標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 12968-1991 純金屬電阻率與剩余電阻比渦流衰減測量方法》這一標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了使用渦流技術(shù)測量純金屬材料電阻率及剩余電阻比的方法步驟、設(shè)備要求、數(shù)據(jù)處理及精度評估等內(nèi)容。然而，您提供的對比要求中，并未明確指出要與哪一個具體的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較。因此，直接對比其與某一特定標(biāo)準(zhǔn)的變更是無法完成的。

若旨在理解該標(biāo)準(zhǔn)本身相對于一般渦流檢測技術(shù)或早期相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的可能進(jìn)步和特點，可以概述《GB/T 12968-1991》的一些關(guān)鍵要點及其在當(dāng)時背景下可能代表的改進(jìn)方向：

  1. 技術(shù)細(xì)化：該標(biāo)準(zhǔn)可能明確了更精確的測試條件和參數(shù)設(shè)置，比如對測試頻率、磁場強度及樣品尺寸的要求，以提高測量結(jié)果的一致性和重復(fù)性。

  2. 適用范圍明確：針對純金屬材料，特別界定了適用于哪些類型的金屬及其純度范圍，確保測試方法的針對性和有效性。

  3. 數(shù)據(jù)處理方法：標(biāo)準(zhǔn)可能引入了更為先進(jìn)的數(shù)據(jù)處理算法，用于從渦流衰減信號中準(zhǔn)確提取電阻率和剩余電阻比信息，減少測量誤差。

  4. 精度要求提升：相比之前的指導(dǎo)原則或標(biāo)準(zhǔn)，它可能設(shè)定了更高的測量精度和不確定性評估標(biāo)準(zhǔn)，有助于提升實驗結(jié)果的科學(xué)性和可靠性。

  5. 標(biāo)準(zhǔn)化操作流程：提供了從樣品準(zhǔn)備到測試執(zhí)行，再到結(jié)果分析的一整套標(biāo)準(zhǔn)化流程，便于不同實驗室間的結(jié)果比對和驗證。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 1991-06-04 頒布
  • 1992-03-01 實施
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文檔簡介

UDC669.2/.8:621.317.331GBH21中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12968-91純金屬電阻率與剩余電阻比渦流衰減測量方法EddycurrentdecaymethodformeasurementofresistivityandHresidualresistanceratioofpure.metals1991-06-04發(fā)布1992-03-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)純金屬電阻率與剩余電阻比渦流衰減測量方法GBT12968-91Eddycurrentdecaymethodformeasurementofresistivityandresidualresistanceratioofpuremetals主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了純金屬電機率與刺余電風(fēng)比溝流衰減測量方法本標(biāo)淮適用手瓦徑，～20mm、電亂率IOT-10"2.m的純念屬試樣的測量.術(shù)語2.1禍流衰減時間常數(shù)？（deca）Limeconslanl）：渦流信號強度襄減到原信號強度1e所需的時間2.2剩余電機比R,R.R（residualrcsislanceralio)：材料在273,15A下的電陽率與在1.2人下的電阻率之比。金屬的R.R.R值與材料純度有關(guān)方法原理測量原理如圖，試樣處于初級線圈建立的磁場中，當(dāng)場撤除后，試樣內(nèi)部感生渦流。潤流減的快慢取決于試樣電阻率的大小及幾何尺寸。對圓柱狀樣品，其潤流衰減時間常數(shù)與電阻率的關(guān)系為：-2.17：10-rr式中：修--試樣電機率。m：被測區(qū)域試樣半徑，mn:試樣溝流衰減時間常數(shù)、由記錄的渦流衰減信號可確定試樣的渦流衰減時間常數(shù)，從而計算出試樣的電機率值探測線店記錄儀1潤流寒減

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