GB/T 11682-2008低本底α和/或β測(cè)量?jī)x

犐犆犛１３．２８０

犉８４

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜１１６８２—２００８

代替ＧＢ／Ｔ１１６８２—１９８９

低本底α和／或β測(cè)量?jī)x

犔狅狑犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱犪犾狆犺犪犪狀犱／狅狉犫犲狋犪犿犲犪狊狌狉犻狀犵犻狀狊狋狉狌犿犲狀狋狊

２００８０７０２發(fā)布２００９０４０１實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書(shū)

犌犅／犜１１６８２—２００８

前言

本標(biāo)準(zhǔn)代替ＧＢ／Ｔ１１６８２—１９８９《低本底α測(cè)量?jī)x》。

本標(biāo)準(zhǔn)與ＧＢ／Ｔ１１６８２—１９８９相比作了如下修改：

———標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)修改為《低本底α和／或β測(cè)量?jī)x》；

———增加了測(cè)量低本底β的內(nèi)容；

———“規(guī)范性引用文件”中增加了引用的標(biāo)準(zhǔn)；

———“術(shù)語(yǔ)和定義”中增加了“串道比”的內(nèi)容；

———增加α與β的相互干擾指標(biāo)，即串道比指標(biāo)；

———增加了儀器電磁兼容的要求和試驗(yàn)方法；

———增加了對(duì)儀器軟件的通用要求；

———?jiǎng)h除了“表１儀器分級(jí)”中本底穩(wěn)定性的技術(shù)指標(biāo)；

———?jiǎng)h除了“表２改變影響量的項(xiàng)目和要求”中變化限值和本底計(jì)數(shù)率的技術(shù)要求。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄Ａ為規(guī)范性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)核工業(yè)集團(tuán)公司提出。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（ＳＡＣ／ＴＣ３０）歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中核（北京）核儀器廠。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：楊彬華、文建生、吳炳麟。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ１１６８２—１９８９。

Ⅰ

書(shū)

犌犅／犜１１６８２—２００８

低本底α和／或β測(cè)量?jī)x

１范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低本底α和／或β測(cè)量?jī)x的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法和檢驗(yàn)規(guī)則。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)量弱α、β放射性活度或表面發(fā)射率的儀器，也適用于多用途儀器中的測(cè)量弱α或β

放射性的部分。

本標(biāo)準(zhǔn)不適用于測(cè)量α或β能譜類(lèi)型的儀器。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

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ＧＢ／Ｔ１９６６１．２核儀器及系統(tǒng)安全要求第２部分：放射性防護(hù)要求

３術(shù)語(yǔ)和定義

下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

３．１

本底犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱

非起因于待測(cè)物理量的信號(hào)。

３．２

儀器本底犻狀狊狋狉狌犿犲狀狋犪犾犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱

儀器在正常工作條件下，樣品盤(pán)中無(wú)放射源時(shí)，儀器的指示值。

３．３

空白樣品犫犾犪狀犽狊犪犿狆犾犲

由無(wú)外加放射性但與樣品相同的物質(zhì)，按正常程序制作的待測(cè)平面樣品。

３．４

空白樣品本底犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱狅犳犫犾犪狀犽狊犪犿狆犾犲

儀器在正常工作條件下，測(cè)量空白樣品的指示值。

３．５

本底計(jì)數(shù)犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱犮狅狌