光伏材料與器件檢測(cè)復(fù)習(xí)重點(diǎn)

光伏材料與器件檢測(cè)復(fù)習(xí)重點(diǎn)題型:填空、名詞解釋、簡(jiǎn)答題、綜合題一、填空題1、 X射線的本質(zhì)是（電磁波），其波長(zhǎng)為（0?01~10nm）它既具有（波動(dòng)性），又具有（粒子性），X射線衍射分析是利用了它的（波動(dòng)性）。X射線的核心部件是（X射線發(fā)射器）。2、 X射線一方面具有波動(dòng)性，表現(xiàn)為具有一定的（衍射）,另一方面又具有粒子性，體現(xiàn)為具有一定的（質(zhì)量和能量）3、 莫塞萊定律反映了材料產(chǎn)生的（特征X射線波長(zhǎng)）與其（原子序數(shù)）的關(guān)系。4、 當(dāng)高速的電子束轟擊金屬靶會(huì)產(chǎn)生兩類(lèi)X射線，它們是（特征X射線）和（連續(xù)X射線），其中在X射線粉末衍射中采用的是（特征X射線）。5、 特征X射線是由元素原子中（內(nèi)層電子躍遷）引起的，因此各元素都有特定的（特征X射線）和（激發(fā)）電壓，特征譜與原子序數(shù)之間服從（莫塞萊）定律。6、 同一元素的入Kai、入Ka2、入鄧的相對(duì)大小依次為（入Ka1>AKa2>AKp）;能量從小到大的順序?yàn)椋ㄈ隟aiv入Ka2v入KB）（注：用不等式標(biāo)岀）7、 X射線通過(guò)物質(zhì)時(shí)，部分X射線將改變它們前進(jìn)的方向，即發(fā)生散射現(xiàn)象。X射線的散射包括兩種：（相干散射）和（非相干散射）（相干散射）是X射線衍射分析方法的技術(shù)基礎(chǔ)。8、 布拉格公式是（2dsin0=n入）9、 晶體產(chǎn)生X射線衍射的必要條件：（布拉格方程）10、 X射線照射固體物質(zhì)，產(chǎn)生的可能物理信號(hào)有：（散射、光電效應(yīng)、透射X射線和熱）基于這些信號(hào)建立的分析方法有（X射線衍射、X射線熒光光譜、X射線激發(fā)俄歇電子能譜、X射線光電子能譜等）11、 二次電子的產(chǎn)額隨著樣品的傾斜度的變化而變化，傾斜度越小，二次電子產(chǎn)額越（低）12、 掃描電子顯微鏡常用的信號(hào)是（二次電子信號(hào)）和（背散射電子信號(hào)）13、 背散射電子的產(chǎn)額與樣品的原子序數(shù)的關(guān)系是原子序數(shù)越小，背散射電子產(chǎn)額越（低）。二、名詞解釋仁相干散射和非相干散射（1） 相干散射：X射線光子與原子內(nèi)的緊束縛電子相碰撞時(shí)，光子的能量可認(rèn)為不受損失，而只改變方向。因此這種散射線的波長(zhǎng)與入射線相同，并且具有一定的位相關(guān)系，可以相互干涉，形成衍射圖樣。（2） 非相干散射：當(dāng)X射線光子與自由電子或束縛很弱的電子碰撞時(shí)，光子的部分能量傳遞給原子，損失了部分能量，因而波長(zhǎng)變長(zhǎng)了，稱(chēng)為非相干散射。2、 暗場(chǎng)像和明場(chǎng)像（1） 暗場(chǎng)像：在透射電鏡中，選用散射電子（衍射電子）形成的像稱(chēng)為暗場(chǎng)像。（2） 明場(chǎng)像：選用透射電子形成的像稱(chēng)為明場(chǎng)像。3、 熒光輻射—個(gè)具有足夠能量的X射線光子從原子內(nèi)部打?qū)缫粋€(gè)K電子，當(dāng)外層電子來(lái)填充K空位時(shí)，將向外輻射K系X射線，這種由X射線光子激發(fā)原子所發(fā)生的輻射過(guò)程，稱(chēng)為熒光輻射或二次熒光。