面向儲層預測的測井曲線環(huán)境校正方法研究-陽光杰科

面向儲層預測的測井曲線環(huán)境校正方法研究面向儲層預測環(huán)境校正與常規(guī)測井環(huán)境校正的區(qū)別

測井資料往往存在失真問題原因：擴徑，泥漿侵入，泥巖蝕變、方法限制（橫波速度）常規(guī)環(huán)境校正不能滿足要求常規(guī)環(huán)境校正能滿足測井解釋要求，但往往忽略：泥巖段的校正－影響砂、泥界面反射系數(shù)彈性參數(shù)（聲波、密度）參數(shù)校正－地震的基礎

面向儲層預測環(huán)境校正評估三條標準：符合巖石物理的一般規(guī)律（巖石物理模型診斷）彈性參數(shù)之間的規(guī)律性合成記錄與井旁地震道的動力學特征要一致?；谝陨蠁栴}，為了消除測井過程中的環(huán)境影響，得到反映原狀地層的真實測井彈性曲線以及砂泥巖界面，需要進行面向儲層預測的測井曲線環(huán)境校正工作。紅框中藍色曲線為校正前的DEN，紅色曲線為校正后的DEN井眼校正實例異常點純砂巖理論線純泥巖理論線異常點已歸位純砂巖理論線純泥巖理論線泥漿侵入校正實例InvadedZone

Density,Vp,andVsbeforeandaftercorrection

校正前校正后泥漿侵入掩蓋了氣層的測井響應，從而與下面的油層特征相近，侵入校正后，還原了真實氣層的低密度以及更低縱橫波速度比的特征。校正前

SEISMICSYNTHETICOFFSETSYNTHETIC校正后

SEISMICSYNTHETICOFFSETSYNTHETIC井震匹配檢驗井資料保真性及校正效果（面向儲層預測）校正前后合成地震記錄與井旁地震道的相位與能量的對應關系對比一、針對井眼的校正1.聲波曲線的校正a.砂巖層聲波時差校正方法采用深度與聲波時差的交會關系校正砂巖層擴徑井段的聲波時差b.圍巖地層聲波時差校正方法如果圍巖地層滿足Faust公式的適用條件,在聲波時差曲線嚴重失真的情況下,利用Faust公式重構聲波時差曲線：V=KHCRtd式中,K,C,d為與地域有關的經驗系數(shù);H為深度;V為聲波速度;

Rt為地層真電阻率。一、針對井眼的校正1.聲波曲線的校正上式中K,C,d參數(shù)的確定方法為：（1）選擇同一沉積環(huán)境下的井段,利用鄰井同一地層中質量較好資料的電阻率與聲波時差曲線,通過Faust公式來求?。?）如果本井其它相同類型井段中有質量好的資料,可以利用這些資料中的電阻率與聲波時差曲線通過Faust公式來求取以上公式簡化后變換為常用的表達式如下：

VP_faust=(K*(Depth*RT)0.1667)/3.281DT_faust=106/VP_f

其中，K是地層參數(shù)，一般在2000左右c.利用多曲線擬合校正失真聲波曲線常規(guī)曲線之間都是具備一定的相關性的，可以利用相同類型質量較好井段的聲波與自然伽馬、深電阻率、中子等曲線進行多元擬合，得到關系來對失真井段的聲波時差進行校正。DT=f(GR,RT,CNL…)VSP資料可以提供準確的時—深關系,因此可以用VSP的時-深關系對聲波曲線進行校正。校正方法是用VSP標定的主要目的層的時-深關系作為合成記錄上同一層的時-深關系,從井旁地震道中提取目的層子波,經過不同時窗反復提取,使子波接近零相位,這時的合成記錄的主要波組與地面地震的主要波組接近,但有小時差。進一步以VSP標定的主要目的層的時-深關系點作為合成記錄的校正點,求得相對時差,然后用時間漂移法,將合成記錄上的波組時間與井旁地震剖面波組時間相對應,這樣就得到了校正的聲波曲線。校正后的聲波曲線的層速度或層的平均速度基本反映本巖性層段的速度特征。d.利用VSP資料校正VP一、針對井眼的校正1.聲波曲線的校正VSP提取的大層層速度精度較高,聲波速度具有很強的垂向分辨能力,用VSP提取的時深關系對聲波進行校正后,有利于研究薄儲層的巖性物性。對兩者進行綜合研究分析,能提高地層巖性解釋的精度。一、針對井眼的校正1.聲波曲線的校正e.基于井徑擴徑量的聲波時差曲線校正DTc=DT-Δ0ds≤5cm（1.524in）50*（ds-5）/55cm＜ds≤10cm（1.524~3.05in）

