GB/T 40128-2021表面化學分析原子力顯微術二硫化鉬片層材料厚度測量方法

ICS7104040

CCSG.04.

中華人民共和國國家標準

GB/T40128—2021

表面化學分析原子力顯微術

二硫化鉬片層材料厚度測量方法

Surfacechemicalanalysis—Atomicforcemicroscopy—Testmethodfor

thicknessofthetwo-dimensionallayeredmolybdenumdisulfidenanosheets

2021-05-21發(fā)布2021-12-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T40128—2021

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術語和定義

3………………1

方法概述

4…………………2

儀器設備

5…………………3

試劑與材料

6………………4

樣品制備

7…………………4

測量步驟

8…………………4

測量報告

9…………………9

附錄資料性層狀納米片的制備方法及形貌表征

A()MoS2…………10

附錄資料性層狀納米片厚度測量實例

B()MoS2……………………12

附錄資料性推薦的測量報告格式

C()…………………16

參考文獻

……………………17

Ⅰ

GB/T40128—2021

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結構和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構不承擔識別專利的責任

。。

本文件由全國微束分析標準化技術委員會提出并歸口

(SAC/TC38)。

本文件起草單位國家納米科學中心上海納米技術及應用國家工程研究中心有限公司上海市計

:、、

量測試技術研究院北京粉體技術協(xié)會

、。

本文件主要起草人朱曉陽朱君常懷秋齊笑迎蔡瀟雨周素紅

:、、、、、。

Ⅲ

GB/T40128—2021

表面化學分析原子力顯微術

二硫化鉬片層材料厚度測量方法

1范圍

本文件規(guī)定了利用原子力顯微術測量層狀二硫化鉬納米片厚度的測量方法

。

本文件適用于轉移或生長在固體襯底表面的層狀二硫化鉬納米片厚度的測量測量范圍從單層二

,

硫化鉬納米片至厚度不大于其他類似的納米片層材料厚度測量也可參照此方法進行

100nm,。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

納米科技術語第部分核心術語

GB/T30544.11:

納米科技術語第部分納米物體表征

GB/T30544.66:

納米科技術語第部分石墨烯及相關二維材料

GB/T30544.1313:

納米科技納米物體的術語和定義納米顆粒納米纖維和納米片

GB/T32269、

納米技術納米顆粒尺寸測量原子力顯微術

GB/T33714

3術語和定義

和界定的以及下列術語和定義適用

GB/T32269、GB/T30544.1、GB/T30544.6GB/T30544.13

于本文件

。

31

.

納米尺度nanoscale

處于之間的尺寸范圍

1nm~100nm。

注1本尺寸范圍通常但非專有地表現(xiàn)出不能由較大尺寸外推得到的特性對于這些特性來說尺度上下限值

:、。,、

是近似的

。

注2本定義中引入下限約的目的是為了避免將單個原子或原子團簇認為是納米物體或納米結構單元

:(1nm)