4、 俄歇效應(yīng)當(dāng)原子中K層電子被打?qū)绾螅吞幱诩ぐl(fā)狀態(tài)，其能量為Ek。如果一個(gè)L層電子來(lái)填充這個(gè)空位，K電離就變成了L電離，其能量由Ek變成EI，此時(shí)將釋放Ek-El的能量，可能產(chǎn)生熒光X射線，也可能給予L層的電子，使其脫離原子產(chǎn)生二次電離。即K層的一個(gè)空位被L層的兩個(gè)空位所替代，這種現(xiàn)象稱(chēng)俄歇效應(yīng)。5、 物相分析指確定材料由哪些相組成（即物相定性分析或物相鑒定）和確定各組成相的含量（常以體積分?jǐn)?shù)或質(zhì)量分?jǐn)?shù)表示，即物相定量分析）。6、 特征X射線和連續(xù)X射線連續(xù)X射線：在X射線管兩端加以高壓，并維持一定的電流，所得到的的X射線強(qiáng)度隨波長(zhǎng)連續(xù)變化的X射線稱(chēng)作連續(xù)X射線。特征X射線：高速電子撞擊材料后，材料原子內(nèi)層電子被擊岀而在內(nèi)層留下空位，外層電子向空位躍遷時(shí)會(huì)輻射X射線。不同材料X射線波長(zhǎng)不同，此X射線稱(chēng)為特征X射線。7、 散射襯度和衍射襯度所謂襯度，是指圖像各部位明暗的區(qū)別程度。(1)散射襯度：樣品各部位厚度或元素組成不同，導(dǎo)致入射電子的散射程度不同，使各部位透射電子密度不同，最終在圖像上形成明暗不同的區(qū)域，這一現(xiàn)象稱(chēng)為散射襯度。該襯度原理適用于非晶樣品。(2)衍射襯度：由于樣品中不同位相的晶體衍射條件(位相)不同而造成的襯度差別，稱(chēng)為衍射襯度。該襯度原理僅適用于晶體結(jié)構(gòu)樣品。8、 二次電子和背散射電子二次電子：指被入射電子轟擊岀來(lái)的核外電子。二次電子來(lái)自表面5-10nm深度范圍的區(qū)域，能量為0-50eV。它對(duì)試樣表面狀態(tài)非常敏感，能有效地顯示試樣表面的微觀形貌。背散射電子:被固體樣品中的原子核反彈回來(lái)的一部分入射電子，其中包括彈性背散射電子和非彈性背散射電子。

9、點(diǎn)分辨率與晶格分辨率(1)點(diǎn)分辨率：圖像上所能分辨岀的最小的兩點(diǎn)間的距離。(2)晶格分辨當(dāng)電子束射入樣品后，由于通過(guò)樣品的(2)晶格分辨當(dāng)電子束射入樣品后，由于通過(guò)樣品的透射束和衍射束間存在位相差，它們間通過(guò)動(dòng)力學(xué)干涉在相平面上形成能反映晶面間距大小和晶面方向的晶格條紋像。晶格分辨率實(shí)際是晶面間距的比例圖像。10、 光學(xué)分析方法光學(xué)分析法：根據(jù)物質(zhì)吸收、發(fā)射電磁輻射以及物質(zhì)與電磁幅射的相互作用來(lái)進(jìn)行分析的一類(lèi)儀器分析方法。11、 光譜法與非光譜法光譜法：基于物質(zhì)與輻射能作用時(shí)，分子或原子發(fā)生能級(jí)躍遷而產(chǎn)生的發(fā)射、吸收的波長(zhǎng)或強(qiáng)度進(jìn)行分析的方法。非光譜法：這類(lèi)光學(xué)分析方法主要是利用電磁輻射與物質(zhì)的相互作用所引起的電磁輻射在方向上的改變或物理性質(zhì)的變化來(lái)進(jìn)行分析。12、 基態(tài)/激發(fā)態(tài)/躍遷(1)基態(tài)：原子里所能具有的各種狀態(tài)中能量最低的狀態(tài)(E0)稱(chēng)為基態(tài)。