-1A試塊、K2.5探頭、探頭線、耦合劑、壓塊。150直鋼尺，計算器，筆。2開機將儀器面板深度探測范圍設(shè)置為100mm，工作方式選擇置單1，增益置大，抑制置零，發(fā)射強度置強，將K2.5探頭連接到儀器插座，置CSK-1A試塊A面測R100圓弧，移動探頭，調(diào)節(jié)增益使其最高回波達滿幅80%時，探頭保持不動，用直鋼尺量出探頭前沿到圓弧端的距離(測三次取平均值)L1mm，即探頭前沿長度L=100-L1.3將探頭置CSK-1A試塊A面測?50mm移動探頭，調(diào)節(jié)增益使其最高回波達滿幅80%時，探頭保持不動，用直鋼尺量出探頭前沿到試塊端面的距離(測三次取平均值)X1mm。B=arctanX1-L-35/304.測試結(jié)果分析，標準：K2.5探頭折射角誤差；≤2°，實測：K2.5探頭折射角誤差。經(jīng)測試后K2.5探頭折射角合格或不合。(三)K值大于2.5的斜探頭前沿長度和折射角測試，1.設(shè)備：CTS-9008探傷儀、CSK-1A試塊、K值斜探頭，探頭線、耦合劑、壓塊、直鋼尺，計算器開機，儀器深度范圍置150mm檔，增益最大，工作方式選擇置單1，抑制置零，發(fā)射強度置強，將探頭置于CSK-1A試塊R100mm圓弧面圓心上，前后平移探頭調(diào)節(jié)衰減器使R100曲面反射回波最大（滿刻度的50％），此時斜探頭底面與試塊圓心相交點即為入射點。探頭保持不動，用直鋼尺量出探頭前沿至試塊邊緣的水平距離M值，則探頭前沿長度L為：L＝100－M（mm）。（二）折射角的測定方法（畫圖）（1）.儀器深度范圍置150mm檔，增益最大，工作方式選擇置單1，抑制置零，發(fā)射強度置強，將探頭置于CSK-1A試塊R100mm圓弧面圓心上，首先測量出入射點前沿長度。（2）.然后在CSK-1A試塊上B面測Φ1.5橫通孔，前后平移探頭，調(diào)節(jié)衰減器，使最高反射回波幅度達到50％時，探頭不動用直鋼尺測量探頭到試塊邊緣的距離X1＝mm加上探頭前沿長度L＝mm再減去X0（Φ50圓弧面圓心到試塊邊緣的距離），除以h。即用下式可計算出折射角。β＝arctgX1＋L－X0∕154.測試結(jié)果分析，標準：K探頭折射角誤差；≤2°，實測：K探頭折射角誤差。經(jīng)測試后K探頭折射角合格或不合。十、器的水平線性和垂直線性的測試儀器水平線性、垂直線性是否良好，直接關(guān)系到缺陷的定位定量。（一）水平線性的測試方法（畫圖）1.設(shè)備：CTS-9008探傷儀、CSK-1A試塊、2.5PD20、探頭線、耦合劑、壓塊、計算器1.開機，儀器深度范圍置125檔，增益最大，工作方式選擇置單1，發(fā)射強度置強，抑制置零。將直探頭置于CSK-1A試塊厚度為25mm中心，調(diào)節(jié)儀器衰減器和零點位移和五次底面反射回波顯示清晰且第五次回波幅度不小于滿刻度50％；分別調(diào)節(jié)衰減器和零點位移脈使底波B1、B5的波高最高為50%時前沿與刻度2、10對齊，讀出底波B2、B3、B4的前沿與刻度4、6、8之間的偏差a4、a6、a8。找出最大偏差為amax時基線全長為b，則水平線性誤差ΔL用下式算出：ΔL＝amax/0.8b×100％ amax—a4、a6、a8中絕對值最大的一個。4.測試結(jié)果分析，標準：水平線性誤差；≤2%，實測：水平線性誤差。經(jīng)測試后水平線性誤差合格或不合。（二）垂直線性的測試方法1.設(shè)備：CTS-9008探傷儀、CSK-1A試塊、CS-1-5試塊、2.5PD20、探頭線、耦合劑、壓塊、計算器1.開機，儀器深度范圍置250mm檔，增益最大，工作方式選擇置單1，發(fā)射強度置強，抑制置零。將直探頭置于CSK-1A試塊厚度為100mm處，調(diào)節(jié)衰減器、零點位移，使試塊100mm的第一、二次底面反射回波幅度為50％時并使兩次反射回波的前沿對準刻線5和10大格，此時零點校正完畢1.