標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 16921-2005 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 X射線光譜方法》與《GB/T 16921-1997 金屬覆蓋層 厚度測量 X射線光譜方法》相比，主要存在以下幾個方面的差異和更新：

  1. 范圍擴展：2005版標(biāo)準(zhǔn)可能對適用的金屬覆蓋層類型或測量范圍進行了擴展，以適應(yīng)技術(shù)進步和更廣泛的應(yīng)用需求，雖然具體細(xì)節(jié)需要查閱標(biāo)準(zhǔn)原文確認(rèn)。

  2. 技術(shù)更新：鑒于X射線光譜技術(shù)在近十年的發(fā)展，2005版標(biāo)準(zhǔn)可能納入了新的測量技術(shù)和分析方法，提高了測量精度和效率。這可能包括更先進的數(shù)據(jù)處理算法、更精確的校準(zhǔn)方法或是對新型X射線儀器的支持。

  3. 術(shù)語和定義：隨著行業(yè)發(fā)展的規(guī)范，新標(biāo)準(zhǔn)可能對一些專業(yè)術(shù)語進行了修訂或新增，以便更準(zhǔn)確地描述測試過程和技術(shù)要求，增強標(biāo)準(zhǔn)的可操作性和國際兼容性。

  4. 測量程序：2005版標(biāo)準(zhǔn)可能對測量步驟、樣品制備、測試條件等方面給出了更詳細(xì)或優(yōu)化的操作指導(dǎo)，以確保測量結(jié)果的一致性和重復(fù)性。

  5. 質(zhì)量控制與驗證：新標(biāo)準(zhǔn)可能加強了對測量結(jié)果的質(zhì)量控制要求，包括增加關(guān)于測量不確定度評估、校準(zhǔn)驗證和質(zhì)量管理體系的指導(dǎo)內(nèi)容，以提升檢測結(jié)果的可靠性和實驗室間的一致性。

  6. 安全與環(huán)保：考慮到技術(shù)進步和法規(guī)變化，2005版標(biāo)準(zhǔn)或許增添了關(guān)于X射線設(shè)備使用安全、輻射防護以及環(huán)境保護的最新要求，確保操作人員安全和環(huán)境友好。

  7. 引用標(biāo)準(zhǔn)更新：新標(biāo)準(zhǔn)會引用最新的國家標(biāo)準(zhǔn)、國際標(biāo)準(zhǔn)或其他技術(shù)文獻，以保證測量方法的先進性和與國際標(biāo)準(zhǔn)的接軌。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2005-10-12 頒布
  • 2006-04-01 實施
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文檔簡介

ICS25.220.20A29中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T16921-2005/ISO3497:2000代替GB/T16921-1997金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法Metaliiecoatings-Measurementofcoatingthiekness-X-rayspectrometricmethods（ISO3497:2000,IDT)2005-10-12發(fā)布2006-04-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T16921-2005/ISO3497:2000三次前言范圍2術(shù)語和定義3原理4儀器5影響測量結(jié)果的因素6儀器的校準(zhǔn)…….7規(guī)程…………···測量不確定度·：：········：···················…·······9測試報告……………·…·……附錄A(資料性附錄）常見覆蓋層測量的典型測量范圍參考文獻

GB/T16921-2005/IS03497:2000本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO3497:2000（E)《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法》英文版)本標(biāo)準(zhǔn)按（B/T1.1的編輯要求，根據(jù)ISO3497重新起草。本標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)ISO3497作了如下修改：-取消了ISO3497的前言內(nèi)容，重新起草了本標(biāo)準(zhǔn)前言：增加了“目次內(nèi)容”；用"本標(biāo)準(zhǔn)"代替“本國際標(biāo)準(zhǔn)"本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T16921—1997《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法》本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T16921—1997相比主要變化如下：在范圍中增加了警告：-在術(shù)語和定義中增加了基體材料、基體金屬和基體的定義，且將歸一化強度(1997年版的2.3:本版的2.4)的數(shù)學(xué)符號定義為。(1997年版為1n),相應(yīng)的數(shù)學(xué)關(guān)系式也隨之改變;在3.3.3能量色散中，將波長和能量的關(guān)系式進行了修正：在原理中.將其內(nèi)容進行了重新排列.增加了3.5.3比率方法和3.7數(shù)學(xué)反卷積的描述：-對5.1.2隨機誤差的標(biāo)準(zhǔn)偏差以及5.6覆蓋層密度的公式進行了修正；對5.16試樣表面的傾斜度的影響，做了更精確的修正：在儀器的校準(zhǔn)中增加了6.1.5計算機模擬主要參數(shù)的無標(biāo)樣技術(shù)的描述；本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：機械工業(yè)表面覆蓋層產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢測中心本標(biāo)準(zhǔn)起草人：姜新華、凌國偉、劉建國、鐘立暢、宋智玲，本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T16921-1997。

GB/T16921-2005/IS03497:2000金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法范圍警告：本標(biāo)準(zhǔn)不包括人員防X射線輻射的問題,關(guān)于此重要方面的信息，可參考現(xiàn)行的國際和國家標(biāo)準(zhǔn)及地方法規(guī)。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用X射線光譜方法測量金屬覆蓋層厚度的方法1.2本標(biāo)準(zhǔn)所用的測量方法基本屬于測定單位面積質(zhì)量的一種方法。如果已知覆蓋層材料的密度.則測量結(jié)果也可用覆蓋層的線性厚度表示。1.3本測量方法可同時測量三層覆盞層體系，或同時測量三層組分的厚度和成分。1.4給定覆蓋層材料的實際測量范圍主要取決于被分析的特征X射線熒光的能量以及所允許的測量不確定度，而且因所用儀器設(shè)備和操作規(guī)程而不同，2術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)21X射線熒光：X-rayfluorescence（XRr)高強度入射X射線撞擊置于入射光束路徑上的材料時產(chǎn)生的二次輻射注：此二次發(fā)射具有該材料的波長和能量特征。2.2英光輻射強度intensityoffluorescentradiation輻射強度。.由儀器測量的、用每秒計數(shù)(輻射脈沖)來表示。23飽和厚度：saturationthickness即為超過時，熒光強度不再產(chǎn)生任何可察覺的變化的厚度注：飽和厚度取決于熒光輻射的能量或波長、材料的密度和原子序數(shù)、入射角度以及材料表面的熒光輻射2.4日一化強度x。normalizedintensity在同一條件下得到的覆蓋層試樣：和未涂覆基體材料。的強度差與厚度大于或等于飽和厚度的材料.(見2.3)和未涂覆基體材料.的強度差之比。住1：歸一化強度數(shù)學(xué)關(guān)系式為大中：一覆蓋層試樣的強度：

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