標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 22319.11-2018《石英晶體元件參數(shù)的測量 第11部分:采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)方法》是一項針對石英晶體元件性能測試的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了使用自動網(wǎng)絡(luò)分析儀對石英晶體元件進(jìn)行測試時,如何準(zhǔn)確地測定其負(fù)載諧振頻率以及有效負(fù)載電容的方法。其中,“負(fù)載諧振頻率”是指當(dāng)石英晶體與外部電路連接時,在特定條件下達(dá)到最大阻抗值或最小導(dǎo)納值的那個頻率點;而“有效負(fù)載電容”則是指為了使晶體在給定頻率下產(chǎn)生指定響應(yīng)所需添加到晶體兩端的等效電容。
本標(biāo)準(zhǔn)強調(diào)了通過實施適當(dāng)?shù)恼`差校正技術(shù)來提高測量精度的重要性。這包括但不限于考慮儀器自身特性(如端口延伸、開路/短路/負(fù)載校準(zhǔn))可能帶來的影響,并采取相應(yīng)措施減少這些因素對最終結(jié)果的影響。此外,還提供了關(guān)于如何設(shè)置實驗條件、選擇合適的測量設(shè)備及配件等方面的指導(dǎo)性意見,以確保所獲得的數(shù)據(jù)具有較高的可靠性和重復(fù)性。
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....
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- 正在執(zhí)行有效
- 2018-03-15 頒布
- 2018-10-01 實施



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GB/T 22319.11-2018石英晶體元件參數(shù)的測量第11部分:采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)方法-免費下載試讀頁文檔簡介
ICS31140
L21.
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2231911—2018/IEC60444-112010
.:
石英晶體元件參數(shù)的測量
第11部分采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和
:
誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和
有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)方法
Measurementofquartzcrystalunitparameters—
Part11Standardmethodforthedeterminationoftheloadresonance
:
frequencyfLandtheeffectiveloadcapacitanceCLeff
usingautomaticnetworkanalyzertechniquesanderrorcorrection
(IEC60444-11:2010,IDT)
2018-03-15發(fā)布2018-10-01實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T2231911—2018/IEC60444-112010
.:
前言
石英晶體元件參數(shù)的測量分為以下部分
GB/T22319《》:
第部分用型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法
———1:π;
第部分測量石英晶體元件動態(tài)電容的相位偏置法
———2:;
第部分頻率達(dá)石英晶體元件負(fù)載諧振頻率和負(fù)載諧振電阻R的測量方法及其他
———4:30MHzL
導(dǎo)出參數(shù)的計算
;
第部分采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定等效電參數(shù)的方法
———5:;
第部分激勵電平相關(guān)性的測量
———6:(DLD);
第部分石英晶體元件活性跳變的測量
———7:;
第部分表面貼裝石英晶體元件用測量夾具
———8:;
第部分石英晶體元件寄生諧振的測量
———9:;
第部分采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)
———11:
方法
。
本部分為的第部分
GB/T2231911。
本部分按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本部分使用翻譯法等同采用石英晶體元件參數(shù)的測量第部分采用自動
IEC60444-11:2010《11:
網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負(fù)載諧振頻率f和有效負(fù)載電容C的標(biāo)準(zhǔn)方法
LLeff》。
與本部分中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下
:
有質(zhì)量評定的石英晶體元件第部分總規(guī)范
———GB/T12273.1—20171:(IEC60122-1:2002,
MOD)
石英晶體元件參數(shù)的測量第部分頻率達(dá)石英晶體元件負(fù)
———SJ/T11210—19994:30MHz
載諧振頻率f和負(fù)載諧振電阻R的測量方法及其他導(dǎo)出參數(shù)的計算
LL(IEC60444-4:1988,
IDT)
本部分作了下列編輯性修改
:
中負(fù)載諧振頻率f是二個頻率中較低的頻率改為實用中負(fù)載諧振頻率f是二個頻
———3.1“L”“,L
率中較低的頻率
”;
的式分母中ZVV改為ZVV
———4.2b)(5)“3(2-2)”“3(1-2)”;
圖中的圖例虛線表示X改為V實線表示V改為X
———2,“C(Ω)”“C”,“C”“C(Ω)”。
請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任
。。
本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出
。
本部分由全國頻率控制和選擇用壓電器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口
(SAC/TC182)。
本部分起草單位中國電子元件行業(yè)協(xié)會壓電晶體分會南京中電熊貓晶體科技有限公司鄭州原
:、、
創(chuàng)電子科技有限公司
。
本部分主要起草人章怡高志祥鄒飛
:、、。
Ⅰ
GB/T2231911—2018/IEC60444-112010
.:
石英晶體元件參數(shù)的測量
第11部分采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和
:
誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和
有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)方法
1范圍
的本部分規(guī)定了石英晶體元件的優(yōu)值M大于時標(biāo)稱負(fù)載電容C對應(yīng)的石英晶體
GB/T223194,L
元件負(fù)載諧振頻率f以及標(biāo)稱頻率時有效負(fù)載電容C的測量方法
LLeff。
按照中表中的定義M用式表征
IEC60122-1:20021,(1):
Q
M==1
γωCR…………(1)
01
式中
:
M石英晶體元件的優(yōu)值
———;
Q品質(zhì)因數(shù)
———;
γ電容比
———;
ω角頻率單位為弧度每秒
———,(rad/s);
C等效電路中的并電容單位為法拉
0———,(F);
R等效電路中的動態(tài)電阻單位為歐姆
1———,(Ω)。
頻率達(dá)及以下時本部分能得出良好的結(jié)果并可由此計算得出負(fù)載諧振頻率偏置f
200MHz,,ΔL,
頻率牽引范圍f及按照中的定義計算牽引靈敏度S與
ΔL1,L2IEC60122-1:20022.2.31。IEC60444-4
的簡易測量相反本測量技術(shù)避免了使用物理負(fù)載電容因此有更高的測量準(zhǔn)確度更好的重現(xiàn)性及相
,,,
關(guān)應(yīng)用本部分還突破了的頻率上限測量上限達(dá)本部分基于
。IEC60444-430MHz,200MHz。
的誤差校正測量技術(shù)因此在確定f和C的同時無需改變測試夾具一次得到石
SJ/T11211—1999,LLeff,
英晶體元件的多個等效電參數(shù)
。
本部分中當(dāng)石英晶體的電抗X與負(fù)載電容的電抗X數(shù)值相等且符號相反時就得到了頻率f
,CCL,L
見式
[(2)]:
X=-X=1
CCLωC…………(2)
LL
式中
:
X石英晶體的電抗單位為歐姆
C———,(Ω);
X負(fù)載電容的電抗單位為歐姆
CL———
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