標準解讀
《GB/T 18904.4-2002 半導體器件 第12-4部分:光電子器件 纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶/不帶尾纖的Pin-FET模塊 空白詳細規(guī)范》這一標準主要規(guī)定了光纖系統(tǒng)或其子系統(tǒng)中所使用的Pin-FET模塊的技術要求、測試方法以及質量評定準則,這些模塊既包括帶有尾纖的也包括不帶尾纖的類型。然而,您提供的對比標準信息不完整,無法直接進行詳細的變更對比分析。
若要對比此標準與另一個特定標準的差異,通常需要明確另一個標準的編號及內容,這樣才能具體指出在哪些技術參數(shù)、測試方法、性能要求或是結構設計等方面存在不同。例如,變更可能涉及Pin-FET模塊的光學性能指標提升、電氣特性調整、機械接口兼容性增強、環(huán)境適應性要求變動、或者是新增了關于模塊可靠性和壽命測試的具體條款等。
沒有具體的對比標準,我只能說明一般性的解讀方向,即此類標準更新通常旨在適應技術進步、提高產品性能、統(tǒng)一國際標準、增強互換性或提升用戶安全等方面。如果您能提供另一個具體的標準編號或名稱,我將能更準確地分析兩者之間的具體變更內容。
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- 正在執(zhí)行有效
- 2002-12-04 頒布
- 2003-05-01 實施
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GB/T 18904.4-2002半導體器件第12-4部分:光電子器件纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶/不帶尾纖的Pin-FET模塊空白詳細規(guī)范-免費下載試讀頁文檔簡介
ICS31.260L54中華人民共和國國家標準GB/T18904.4—2002/IEC60747-12-4:19970C720104半導體器件第12-4部分:光電子器件纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶/不帶尾纖的pin-FET模塊空白詳細規(guī)范SemiconductordevicesPart12-4:0ptoelectronicdevicesBlankdetailspecificationforpin-FETmoduleswith/withoutpigtailforfiberopticsystemsorsub-systems(IEC60747-12-4:1997,IDT)2002-12-04發(fā)布2003-05-01實施中華發(fā)布國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局
GB/T18904.4-2002/IEC60747-12-4:1997GB/T18904的本部分等同采用國際標準IEC60747-12-4:1997(QC720104半導體器件第12-4部分:光電子器件纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶/不帶尾纖的pin-FET模塊空白詳細規(guī)范》英文版)本部分同IEC60747-12-4的主要區(qū)別是:-在第4章表下增加注”。只適用于帶尾纖器件。";在B4分組中針對"耐焊接熱"補充了試驗方法"Ⅱ.2.2":取消了第11章“參考文件”本部分引用的國家標準及IEC標準如下:-GB/T4937—1995半導體器件機械和氣候試驗方法(idtIEC60749:1984)-B/T15651—1995半導體器件分立器件和集成電路第5部分:光電子器件(idtIEC60747-5:1992)IIEC60191-2:1966半導體器件機械標準化第2部分:尺寸IEC60747-5:1992amendment1半導體器件分立器件和集成電路第5部分:光電子器件補充件1-IEC60747-10/QC700000:1991半導體器件第10部分分立器件和集成電路總規(guī)范第12部分IIEC60747-12/QC720100:1991華導體器件光電子器件分規(guī)范GB/T18904.1是有關纖維光學系統(tǒng)和子系統(tǒng)用光電子器件的國家標準的一部分。下面列出了這些國家標準的預計結構:-GB/T18904.1《半導體器件第12-1部分:光電子器件纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶/不帶尾纖的光發(fā)射或紅外發(fā)射二極管空白詳細規(guī)范》GB/T18904.2《半導體器件第12-2部分:光電子器件纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶尾纖的激光二極管模塊空白詳細規(guī)范》(B/T18904.3《半導體器件第12-3部分:光電子器件顯示用發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范》-B/T18904.4半導體器件第12-4部分:光電子器件纖纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶/不帶尾纖的pin-FET模塊空白詳細規(guī)范》GB/T18904.5《半導體器件第12-5部分:光電子器件纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶/不帶尾纖的pin-光電二極管空白詳細規(guī)范》本部分由中華人民共和國信息產業(yè)部提出。本部分由中國電子技術標準化研究所(CESI)歸口。本部分起草單位:中國電子技術標準化研究所(CESI)本部分主要起草人:趙英。
GB/T18904.4-2002/IEC60747-12-4:1997半導體器件第12-4部分:光電子器件纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶/不帶尾纖的pin-FET模塊空白詳細規(guī)范引言IEC電子元器件質量評定體系遵循IEC章程并在IEC授權下工作。該體系的目的是確定質量評定程序.以這種方式使一個參加國按有關規(guī)范要求放行的電子元器件無需進一步試驗而為其他所有參加國同樣接受。本空白詳細規(guī)范是半導體器件的一系列空白詳細規(guī)范之一.并應與下列IEC標準一起使用IEC60747-10/QC700000:1991半導體器件第10部分分立器件和集成電路總規(guī)范IEC60747-12/QC720100:1991半導體器件第12部分光電子器件分規(guī)范要求的資料本頁及下面方括號內的數(shù)字與下列各項要求的資料相對應,這些資料應填入相應欄中。詳細規(guī)范的識別[1授權發(fā)布詳細規(guī)范的國家標準化機構(NAI)名稱.L2詳細規(guī)范的IECQ編號?!?7總規(guī)范、分規(guī)范的編號及版本號[4詳細規(guī)范的國家編號、發(fā)布日期及國家標準體系要求的任何資料器件的識別「57主要功能和型號【67外形圖、引線識別、標志和(或)引用有關的外形標準「7典型結構(材料、主要工藝)和封裝資料。如果一種器件有幾種派生產品·則應指出其差異,例如,在對照表中列出特性差異
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