⑵激發(fā)態(tài)：如果外層電子(又稱(chēng)價(jià)電子)吸收了一定的能量就會(huì)遷移到更外層的軌道上，這時(shí)電子就處于較高能量(高于基態(tài))的量子狀態(tài)叫激發(fā)態(tài)。⑶躍遷：從一個(gè)能級(jí)所對(duì)應(yīng)的狀態(tài)到另一個(gè)能級(jí)所對(duì)應(yīng)的狀態(tài)的變化稱(chēng)為躍遷。13、 暗特性與光特性（1） 暗特性：如果沒(méi)有光照，太陽(yáng)能電池等價(jià)于一個(gè)pn結(jié)。通常把無(wú)光照情況下太陽(yáng)能電池的電流電壓特性叫做暗特性。（2）光特性：光生少子在內(nèi)建電場(chǎng)驅(qū)動(dòng)下定向的運(yùn)動(dòng)在PN結(jié)內(nèi)部產(chǎn)生了n區(qū)指向p區(qū)的光生電流光生電動(dòng)勢(shì)等價(jià)于加載在PN結(jié)上的正向電壓V它使得PN結(jié)勢(shì)壘高度降低。14、 光致發(fā)光（簡(jiǎn)稱(chēng)PL）與電致發(fā)光（簡(jiǎn)稱(chēng)EL）（1）光致發(fā)光是材料的一種發(fā)光現(xiàn)象。是指材料中的電子吸收外界光子后被激發(fā)，處于激發(fā)態(tài)的電子向較低的能級(jí)躍遷，以光輻射的形式釋放岀能量的過(guò)程。（2） 電致發(fā)光，也稱(chēng)場(chǎng)致發(fā)光，是由電流或電場(chǎng)激發(fā)載流子，將電能直接轉(zhuǎn)變成光能的過(guò)程。按照原理可分為低場(chǎng)電致發(fā)光和高場(chǎng)電致發(fā)光。15、 絕對(duì)光譜響應(yīng)與相對(duì)光譜響應(yīng)（1）絕對(duì)光譜響應(yīng)：各種波長(zhǎng)的單位輻射光能或?qū)?yīng)的光子入射到太陽(yáng)電池上，將產(chǎn)生不同的短路電流，按波長(zhǎng)的分布求得其對(duì)應(yīng)的短路電流變化曲線稱(chēng)為太陽(yáng)電池的絕對(duì)光譜響應(yīng)。（2）相對(duì)光譜響應(yīng)：如果每一波長(zhǎng)以一定等量的輻射光能或等光子數(shù)入射到太陽(yáng)電池上，所產(chǎn)生的短路電流與其中最大短路電流比較，按波長(zhǎng)的分布求得其比值變化曲線，這就是該太陽(yáng)電池的相對(duì)光譜響應(yīng)。16、內(nèi)/外量子效率（1）外量子效率：太陽(yáng)能電池的電荷載流子數(shù)目與外部入射到太陽(yáng)能電池表面的一定能量的光子數(shù)目之比。（2）內(nèi)量子效率：太陽(yáng)能電池的電荷載流子數(shù)目與外部入射到太陽(yáng)能電池表面的沒(méi)有被太陽(yáng)能電池反射回去的，沒(méi)有透射過(guò)太陽(yáng)能電池的，一定能量的光子數(shù)目之比。17、激發(fā)光譜/發(fā)射光譜（1） 激發(fā)光譜是指發(fā)光材料在不同波長(zhǎng)光的激發(fā)下，該材料的某一發(fā)光譜線和譜帶的強(qiáng)度或發(fā)射效率與激發(fā)波長(zhǎng)的關(guān)系。（2） 發(fā)射光譜是指發(fā)光材料在某一特定波長(zhǎng)光的激發(fā)下，所發(fā)射的不同波長(zhǎng)光的強(qiáng)度或能量分布。三、問(wèn)答題1、闡述特征X射線產(chǎn)生的物理機(jī)制.通常獲得X射線是利用一種類(lèi)似熱陰極二極管的裝置，用一定材料制作的板狀陽(yáng)極（A，成為靶）和陰極（C，燈絲）密

