影響共振譜線線寬的因素

影響共振譜線線寬的因素

——核磁共振實(shí)驗(yàn)口頭報(bào)告報(bào)告者：林妹金0572441一、實(shí)驗(yàn)原理

核磁共振的條件:在與B垂直的方向上施加射頻場(chǎng)，當(dāng)射頻場(chǎng)的頻率恰好滿足時(shí)，處于低能級(jí)態(tài)的氫就會(huì)吸收電磁波的能量，躍遷到高能級(jí)態(tài)，發(fā)生核磁共振。

實(shí)驗(yàn)原理圖共振信號(hào)的觀察等間距的共振信號(hào)帶尾波的較理想的共振信號(hào)二、實(shí)驗(yàn)結(jié)果

1、射頻頻率大小與掃場(chǎng)幅度對(duì)共振信號(hào)的線寬的影響1）射頻電流增大，峰高增大

2）掃場(chǎng)電壓增大時(shí)，峰寬變小

3）射頻電流和掃場(chǎng)電壓過大或過小都無法觀察到共振信號(hào)

2、實(shí)驗(yàn)測(cè)得硫酸銅水溶液的橫向弛豫時(shí)間比純水的橫向弛豫時(shí)間短3、磁場(chǎng)的不均勻性從最佳位置向前移動(dòng)1cm:ΔB1=|B1-B0|/B0從最佳位置向后移動(dòng)1cm:ΔB2=|B2-B0|/B0而ΔB=|B1-B2|/B0由測(cè)量知，ΔB<ΔB1、ΔB2ΔB1≈ΔB2＝>說明磁場(chǎng)的不均勻性較小

磁場(chǎng)不均勻性對(duì)線寬的影響：由中心位置向前或向后移動(dòng)樣品，峰寬逐漸增大，峰迅速變小直至消失

三、影響因素的分析樣品的弛豫特性譜儀的工作狀態(tài)

(1)弛豫展寬（固有展寬）弛豫過程：由高能態(tài)回復(fù)到低能態(tài)而不發(fā)射原來所吸收的能量的過程自旋-晶格弛豫展寬自旋-自旋弛豫展寬（2）順磁展寬摻入少量的順磁鹽類＝>形成相當(dāng)大的局部磁場(chǎng)＝>使樣品中的弛豫時(shí)間t1和t2下降＝>導(dǎo)致共振譜線被嚴(yán)重展寬

（3）儀器展寬

1）射頻展寬和飽和展寬

2）磁場(chǎng)空間不均勻性展寬

3）磁場(chǎng)及頻率的不穩(wěn)定性展寬1)射頻展寬與飽和展寬射頻場(chǎng)B幅度逐步增加＝>自旋粒子在能級(jí)上的平均壽命縮短＝>射頻展寬B的幅度增加到一定程度＝>剛剛出現(xiàn)飽和，此時(shí)信號(hào)達(dá)最大，展寬亦較明顯B的幅度進(jìn)一步增加＝>完全飽和展寬＝>半寬明顯增大，信號(hào)幅度隨之銳減進(jìn)一步增大B＝>共振信號(hào)因過分展寬而消失

2）磁場(chǎng)空間不均勻性展寬磁場(chǎng)空間的不均勻性＝>“局部”磁場(chǎng)＝>附加的展寬＝>表觀橫向弛豫時(shí)間小于實(shí)際的橫向弛豫時(shí)間＝>共振信號(hào)展寬3）磁場(chǎng)及頻率的不穩(wěn)定性展寬磁場(chǎng)的不穩(wěn)定性＝>破壞核磁共振條件，使譜線時(shí)隱時(shí)現(xiàn)

四、總結(jié)通過對(duì)影響線寬