標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 3789.18-1991 發(fā)射管電性能測(cè)試方法 電極間絕緣體高頻損耗的測(cè)試方法》與《GB 3789.18-1983》相比,在內(nèi)容上進(jìn)行了若干更新和改進(jìn)。具體變更包括但不限于以下幾點(diǎn):

首先,1991版標(biāo)準(zhǔn)在術(shù)語(yǔ)定義方面更加明確,對(duì)于一些關(guān)鍵概念進(jìn)行了細(xì)化或重新定義,使得測(cè)試過(guò)程中的操作依據(jù)更為準(zhǔn)確。

其次,針對(duì)測(cè)試條件的規(guī)定有所調(diào)整,例如對(duì)環(huán)境溫度、濕度的要求可能變得更加嚴(yán)格或者放寬了某些限制,以確保測(cè)試結(jié)果的一致性和可比性。

再者,新版本中關(guān)于測(cè)試設(shè)備的選擇與校準(zhǔn)也做了相應(yīng)的更新,引入了當(dāng)時(shí)更為先進(jìn)的測(cè)量?jī)x器和技術(shù)手段,提高了測(cè)試精度及可靠性。

此外,《GB/T 3789.18-1991》還增加了新的測(cè)試項(xiàng)目或修改了原有的測(cè)試流程,比如對(duì)于特定頻率范圍內(nèi)絕緣體損耗特性的測(cè)定方法進(jìn)行了優(yōu)化,或是增加了對(duì)不同工作狀態(tài)下(如熱態(tài))下?lián)p耗值變化情況的研究。

最后,在數(shù)據(jù)處理及結(jié)果表達(dá)方面,1991年的版本也可能采用了更科學(xué)合理的方法來(lái)分析實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),并給出更加直觀清晰的結(jié)果展示方式。這些改變旨在更好地滿足實(shí)際應(yīng)用需求,并推動(dòng)相關(guān)技術(shù)的發(fā)展進(jìn)步。


如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 被代替
  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 3789-2013
  • 1991-08-15 頒布
  • 1992-04-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 3789.18-1991發(fā)射管電性能測(cè)試方法電極間絕緣體高頻損耗的測(cè)試方法_第1頁(yè)
GB/T 3789.18-1991發(fā)射管電性能測(cè)試方法電極間絕緣體高頻損耗的測(cè)試方法_第2頁(yè)
免費(fèi)預(yù)覽已結(jié)束,剩余2頁(yè)可下載查看

下載本文檔

GB/T 3789.18-1991發(fā)射管電性能測(cè)試方法電極間絕緣體高頻損耗的測(cè)試方法-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

UDC621.385.1.032.2:621.317.3L35中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3789.18-91發(fā)射管電性能測(cè)試方法電極間絕緣體高頻損耗的測(cè)試方法MeasurementsoftheelectricalpropertiesoftransmittingtubesMeasuringmethodsofhighfrequencylossforinterelectrodeinsulators1991-08-15發(fā)布1992-04-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3789.18-91發(fā)射管電性能測(cè)試方法電極間絕緣體高頻損耗的測(cè)試方法代替G83789.18-83MeasurementsoftheelectricalpropertiesoftransmittingtubcsMeasuringmethodsofhighfrequencylossforinterelectrodeinsulators主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了發(fā)射管電極間絕緣體高頻損耗的測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于陽(yáng)極耗散功率25W以上的空間電荷控制的振蕩、調(diào)制、調(diào)整和功率放大管電極間絕緣體高頻損耗的測(cè)試。2引用標(biāo)準(zhǔn)GB/T3789.1發(fā)射管電性能測(cè)試方法總則GB/T3789.4發(fā)射管電性能測(cè)試方法柵極反向電流的測(cè)試方法GB/T3789.15發(fā)射管電性能測(cè)試方法輸出功率的測(cè)試方法3術(shù)語(yǔ)電極間絕緣體高頻損耗highfrequencyIossforinterelectrodeinsulators電極間絕緣體高頻損耗是指在規(guī)定的工作狀態(tài)下,電極間絕緣體承受高頻電場(chǎng)的能力。測(cè)試設(shè)備及測(cè)試規(guī)則測(cè)試設(shè)備及測(cè)試規(guī)則應(yīng)符合GB/T3789.1的規(guī)定.5劉試方法5.1按規(guī)范加上燈絲電壓和各極電壓。5.2在詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的最高工作頻率下,使回路諧振、負(fù)載匹配最佳,并在詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的時(shí)間內(nèi)(保持工作狀態(tài)不變)檢查電極間絕緣體表面擊穿、炸裂和永久性變形。試驗(yàn)后,根據(jù)詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定,被測(cè)管按GB/T3789.4測(cè)試第一柵極反向電流,按GB/T3789.15測(cè)試輸出功率。附加說(shuō)明:本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)機(jī)械電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由機(jī)械電子工業(yè)部電

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個(gè)人學(xué)習(xí)、研究之用,未經(jīng)授權(quán),嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等,侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本(可閱讀打?。?,因數(shù)字商品的特殊性,一經(jīng)售出,不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁(yè),非文檔質(zhì)量問(wèn)題。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論