將直探頭置于CS-1-5試塊上，調(diào)節(jié)衰減器使Φ2平底孔反射回波正好滿幅（衰減器保留有26dB以上余量），記錄下此時衰減器讀數(shù)（也可作為0dB的基準）和反射回波高度，然后逐次衰減2dB直至26dB。將每衰減2dB后孔波高度的實測值和理論值比較，取最大正偏差d（＋）與最大負偏差（－）的絕對值之和為垂直線性誤差Δd0Δd0＝［︳d（＋）︱＋︳d（－）︳］×100％衰減量（dB）02468101214161820222426波高理論值10079.463.150.139.831.625.120.015.812.510.07.96.55.0（％）波高實測值（％）偏差值（％）4.測試結(jié)果分析，標準：垂直線性誤差；≤4%，實測：垂直線性誤差。經(jīng)測試后垂直線性誤差合格或不合。十一、靈敏度余量、動態(tài)范圍的測試方法1.設(shè)備：CTS-9008探傷儀、CSK-1A試塊、CS-1-5試塊、2.5PD20、探頭線、耦合劑、壓塊、計算器2.開機，儀器深度范圍置250mm檔，增益最大，工作方式選擇置單1，發(fā)射強度置強，抑制置零。不接探頭，衰減器置最大，調(diào)節(jié)衰減器，使雜波最高為滿幅10%時，記錄此時衰減器讀數(shù)S0，連接探頭將直探頭置于CSK-1A試塊厚度為100mm處，調(diào)節(jié)衰減器、零點位移，使試塊100mm的第一、二次底面反射回波幅度為50％時并使兩次反射回波的前沿對準刻線5和10大格，此時零點校正完畢3.將直探頭置于CS-1-5試塊上，調(diào)節(jié)衰減器使Φ2平底孔反射回波正好滿幅50％（衰減器保留有26dB以上余量），記錄下此時衰減器讀數(shù)S1。探頭保持不動，調(diào)節(jié)衰減器使Φ2平底孔反射回波正好滿幅100％（衰減器保留有26dB以上余量），記錄下此時衰減器讀數(shù)S3。調(diào)節(jié)衰減器使Φ2平底孔反射回波正好消失，此時衰減器讀數(shù)S4。S=S1—S0S5=S1—S0S—靈敏度余量，S1—增益讀數(shù)，S0—電噪聲電平，S5-動態(tài)范圍。4.測試結(jié)果分析標準：0°探頭靈敏度余量≥55dB，動態(tài)范圍≥26dB。實測：0°探頭探傷靈敏度余量dB，動態(tài)范圍dB。經(jīng)測試后0°探頭靈敏度余量、動態(tài)范圍合格或不合格。（畫圖）十二、相對靈敏度測定（一）直探頭相對靈敏度測定1.設(shè)備：CTS-9008探傷儀、CSK-1A試塊、CS-1-5試塊、2.5PD20、探頭線、耦合劑、壓塊、計算器2.開機，儀器深度范圍置250mm檔，增益最大，工作方式選擇置單1，發(fā)射強度置強，抑制置零。不接探頭，衰減器置最大，調(diào)節(jié)衰減器，使雜波最高為滿幅10%時，記錄此時衰減器讀數(shù)S0，連接探頭將直探頭置于CSK-1A試塊厚度為100mm處，調(diào)節(jié)衰減器、零點位移，使試塊100mm的第一、二次底面反射回波幅度為50％時并使兩次反射回波的前沿對準刻線4和8大格，此時零點校正完畢3.將直探頭置于CS-1-5試塊上，調(diào)節(jié)衰減器使Φ2平底孔最高反射回波正好滿幅50％（衰減器保留有26dB以上余量），記錄下此時衰減器讀數(shù)S1S=S1—S0S—相對靈敏度4.測試結(jié)果分析標準：0°探頭相對靈敏度≥55dB，實測：0°探頭相對靈敏度dB，經(jīng)測試后0°探頭相對靈敏度、合格或不合格。（一）斜探頭相對靈敏度測定1.設(shè)備：CTS-9008探傷儀、CSK-1A試塊、K2.5探頭（或K1探頭）、探頭線、耦合劑、壓塊、計算器開機，儀器深度范圍置70mm檔，增益最大，工作方式選擇置單1，發(fā)射強度置強，抑制置零。