標準解讀

《JJF 1702-2018 α、β平面源校準規(guī)范》是一項針對α粒子和β粒子發(fā)射平面源進行校準的技術標準。該標準由國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布,旨在確保此類放射性平面源在使用過程中的準確性和一致性,適用于計量檢定機構以及相關單位對α、β平面源的校準工作。

根據此規(guī)范,α、β平面源是指能夠穩(wěn)定地發(fā)射α或β射線,并且其表面活性物質分布均勻的放射性材料。這些源廣泛應用于核物理研究、環(huán)境監(jiān)測、輻射防護等領域。為了保證測量結果的可靠性與可比性,《JJF 1702-2018》規(guī)定了一系列詳細的操作流程和技術要求,包括但不限于:

  • 校準條件:明確了進行校準時所需的標準環(huán)境參數(shù),如溫度、濕度等。
  • 測量設備:指定了用于檢測α、β粒子的儀器類型及其性能指標。
  • 源制備方法:提供了如何準備符合要求的α、β平面源的具體步驟。
  • 測量程序:描述了從樣品放置到數(shù)據讀取整個過程中需要注意的關鍵點。
  • 數(shù)據處理:給出了計算不確定度的方法以及其他必要的數(shù)據分析指導原則。
  • 結果表達:規(guī)定了最終報告中應包含的信息內容及格式要求。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2018-02-27 頒布
  • 2018-08-27 實施
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JJF 1702-2018α、β平面源校準規(guī)范_第1頁
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文檔簡介

中華人民共和國國家計量技術規(guī)范

JJF1702—2018

α、β平面源校準規(guī)范

CalibrationSpecificationforα、βPlanesSource

2018-02-27發(fā)布2018-08-27實施

國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

JJF1702—2018

、平面源校準規(guī)范??

αβ??????????????

?JJF1702—2018?

CalibrationSecificationfor??

?????????????

p?

?代替JJG788—1992?

??

α、βPlanesSources

歸口單位全國電離輻射計量技術委員會

:

起草單位上海市計量測試技術研究院

:

中國計量科學研究院

本規(guī)范委托全國電離輻射計量技術委員會負責解釋

JJF1702—2018

本規(guī)范起草人

:

唐方東上海市計量測試技術研究院

()

何林鋒上海市計量測試技術研究院

()

梁珺成中國計量科學研究院

()

徐一鶴上海市計量測試技術研究院

()

張明中國計量科學研究院

()

劉皓然中國計量科學研究院

()

JJF1702—2018

目錄

引言

………………………(Ⅱ)

范圍

1……………………(1)

引用文件

2………………(1)

術語和計量單位

3………………………(1)

術語

3.1…………………(1)

計量單位

3.2……………(1)

概述

4……………………(1)

計量特性

5………………(1)

表面發(fā)射率

5.1…………(1)

表面發(fā)射率的不均勻性

5.2……………(2)

校準條件

6………………(2)

環(huán)境條件

6.1……………(2)

測量標準

6.2……………(2)

校準項目和校準方法

7…………………(2)

表面發(fā)射率

7.1…………(2)

表面發(fā)射率的不均勻性

7.2……………(3)

校準結果表達

8…………(4)

復校時間間隔

9…………(4)

附錄平面源校準記錄推薦格式

Aα、β………………(5)

附錄平面源校準證書內頁內容

Bα、β………………(6)

附錄平面源表面發(fā)射率校準結果不確定度評定示例

Cβ…………(7)

JJF1702—2018

引言

本規(guī)范按照國家計量校準規(guī)范編寫規(guī)則編寫

JJF1071—2010《》。

與相比除編輯性修改外本規(guī)范主要技術變化如下

JJG788—1992,,:

由檢定規(guī)程改為校準規(guī)范

———;

名稱由標準平面源改為平面源校準規(guī)范

———“α、β”“α、β”;

將原規(guī)程檢定項目表面發(fā)射率和活度修改為校準項目表面發(fā)射率

———“”“”;

適用范圍中增加對粒子能量范圍的限定

———β;

平面源表面發(fā)射率的計算由絕對測量的計算方式修改為適用于絕對和相對測量

———

的計算方式

;

刪除原規(guī)程檢定項目非活性面的放射性污染

———“”;

修改了標準平面源表面發(fā)射率不均勻性的測量條件要求與計算方法

———。

本規(guī)范的歷次發(fā)布情況如下

:

JJG788—1992。

JJF1702—2018

、平面源校準規(guī)范

αβ

1范圍

本規(guī)范適用于表面發(fā)射率為26-1的平面源和表面發(fā)射率為3

(10~10)minα(10~

6-1的平面源的校準粒子的最大能量大于等于

10)minβ,β150keV。

2引用文件

本規(guī)范引用下列文件

:

通用計量術語及定義

JJF1001—2011

核科學技術術語第部分核物理與核化學

GB/T4960.1—20101:

凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本規(guī)范凡是不注日期的引用文

,;

件其最新版本包括所有的修改單適用于本規(guī)范

,()。

3術語和計量單位

術語

3.1

界定的及以下術語和定義適用于本規(guī)范

JJF1001—2011、GB/T4960.1—2010。

平面源

3.1.1planesource

一種帶襯底的板狀放射源

。

源表面發(fā)射率

3.1.2[]surfaceemissionrate

單位時間內從平面源表面球面度發(fā)射的特定種類能量超過特定值的粒

,(2π)、

子數(shù)

。

計量單位

3.2

源表面發(fā)射率平面源球面度上每分鐘的粒子數(shù)符號-1

[]:(2π);:min

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