標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 20725-2006 波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則》是一份由中國(guó)發(fā)布的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)文件，旨在為使用波譜法定性點(diǎn)分析技術(shù)結(jié)合電子探針顯微鏡（EPMA）進(jìn)行材料成分分析提供指導(dǎo)原則和方法。這份標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)闡述了分析過(guò)程中的技術(shù)要求、操作步驟、數(shù)據(jù)處理及質(zhì)量控制等方面，以確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。下面是該標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的概覽：

  1. 范圍：該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用電子探針顯微分析技術(shù)中波譜法定性點(diǎn)分析的方法原理、儀器校準(zhǔn)、樣品制備、測(cè)量條件選擇、數(shù)據(jù)分析方法及其在不同材料類(lèi)型中的應(yīng)用指導(dǎo)。

  2. 術(shù)語(yǔ)和定義：明確了電子探針顯微分析、波譜法、定性分析等相關(guān)專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)的定義，幫助使用者建立統(tǒng)一的概念理解基礎(chǔ)。

  3. 引用文件：列出了執(zhí)行本標(biāo)準(zhǔn)時(shí)需要參考的其他國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)或國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，這些文件提供了更具體的技術(shù)細(xì)節(jié)和要求。

  4. 原理：介紹了波譜法定性分析的基本原理，即通過(guò)測(cè)量樣品在電子束激發(fā)下產(chǎn)生的特征X射線光譜，來(lái)確定樣品中存在的元素種類(lèi)。

  5. 儀器與設(shè)備：詳細(xì)描述了進(jìn)行電子探針顯微分析所需的儀器配置、性能指標(biāo)以及日常維護(hù)和校準(zhǔn)要求，確保分析設(shè)備的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。

  6. 樣品準(zhǔn)備：規(guī)范了樣品的選取、制備方法（如切割、鑲嵌、磨拋、清洗）以及如何避免樣品制備過(guò)程中引入的污染和形貌變化對(duì)分析結(jié)果的影響。

  7. 測(cè)量條件：包括電子束的加速電壓、束流強(qiáng)度、探測(cè)器的選擇與設(shè)置等，指導(dǎo)用戶根據(jù)樣品特性和分析目標(biāo)選擇最合適的測(cè)量參數(shù)。

  8. 數(shù)據(jù)采集與處理：闡述了數(shù)據(jù)獲取的過(guò)程、背景扣除、譜線識(shí)別、定量分析前的定性確認(rèn)步驟，以及如何利用軟件工具進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。

  9. 結(jié)果報(bào)告：規(guī)定了分析結(jié)果報(bào)告應(yīng)包含的信息，如樣品信息、測(cè)試條件、檢測(cè)到的元素列表、可能的干擾因素說(shuō)明及結(jié)論等，確保報(bào)告的完整性和透明度。

  10. 質(zhì)量保證與控制：提出了實(shí)施內(nèi)部質(zhì)控措施的建議，如使用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行校驗(yàn)、重復(fù)性測(cè)試和儀器穩(wěn)定性監(jiān)控，以保障分析結(jié)果的可靠性和一致性。


如需獲取更多詳盡信息，請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2006-12-25 頒布
  • 2007-08-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 20725-2006波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則_第1頁(yè)
GB/T 20725-2006波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則_第2頁(yè)
GB/T 20725-2006波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則_第3頁(yè)
GB/T 20725-2006波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則_第4頁(yè)
免費(fèi)預(yù)覽已結(jié)束，剩余8頁(yè)可下載查看

下載本文檔

免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

ICS71.040.99N53中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T20725-2006/ISO17470：2004波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則EiectronprobemicroanalysisguidelinesforqualitativepointanalysisbywavelengthdispersiveX-rayspectrometryCISO17470:2004.Microbeamanalysis-Electronprobemicroanalysis-GuidelinesforqualitativepointanalysisbywavelengthdispersiveX-rayspectrometry,IDT)2006-12-25發(fā)布2007-08-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛(ài)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T20725-2006/ISO17470:2004前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO17470:2004《波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則》(英文版)本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：曾毅、李香庭

GB/T20725—2006/ISO17470:2004電子探針顯微分析常常用于定性鑒別試樣中微區(qū)范圍內(nèi)存在的元素.為了避免錯(cuò)誤的分析結(jié)果,必項(xiàng)規(guī)范測(cè)量條件和元素鑒別方法。

GB/T20725—2006/IS017470:2004波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則范圍本標(biāo)準(zhǔn)是用電子探針或者掃描電鏡中的波譜儀獲得試樣特定體積內(nèi)（gm2尺度）的X射線譜，進(jìn)行元素鑒別和確認(rèn)特定元素存在的一種標(biāo)準(zhǔn)方法。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。ISO14594:2003微區(qū)分析探針?lè)治霾ㄗV實(shí)驗(yàn)參數(shù)確定導(dǎo)則3術(shù)語(yǔ)和定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)高次行射higherorderreflections對(duì)應(yīng)于=2.3,4…·的不同衍射角出現(xiàn)的譜峰注：在WDS中.X射線按照Bragg方程（mA=2dsino)進(jìn)行衍射.入為X射線波長(zhǎng)·d為品體的品面間距，0為衍射角，為整數(shù)。高次峰是對(duì)應(yīng)于=2.3.4……時(shí)不同衍射角度的譜峰32點(diǎn)分析pointanalysis入射電子束固定照射(轟擊)試樣表面所選區(qū)域的分析注：本標(biāo)準(zhǔn)也適用于人射電子束對(duì)試樣表面一個(gè)很小區(qū)域進(jìn)行快速掃描的方法。最大電子束尺寸或者電子束掃描范圍，可以通過(guò)擴(kuò)大分析區(qū)域時(shí)的X射線相對(duì)強(qiáng)度不發(fā)生變化來(lái)確定。33羅蘭圓Rowlandcircle也稱聚焦圓.即X射線光源、衍射品體和探測(cè)器必須位于該圓周上以滿足布拉格衍射條件3.4X射線波長(zhǎng)表X-rayIinetable用于EPMA定性分析的X射線波長(zhǎng)表，注：用于EPMA定性分析的X射線波長(zhǎng)表.列出了每個(gè)銜射品體衍射時(shí)元素的K，L和M線系的波長(zhǎng)值。它還可列出每一個(gè)峰的相對(duì)強(qiáng)度、半高寬、衍射晶體的面間距和衛(wèi)星峰的波長(zhǎng)等。專(zhuān)用名詞縮寫(xiě)EPMA（electronprobemieroanalysisoreleetronprobemieroanalyzer）：電子探針顯微分析；電子深針顯微分析儀。WDS（wavele

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個(gè)人學(xué)習(xí)、研究之用，未經(jīng)授權(quán)，嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等，侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本（可閱讀打?。?，因數(shù)字商品的特殊性，一經(jīng)售出，不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致，所以下載的文檔中可能包含空白頁(yè)，非文檔質(zhì)量問(wèn)題。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論