不接探頭，衰減器置最大，調(diào)節(jié)衰減器，使雜波最高為滿幅10%時，記錄此時衰減器讀數(shù)S0，連接探頭將直探頭置于CSK-1A試塊上測R100mm圓弧處，調(diào)節(jié)衰減器，移動探頭，使R100mm圓弧面最高回波為滿幅50%時，此時衰減器讀數(shù)S1，則S=S1—S0S—相對靈敏度3.測試結(jié)果分析標準：2.5MHZ探頭相對靈敏度≥65dB，4MHZ探頭相對靈敏度≥60dB實測：K2.5探頭相對靈敏度dB，經(jīng)測試后K2.5探頭相對靈敏度、合格或不合格。十二、分辨力的測試方法儀器和探頭的組合盲區(qū)和分辨力與脈沖寬度有關(guān)，脈沖持續(xù)時間越長，在熒光屏上始波越寬，則盲區(qū)越大，同時也會使分辨力下降。分辨力的測試方法。1直探頭分辨力的測試方法（1）設(shè)備：CTS-9008探傷儀、CSK-1A試塊、2.5PD20、探頭線、耦合劑、壓塊、計算器（2）開機，儀器深度范圍置125mm檔，增益最大，工作方式選擇置單1，發(fā)射強度置強，抑制置零，將直探頭置CSK-1A試塊厚度為25mm處，調(diào)節(jié)衰減器及有關(guān)旋鈕使厚度25mm處第一次和第五次回波最高50%的前沿對準刻度線2和10即校正和零點。方法一：然后置探頭于CSK-1A試塊高度為100mm處，探測聲程分別為85mm和91mm兩個臺階的反射面反射回波，移動探頭使兩波等到高為滿刻度的20％～30％，記錄此時衰減器讀數(shù)h1，調(diào)節(jié)衰減器使波谷高度h2提升至h1，記錄此時衰減器讀數(shù)h2。波谷與波峰的dB差為儀器與直探頭的組合分辨力，兩波能完全分開，取R>30dＢ。方法二：將探頭于CSK-1A試塊高度為100mm處，探測聲程分別為85mm和91mm兩個臺階的反射面反射回波，移動探頭使兩波等到高為滿刻度的100％，然后測量波谷高度h，則該探頭分辨力為R=20lg(100/h),若h=0或兩波能完全分開，取R>30dＢ。R=h2-h1R=20lg(100/h)R為分辨力4.測試結(jié)果分析標準：0°探頭分辨力≥26dB實測：0°探頭分辨力dB經(jīng)測試后0°探頭分辨力合格或不合格。斜探頭分辨力的測試方法（1）設(shè)備：CTS-9008型探傷儀，CSK-1A試塊、、K2.5探頭（4MHz或2.5MHz）、探頭線、耦合劑、壓塊。（2）開機，儀器深度范圍置70mm檔，增益最大，工作方式選擇置單1，發(fā)射強度置強，抑制置零，將探頭置CSK-1A試塊Ａ面上，測R100圓弧測定探頭前沿長度和校正零點。將探測?５０mm,?４４mm兩圓弧，移動探頭，方法一：調(diào)節(jié)增益使兩反射回波等高，高度為H1（一般為滿幅20%-30%）增益讀數(shù)dB，調(diào)節(jié)增益使兩反射回波波谷H2上升至H1，增益讀數(shù)dB；R=H2-H1；方法二：調(diào)節(jié)增益使兩反射回波等高達滿幅100%，然后測量波谷高度h，則該探頭分辨力為R=20lg(100/h),若h=0或兩波能完全分開，取R>30dＢ。R=h2-h1R=20lg(100/h)R為分辨力（3）.測試結(jié)果分析標準：4MHz探頭分辨力≥22dB，2.5MHz探頭分辨力≥20dB實測：K2.5探頭分辨力dB經(jīng)測試K2.5探頭分辨力為合格或不合。十三、探頭聲軸偏斜角、聲束寬度和擴散角的測試方法（一）聲軸偏斜角的測定方法1.0°探頭（1）設(shè)備：CTS-9008探傷儀、CSK-1A試塊、WGT-3試塊、2.5PD20、探頭線、耦合劑、壓塊、直鋼尺、計算器（2）開機，儀器深度范圍置150mm檔，增益最大，工作方式選擇置單1，發(fā)射強度置強，抑制置零，將探頭置CSK-1A試塊上校正好零點。將0°探頭放在WGT-3試塊上探測深度為80mm深的橫孔，如圖1，沿試塊縱向前后移動探頭，并注意保持與試塊側(cè)面平行，使橫孔反射波最高，測量探頭中心到試塊端頭的距離L。