標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 28475.2-2012 工業(yè)爐窯控制裝置 第2部分：性能評定方法》是中國國家標(biāo)準(zhǔn)之一，主要針對工業(yè)爐窯控制裝置的性能評估提供了一套系統(tǒng)的方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種類型的工業(yè)爐窯控制設(shè)備，旨在通過一系列測試來確保這些控制裝置能夠滿足設(shè)計要求，并在實際應(yīng)用中表現(xiàn)出良好的性能。

標(biāo)準(zhǔn)首先定義了性能評定的基本原則和條件，包括但不限于環(huán)境條件、電源質(zhì)量等，為后續(xù)的具體測試奠定了基礎(chǔ)。接著，它詳細(xì)描述了如何進(jìn)行不同類型性能指標(biāo)的測量與評估，比如溫度控制精度、響應(yīng)時間、穩(wěn)定性以及抗干擾能力等。每項性能指標(biāo)都有明確的測試方法、步驟及合格標(biāo)準(zhǔn)，以便于操作者準(zhǔn)確執(zhí)行并獲得可靠的結(jié)果。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2012-06-29 頒布
  • 2012-11-01 實施
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GB/T 28475.2-2012工業(yè)爐窯控制裝置第2部分：性能評定方法_第1頁
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文檔簡介

ICS2504040

N10..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T284752—2012

.

工業(yè)爐窯控制裝置

第2部分性能評定方法

:

Microprocessorcontrolequipmentinindustrialstove—

Part2Methodsofevaluatintheerformance

:gp

2012-06-29發(fā)布2012-11-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T284752—2012

.

前言

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

工業(yè)爐窯控制裝置分為兩部分

GB/T28475《》:

第部分通用技術(shù)條件

———1:;

第部分性能評定方法

———2:。

本部分是的第部分

GB/T284752。

本部分的附錄為規(guī)范性附錄

A。

本部分由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出

。

本部分由全國工業(yè)過程測量和控制標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC124)。

本部分由負(fù)責(zé)起草單位福建上潤精密儀器有限公司

:。

本部分參加起草單位上海亞泰儀表有限公司福州福光百特自動化設(shè)備有限公司西南大學(xué)

:、、。

本部分主要起草人戈劍

:。

本部分參加起草人王子江蔡鐵強(qiáng)張新國張建成黃偉黃巧莉鐘秀蓉

:、、、、、、。

Ⅰ

GB/T284752—2012

.

工業(yè)爐窯控制裝置

第2部分性能評定方法

:

1范圍

的本部分規(guī)定了各種工業(yè)爐窯控制裝置以下簡稱微控裝置的性能評定方法和檢驗

GB/T28475()

規(guī)則等

。

本部分適用于各種工業(yè)爐窯的過程控制用微控裝置

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗低溫

GB/T2423.12:A:(GB/T2423.1—

2008,IEC60068-2-1:2007,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗高溫

GB/T2423.22:B:(GB/T2423.2—

2008,IEC60068-2-2:2007,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗恒定濕熱試驗

GB/T2423.32:Cab:

(GB/T2423.3—2006,IEC60068-2-78:2001,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗和導(dǎo)則沖擊

GB/T2423.52:Ea:

(GB/T2423.5—1995,idtIEC60068-2-27:1987)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗和導(dǎo)則碰撞

GB/T2423.62:Eb:

(GB/T2423.6—1995,idtIEC60068-2-29:1987)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗自由跌落

GB/T2423.82:Ed:(GB/T2423.8—

1995,idtIEC60068-2-32:1990)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗振動正弦

GB/T2423.102:Fc:()

(GB/T2423.10—2008,IEC60068-2-6:1995,IDT)

計數(shù)抽樣檢驗程序第部分按接收質(zhì)量限檢索的逐批檢驗抽樣計劃

GB/T2828.11:(AQL)

(GB/T2828.1—2003,ISO2859-1:1999,IDT)

周期檢驗計數(shù)抽樣程序及表適用于對過程穩(wěn)定性的檢查

GB/T2829()

外殼防護(hù)等級代碼

GB4208(IP)(GB4208—2008,IEC60529:2001,IDT)

測量控制和實驗室用電氣設(shè)備的安全要求第部分通用要求

GB4793.1、1:(GB4793.1—

2007,IEC61010-1:2001,IDT)

設(shè)備可靠性試驗恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案

GB/T5080.7

(GB/T5080.7—1986,idtIEC60605-7:1978)

微型計算機(jī)通用規(guī)范

GB/T9813

電氣和電子測量設(shè)備隨機(jī)文件

GB/T16511

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