封在一個(gè)玻璃-金屬管殼內(nèi)，陰極通電加熱，在陰極和陽(yáng)極之間加以直流電壓U（約數(shù)千伏到數(shù)十千伏），則陰極產(chǎn)生大量熱電子e將在高壓電場(chǎng)作用下飛向陽(yáng)極，在它們與陽(yáng)極碰撞的瞬間產(chǎn)生X射線。2、簡(jiǎn)述掃描電鏡的結(jié)構(gòu)。掃描電鏡的儀器由以下四部分組成：1） 電子光學(xué)系統(tǒng)：產(chǎn)生符合成像要求的掃描電子束并控制其在樣品表面進(jìn)行掃描；2） 電子信息接收系統(tǒng)：電子與光導(dǎo)管端面碰撞，將動(dòng)能轉(zhuǎn)化為光能，以光子形式經(jīng)光導(dǎo)管傳輸、光電系統(tǒng)倍增后轉(zhuǎn)化為電流信號(hào)輸岀；3） 成像顯示系統(tǒng)：將電流信號(hào)傳遞給顯像管進(jìn)行成像；4） 電源及真空系統(tǒng)：提供儀器所需的電源以及電子光學(xué)系統(tǒng)正常工作和避免樣品污染所需的高真空環(huán)境。3、給出物相定性與定量分析的基本原理。答:（1）定性分析原理:答:（1）定性分析原理:X射線在某種晶體上衍射時(shí)反映岀帶有晶體特征的特定的衍射花樣（衍射位置0,衍射強(qiáng)度I）,而且沒(méi)有兩種結(jié)晶物質(zhì)會(huì)給岀完全相同的衍射花樣，所以根據(jù)衍射花樣與晶體結(jié)構(gòu) 對(duì)應(yīng)的關(guān)系，就可確定某一物相。（2）定量分析原理：根據(jù)X射線衍射強(qiáng)度公式，某一物相的相對(duì)含量的增加，其衍射線的強(qiáng)度亦隨之增加，所以通過(guò)衍射線強(qiáng)度的數(shù)值可以確定對(duì)應(yīng)物相的相對(duì)含量。由于各個(gè)物相對(duì)X射線的吸收影響不同，X射線衍射強(qiáng)度與該物相的相對(duì)含量之間不成線性比例關(guān)系，必須加以修正。4、試述透射顯微鏡的基本構(gòu)造及工作原理。（1） 構(gòu)造：電子照明系統(tǒng)、電子光學(xué)系統(tǒng)、觀察記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、電源系統(tǒng)（2） 原理：利用透過(guò)樣品的透射電子成像。電子槍發(fā)射岀的電子射線，經(jīng)過(guò)聚光后照射在樣品上，電子束與樣品相互作用后，當(dāng)電子射線在樣品另一方重新岀現(xiàn)時(shí)，以帶有樣品內(nèi)的信息，然后進(jìn)行放大處理而成像，最終在熒光屏上形成帶有樣品信息的圖像，使人眼能夠識(shí)別。5、掃描電鏡的分辨率受哪些因素的影響？用不同物理信號(hào)成像時(shí)，其分辨率有何不同？所謂掃描電鏡的分辨率是指何種信號(hào)成像的分辨率？影響因素：電子束束斑大小,檢測(cè)信號(hào)類(lèi)型,檢測(cè)部位原子序數(shù).SE和HE信號(hào)的分辨率最高,BE其次,X射線的最低.掃描電鏡的分辨率是指用SE和HE信號(hào)成像時(shí)的分辨率.6、試比較掃描電鏡與透射電鏡成像原理？為什么透射電鏡的樣品要求非常薄而掃描電鏡沒(méi)有此要求？