標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 14999.6-2010是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),專注于規(guī)定了鍛制高溫合金材料中雙重晶粒組織以及一次碳化物分布的檢測(cè)與評(píng)估方法。此標(biāo)準(zhǔn)旨在為相關(guān)工業(yè)領(lǐng)域提供統(tǒng)一的測(cè)試流程和技術(shù)要求,以確保材料性能的可靠性和一致性。以下是該標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的具體解析:

標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)適用于鍛制高溫合金制品,特別是那些在航空航天、能源以及化工等行業(yè)中應(yīng)用廣泛的高性能合金材料。這些材料的特點(diǎn)是需要在高溫環(huán)境下保持良好的機(jī)械性能和抗腐蝕性,其內(nèi)部的晶粒結(jié)構(gòu)和碳化物分布對(duì)其性能有著直接影響。

檢測(cè)對(duì)象

  1. 雙重晶粒組織:指的是合金中同時(shí)存在粗大晶粒與細(xì)小晶粒的混合組織形態(tài)。這種組織對(duì)材料的強(qiáng)度、韌性以及熱穩(wěn)定性有重要影響。

  2. 一次碳化物:在合金凝固過(guò)程中形成的最初碳化物相,它們的分布狀態(tài)(如均勻性、大小、形態(tài))會(huì)顯著影響合金的耐磨性、抗熱疲勞性能及加工性能。

測(cè)定方法

標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)闡述了如何通過(guò)以下步驟進(jìn)行檢測(cè):

  • 樣品制備:規(guī)定了試樣取樣位置、尺寸、切割、鑲嵌、磨光及拋光等預(yù)處理要求,確保測(cè)試結(jié)果的代表性與準(zhǔn)確性。

  • 微觀組織觀察:采用光學(xué)顯微鏡或電子顯微鏡技術(shù),結(jié)合適當(dāng)?shù)姆糯蟊稊?shù)和照明條件,觀察并記錄雙重晶粒組織的特征,如晶界形態(tài)、晶粒大小及其分布。

  • 碳化物分析:利用電子背散射衍射(EBSD)、能量散射光譜(EDS)等高級(jí)分析手段,對(duì)一次碳化物的類型、分布狀態(tài)進(jìn)行精確識(shí)別與量化分析。

  • 評(píng)估標(biāo)準(zhǔn):提供了評(píng)定雙重晶粒組織均勻性及一次碳化物分布規(guī)律的具體準(zhǔn)則,包括但不限于晶粒度測(cè)量方法、碳化物面積分?jǐn)?shù)計(jì)算等。

報(bào)告要求

標(biāo)準(zhǔn)還明確了測(cè)試報(bào)告應(yīng)包含的信息內(nèi)容,如樣品基本信息、測(cè)試條件、觀測(cè)結(jié)果、數(shù)據(jù)處理方法及最終結(jié)論等,確保檢測(cè)結(jié)果的可追溯性和專業(yè)性。

實(shí)施意義

該標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)施有助于提升高溫合金材料的質(zhì)量控制水平,通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化的檢測(cè)手段指導(dǎo)生產(chǎn)工藝的優(yōu)化,確保關(guān)鍵部件的可靠性和使用壽命,對(duì)促進(jìn)高端制造領(lǐng)域的發(fā)展具有重要意義。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2010-12-23 頒布
  • 2011-09-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 14999.6-2010鍛制高溫合金雙重晶粒組織和一次碳化物分布測(cè)定方法_第1頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

ICS7714099

H57..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T149996—2010

.

鍛制高溫合金

雙重晶粒組織和一次碳化物分布

測(cè)定方法

Testmethodsforcharacterizingduplexgrainsizesand

primarycarbidesdistributionofsuperalloyforgings

2010-12-23發(fā)布2011-09-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

中華人民共和國(guó)

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

鍛制高溫合金

雙重晶粒組織和一次碳化物分布

測(cè)定方法

GB/T14999.6—2010

*

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行

北京復(fù)興門外三里河北街號(hào)

16

郵政編碼

:100045

網(wǎng)址

:

服務(wù)熱線

/p>

年月第一版

20114

*

書號(hào)

:155066·1-42213

版權(quán)專有侵權(quán)必究

GB/T149996—2010

.

