標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 13974-1992 半導(dǎo)體管特性圖示儀測(cè)試方法》是一項(xiàng)由中國(guó)發(fā)布的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),旨在規(guī)定使用半導(dǎo)體管特性圖示儀對(duì)半導(dǎo)體管各項(xiàng)電氣特性進(jìn)行測(cè)量的方法和要求。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)闡述了測(cè)試環(huán)境、儀器校準(zhǔn)、測(cè)試步驟以及數(shù)據(jù)處理等方面的具體規(guī)范,以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。下面是標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的概述:
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范圍:本標(biāo)準(zhǔn)適用于使用半導(dǎo)體管特性圖示儀對(duì)半導(dǎo)體二極管、晶體管(包括雙極型晶體管和場(chǎng)效應(yīng)晶體管)等半導(dǎo)體器件的主要電性能參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。
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引用標(biāo)準(zhǔn):列出了實(shí)施本標(biāo)準(zhǔn)時(shí)需要參考的其他相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),確保測(cè)試方法與現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)體系相協(xié)調(diào)。
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術(shù)語(yǔ)和定義:明確了在標(biāo)準(zhǔn)文本中使用的專業(yè)術(shù)語(yǔ)及其定義,幫助讀者準(zhǔn)確理解測(cè)試過程中的具體概念。
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測(cè)試環(huán)境:規(guī)定了進(jìn)行半導(dǎo)體管測(cè)試時(shí)所需的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境條件,如溫度、濕度等,以減小外界因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
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儀器設(shè)備:詳細(xì)描述了半導(dǎo)體管特性圖示儀的技術(shù)要求和校準(zhǔn)方法,確保測(cè)試儀器的精度和可靠性。同時(shí),也包括了輔助測(cè)試設(shè)備的要求。
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測(cè)試準(zhǔn)備:包括被測(cè)半導(dǎo)體管的預(yù)處理、安裝及接線方式,確保測(cè)試前的各項(xiàng)準(zhǔn)備工作符合標(biāo)準(zhǔn)要求。
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測(cè)試方法:
- 靜態(tài)特性測(cè)試:詳細(xì)說明了如何測(cè)量半導(dǎo)體管的輸入特性曲線、輸出特性曲線等,以及如何根據(jù)這些曲線分析半導(dǎo)體管的放大系數(shù)、飽和電流等關(guān)鍵參數(shù)。
- 動(dòng)態(tài)特性測(cè)試(如果適用):可能包含對(duì)頻率響應(yīng)、開關(guān)速度等動(dòng)態(tài)性能指標(biāo)的測(cè)試方法。
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數(shù)據(jù)處理與分析:規(guī)定了測(cè)試數(shù)據(jù)的記錄格式、計(jì)算方法以及如何根據(jù)測(cè)試結(jié)果評(píng)估半導(dǎo)體管的性能是否符合規(guī)格要求。
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試驗(yàn)報(bào)告:要求測(cè)試結(jié)束后應(yīng)編制詳細(xì)的試驗(yàn)報(bào)告,記錄測(cè)試條件、所用儀器、測(cè)試結(jié)果及結(jié)論等信息,以便于追溯和審核。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 13973-2012
- 1992-12-17 頒布
- 1993-07-01 實(shí)施
文檔簡(jiǎn)介
UDC621.382.3:621.317.75L86中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)CB/T13974-92半導(dǎo)體管特性圖示儀測(cè)試方法Testmethodsforsemiconductordevicecurvetracers1992-12-17發(fā)布1993-07-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體管特性圖示儀測(cè)試方法CB/T13974-92Testmethodsforsemiconductordevicecurvetracers1主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體管特性圖示儀(以下簡(jiǎn)稱圖示儀)的測(cè)試方法及誤差計(jì)算等。本標(biāo)準(zhǔn)所用的術(shù)語(yǔ)符合GB/T13973《半導(dǎo)體管特性圖示儀通用技術(shù)條件》中第三章的規(guī)定本標(biāo)準(zhǔn)適用干測(cè)試GB/T13973中所規(guī)定的性能特性2引用標(biāo)準(zhǔn)GB4793:電子測(cè)量?jī)x器安全要求GB6587.7電子測(cè)量?jī)x器基本安全試驗(yàn)GB6592電子測(cè)量?jī)x器誤差的一般規(guī)定GB6593電子測(cè)量?jī)x器質(zhì)量檢驗(yàn)規(guī)則GB/T13973半導(dǎo)體管特性圖示儀通用技術(shù)條件3測(cè)試的一般要求3.1」被測(cè)圖示儀及測(cè)試設(shè)備均應(yīng)在各自產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的預(yù)熱時(shí)間后進(jìn)行測(cè)試。3.2測(cè)試時(shí),觀察者應(yīng)正視被測(cè)圖示儀屏幕,觀察距離一般為25±10cm3.3被測(cè)圖示儀的插入單元及有關(guān)附屬裝置通常應(yīng)與主機(jī)連接在一起進(jìn)行測(cè)試,3.4產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法中,應(yīng)規(guī)定被測(cè)圖示儀在測(cè)試時(shí)面板控制件的合理安放位置,以盡可能地排除機(jī)內(nèi)其他電路對(duì)測(cè)試造成的影響。3.5本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了圖示儀性能特性的基本測(cè)試方法,可采用其他更先進(jìn)的方法測(cè)試,若發(fā)生異議時(shí),以本測(cè)試方法為仲裁4測(cè)試儀器、設(shè)備與要求4.1測(cè)試儀器、設(shè)備4.1.1供給量設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)直流電流源;b.標(biāo)準(zhǔn)電壓源;C·可調(diào)直流電壓源;d.正弦信號(hào)發(fā)生器;標(biāo)準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器。e.4.1.2側(cè)
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