標準解讀
GB/T 17554.7-2010是一項中國國家標準,專注于識別卡的測試方法,具體針對的是鄰近式卡(Proximity Cards)。這份標準為評估和確保鄰近卡性能提供了一套統(tǒng)一的測試流程與要求,旨在促進不同制造商生產的鄰近卡之間具有互操作性和兼容性。以下是該標準主要內容的概述:
標準適用范圍
本標準規(guī)定了鄰近式卡的一系列測試項目、測試環(huán)境、測試設備以及具體的測試方法。這些測試用于驗證卡的功能性、耐用性、數(shù)據傳輸?shù)臏蚀_性和安全性等關鍵性能指標,適用于所有遵循ISO/IEC 14443系列標準的鄰近式智能卡。
測試內容概覽
- 物理特性測試:包括卡片尺寸、厚度、彎曲度、抗扭曲能力等,確??ㄆ奈锢韽姸燃坝脩粲押眯?。
- 電氣特性測試:檢驗卡片在不同頻率下的通信性能,如調制深度、載波頻率、信號強度等,確保數(shù)據傳輸?shù)目煽啃浴?/li>
- 操作功能測試:驗證卡片在讀寫操作中的響應時間、數(shù)據傳輸速率、錯誤檢測及糾正能力等,確保信息交互的準確性與效率。
- 互操作性測試:測試卡片與讀卡器之間的兼容性,確保不同廠家的產品能夠順利交互。
- 安全性能測試:評估卡片的數(shù)據保護機制,如加密算法的有效性、防篡改能力等,確保數(shù)據的安全傳輸。
- 耐用性與環(huán)境適應性測試:通過模擬各種環(huán)境條件(如溫度、濕度、靜電放電)來測試卡片的穩(wěn)定性和壽命。
測試方法與要求
每個測試項目都詳細描述了測試的具體步驟、所需設備、合格判定標準等。例如,對于電氣特性測試,會規(guī)定測試儀器的精度要求、測試信號的生成方式、數(shù)據采集與分析方法等;而在耐用性測試中,則會設定特定的循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時間來模擬長期使用情況。
結論
此標準為鄰近式卡的制造商、測試實驗室及應用開發(fā)者提供了一套標準化的測試框架,有助于提升產品質量、促進技術進步,并保障最終用戶的使用體驗。它強調了產品性能驗證的重要性,是保證智能卡行業(yè)健康發(fā)展的一個基礎規(guī)范。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2010-12-01 頒布
- 2011-04-01 實施
文檔簡介
ICS3524015
L64..
中華人民共和國國家標準
GB/T175547—2010
.
識別卡測試方法
第7部分鄰近式卡
:
Identificationcards—Testmethods—
Part7Vicinitcards
:y
(ISO/IEC10373-7:2008,MOD)
2010-12-01發(fā)布2011-04-01實施
中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
GB/T175547—2010
.
目次
前言…………………………
Ⅰ
范圍………………………
11
規(guī)范性引用文件…………………………
21
術語和定義縮略語和符號………………
3、1
適用于測試方法的默認條款……………
42
靜電測試…………………
52
測試裝置和測試電路……………………
63
的功能測試………………………
7VICC6
的功能測試…………………………
8VCD7
的工作場強測試…………………
9VICC8
附錄規(guī)范性附錄測試天線……………………
A()VCD9
附錄資料性附錄測試天線調諧……………
B()VCD11
附錄規(guī)范性附錄傳感線圈…………
C()13
附錄規(guī)范性附錄用于功率測試的參考……………
D()VCDVICC15
附錄資料性附錄用于負載調制測試的參考………………
E()VICC17
附錄資料性附錄頻譜計算程序……………………
F()18
GB/T175547—2010
.
前言
在識別卡測試方法總標題下目前分為如下個部分
GB/T17554《》,7:
第部分一般特性測試
———1:;
第部分磁條卡
———2:;
第部分帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備
———3:;
第部分無觸點集成電路卡
———4:;
第部分光記憶卡
———5:;
第部分接近式卡
———6:;
第部分鄰近式卡
———7:。
本部分為的第部分本部分使用重新起草法修改采用國際標準
GB/T175547。,ISO/IEC10373-
識別卡測試方法第部分鄰近式卡英文版
7:2008《7:》()。
本部分與相比增加和修改了下列內容并在相應條款的外側頁邊空白處
ISO/IEC10373-7:2008,,
用單垂線標示
:
為了使標準更加清晰易懂增加了縮略語
a),PCB;
為了便于引用做了編輯性修改
b),8.1.2;
為了避免實際應用中可能出現(xiàn)在規(guī)定的工作區(qū)域內不能正常工作的情況增加第章
c)VICC,9
工作場強測試
。
本部分的附錄附錄和附錄是規(guī)范性附錄
A、CD。
本部分的附錄附錄和附錄是資料性附錄
B、EF。
本部分由全國信息技術標準化技術委員會提出并歸口
(SAC/TC28)。
本部分起草單位中國電子技術標準化研究所東信和平智能卡股份有限公司
:、。
本部分主要起草人馮敬高林袁理金倩黃小鵬耿力趙子淵
:、、、、、、。
Ⅰ
GB/T175547—2010
.
識別卡測試方法
第7部分鄰近式卡
:
1范圍
規(guī)定了符合識別卡特性的測試方法每一測試方法交叉引用一個或多
GB/T17554GB/T14916。
個基礎標準這些基礎標準可以是或一個或多個定義了用于識別卡應用的信息存儲技術
,GB/T14916
的補充標準
。
注接收準則不包含在本部分中而是在以上提及的國家標準中
1:,。
注描述的若干測試方法可單獨實施規(guī)定的卡不要求順序地通過所有測試
2:GB/T17554。。
的本部分規(guī)定了無觸點集成電路卡技術鄰近式卡的測試方法第部分規(guī)定了為
GB/T17554()。1
一種或多種卡技術所共用的測試方法其他部分則規(guī)定了各個專項技術的測試方法
;。
除非另有規(guī)定本部分中的測試僅適用于和中定義的鄰近式卡
,GB/T22351.1GB/T22351.2。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過的本部分的引用而成為本部分的條款凡是注日期的引用文
GB/T17554。
件其隨后所有的修改單不包括勘誤的內容或修訂版均不適用于本部分然而鼓勵根據本部分達成協(xié)
,(),,
議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本部分
。,。
識別卡物理特性
GB/T14916(GB/T14916—2006,ISO/IEC7810:2003,IDT)
電磁兼容試驗和測量技術靜電放電抗擾度試驗
GB/T17626.2(GB/T17626.2—2006,
IEC61000-4-2:2001,IDT)
識別卡無觸點集成電路卡鄰近式卡第部分物理特性
GB/T22351.11:(GB/T22351.1—
2008,ISO/IEC15693-1:2000,IDT)
識別卡無觸點集成電路卡鄰近式卡第部分空中接口和初始化
GB/T22351.2—20102:
(ISO/IEC15693-2:2000,IDT)
識別卡無觸點集成電路卡鄰近式卡第部分防沖突和傳輸協(xié)議
GB/T22351.33:
(GB/T22351.3—2008,ISO/IEC15693-3:2001,IDT)
對度量不確定性表達的指南版
ISBN92-67-10188-9,ISO,1993
3術語和定義縮略語和符號
、
31術語和定
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