則聲束偏斜角θ用下式計算：θ＝tg－1（︱L－120︱/80）（畫圖）（3）.測試結(jié)果分析標準：0°探頭聲軸偏斜角≤2°，實測：0°探頭聲軸偏斜角dB經(jīng)測試0°探頭聲軸偏斜角為合格或不合。斜探頭：(1)設(shè)備：CTS-9008探傷儀、CSK-1A試塊、K1（或K2.5）探頭、探頭線、耦合劑、壓塊、量角器、計算器..開機，將儀器聲程范圍置200mm檔，增益最大，工作方式選擇置單1，發(fā)射強度置強，抑制置零，將探頭置于CSK-1A試塊測定探頭前沿長度、零點及K值。將探頭置于CSK-1A試塊25mm厚的表面上，35°～45°（K1）探頭探測試塊側(cè)面上棱角，（60°及以上探頭K2.5探頭探測試塊側(cè)面的下棱角）。如圖2所示，前后移動和左右擺動探頭，測試棱角反射波最高，然后用量角器測量探頭中心線與試塊側(cè)面法線之間的夾角，此夾角即為聲軸偏斜角θ。（畫圖）（3）.測試結(jié)果分析標準：探頭聲軸偏斜角≤2°，實測：探頭聲軸偏斜角經(jīng)測試探頭聲軸偏斜角為合格或不合。（二）探頭聲束寬度的測定方法斜探頭聲束寬度的測定1.設(shè)備：：(1)設(shè)備：CTS-9008探傷儀、CSK-1A試塊、WGT-3試塊、K1（或K2.5）探頭、探頭線、耦合劑、壓塊、直鋼尺、計算器2.測試步驟及分析1）開機，儀器深度范圍置70mm檔，增益最大，工作方式選擇置單1，發(fā)射強度置強，抑制置零，將探頭置于CSK-1A試塊測定探頭前沿長度、零點及K值。探頭探測WGT-3試塊上65mm深Φ3橫孔，調(diào)節(jié)衰減器使最高孔波的幅度達到滿幅度的80％，然后將靈敏度提高6dB，沿試塊縱向分別前后移動探頭，并注意保持探頭與試塊縱向平行，直至孔波幅度下降到滿刻度的80％，測得兩點到端面的距離L1=L2=。則探頭前后移動距離即為該探頭的聲束寬度N（用直鋼尺測量）。N=L2-L13測試結(jié)果分析：標準：K1探頭：探測WGT-3試塊上65mm深Φ3橫孔時N≥15mm；K2.5探頭：探測WGT-3試塊上65mm深Φ3橫孔時N≥60mm。實測K1（或K2.5）探頭探測WGT-3試塊時N＝mm，合格或不合格。畫圖二直探頭聲束寬度的測定1.設(shè)備：：(1)設(shè)備：CTS-9008探傷儀、CSK-1A試塊、WGT-3試塊、K1（或K2.5）探頭、探頭線、耦合劑、壓塊、直鋼尺、計算器2.測試步驟及分析2開機，儀器深度范圍置100mm檔，增益最大，工作方式擇置單1，發(fā)射強度置強，抑制置零，將探頭置于CSK-1A試試塊測定探頭零點，用探頭探測WGT-3試塊上80mm深Φ3橫孔，調(diào)節(jié)衰減器使最高孔波的幅度達到滿幅度的80％然后將靈敏度提高6dB，沿試塊縱向分別前后移動探頭，并注意保持探頭與試塊縱向平行，直至孔波幅度下降到滿刻度的80％，測得兩點到端面的距離L1=L2=。則探頭前后移動距離即為該探頭的聲束寬度N（用直鋼尺測量）。N=L2-L13測試結(jié)果分析：標準：0°探頭：探測WGT-3試塊上80mm深Φ3橫孔時N≥25mm；實測0°探頭探測WGT-3試塊時N＝mm，合格或不合格。（二）斜探頭擴散角的測定方法斜探頭的擴散角有縱向擴散角和橫向擴散角之分。由于波型轉(zhuǎn)換，聲軸前方的縱向擴散角與后方的擴散角不相等。縱向擴散角的測定方法：（畫圖）設(shè)備：CTS-9008系列探傷儀、（GCT-8C）、CSK-1A試塊、直鋼尺、2.5P13×13K2.5探頭、壓塊、耦合劑（機油）。計算器2開機，儀器深度范圍置70mm檔，增益最大，工作方式置單1，發(fā)射強度置強，抑制置零。將K2.5探頭置于CSK-1A試塊R100圓弧面圓心上，前后移動探頭，調(diào)節(jié)衰減器及深度微調(diào)和脈沖位移旋鈕，使R100圓弧面反射的回波幅度達到滿刻度的80％及回波前沿落在刻度線8大格上；用直鋼尺測量探頭前沿長度為100－88＝12mm。