標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 15972.21-2008 光纖試驗(yàn)方法規(guī)范 第21部分:尺寸參數(shù)的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序——涂覆層幾何參數(shù)》相比于其替代的部分《GB/T 15972.2-1998》,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了更新與調(diào)整:

  1. 范圍擴(kuò)展:新標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了光纖涂覆層幾何參數(shù)的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序,覆蓋了更廣泛的尺寸參數(shù),提供了更具體和詳細(xì)的指導(dǎo),以適應(yīng)光纖技術(shù)的發(fā)展和測(cè)量需求的變化。

  2. 測(cè)量技術(shù)更新:鑒于光學(xué)測(cè)量技術(shù)和設(shè)備的進(jìn)步,GB/T 15972.21-2008引入了新的測(cè)量技術(shù)和方法,提高了測(cè)量精度和效率。這包括但不限于高分辨率顯微鏡、激光掃描等先進(jìn)技術(shù)的應(yīng)用,以及對(duì)測(cè)量環(huán)境和條件的更嚴(yán)格要求。

  3. 定義和術(shù)語(yǔ)規(guī)范:新標(biāo)準(zhǔn)對(duì)涉及涂覆層幾何參數(shù)的相關(guān)定義和術(shù)語(yǔ)進(jìn)行了修訂和完善,確保了術(shù)語(yǔ)的準(zhǔn)確性和國(guó)際一致性,便于國(guó)內(nèi)外行業(yè)交流和技術(shù)對(duì)接。

  4. 試驗(yàn)程序細(xì)化:為確保測(cè)量結(jié)果的可重復(fù)性和可靠性,該標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)準(zhǔn)備、樣品制備、測(cè)量步驟、數(shù)據(jù)處理等各環(huán)節(jié)均給予了更詳盡的操作說(shuō)明和要求,增加了實(shí)際操作的可行性。

  5. 質(zhì)量控制和校準(zhǔn)要求:強(qiáng)調(diào)了測(cè)量?jī)x器的校準(zhǔn)和驗(yàn)證流程,以及質(zhì)量控制措施的重要性,確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。新增或強(qiáng)化了關(guān)于儀器性能驗(yàn)證、定期校準(zhǔn)的具體指南。

  6. 適用性說(shuō)明:明確了標(biāo)準(zhǔn)適用于不同類(lèi)型光纖涂覆層(如不同材料、結(jié)構(gòu))的測(cè)量,同時(shí)也可能根據(jù)最新的光纖產(chǎn)品和技術(shù)特性,調(diào)整了不適用情況或特別說(shuō)明。


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  • 2008-11-01 實(shí)施
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GB/T 15972.21-2008光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第21部分:尺寸參數(shù)的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序-涂覆層幾何參數(shù)_第1頁(yè)
GB/T 15972.21-2008光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第21部分:尺寸參數(shù)的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序-涂覆層幾何參數(shù)_第2頁(yè)
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犐犆犛33.180.10

犕33

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅/犜15972.21—2008

部分代替GB/T15972.2—1998

光纖試驗(yàn)方法規(guī)范

第21部分:尺寸參數(shù)的測(cè)量方法和

試驗(yàn)程序———涂覆層幾何參數(shù)

犛狆犲犮犻犳犻犮犪狋犻狅狀狊犳狅狉狅狆狋犻犮犪犾犳犻犫狉犲狋犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊—

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犆狅犪狋犻狀犵犵犲狅犿犲狋狉狔

(IEC60793121:2001,Opticalfibres—Part121:Measurementmethods

andtestprocedures—Coatinggeometry,MOD)

20080331發(fā)布20081101實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書(shū)

犌犅/犜15972.21—2008

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

3術(shù)語(yǔ)和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

4測(cè)量方法概述!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

5裝置!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

6試樣和試樣制備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

7程序!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

8計(jì)算!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

9結(jié)果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

附錄A(規(guī)范性附錄)方法A———側(cè)視光分布法的特定要求!!!!!!!!!!!!!!!!3

附錄B(規(guī)范性附錄)方法B———機(jī)械法的特定要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6

