GB/T 13542.2-2009電氣絕緣用薄膜第2部分：試驗(yàn)方法

犐犆犛２９．０３５．９９

犓１５

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜１３５４２．２—２００９

代替ＧＢ／Ｔ１３５４１—１９９２

電氣絕緣用薄膜

第２部分：試驗(yàn)方法

犉犻犾犿犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪犾犻狀狊狌犾犪狋犻狅狀—

犘犪狉狋２：犕犲狋犺狅犱狊狅犳狋犲狊狋

（ＩＥＣ６０６７４２：１９８８，Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｆｏｒｐｌａｓｔｉｃｆｉｌｍｓｆｏｒｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｐｕｒｐｏｓｅｓ—

Ｐａｒｔ２：Ｍｅｔｈｏｄｓｏｆｔｅｓｔ，ＭＯＤ）

２００９０６１０發(fā)布２００９１２０１實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書

犌犅／犜１３５４２．２—２００９

前言

ＧＢ／Ｔ１３５４２《電氣絕緣用薄膜》分為下列幾個(gè)部分：

———第１部分：定義和一般要求；

———第２部分：試驗(yàn)方法；

———第３部分：電容器用雙軸定向聚丙烯薄膜；

———第４部分：聚酯薄膜；

……。

本部分為ＧＢ／Ｔ１３５４２的第２部分。

本部分修改采用ＩＥＣ６０６７４２：１９８８《電氣用塑料薄膜第２部分：試驗(yàn)方法》及第１次修正（２００１）

（英文版）。

考慮到我國(guó)國(guó)情，在采用ＩＥＣ標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，本部分做了一些修改。有關(guān)技術(shù)性差異在它們所涉及的條

款的頁邊空白處用垂直單線標(biāo)識(shí)。

為便于使用，本部分做了下列編輯性修改：

ａ）刪除了ＩＥＣ的“前言”和“引言”；增加了“規(guī)范性引用文件”；

ｂ）在機(jī)械法測(cè)量厚度中增加了疊層法；

ｃ）在“卷繞性”中將“輥的直徑為１００ｍｍ±１０ｍｍ”改為“輥的直徑為１００ｍｍ±１ｍｍ”；

ｄ）規(guī)定了“表面粗糙度”的測(cè)量方法；

ｅ）增加了２００１年第１次修正補(bǔ)充的“非接觸式電極測(cè)量”方法（變電容法、變間距法），并細(xì)化了

計(jì)算公式；

ｆ）對(duì)“模型電容器法”測(cè)“介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率”進(jìn)行細(xì)化，并增加計(jì)算公式；

ｇ）刪除了“浸漬狀態(tài)下的損耗因數(shù)”；

ｈ）考慮到我國(guó)國(guó)情，電氣強(qiáng)度直流試驗(yàn)中增加了“５０點(diǎn)電極法”；

ｉ）考慮到我國(guó)國(guó)情，將電弱點(diǎn)試驗(yàn)方法中鋁箔電極的厚度由６μｍ改為７μｍ，另外將施加直流電

壓由１００Ｖ／μｍ改為產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的電壓值（２００Ｖ／μｍ）；

ｊ）規(guī)定了“熔點(diǎn)”的測(cè)量方法；

ｋ）在燃燒性試驗(yàn)中將“試樣距燃燒器頂端９．５ｍｍ”改為“試樣距燃燒器頂端１０ｍｍ”；

ｌ）根據(jù)我國(guó)國(guó)情增加了“空隙率”的測(cè)量方法。

本部分代替ＧＢ／Ｔ１３５４１—１９９２《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》。

本部分與ＧＢ／Ｔ１３５４１—１９９２相比主要變化如下：

ａ）部分章節(jié)順序改變；

ｂ）刪除了疊層法測(cè)厚度中表１的內(nèi)容；

ｃ）厚度測(cè)量中增加“用重量法測(cè)定卷的平均厚度”及“橫向厚度分布和縱向厚度變化”；

ｄ）規(guī)定了“表面粗糙度”的測(cè)量方法；

ｅ）規(guī)定了“挺度”的測(cè)量方法；

ｆ）在“介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率”試驗(yàn)方法中增加了“變間距法”及“流體排出法”；

ｇ）在“電氣強(qiáng)度直流試驗(yàn)”方法中增加“５０點(diǎn)電極法”；

ｈ）在“熔點(diǎn)”試驗(yàn)方法中增加了“ＤＳＣ法”。

本部分由中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。

本部分由全國(guó)絕緣材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（ＳＡＣ／ＴＣ５１）歸口。

Ⅰ

書

犌犅／犜１３５４２．２—２００９

本部分負(fù)責(zé)起草單位：桂林電器科學(xué)研究所。

本部分參加起草單位：東材科技集團(tuán)股份有限公司、江門潤(rùn)田投資實(shí)業(yè)有限公司、廣東佛塑集團(tuán)股

份有限公司、安徽銅峰電子股份有限公司、浙江南洋科技股份有限公司、溧陽華晶電子材料有限公司、桂

林電力電容器有限責(zé)任公司、西安交通大學(xué)。

本部分起草人：王先鋒、李學(xué)敏、趙平、柯慶毅、唐曉玲、章曉紅、丁邦建、錢時(shí)昌、李兆林、曹曉瓏。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ１３５４１—１９９２。

Ⅱ

犌犅／犜１３５４２．２—２００９

電氣絕緣用薄膜

第２部分：試驗(yàn)方法

１范圍

ＧＢ／Ｔ１３５４２的本部分規(guī)定了電氣絕緣用薄膜的試驗(yàn)方法。

本部分適用于電氣絕緣用薄膜。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ１３５４２的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＧＢ／Ｔ１０３３．１—２００８塑料非泡沫塑料密度的測(cè)定第１部分：浸漬法、液體比重瓶法和滴定法

（ＩＳＯ１１８３１：２００４，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ１４０８．１—２００６絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法第１部分：工頻下試驗(yàn)（ＩＥＣ６０２４３１：１９９８）

ＧＢ／Ｔ１４０９—２００６測(cè)定電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損

耗因數(shù)的推薦方法（ＩＥＣ６０２５０：１９６９，ＭＯＤ）

ＧＢ／Ｔ１４１０—２００６固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法（ＩＥＣ６００９３：１９８０，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ７１９６—１９８７用液體萃取測(cè)定電氣絕緣材料離子雜質(zhì)的試驗(yàn)方法（ｅｑｖＩＥＣ６０５８９：１９７７）

ＧＢ／Ｔ１０００６—１９８８塑料薄膜和薄片摩擦系數(shù)測(cè)定方法（ｉｄｔＩＳＯ８２９５：１９８６）

ＧＢ／Ｔ１０５８０—２００３固體絕緣材料試驗(yàn)前和試驗(yàn)時(shí)采用的標(biāo)準(zhǔn)條件（ＩＥＣ６０２１２：１９７１，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ１０５８２—２００８電氣絕緣材料測(cè)定因絕緣材料引起的電解腐蝕的試驗(yàn)方法（ＩＥＣ６０４２６：

２００７，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ１１０２６．１—２００３電氣絕緣材料耐熱性第１部分：老化程序和試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定（ＩＥＣ

６０２１６１：２００１，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ１１０２６．２—２０００確定電氣絕緣材料耐熱性的導(dǎo)則第２部分：試驗(yàn)判斷標(biāo)準(zhǔn)的選擇（ｉｄｔ

ＩＥＣ６０２１６２：１９９０）

ＧＢ／Ｔ１１０２６．