GB/T 9424-1998半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第五篇CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列空白詳細規(guī)范

IC531.200L56中華人民共和國國家標準GB/T9424-1998idtIEC748-2-5:1992QC790131半導體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路第五篇CMOS數(shù)字集成電路40008和4000UB系列空白詳細規(guī)范SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart2:DigitalintegratedcircuitsSectionfive—-BlankdetailspecificationforcomplementaryMOSdigitalintegratedcircuits.seriesA00OBand40OOUB1998-11-17發(fā)布1999-06-01實施國家質量技術監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第五篇CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列空白詳細規(guī)范GB/T9424-1998中國標準出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復興門外三里河北街16號郵政編碼：100445htp://電話：63787337、637874471999年5月第一版20%4年12月電子版制作書號：155066·1-15762版權專有侵權必究舉報電話：（010）68533533

GB/T9424-1998本標準等同采用國際電工委員會(IEC)標準IEC748-2-5：1992《半導體器件集成電路第2部分數(shù)字集成電路第五篇一CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列空白詳細規(guī)范》。本標準代替1988年發(fā)布的GB9424《CMOS數(shù)字集成電路4000系列電路空白詳細規(guī)范》。本標準與《CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列族規(guī)范》一起，可作為編制CMOS數(shù)字集成電路4000系列電路詳細規(guī)范的依據(jù)。本標準引用的國家標準GB/T4937一1995和GB/T17572—1998分別等同采用IC749:1984及修改單1（1991)、修改單2（1993)和IEC748-2-4:1992.本標準由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標準由全國集成電路標準化分技術委員會歸口。本標準起草單位：電子工業(yè)部標準化研究所、西安微電子技術研究所。本標準主要起草人：陳裕爆、陳學禮

GB/T9424-1998IEC前言1）IEC（國際電工委員會）在技術問題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對這些問題特別關切的國家委員會參加的技術委員會制定的.對所涉及的問題盡可能地代表了國際上的一致意見。2）這些決議或協(xié)議，以推薦標準的形式供國際上使用，并在此意義上為各國家委員會所認可3）為了促進國際上的統(tǒng)一,IEC希望各國家委員會在本國條件許可的情況下,采用IEC標準的文本作為其國家標準。IEC標準與相應國家標準之間的差異，應盡可能在國家標準中指明。本標準是由SC47A(集成電路)和IECTC47(半導體器件)制定的。本標準系CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列空白詳細規(guī)范本標準文本以下列文件為依據(jù)：六個月法表決報告一個月程序表決報告47A(CO)17547C0)19547A(CO)21047A(CO）24247（C0)1051本標準表決批準的詳細資料可在上表列出的表決報告中查閱、本標準封面的QC編號是IEC電子元器件質量評定體系(IECQ）規(guī)范號。本標準引用下列IEC標準：68-2-17:1978環(huán)境試驗第2部分試驗試驗Q密封617-12:1991圖示符號第12部分二進制邏輯單元747-10:1991半導體器件分立器件：第10部分分立器件和集成電路總規(guī)范748-2-4：1991！半導體器件集成電路第2部分數(shù)字集成電路第四篇一CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列族規(guī)范748-11:1990半導體器件集成電路第11部分半導體集成電路(不包括混合電路)分規(guī)范749:1984半導體器件機械和氣候試驗方法修改單1(1991）QC001002:1986IEC電子元器件質量評定體系(IECQ)程序規(guī)則

中華人民共和國國家標準半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路GB/T9424第五篇CMOS數(shù)字集成電路-1998idtIEC748-2-5:1992QC7901314000B和4000UB系列空白詳細規(guī)范代替GB/T9424-一—1988SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart2:DigitalintegratedcircuitsSectionfive-BlankdetailspecificationforcomplementaryMOSdigitalintegratedcircuits.series4000Band4000UB引言IEC電子元器件質量評定體系遵循IEC章程并在IEC授權下工作。該體系的目的是確定質量評定程序，以這種方式使一個參加國按有關規(guī)范要求放行的電子元器件無需進一步試驗而為其他所有參加國同樣接受。本空白詳細規(guī)范是半導體器件的一系列空白詳細規(guī)范之一,并應與下列IEC標準一起使用747-10/QC700000半導體器件：第10部分分立器件和集成電路總規(guī)范要求的資料本頁及下面方括號內(nèi)的數(shù)字與下列各項要求的資料相對應,這些資料應填入相應欄中詳細規(guī)范的識別「1授權發(fā)布詳細規(guī)范的國家標準化機構名稱.L2]詳細規(guī)范的IECQ編號。L3」總規(guī)范、分規(guī)范的編號及版本號。L4詳細規(guī)范的國家編號、發(fā)布日期及國家標準體系要求的任何資料，器件的識別L5主要功能和型號。L6」典型結構(材料、主要工藝)和封裝資料。如果器件具有若干種派生產(chǎn)品，則應指出其差異，例如，在對照表中列出特性差異.如果器件屬靜電敏感型，在詳細規(guī)范中應附加預防說明?！?外形圖、引出端識別、標志和/或與外形有關的參考文件.L8]按總規(guī)范2.6的