標(biāo)準(zhǔn)解讀

《JJF 1613-2017 掠入射X射線反射膜厚測量儀器校準(zhǔn)規(guī)范》是針對掠入射X射線反射技術(shù)用于測量薄膜厚度時所使用的儀器設(shè)備的校準(zhǔn)方法和技術(shù)要求的標(biāo)準(zhǔn)文件。該標(biāo)準(zhǔn)適用于采用掠入射X射線反射原理進(jìn)行膜厚測定的各類儀器,其主要目的是確保這類儀器在使用過程中能夠提供準(zhǔn)確可靠的測量結(jié)果。

根據(jù)該規(guī)范,首先明確了適用范圍和引用文件,為后續(xù)的具體操作提供了理論依據(jù)。接著對術(shù)語進(jìn)行了定義,包括但不限于“掠入射角”、“臨界角”等專業(yè)名詞,幫助使用者更好地理解文本內(nèi)容及背景知識。對于校準(zhǔn)條件方面,則詳細(xì)列出了環(huán)境溫度、濕度以及電源電壓等外部因素的要求,以保證校準(zhǔn)過程的有效性與一致性。

在校準(zhǔn)項目部分,《JJF 1613-2017》規(guī)定了需要檢查或調(diào)整的主要參數(shù),如探測器響應(yīng)線性度、能量分辨率等,并給出了相應(yīng)的測試方法。此外,還介紹了如何通過特定樣品(通常為已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì))來驗證儀器性能的方法,以及數(shù)據(jù)處理步驟,比如計算平均值、確定不確定度等。


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....

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  • 2017-02-28 頒布
  • 2017-05-28 實施
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文檔簡介

中華人民共和國國家計量技術(shù)規(guī)范

JJF1613—2017

掠入射X射線反射膜厚測量儀器

校準(zhǔn)規(guī)范

CalibrationSpecificationforThinFilmThicknessMeasurement

InstrumentsbyGrazingIncidenceX-RayReflectivity

2017-02-28發(fā)布2017-05-28實施

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

JJF1613—2017

掠入射X射線反射膜厚測量儀器

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校準(zhǔn)規(guī)范???????????????

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CalibrationSpecificationforThinFilmThickness??

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MeasurementInstrumentsby

GrazingIncidenceX-RayReflectivity

歸口單位全國新材料與納米計量技術(shù)委員會

:

主要起草單位中國計量科學(xué)研究院

:

參加起草單位常州市計量測試技術(shù)研究所

:

本規(guī)范委托全國新材料與納米計量技術(shù)委員會負(fù)責(zé)解釋

JJF1613—2017

本規(guī)范主要起草人

:

任玲玲中國計量科學(xué)研究院

()

高慧芳中國計量科學(xué)研究院

()

參加起草人

:

周志峰常州市計量測試技術(shù)研究所

()

JJF1613—2017

目錄

引言

………………………(Ⅲ)

范圍

1……………………(1)

引用文件

2………………(1)

概述

3……………………(1)

計量特性

4………………(1)

儀器θ角示值誤差及重復(fù)性

4.12……………………(1)

膜厚測量示值誤差

4.2…………………(1)

膜厚測量重復(fù)性

4.3……………………(1)

校準(zhǔn)條件

5………………(1)

環(huán)境條件

5.1……………(1)

測量標(biāo)準(zhǔn)及其他設(shè)備

5.2………………(2)

校準(zhǔn)項目和校準(zhǔn)方法

6…………………(2)

校準(zhǔn)項目

6.1……………(2)

校準(zhǔn)方法

6.2……………(2)

校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)

7…………(3)

復(fù)校時間間隔

8…………(3)

附錄儀器膜厚測量示值誤差的不確定度評定示例

A………………(4)

附錄校準(zhǔn)記錄格式

B…………………(7)

附錄校準(zhǔn)證書內(nèi)頁格式

C()………(9)

JJF1613—2017

引言

國家計量校準(zhǔn)規(guī)范編寫規(guī)則通用計量術(shù)語及定義

JJF1071《》、JJF1001《》、

測量不確定度評定與表示和測量儀器特性評定共同構(gòu)成支

JJF1059.1《》JJF1094《》

撐本規(guī)范制定工作的基礎(chǔ)性系列規(guī)范

。

本規(guī)范參考了射線反射法評估薄膜的厚度密度和界面寬度

ISO16413:2013《X、

儀器要求準(zhǔn)直和定位數(shù)據(jù)收集數(shù)據(jù)分析和報告

、、、》(Evaluationofthickness,

densityandinterfacewidthofthinfilmsbyX-rayreflectometry—Instrumentalrequirements,

的相關(guān)內(nèi)容

alignmentandpositioning,datacollection,dataanalysisandreporting)。

本規(guī)范為首次發(fā)布

。

JJF1613—2017

掠入射X射線反射膜厚測量儀器校準(zhǔn)規(guī)范

1范圍

本規(guī)范適用于掠入射射線反射膜厚測量儀器以下簡稱儀器的校準(zhǔn)

X()。

2引用文件

本規(guī)范引用了下列文件

:

多晶射線衍射儀檢定規(guī)程

JJG629—2014X

國家計量校準(zhǔn)規(guī)范編寫規(guī)則

JJF1071

凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本規(guī)范凡是不注日期的引用文

,;

件其最新版本包括所有的修改單適用于本規(guī)范

,()。

3概述

儀器一般由準(zhǔn)直的入射射線光源樣品臺探測系統(tǒng)等部分組成見圖其

X、、(1)。

工作原理為當(dāng)射線以很小的角度入射到樣品表面時會發(fā)生界面反射經(jīng)膜層后反

:X,

射強(qiáng)度會發(fā)生變化得到反射強(qiáng)度和反射角的關(guān)系通過數(shù)據(jù)處理可得到膜層厚度

,,。

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