Δ=50+50*（ds-10）/510cm＜ds≤30cm（3.05~9.146in）

250

ds＞30cm（＞9.146in）DT——校正前聲波時差（米制）DTc——校正后聲波時差（米制）ds=CAL-BS（鉆徑）代表擴徑量當ds<0時，不做井徑校正

2.密度測井曲線的環(huán)境校正：a.利用校正后的VP，通過Gardner公式，來校正失真密度：DEN_gardner=a*VP2+b*VP+c…………….(1)

其中，a,b和c為與巖性有關的可調系數(shù)推薦一、針對井眼的校正

2.密度測井曲線的環(huán)境校正：a.利用校正后的VP，通過Gardner公式，來校正失真密度：DEN_gardner=d*Vpf…………….(2)

其中，d和f為與巖性有關的可調系數(shù)一、針對井眼的校正b.利用多曲線擬合技術來校正密度：利用相同類型質量較好井段的密度與自然伽馬、深電阻率、中子、聲波等曲線進行多元擬合，得到關系來對失真井段的聲波時差進行校正。DEN=f(GR,RT,CNL，DT…)一、針對井眼的校正

2.密度測井曲線的環(huán)境校正：c.利用測井公司校正圖版來校正密度曲線：左圖中，補償?shù)貙用芏染畯叫Ｕ龍D版可以校正的最大井徑是15英寸，圖版中，縱坐標是密度校正量，橫坐標是井徑。例如，dh=12in，DEN=2.2g/cm3,井中充滿泥漿，從圖版可以查得校正量為0.02g/cm3，所以校正后的密度值為：DENc=2.2+0.02=2.22g/cm3右圖中，巖性密度井徑校正圖版可以校正的最大井徑是25英寸，圖版中，縱坐標是密度校正量，橫坐標是井徑值dh與鉆頭直徑（8in）的差值和密度測井讀數(shù)DEN與泥漿密度ρm差值的乘積。例如，dh=325mm，DEN=2.45g/cm3，ρm=1.05g/cm3，（dh-200）*（DEN-ρm）=175，所以校正量為0.014g/cm3，校正后的密度值DENc=2.45+0.014=2.464g/cm3二、針對侵入的校正在鹽水泥漿、氣層和滲透性較好的地層中，會產生較深的泥漿侵入帶，它對測井曲線會產生比較嚴重的影響，尤其是視電阻率曲線。這時，想依據電阻率來校正速度和密度曲線，需要求取較準確的地層真電阻率（Rt）。1.BatemanR.M和KonenC.E法a.對泥漿低侵（Rt>Rxo）地層當（Rlld-Rlls）/Rlls>0.15時，用下式計算真電阻率Rt：侵入帶直徑Di：Di=223（Jd+0.17）2.267Jd=（Rt-Rlld）/（Rt-Rxo）當（Rlld-Rlls）/Rlls≤0.15時，用Rt=1.1*Rlld近似求出Rt此外，當（Rlld-Rlls）/Rlls≤0且（Rlld-Rxo）/Rxo>0或者（Rlld-Rlls）/Rlls≤0且（Rlld-Rxo）/Rxo<0時，不做校正，即Rt=Rlld二、針對侵入的校正b.淡水泥漿往往高侵（Rxo>Rt）

設α=（Rlls-Rlld）/（Rxo-Rlld）Jd=0.5981*α+0.0869Rt=(Rlld-Jd*Rxo)/(1-Jd)侵入帶直徑Di=12.727*101.208*αc.當無沖洗帶測井時低侵：Rt=1.7*Rlld-0.7*Rlls高侵：Rt=2.4*Rlld-1.4*Rlls特別，當Rlld/Rxo≥3時，此Rt/Rlld與圖版法相對誤差±10%2.GeorgeDR.和AsquithB.法Rt≈（Rlld/Rlls）0.1*（Rlld-0.29*Rxo）/0.713.用幾何因子理論與數(shù)值逼近法進行泥漿侵入校正。

這種方法是根據深淺側向測井在侵入帶的近似幾何因子，采用計算機迭代逼近方法來對深淺側向測井進行校正，求出地層真電阻率Rt和沖洗帶電阻率Rxo。4.時間推移法。用同一井段的泥漿侵入前、后測量的深感應和深側向視電阻率曲線，經過對比和數(shù)據統(tǒng)計，繪制單井泥漿侵入校正的經驗圖版，由此得出經驗校正公式，例如：Rild1=1.347(Rild2)1.062

Rlld1=0.659(Rlld2)1.187

式中，下標為1的曲線為侵入前，下標為2的曲線為侵入后電阻率三、