將探頭置于CSK-1A試塊A面上，探測Φ50橫通孔，前后移動探頭并調(diào)節(jié)衰減器使Φ50橫通孔反射回波幅度達到滿刻度的80％。然后用直鋼尺測量得X1＝mm，提高6dB，移動探頭向前使反射回波幅度下降至滿刻度80％時，用直鋼尺量得X2＝mm，再將探頭向后移動至使反射回波幅度下降至滿刻度80％時，用直鋼尺量得X3＝mm。則前后擴散角由下式算出：β1＝arctgX1＋L－X0/h0＝65＋12－35/15＝70.35°β2＝arctgX2＋L－X0/h0＝54＋12－35/15＝63.43°β3＝arctgX3＋L－X0/h0＝83＋12－35/15＝75.9°前擴散角Q前＝β3－β1＝75.96°－70.35°＝5.6°后擴散角Q后＝β1－β2＝70.35°－63.43°＝6.9°注意：K≤1.5時在試塊B面測?50橫通孔；h0＝70.1.5<K≤2.5時在試塊A面測?50橫通孔；h0＝30.K>2.5時在試塊B面測?50橫通孔；h0＝15（三）組合探頭相對偏差以探頭外殼縱向中心線為基準線，用直尺測量兩探頭中心到基準線的垂直距離a1、a2。當兩探頭中心在基準線同側(cè)時，a1、a2之差為組合探頭的相對偏差，在異側(cè)時，a1、a2之和為組合探頭的偏差。畫圖十二、空載始波寬度的測定（一）直探頭空載始波寬度測定1.設(shè)備：CTS-9008探傷儀、CSK-1A試塊、CS-1-5試塊（DB-PZ20-2試塊）、2.5PD20、探頭線、耦合劑、壓塊、2.開機，儀器深度范圍置200mm檔，增益最大，工作方式選擇置單1，發(fā)射強度置強，抑制置零。連接探頭將直探頭置于CSK-1A試塊厚度為100mm處，調(diào)節(jié)衰減器、零點位移，使試塊100mm的第一、二次底面反射回波幅度為50％時并使兩次反射回波的前沿對準刻線5和10大格，此時零點校正完畢3.將直探頭置于CS-1-5試塊上，調(diào)節(jié)衰減器使Φ2平底孔最高反射回波正好滿幅50％（衰減器保留有26dB以上余量），將探頭置于空氣中，擦去探頭表面油層，然后再增益12dB,并找出此時始波后沿與垂直刻度20%的交點，則水平刻度的0點至該交點的水平距離W0即為該探頭的空載始波寬度。4.測試結(jié)果分析標準：0°探頭空載始波寬度≤20mm，實測：0°探頭空載始波寬度mm，經(jīng)測試后0°探頭空載始波寬度合格或不合格。（一）斜探頭空載始波寬度測定1.設(shè)備：CTS-9008探傷儀、CSK-1A試塊、K2.5探頭(K1探頭)、探頭線、耦合劑、壓塊、2.開機，儀器聲程范圍置100mm檔，增益最大，工作方式選擇置單1，發(fā)射強度置強，抑制置零。連接探頭將直探頭置于CSK-1A試塊測R100圓弧，調(diào)節(jié)衰減器、零點位移，使試塊R50和R100圓弧的最高反射回波幅度為50％時并使兩次反射回波的前沿對準刻線5和10大格，此時零點與測距校正完畢3將探頭置CSK-1A試塊上測R100圓弧面前后移動探頭，保持聲速方向與試塊側(cè)面平行，調(diào)節(jié)衰減器使R100圓弧最高回波為滿幅的50%。將探頭置于空氣中，擦去探頭表面油層，然后再增益40dB,并找出此時始波后沿與垂直刻度20%的交點，則水平刻度的0點至該交點的水平距離W0即為該探頭的空載始波寬度。4.測試結(jié)果分析標準：2.5MHz探頭空載始波寬度≤25mm，4MHz探頭空載始波寬度≤20mm，實測：K2.5探頭空載始波寬度mm，經(jīng)測試后K2.5探頭空載始波寬度合格或不合格。五鋼軌焊縫探傷靈敏度測試（單探頭）一0°探頭焊縫探傷靈敏度測試1.設(shè)備：CTS-9008探傷儀（或900型儀器）、CSK-1A試塊、GHT-5試塊、2.5PD20探頭