標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 16742-2008 顆粒粒度分布的函數(shù)表征 冪函數(shù)》與前一版標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 16742.1-1997 顆粒粒度分布的函數(shù)表征 冪函數(shù)》相比,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了調(diào)整和更新:

  1. 標(biāo)準(zhǔn)范圍與適用性:2008版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)適用的顆粒材料類(lèi)型或測(cè)試范圍進(jìn)行了明確或擴(kuò)展,以適應(yīng)更廣泛的應(yīng)用需求。

  2. 術(shù)語(yǔ)和定義:新標(biāo)準(zhǔn)可能引入了新的術(shù)語(yǔ)定義或?qū)υ行g(shù)語(yǔ)進(jìn)行了修訂,以更準(zhǔn)確地描述顆粒粒度分布的特性和測(cè)量方法,提高了標(biāo)準(zhǔn)的嚴(yán)謹(jǐn)性和可操作性。

  3. 測(cè)試方法和技術(shù)要求:2008版標(biāo)準(zhǔn)可能更新了測(cè)試顆粒粒度分布的具體方法,包括采樣、制備、測(cè)量及數(shù)據(jù)處理步驟,可能融入了新的分析技術(shù)或改進(jìn)了原有技術(shù)的精確度和效率。

  4. 冪函數(shù)模型的表述:針對(duì)冪函數(shù)用于表征顆粒粒度分布的形式和參數(shù)解釋?zhuān)聵?biāo)準(zhǔn)可能提供了更加精確或簡(jiǎn)化的數(shù)學(xué)表達(dá)式,以及對(duì)參數(shù)意義的更清晰說(shuō)明,有助于用戶(hù)更好地理解和應(yīng)用該模型。

  5. 數(shù)據(jù)處理和統(tǒng)計(jì)分析:2008版可能引入了更先進(jìn)的數(shù)據(jù)分析方法,包括統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)、誤差處理規(guī)則或計(jì)算機(jī)軟件應(yīng)用指導(dǎo),以提高數(shù)據(jù)分析的準(zhǔn)確性和便利性。

  6. 精度和誤差要求:新版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)測(cè)試結(jié)果的精度要求和允許誤差范圍進(jìn)行了修訂,確保測(cè)試結(jié)果的可靠性和一致性。

  7. 標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和格式:為了提高閱讀性和實(shí)用性,2008版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)文檔的結(jié)構(gòu)進(jìn)行了優(yōu)化,增加了條理性,或者更新了參考文獻(xiàn)和資料,以反映最新的研究成果和技術(shù)進(jìn)展。

  8. 合規(guī)性與國(guó)際接軌:新標(biāo)準(zhǔn)還可能根據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或國(guó)際最佳實(shí)踐進(jìn)行了調(diào)整,增強(qiáng)了中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的一致性和互認(rèn)性。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2008-07-18 頒布
  • 2009-02-01 實(shí)施
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GB/T 16742-2008顆粒粒度分布的函數(shù)表征冪函數(shù)_第1頁(yè)
GB/T 16742-2008顆粒粒度分布的函數(shù)表征冪函數(shù)_第2頁(yè)
GB/T 16742-2008顆粒粒度分布的函數(shù)表征冪函數(shù)_第3頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

犐犆犛19.120

犃28

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅/犜16742—2008

代替GB/T16742.1—1997

顆粒粒度分布的函數(shù)表征冪函數(shù)

犉狌狀犮狋犻狅狀狉犲狆狉犲狊犲狀狋犪狋犻狅狀狅犳狆犪狉狋犻犮犾犲狊犻狕犲犱犻狊狋狉犻犫狌狋犻狅狀—

犘狅狑犲狉犳狌狀犮狋犻狅狀

20080718發(fā)布20090201實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書(shū)

犌犅/犜16742—2008

前言

本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T16742.1—1997《顆粒粒度分布的函數(shù)表征冪函數(shù)》。

本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T16742.1—1997相比,主要技術(shù)內(nèi)容改變?nèi)缦拢?/p>

———增加了“2規(guī)范性引用文件”;

———對(duì)“3術(shù)語(yǔ)和定義”進(jìn)行了修改,并增加了兩條;

———按照漢語(yǔ)習(xí)慣對(duì)部分文字做了編輯性修改。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B和附錄C均為資料性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)篩網(wǎng)篩分和顆粒分檢方法標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC168)提出并歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:北京市理化分析測(cè)試中心。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:鄒濤、周素紅、高原、王!鋒、陳縈。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:

———GB/T16742.1—1997。

書(shū)

犌犅/犜16742—2008

顆粒粒度分布的函數(shù)表征冪函數(shù)

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了顆粒粒度分布的冪函數(shù)表征方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于表示顆粒系統(tǒng)粒度的累積分布。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有

的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T16418顆粒系統(tǒng)術(shù)語(yǔ)

3術(shù)語(yǔ)和定義

GB/T16418中確立的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

3.1

顆粒體積比表面積狆犪狉狋犻犮犾犲狏狅犾狌犿犲狊狆犲犮犻犳犻犮狊狌狉犳犪犮犲犪狉犲犪

顆粒表面積與其體積之比。

3.2

顆粒質(zhì)量比表面積狆犪狉狋犻犮犾犲犿犪狊狊狊狆犲犮犻犳犻犮狊狌狉犳犪犮犲犪狉犲犪

顆粒表面積與其質(zhì)量之比。

3.3

顆粒表面積形狀因子狆犪狉狋犻犮犾犲狊狌狉犳犪犮犲犪狉犲犪狊犺犪狆犲犳犪犮狋狅狉

顆粒的表面積與相同體積的等效球體表面積之比。

4符號(hào)

本標(biāo)準(zhǔn)中引用的符號(hào)見(jiàn)表1規(guī)定。

表1

符號(hào)說(shuō)明單位

犆雙對(duì)數(shù)坐標(biāo)中冪函數(shù)直線(xiàn)截距—

犻下標(biāo)—

犿雙對(duì)數(shù)坐標(biāo)中冪函數(shù)直線(xiàn)斜率—

犙(狓)篩下累積分布—

犚(狓)篩上累積分布—

犛m顆粒質(zhì)量比表面積cm/g

-1

犛v

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