標(biāo)準(zhǔn)解讀
《JJF 1682-2017 光柵式測(cè)微儀校準(zhǔn)規(guī)范》與《JJG 989-2004 光柵式測(cè)微儀》相比,在多個(gè)方面進(jìn)行了更新和調(diào)整,主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:
一、標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)不同,《JJG 989-2004 光柵式測(cè)微儀》為檢定規(guī)程,而《JJF 1682-2017 光柵式測(cè)微儀校準(zhǔn)規(guī)范》則為校準(zhǔn)規(guī)范。前者側(cè)重于對(duì)儀器是否符合特定技術(shù)要求進(jìn)行判定,后者更注重提供一套方法來確定測(cè)量設(shè)備的示值誤差,并不直接給出合格與否的結(jié)論。
二、適用范圍有所擴(kuò)展。新版本不僅涵蓋了傳統(tǒng)意義上的光柵式測(cè)微儀,還增加了對(duì)使用類似原理但結(jié)構(gòu)或形式略有不同的新型號(hào)產(chǎn)品的覆蓋,如某些集成化程度更高的數(shù)字化產(chǎn)品等。
三、術(shù)語定義更加明確。對(duì)于一些關(guān)鍵概念(例如分辨率、重復(fù)性等),新版文件提供了更為詳盡且準(zhǔn)確的解釋,有助于減少因理解偏差導(dǎo)致的操作不一致問題。
四、校準(zhǔn)項(xiàng)目及方法有所調(diào)整。根據(jù)近年來技術(shù)進(jìn)步及用戶需求變化,《JJF 1682-2017》中列出了一些新增加或修改后的測(cè)試項(xiàng)目,同時(shí)給出了相應(yīng)的操作步驟和技術(shù)要求。比如增加了環(huán)境條件控制的具體要求;對(duì)于某些參數(shù)的檢測(cè)方式也做了優(yōu)化改進(jìn),以提高結(jié)果準(zhǔn)確性。
五、數(shù)據(jù)處理及不確定度評(píng)估部分得到加強(qiáng)。針對(duì)如何合理地分析實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)、計(jì)算示值誤差以及評(píng)定測(cè)量不確定度等內(nèi)容,《JJF 1682-2017》提供了更為系統(tǒng)化的指導(dǎo)原則和實(shí)用工具,幫助技術(shù)人員更好地完成相關(guān)工作。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2017-11-20 頒布
- 2018-05-20 實(shí)施





文檔簡介
中華人民共和國國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范
JJF1682—2017
光柵式測(cè)微儀校準(zhǔn)規(guī)范
CalibrationSpecificationforGratingMicrometers
2017-11-20發(fā)布2018-05-20實(shí)施
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
JJF1682—2017
光柵式測(cè)微儀校準(zhǔn)規(guī)范??
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?JJF1682—2017?
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?代替JJG989—2004?
