GB/T 5965-2000半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第一篇雙極型單片數(shù)字集成電路門電路(不包括自由邏輯陣列)空白詳細規(guī)范

ICS31.200L56中華人民共和國國家標準GB/T5965-2000idtIEc748-2-1：1991QC790132半導體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路第一篇雙極型單片數(shù)字集成電路門電路(不包括自由邏輯陣列)空白詳細規(guī)范Semiconductordevices-ntegratedcircuitsPart2:Digitalintegratedcircuits-Sectionone--BlankdetailspecificationforbipolarmonolithicdigitalintegratedcircuitgatesCexcludinguncommittedlogicarrays)2000-01-03發(fā)布2000-07-01實施國家質(zhì)量技術監(jiān)督局發(fā)布

GB/T5965-2000前本標準等同采用國際電工委員會標準IEC748-2-1:1991《半導體器件：集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第一篇雙極型單片數(shù)字集成電路門電路(不包括自由邏輯陣列)空白詳細規(guī)范》.以促進我國該類產(chǎn)品的國際貿(mào)易、技術和經(jīng)濟交流。本標準與下列國家標準一起使用：GB/T4937—1995《半導體器件機械和氣候試驗方法》idtIEC749:1984及修改單1:1991)GB/T16464—1996《半導體器件集成電路第1部分：總則》(idtIEC748-1:1984)GB/T17574-1998《半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路》idtIEC748-2:1985及修改單1:1991）本標準由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。本標準由全國集成電路標準化分技術委員會歸口。本標準起草單位：電子工業(yè)部標準化研究所。本標準主要起草人：李燕榮

GB/T5965-2000IEC前言1）IEC(國際電工委員會)在技術問題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對這些問題特別關切的國家委員會參加的技術委員會制定的.對所涉及的問題盡可能地代表了國際上的一致意見。2）這些決議或協(xié)議，以推薦標準的形式供國際上使用,并在此意義上為各國家委員會所認可3）為了促進國際上的統(tǒng)一,IEC希望各國家委員會在本國條件許可的情況下,采用IEC標準的文本作為其國家標準。IEC標準與相應國家標準之間的差異，應盡可能在國家標準中指明。本標準由IEC/TC47(半導體器件)的SC47A(集成電路)制定。本標準是雙極型單片數(shù)字電路門電路空白詳細規(guī)范。本標準文本以下列文件為依據(jù)：六個月法表決報告二個月程序表決報告47/47A(CO)47/47A（CO）47A(CO)21247A（CO)239987/1511033/165.1033A/165A表決批準本標準的詳細資料可在上表列出的表決報告中查閱。本標準封面上的QC編號是IEC電子元器件質(zhì)量評定體系(IECQ)的規(guī)范號。本標準引用下列IEC標準：68-2-17（1978）環(huán)境試驗第2部分：試驗式試驗Q密封617-12(1991）圖形符號第12部分：二進制邏輯單元747-10(1984）半導體器件第10部分:分立器件和集成電路總規(guī)范748-1(1984）半導體器件集成電路第1部分：總則華導體器件748-2（1985）集成電路第1部分：數(shù)字集成電路修改單1(1991)748-11（1990）半導體器件集成電路第11部分：半導體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路）749(1984）半導體器件機械和氣候試驗方法修改單1(1991）QC001002（1986）IEC電子元器件質(zhì)量評定體系（IECQ)程序規(guī)購

中華人民共和國國家標準半導體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路第一篇雙極型單片數(shù)字集成電路門電路(不包括自由邏輯陣列)GB/T5965--2000idtIEc748-2-1:1991空白詳細規(guī)范QC790132代替GB/5965-1986Semiconductordevices-lntegratedcircuitsPart2:Digitalintegratedcircuits-Sectionone-Blankdetailspecificationforbipolarmonolithicdigitalintegratedcircuitgates(excludinguncommittedlogicarrays)IEC電子元器件質(zhì)量評定體系遵循IEC的章程,并在IEC授權下進行工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評定程序，以這種方式使一個參加國按有關規(guī)范要求放行的電子元器件無需進一步試驗而為其他所有參加國同樣接受。本空白詳細規(guī)范是半導體器件的一系列空白詳細規(guī)范之一.并且與下列標準一起使用。IEC747-10/QC700000半導體器件第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范要求的資料本頁和下頁括號內(nèi)的數(shù)字與下列各項要求的資料相對應.這些資料應填寫在相應的欄中。詳細規(guī)范的識別【1授權發(fā)布詳細規(guī)范的國家標準化機構名稱【2詳細規(guī)范的IECQ編號?！?7總規(guī)范、分規(guī)范的編號及版本號。（4詳細規(guī)范的國家編號、發(fā)布日期及國家標準體系要求的其他資料器件的識別「57主要功能和型號，【6典型結構(材料、主要工藝)和封裝資料如果器件具有若干種派生產(chǎn)品，則應指出其差別,例如用對照表列出特性差異如果器件屬靜電敏感型,應在詳細規(guī)范中注明注意事項[門外形圖、引出端識別、