答：掃描電鏡的工作原理是用一束極細(xì)的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)岀次級(jí)電子，次級(jí)電子的多少與電子束入射角有關(guān)，也就是說(shuō)與樣品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān)，次級(jí)電子由探測(cè)體收集，并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?hào)，再經(jīng)光電倍增管和放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)來(lái)控制熒光屏上電子束的強(qiáng)度，顯示岀與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了樣品的表面結(jié)構(gòu)。透射電子顯微鏡是以電子束為照明源，通過(guò)電子流對(duì)樣品的透射或反射及電磁透鏡的多級(jí)放大后在熒光屏上成像的大型儀器。二者區(qū)別：1） 透射式電子顯微鏡常用于觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細(xì)微物質(zhì)結(jié)構(gòu)；掃描電子顯微鏡主要用于觀察固體表面的形貌。2） 透射式電子顯微鏡鏡筒的頂部是電子槍?zhuān)娮佑涉u絲熱陰極發(fā)射岀、通過(guò)第一，第二兩個(gè)聚光鏡使電子束聚焦。電子束通過(guò)樣品后由物鏡成像于中間鏡上，再通過(guò)中間鏡和投影鏡逐級(jí)放大，成像于熒光屏或照相干版上，掃描電子顯微鏡的電子束不穿過(guò)樣品，僅在樣品表面掃描激發(fā)岀二次電子。3） 樣品較薄或密度較低的部分，電子束散射較少，這樣就有較多的電子通過(guò)物鏡光欄，參與成像，而掃描式電子顯微鏡不需要很薄的樣品。7、試述微波光電導(dǎo)法測(cè)試少子壽命的原理，并分析光強(qiáng)/重金屬雜志對(duì)少子壽命的測(cè)量有何影響？（1） 原理：使用脈沖光源在樣品中產(chǎn)生過(guò)剩載流子，樣品的電導(dǎo)隨之發(fā)生變化，而入射的微波的反射率是材料電導(dǎo)的函數(shù)，即反射微波的能量變化也反映了過(guò)剩載流子濃度的變化。當(dāng)光照結(jié)束后，隨著過(guò)剩載流子的逐漸衰減，微波的反射也越來(lái)越弱，通過(guò)分析反射微波曲線的指數(shù)因子，可求得測(cè)試樣品中的有效少子壽命。（2） （光強(qiáng)）微波光電導(dǎo)法通過(guò)擬合指數(shù)衰減信號(hào)得到少子壽命的值。光強(qiáng)小時(shí)，處于低注入水平，一定的頻率下，發(fā)射和反射微波信號(hào)差正比于非平衡載流子濃度△n。信號(hào)呈指數(shù)衰減，即呈現(xiàn)岀非平衡載流子衰減的規(guī)律。測(cè)量岀來(lái)的少子壽命會(huì)偏?。蝗艄鈴?qiáng)較強(qiáng)，樣品注入電流過(guò)大可能會(huì)造成樣品測(cè)量中并非小注入條件，從而使得測(cè)量的是多子的壽命，而非少子的壽命。而若電流過(guò)小，可能不易觀測(cè)到少子從復(fù)合恢復(fù)到平衡狀態(tài)的過(guò)程，而使測(cè)量遇到阻礙。（重金屬雜質(zhì)）當(dāng)樣品中含有重金屬雜質(zhì)時(shí)，重金屬雜質(zhì)會(huì)在樣品中產(chǎn)生雜質(zhì)能級(jí)，而成為少數(shù)載流子的復(fù)合中心，從而降低少子壽命。8、試說(shuō)明電子束入射固體樣品表面激發(fā)的主要信號(hào)、主要特點(diǎn)和用途。