GB/T 6218-1996開關用雙極型晶體管空白詳細規(guī)范

TCS31.080.30L42中華人民共和國國家標準CB/T.6218-1996idtIEc747-7-3.1991開關用雙極型晶體管空白詳細規(guī)范Blankdetailspecificationforbipolartransistorsforswitchingapplications1996-07-09發(fā)布1997-01-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

GB/Tr6218-1996前本標準是根據國際電工委員會IEC747-7-3:1991《開關用雙極型品體管空白詳細規(guī)范》對GB36218-86進行修訂的。修訂后的標準與IEC747-7-3標準等同。本空白詳細規(guī)范是半導體器件空白詳細規(guī)范系列中的一個，并應與下列規(guī)范一起使用：（B4589.1—89《半導體器件分立器件和集成電路總規(guī)范》.GB12560-90《半導體器件分立器件分規(guī)池》。本標準由中華人民共和國電子工業(yè)部提出本標準由全國半導體器件標準化技術委員會歸口。本標準起草單位：上海市電子儀表標準計量測試所、中國電子技術標準化研究所。本標準起草人：倪月琴、王長福。

GB/T6218-1996IEC前音國際電工委員會(IEC)電工元器件質量評定體系遵循國際電工委員會的章程,且在國際電工委員會授權下開展工作。評定體系的目的是以這樣一種方式確定質量評定程序，使得一個成員國按照符合適用規(guī)范要求所放行的電子元器件在其它所有成員國內無需再試驗，同樣為合格。本空白詳細規(guī)范是半導體器件一系列空白規(guī)范中的一個，同時使用下列IEC標準：IEC747-10/QC700000(1991)半導體器件第10部分分立器件和集成電路總規(guī)范IEC747-11/QC750100(1985)半導體器件中第11部分分立器件分規(guī)范

中華人民共和國國家標準CB/T6218-1996開關用雙極型晶體管空白詳細規(guī)范idtIEC747-7-3:1991Blankdetailspecificationforbipolar代替GB6218-86transistorsforswitchingapplications要求的資料：下列所要求的各項內容，應列入規(guī)定的相應空欄中詳細規(guī)范的識別：（1）授權發(fā)布詳細規(guī)范的國家標準機構名稱。（2）IECQ詳細規(guī)范號。（3）總規(guī)范號和分規(guī)范號以及年代號（4）詳細規(guī)范號和發(fā)布日期,以及國家體系要求的任何更多資料。器件的識別：（5）器件的型號（6）典型結構和應用資料：如果設計一種器件滿足若干應用，則應在詳細規(guī)范中指出，這些應用的特性、極限值和檢驗要求應予滿足。如果器件對靜電敏感，或含有害材料例如：氧化鍍，則應在詳細規(guī)范中附加注意事項。（7）外形圖和(或)引用有關的外形標準。(8）質量評定類別。（9）能在器件型號之間比較的最重要的特性參考數據【整個規(guī)范，括號內給出的條款供指導規(guī)范制訂者使用，而不包括在詳細規(guī)范里」。【整個規(guī)范，