GB/T 21356-2008無損檢測計算機(jī)射線照相系統(tǒng)的長期穩(wěn)定性與鑒定方法

犐犆犛１９．１００

犑０４

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２１３５６—２００８

無損檢測計算機(jī)射線照相系統(tǒng)的長期

穩(wěn)定性與鑒定方法

犖狅狀犱犲狊狋狉狌犮狋犻狏犲狋犲狊狋犻狀犵—犙狌犪犾犻犳犻犮犪狋犻狅狀犪狀犱犾狅狀犵狋犲狉犿狊狋犪犫犻犾犻狋狔狅犳犮狅犿狆狌狋犲犱

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２００８０１１４發(fā)布２００８０５０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜２１３５６—２００８

前言

本標(biāo)準(zhǔn)修改采用ＡＳＴＭＥ２４４５０５《計算機(jī)射線照相系統(tǒng)的長期穩(wěn)定性與鑒定方法》（英文版）。

本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ＡＳＴＭＥ２４４５０５重新起草。

考慮到我國國情，在采用ＡＳＴＭＥ２４４５０５時，本標(biāo)準(zhǔn)做了一些修改。有關(guān)技術(shù)性差異如下：

ａ）將規(guī)范性引用文件Ｅ１３１６更改為我國標(biāo)準(zhǔn)ＧＢ／Ｔ１２６０４．２；

ｂ）將規(guī)范性引用文件Ｅ１８１５更改為我國標(biāo)準(zhǔn)ＧＢ／Ｔ１９３４８．１；

ｃ）將規(guī)范性引用文件Ｅ２４４６更改為我國標(biāo)準(zhǔn)ＧＢ／Ｔ２１３５５；

ｄ）刪除規(guī)范性引用文件Ｅ２００７和Ｅ２０３３。

為便于使用，本標(biāo)準(zhǔn)還做了下列編輯性修改：

ａ）“本方法”一詞改為“本標(biāo)準(zhǔn)”；

ｂ）按ＧＢ／Ｔ１．１—２０００規(guī)定的格式要求，對部分條號和標(biāo)題做了修改；

ｃ）在第２章和第３章中使用ＧＢ／Ｔ１．１—２０００規(guī)定的引導(dǎo)語。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄Ａ為資料性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ５６）歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：上海蘇州美柯達(dá)探傷器材有限公司、中國特種設(shè)備檢測研究中心、上海星標(biāo)科技

信息咨詢事務(wù)所、上海材料研究所。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：宓中玉、章怡明、張佳銀、趙成、金宇飛。

Ⅰ

書

犌犅／犜２１３５６—２００８

無損檢測計算機(jī)射線照相系統(tǒng)的長期

穩(wěn)定性與鑒定方法

１范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了計算機(jī)射線照相系統(tǒng)（ＣＲ）的基本參數(shù)，以保證其無損檢測時獲得令人滿意的和可重

復(fù)的結(jié)果。

本標(biāo)準(zhǔn)描述了對工業(yè)用計算機(jī)射線照相系統(tǒng)的評價，其目的旨在對成像質(zhì)量，以及掃描器或ＩＰ系

統(tǒng)對成像質(zhì)量的影響進(jìn)行評價，確保滿足用戶要求并能保持檢測的長期穩(wěn)定性。

本標(biāo)準(zhǔn)描述的每一種測定，可以采用特定的專用指示計來完成。對系統(tǒng)控制所進(jìn)行的測試，是采用

專用的試樣還是ＣＲ板（附錄Ａ），具體應(yīng)由用戶決定。計算機(jī)照相測試?yán)铮緲?biāo)準(zhǔn)指明為“用戶測試”

的，可以由用戶在檢測操作過程中，利用適當(dāng)間隙自己來進(jìn)行，這些測試是與系統(tǒng)的使用范圍和所測材

料相適應(yīng)的。影像的衰退、均勻性和擦除能力的測試，也應(yīng)是系統(tǒng)控制的一部分。所有其他與質(zhì)量和檢

測能力相關(guān)項目的測試，應(yīng)由ＣＲ設(shè)備制造商實施和出具證明。

本標(biāo)準(zhǔn)未提出與安全相關(guān)的規(guī)定。本標(biāo)準(zhǔn)使用者有責(zé)任在事先依據(jù)適用的法規(guī)條款，制定適當(dāng)?shù)?/p>

安全衛(wèi)生實施細(xì)則，并供測試時遵循執(zhí)行。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

ＧＢ／Ｔ１２６０４．２無損檢測術(shù)語射線照相檢測（ＧＢ／Ｔ１２６０４．２—２００５，ＩＳＯ５５７６：１９９７，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ１９３４８．１無損檢測工業(yè)射線照相膠片第１部分：工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類

（ＧＢ／Ｔ１９３４８．１—２００３，ＩＳＯ１１６９９１：１９９８，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２１３５５無損檢測計算機(jī)射線照相系統(tǒng)的分類

ＡＳＴＭＥ１６４７射線照相對比靈敏度測定方法

ＡＳＴＭＥ２００２射線照相圖像總不清晰度測定方法

３術(shù)語和定義

ＧＢ／Ｔ１２６０４．２確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

３．１

混疊犪犾犻犪狊犻狀犵

超過奈奎斯特（Ｎｙｑｕｉｓｔ）頻率（由像素間隔決定）的預(yù)置試樣的高空間頻率信號，在較低空間頻率時

反射進(jìn)入圖像。

３．２

計算機(jī)射線照相系統(tǒng)（犆犚系統(tǒng)）犮狅犿狆狌狋犲犱狉犪犱犻狅犾狅犵狔狊狔狊狋犲犿（犆犚狊狔狊狋犲犿）

由存儲磷光成像板（ＩＰ）、相應(yīng)的讀出裝置（掃描器或讀