前言

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄和附錄為規(guī)范性附錄

AB。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)鋼鐵工業(yè)協(xié)會(huì)提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)鋼標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位鋼鐵研究總院冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院

:、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人袁英莊景云張繼欒燕馮滌童金濤呂旭東戴強(qiáng)劉寶石

:、、、、、、、、。

GB/T149996—2010

.

引言

本標(biāo)準(zhǔn)提供了鍛制高溫合金雙重晶粒組織和一次碳化物分布的測(cè)定方法由于基本上以原實(shí)物照

。

片的幾何圖形為基礎(chǔ)因此與合金本身無(wú)關(guān)如果合金中的雙重晶粒組織特征與本標(biāo)準(zhǔn)提供的某類模

,。

擬圖片相對(duì)應(yīng)可按照類別進(jìn)行測(cè)定如果合金中一次碳化物分布與本標(biāo)準(zhǔn)提供的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖片相一

,;

致可使用比較法進(jìn)行評(píng)定也可以通過(guò)量化指標(biāo)進(jìn)行測(cè)定

,,。

本標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量方法僅適用于二維平面截面雙重晶粒組織及一次碳化物分布的測(cè)定不適用于三

(),

維立體雙重晶粒組織及一次碳化物分布的測(cè)定

。

GB/T149996—2010

.

鍛制高溫合金

雙重晶粒組織和一次碳化物分布

測(cè)定方法

1范圍

11本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)雙重晶粒組織的類型及特征進(jìn)行了描述并規(guī)定了相應(yīng)的測(cè)定方法和結(jié)果標(biāo)識(shí)

.,。

12本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一次碳化物分布的測(cè)定方法和結(jié)果標(biāo)識(shí)

.。

13本標(biāo)準(zhǔn)適用于鍛制高溫合金中雙重晶粒組織和一次碳化物分布的測(cè)定

.。

14本標(biāo)準(zhǔn)僅作為推薦性測(cè)定方法不對(duì)鍛制高溫合金產(chǎn)品驗(yàn)收測(cè)試的合格級(jí)別范圍進(jìn)行規(guī)定

.,。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款凡是注日期的引用文件其隨后所有

。,

的修改單不包括勘誤的內(nèi)容或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)然而鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

(),,

是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)

。,。

金屬平均晶粒度測(cè)定方法

GB/T6394

雙重晶粒度表征與測(cè)定方法

GB/T24177

金相檢測(cè)面上最大晶粒尺寸級(jí)別晶粒度測(cè)定方法

ASTME930-99(2007)(ALA)

3雙重晶粒組織的特征與分類

31

.

雙重晶粒組織duplexgrainsizes

至少存在兩種明顯不同尺寸不同分布形態(tài)的晶粒其中細(xì)晶和粗晶的晶粒度級(jí)差不小于級(jí)

、,3。

311

..

個(gè)別粗晶粒ALAaslargeascondition

()

受檢樣縱截面中隨機(jī)分布孤立的個(gè)別粗大晶粒與平均晶粒尺寸存在不小于級(jí)的晶粒度級(jí)差

,3。

且這些孤立粗大晶粒所占觀察范圍總面積的百分?jǐn)?shù)不大于如其所占面積百分?jǐn)?shù)大于按雙級(jí)

5%。5%,

晶粒相應(yīng)規(guī)定執(zhí)行

。

312

..

混合晶粒wide-rangecondition

受檢樣縱截面觀察視場(chǎng)中隨機(jī)分布寬范圍尺寸的晶粒最大晶粒與最小晶粒存在不小于級(jí)的晶

,5

粒度級(jí)差

。

313

..

項(xiàng)鏈晶粒necklacecondition

受檢樣縱截面觀察視場(chǎng)中分布兩種尺寸明顯不同的晶粒小晶粒環(huán)繞在大晶粒四周且兩種晶粒度

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