答：(1)背散射電子:能量高；來(lái)自樣品表面幾百nm深度范圍；其產(chǎn)額隨原子序數(shù)增大而增多■用作形貌分析、成分分析以及結(jié)構(gòu)分析。(2)二次電子:能量較低；來(lái)自表層5-10nm深度范圍；對(duì)樣品表面狀態(tài)十分敏感?不能進(jìn)行成分分析?主要用于分析樣品表面形貌。(3)吸收電子:其襯度恰好和SE或BE信號(hào)調(diào)制圖像襯度相反;與背散射電子的襯度互補(bǔ)?吸收電子能產(chǎn)生原子序數(shù)襯度，即可用來(lái)進(jìn)行定性的微區(qū)成分分析.透射電子：透射電子信號(hào)由微區(qū)的厚度、成分和晶體結(jié)構(gòu)決定?可進(jìn)行微區(qū)成分分析.特征X射線：用特征值進(jìn)行成分分析，來(lái)自樣品較深的區(qū)域俄歇電子：各元素的俄歇電子能量值低；來(lái)自樣品表面1-2nm范圍。適合做表面分析.9、采用四探針?lè)y(cè)試電阻率時(shí)，影響電阻率測(cè)試精度的主要因素有哪些？樣品在進(jìn)行電學(xué)測(cè)量時(shí)，為什么要進(jìn)行光屏蔽和電磁屏蔽？影響電阻率測(cè)試精度的主要因素有溫度、樣品厚度和接觸電阻。樣品進(jìn)行電學(xué)測(cè)量時(shí)，由于光和電磁場(chǎng)會(huì)對(duì)樣品中載流子濃度及分布產(chǎn)生影響，從而影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，因此要進(jìn)行光屏蔽和電磁屏蔽。10、簡(jiǎn)述利用冷熱探針?lè)ㄅ袆e半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)的原理？在樣品上壓上兩根金屬探針，一根熱探針，另一個(gè)是冷探針，其溫度是室溫。當(dāng)冷熱探針和N型半導(dǎo)體接觸時(shí)，兩個(gè)接觸點(diǎn)便產(chǎn)生溫差，傳導(dǎo)電子將流向溫度較低的區(qū)域，從而使熱探針處于電子缺少狀態(tài)，因而相對(duì)于室溫觸點(diǎn)而言，熱探針電勢(shì)將是正的；同理，對(duì)P型半導(dǎo)體，熱探針相對(duì)室溫觸點(diǎn)是負(fù)的。此時(shí)，如果將冷熱探針接上數(shù)字電壓表（或檢流計(jì)）形成一閉合回路，則根據(jù)兩個(gè)接觸點(diǎn)處存在的溫差所引起的溫差電壓（或溫差電流）的方向可以確定導(dǎo)電類(lèi)型。11、利用X射線熒光光譜技術(shù)對(duì)元素進(jìn)行定性和定量分析的理論依據(jù)是什么？X射線熒光譜所分析的元素范圍一般從鈹（B）——鈾（U），為什么不能分析輕元素（氫、氦和鋰）？答:利用X射線熒光光譜技術(shù)對(duì)元素進(jìn)行定性和定量分析的理論依據(jù)是莫塞萊定律、布拉格定律和朗伯比爾定律。因?yàn)閄射線熒光光譜分析是利用元素的特征X射線，而氫和氦原子只有K層電子，不能產(chǎn)生特征X射線，所以無(wú)法進(jìn)行熒光光譜分析。鋰原子雖然能產(chǎn)生X射線，但產(chǎn)生的特征X射線波長(zhǎng)太長(zhǎng)，通常無(wú)法進(jìn)行檢測(cè)。12、 光分析基本過(guò)程/基本特點(diǎn)(1)光分析的基本過(guò)程：9能源提供能量；￡能量與被測(cè)物之間的相互作用；產(chǎn)生信號(hào)?；咎攸c(diǎn)：9所有光分析法均包含三個(gè)基本過(guò)程；勺選擇性測(cè)量，不涉及混合物分離(不同于色譜分析)；9涉及大量光學(xué)元器件。