標準解讀
GB/T 15877-1995 是一項中國國家標準,全稱為《蝕刻型雙列封裝引線框架規(guī)范》。此標準主要規(guī)定了蝕刻工藝制成的雙列封裝(DIP, Dual In-line Package)引線框架的技術要求、試驗方法、檢驗規(guī)則以及標志、包裝、運輸和儲存要求,旨在確保此類封裝材料的質(zhì)量與可靠性,適用于半導體器件的封裝制造過程。
標準內(nèi)容概覽:
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范圍:明確了標準適用的產(chǎn)品類型,即通過蝕刻技術加工而成,用于承載集成電路芯片并實現(xiàn)外部電氣連接的雙列封裝引線框架。
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引用標準:列出了實施該標準時需要參考的其他相關國家標準或行業(yè)標準,這些標準通常涉及基礎材料性能、測試方法等。
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術語和定義:對標準中使用的一些專業(yè)術語進行了界定,幫助讀者準確理解標準內(nèi)容。
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分類與標記:規(guī)定了引線框架的分類方法及產(chǎn)品標記規(guī)則,便于生產(chǎn)、檢驗及使用過程中對產(chǎn)品的識別與區(qū)分。
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技術要求:
- 材料:規(guī)定了制作引線框架所用材料的種類及其性能要求,如金屬材料的純度、機械強度等。
- 尺寸和外形:詳細描述了引線框架的尺寸公差、引腳排列和間距、外形尺寸等指標。
- 表面質(zhì)量:包括表面光潔度、無缺陷要求等,以確保良好的焊接性和可靠性。
- 電鍍層:針對有電鍍要求的部分,規(guī)定了鍍層材質(zhì)、厚度及均勻性等要求。
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試驗方法:介紹了如何進行尺寸測量、材料性能測試、表面質(zhì)量檢查及電鍍層檢測的具體操作步驟和評判標準。
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檢驗規(guī)則:包括出廠檢驗、型式檢驗的項目、抽樣方案及合格判定準則,確保產(chǎn)品符合標準要求。
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標志、包裝、運輸和儲存:規(guī)定了產(chǎn)品包裝上應包含的信息、包裝方式、在運輸和儲存過程中的環(huán)境條件要求,以防止損傷或變質(zhì)。
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- 被代替
- 已被新標準代替
- 1995-12-22 頒布
- 1996-08-01 實施


文檔簡介
TC3..31.200L55中華人民共和國國家標準GB/T15877-1995蝕刻型雙列封裝引線框架規(guī)范SpecificationofDIPducedlbyetchingT1995-12-22發(fā)布1996-08-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國國家標準蝕刻型雙列封裝引線框架規(guī)范GB/T15877-1995SpecificationofDIPleadframesproducedbyetching主題內(nèi)容與適用范圍主題內(nèi)容本規(guī)范規(guī)定了半導體集成電路蝕刻型雙列封裝引線框架(以下簡稱引線框架)的技術要求及檢驗規(guī)1.2!適用范圍本規(guī)范適用于半導體集成電路塑料雙列封裝引線框架,其他封裝形式引線框架也可參照使用。2引用標準GB7092-93半導體集成電路外形尺寸GB/T14112—93半導體集成電路塑料雙列封裝沖制型引線框架規(guī)范GB/T14113-93半導體集成電路封裝術語SJ/Z9007-87計數(shù)檢套抽樣方案和程序術語、符號、代號本規(guī)范所用術語、符號和代號應按GB/T14113的規(guī)定技術要求4.1設計引線框架的外形尺寸應符合GB7092的有關規(guī)定,并符合引線框架設計的要求。4.1.1引線鍵合區(qū)的最小面積引線鍵合區(qū)應保證其寬度不小于0.2mm,長度不小于0.635mm,由于蝕刻工藝中的鉆蝕是難以避免的,并將產(chǎn)生端頭倒圓現(xiàn)象,因此在長度計量時應從距端部0.25mm處起進行計算,4.1.2金屬間的間隔引線框架各內(nèi)引線之間,內(nèi)引線與芯片粘接區(qū)之間的距離不小于0.15mm.4.2引線框架形狀和位置公差4.2.1引線框架的側彎應小于標稱條長的0.5%.4.2.2引線框架的卷曲應小于標稱條長的0.3%4.2.3引線框架的橫彎引線框架的最大橫彎尺寸應符
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