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GratingMicrometers
歸口單位全國幾何量工程參量計(jì)量技術(shù)委員會(huì)
:
主要起草單位中國科學(xué)院光電技術(shù)研究所
:
中國測(cè)試技術(shù)研究院
參加起草單位安徽省計(jì)量科學(xué)研究院
:
本規(guī)范委托全國幾何量工程參量計(jì)量技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋
JJF1682—2017
本規(guī)范主要起草人
:
曹學(xué)東中國科學(xué)院光電技術(shù)研究所
()
匡龍中國科學(xué)院光電技術(shù)研究所
()
冉慶中國測(cè)試技術(shù)研究院
()
參加起草人
:
范天泉中國科學(xué)院光電技術(shù)研究所
()
馬琳安徽省計(jì)量科學(xué)研究院
()
胡琦中國科學(xué)院光電技術(shù)研究所
()
JJF1682—2017
目錄
引言
………………………(Ⅱ)
范圍
1……………………(1)
引用文件
2………………(1)
術(shù)語
3……………………(1)
示值誤差范圍
3.1………………………(1)
概述
4……………………(1)
計(jì)量特性
5………………(1)
測(cè)力
5.1…………………(1)
測(cè)桿受徑向力引起的示值變化
5.2……………………(1)
重復(fù)性
5.3………………(1)
示值誤差范圍
5.4………………………(3)
漂移
5.5…………………(3)
校準(zhǔn)條件
6………………(3)
環(huán)境條件
6.1……………(3)
校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)器
6.2…………(4)
校準(zhǔn)方法
7………………(5)
測(cè)力
7.1…………………(5)
測(cè)桿受徑向力引起的示值變化
7.2……………………(5)
重復(fù)性
7.3………………(5)
示值誤差范圍
7.4………………………(5)
漂移
7.5…………………(8)
校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)
8…………(8)
復(fù)校時(shí)間間隔
9…………(8)
附錄示值誤差范圍校準(zhǔn)不確定度評(píng)定測(cè)長裝置法
A()…………(9)
附錄示值誤差范圍校準(zhǔn)不確定度評(píng)定量塊測(cè)微儀檢定器組合法
B(-)…………(13)
附錄示值誤差范圍校準(zhǔn)不確定度評(píng)定量塊測(cè)量法
C()…………(16)
附錄校準(zhǔn)證書內(nèi)容及內(nèi)頁格式
D……………………(19)
Ⅰ
JJF1682—2017
引言
本規(guī)范的編寫以國家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫規(guī)則
JJF1071—2010《》、JJF1001—2011
通用計(jì)量術(shù)語及定義和測(cè)量不確定度評(píng)定與表示為基礎(chǔ)和
《》JJF1059.1—2012《》
依據(jù)
。
本規(guī)范替代光柵式測(cè)微儀
JJG989—2004《》。
與相比除編輯性修改外本規(guī)范主要技術(shù)變化如下
JJG989—2004,,:
本規(guī)范取消了外觀各部分相互作用及抗干擾性三項(xiàng)通用技術(shù)要求
———“”“”“”;
本規(guī)范將準(zhǔn)確度級(jí)別由級(jí)改為級(jí)的形式并增加了
———“××”“××μm”,
級(jí)及級(jí)兩種準(zhǔn)確度級(jí)別
“0.1μm”“0.2μm”;
本規(guī)范將示值誤差的校準(zhǔn)改為示值誤差范圍的校準(zhǔn)
———;
本規(guī)范將示值誤差的測(cè)量方法由固定零點(diǎn)改為浮動(dòng)零點(diǎn)形式
———;
本規(guī)范在示值誤差范圍校準(zhǔn)方法中增加了量塊測(cè)量法
———“”。
本規(guī)范的歷次版本發(fā)布情況
:
———JJG989—2004。
Ⅱ
JJF1682—2017
光柵式測(cè)微儀校準(zhǔn)規(guī)范
1范圍
本規(guī)范適用于級(jí)行程為級(jí)行程為
0.1μm0~10mm、0.2μm0~25mm、0.5μm
級(jí)行程為級(jí)級(jí)行程為的光柵式測(cè)微儀校準(zhǔn)
0~50mm、1μm~10μm0~100mm。
2引用文件
本規(guī)范引用下列文件
:
光柵線位移測(cè)量裝置
JB/T10030—2012
光柵線位移測(cè)量系統(tǒng)第部分光柵線位移傳感器
JB/T10080.2—20112:
凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本規(guī)范凡是不注日期的引用文
,;
件其最新版本包括所有的修改單適用本規(guī)范
,()。
3術(shù)語
示值誤差范圍
3.1rangeofindicationerror
指示值誤差中最大者與最小者之差
。
4概述
光柵式測(cè)微儀以下簡稱測(cè)微儀也稱光柵測(cè)微儀光柵長度計(jì)或光電測(cè)長儀是
()、,
以光柵副作為測(cè)量元件將線位移量轉(zhuǎn)換為光電信號(hào)經(jīng)電路處理并以數(shù)字顯示位移量
,
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