13、 為什么原子光譜是線狀的，分子光譜是帶狀的？由于原子可能被激發(fā)到的能級(jí)很多，而由這些能級(jí)可能躍遷到的能級(jí)也很多，所以原子被激發(fā)后發(fā)射的輻射具有許多不同的波長(zhǎng)。每個(gè)單一波長(zhǎng)的輻射，對(duì)應(yīng)于一根譜線，因此原子光譜是由許多譜線組成的線狀光譜。而分子光譜除了來(lái)自于分子本身能級(jí)間的躍遷，還包括分子內(nèi)各個(gè)原子間的振動(dòng)和轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)，即分子光譜中總包含有振動(dòng)能級(jí)和轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)間躍遷產(chǎn)生的若干譜線而呈現(xiàn)寬譜帶。14、 吸收曲線的含義及其特點(diǎn)(1)含義：測(cè)量某種物質(zhì)對(duì)不同波長(zhǎng)單色光的吸收程度，以波長(zhǎng)為橫坐標(biāo)，吸光度為縱坐標(biāo)作圖，可得到一條曲線，稱(chēng)為吸收光譜曲線或光吸收曲線，它反映了物質(zhì)對(duì)不同波長(zhǎng)光的吸收情況。(2)特點(diǎn)：同一種物質(zhì)對(duì)不同波長(zhǎng)光的吸光度不同。吸光度最大處對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)稱(chēng)為最大吸收波長(zhǎng)入max;不同濃度的同一種物質(zhì)，其吸收曲線形狀相似，入max不變。而對(duì)于不同物質(zhì)，它們的吸收曲線形狀和入max不同。15、 吸收光譜的波長(zhǎng)分布代表有什么意義？由產(chǎn)生譜帶的躍遷能級(jí)間的能量差所決定，反映了分子內(nèi)部能級(jí)分布狀況，是物質(zhì)定性的依據(jù)。16、 朗伯■比爾定律/意義(1)定律：A=lg(1/T)=Kbc其中，A為吸光度,T為透射比,是透射光強(qiáng)度比上入射光強(qiáng)度K為摩爾吸收系數(shù)。它與吸收物質(zhì)的性質(zhì)及入射光的波長(zhǎng)入有關(guān)。c為吸光物質(zhì)的濃度，b為吸收層厚度。(2)意義：當(dāng)一束平行單色光通過(guò)均勻、透明的吸光介質(zhì)時(shí)，其吸光度與吸光質(zhì)點(diǎn)的濃度和吸收層厚度的乘積成正比。17、 紫外■可見(jiàn)光譜儀部件及作用紫外■可見(jiàn)分光光度計(jì)基本部件及作用：(1)光源：在整個(gè)紫外光區(qū)或可見(jiàn)光譜區(qū)可以發(fā)射連續(xù)光譜，具有足夠的輻射強(qiáng)度、較好的穩(wěn)定性、較長(zhǎng)的使用壽命。單色器：將光源發(fā)射的復(fù)合光分解成單色光并可從中選岀一任波長(zhǎng)單色光的光學(xué)系統(tǒng)。吸收池：吸收池放置各種類(lèi)型的吸收池(比色皿)和相應(yīng)的池架附件。檢測(cè)器：利用光電效應(yīng)將透過(guò)吸收池的光信號(hào)變成可測(cè)的電信號(hào)，常用的有光電池、光電管或光電倍增管。記錄顯示器：其作用是把放大的信號(hào)以吸光度A或透射比T的光度分析法的設(shè)計(jì)方式顯示或記錄下來(lái)。18、 雙波長(zhǎng)雙光束分光光度計(jì)原理/方法(1)原理：將通過(guò)單色器的光一分為二，一束通過(guò)參比溶液，一束通過(guò)試樣，儀器在不同時(shí)刻記載參比信號(hào)和樣品信號(hào)。