書(shū)

犌犅/犜15972.21—2008

前言

GB/T15972《光纖試驗(yàn)方法規(guī)范》由若干部分組成,其預(yù)期結(jié)構(gòu)及對(duì)應(yīng)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和將代替的國(guó)家

標(biāo)準(zhǔn)為:

———第10部分~第19部分:測(cè)量方法和試驗(yàn)程序總則(對(duì)應(yīng)IEC60793110至IEC60793119;

代替GB/T15972.1—1998);

———第20部分~第29部分:尺寸參數(shù)的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序(對(duì)應(yīng)IEC60793120至IEC60793

129;代替GB/T15972.2—1998);

———第30部分~第39部分:機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序(對(duì)應(yīng)IEC60793130至IEC60793

139;代替GB/T15972.3—1998);

———第40部分~第49部分:傳輸特性和光學(xué)特性的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序(對(duì)應(yīng)IEC60793140至

IEC60793149;代替GB/T15972.4—1998);

———第50部分~第59部分:環(huán)境性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序(對(duì)應(yīng)IEC60793150至IEC60793

159;代替GB/T15972.5—1998)。

其中GB/T15972.2×由以下部分組成:

———第20部分:尺寸參數(shù)的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序———光纖幾何參數(shù);

———第21部分:尺寸參數(shù)的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序———涂覆層幾何參數(shù);

———第22部分:尺寸參數(shù)的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序———長(zhǎng)度。

本部分為GB/T15972的第21部分。本部分修改采用國(guó)際電工技術(shù)委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IEC60793121:

2001《光纖第121部分:測(cè)量方法和試驗(yàn)程序———涂覆層幾何參數(shù)》。

本部分與IEC60793121:2001主要差異如下:

———按照我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)的編排格式和表述要求,對(duì)一些內(nèi)容安排做了調(diào)整,刪除了IEC版本的第5章,

將其內(nèi)容和第1章某些內(nèi)容放在本部分第4章;將第10章和第11章合并作為本部分第9章;

———糾正了某些不恰當(dāng)?shù)臄⑹觥?/p>

本部分代替GB/T15972.2—1998《光纖總規(guī)范第2部分:尺寸參數(shù)試驗(yàn)方法》第7章、第8章。

本部分與GB/T15972.2—1998第7章、第8章相比主要變化如下:

———原正文中的兩種試驗(yàn)方法詳細(xì)描述分別用附錄A和附錄B的形式給出(1998年版的第7章、

第8章;本版的附錄A、附錄B);

———規(guī)定了方法A為基準(zhǔn)試驗(yàn)方法(見(jiàn)本版的第4章);

———規(guī)定了方法B也適用于A3類(lèi)、A4類(lèi)多模光纖(見(jiàn)本版的表1)。

本部分的附錄A、附錄B為規(guī)范性附錄。

本部分由中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部提出。

本部分由中國(guó)通信標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)歸口。

本部分起草單位:武漢郵電科學(xué)研究院。

本部分主要起草人:程淑玲、陳永詩(shī)、劉澤恒、吳金良。

本部分為第一次修訂,它與GB/T15972.2×其他部分一起代替GB/T15972.2—1998。

犌犅/犜15972.21—2008

光纖試驗(yàn)方法規(guī)范

第21部分:尺寸參數(shù)的測(cè)量方法和

試驗(yàn)程序———涂覆層幾何參數(shù)

1范圍

GB/T15972的本部分規(guī)定了測(cè)量光纖預(yù)涂覆層幾何參數(shù)的試驗(yàn)方法,確立了測(cè)量的統(tǒng)一試驗(yàn)程

序和技術(shù)要求。

本部分適用于對(duì)A類(lèi)多模光纖和B類(lèi)單模光纖的測(cè)量和成品光纖光纜的商業(yè)性檢驗(yàn)。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)GB/T15972的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本

部分。

GB/T15972.10—2008光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第10部分:測(cè)量方法和試驗(yàn)程序———總則

(IEC6097311:2002,Opticalfibres—Part11:Measurementmethodsandtestproced

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