通過(guò)一次測(cè)量可測(cè)得溶液的吸光度?？上庠床环€(wěn)定、檢測(cè)器靈敏度變化等因素的影響。(2)方法：比較吸收光譜曲線法、標(biāo)準(zhǔn)曲線法、標(biāo)準(zhǔn)加入法19、 紅外光譜怎么產(chǎn)生的/怎么分析的？(1)產(chǎn)生：將一束不同波長(zhǎng)的紅外射線照射到物質(zhì)的分子上，某些特定波長(zhǎng)的紅外射線被吸收，形成這一分子的紅外吸收光譜(2)分析：利用物質(zhì)對(duì)紅外輻射的吸收所產(chǎn)生的紅外吸收光譜，對(duì)物質(zhì)的組成、結(jié)構(gòu)及含量進(jìn)行分析測(cè)定的方法叫紅外吸收光譜分析法。20、紅、紫外可見(jiàn)吸收光譜法的比較，相同點(diǎn)與不同點(diǎn)相同點(diǎn)：都是分子吸收光譜，都反映分子結(jié)構(gòu)的特性不同點(diǎn)：所用光源、起源、光譜的表示方式21、開(kāi)路電壓、短路電流、最大功率點(diǎn)、填充因子、轉(zhuǎn)換效率五大參數(shù)的定義（1）開(kāi)路電壓：在一定的溫度和輻照度條件下，太陽(yáng)能電池在空載（開(kāi)路）情況下的端電壓即為開(kāi)路電壓，也就是伏安特性曲線與橫坐標(biāo)的交點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的電壓，通常用Uoc來(lái)表示。（2）短路電流：在一定的溫度和輻照度條件下，太陽(yáng)電池在端電壓為零時(shí)的輸岀電流即為短路電流，也就是伏安特性曲線與縱坐標(biāo)的交點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的電流，通常用Isc來(lái)表示。（3）最大功率點(diǎn)：調(diào)節(jié)負(fù)載電阻RL到某一值Rm時(shí)，在伏安特性曲線上得到一點(diǎn)M，對(duì)應(yīng)的工作電流Im和工作電壓Um的乘積為最大，即Pm=ImUm=Pmax則稱(chēng)M點(diǎn)為該太陽(yáng)電池的最大功率點(diǎn)，也稱(chēng)最佳工作點(diǎn)。（4）填充因子：填充因子是表征太陽(yáng)電池性能優(yōu)劣的一個(gè)重要參數(shù)，定義為太陽(yáng)電池的最大功率與開(kāi)路電壓和短路電流的乘積之比，通常用FF（或CF）表示。（5）轉(zhuǎn)換效率：在太陽(yáng)電池受到光照時(shí)，輸岀電功率和入射光功率之比就稱(chēng)為太陽(yáng)電池的效率，也稱(chēng)為光電轉(zhuǎn)換效率。轉(zhuǎn)換效率用來(lái)表示照射在電池上的光能量轉(zhuǎn)換成電能的大小，它是衡量電池性能的另一個(gè)重要指標(biāo)。22、 太陽(yáng)能模擬器有哪兩種形式太陽(yáng)能模擬器分為穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)模擬器、脈沖式太陽(yáng)模擬器兩種。23、 PL檢測(cè)原理電池中某區(qū)域的發(fā)光強(qiáng)度與本位置的非平衡少數(shù)載流子的濃度成正比，而缺陷將是少數(shù)載流子的強(qiáng)復(fù)合中心，因此該區(qū)域的少數(shù)載流子濃度變小會(huì)導(dǎo)致熒光效應(yīng)減弱，在圖像上表現(xiàn)岀來(lái)就成為暗色的點(diǎn)、線，或一定的區(qū)域，而在