標準解讀

《YS/T 901-2013 高純鎢化學分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測定 輝光放電質(zhì)譜法》是一項國家標準,主要針對高純鎢材料中痕量雜質(zhì)元素的檢測。該標準詳細規(guī)定了使用輝光放電質(zhì)譜(Glow Discharge Mass Spectrometry, GDMS)技術來測定這些雜質(zhì)的具體步驟和要求。

首先,在樣品準備階段,需要將待測的高純鎢樣品制成適合GDMS分析的形式,通常為圓盤狀或棒狀,并確保其表面清潔無污染。接下來是儀器設置部分,包括但不限于選擇合適的氣體作為載氣、設定正確的電源參數(shù)以產(chǎn)生穩(wěn)定的輝光放電等條件,這些都是為了保證后續(xù)測試過程能夠順利進行并獲得準確的結果。

在實際操作過程中,通過控制實驗條件使樣品表面發(fā)生輝光放電現(xiàn)象,從而使得其中含有的各種元素被激發(fā)成為離子狀態(tài)進入質(zhì)譜儀內(nèi)進行質(zhì)量分離與檢測。根據(jù)每個元素特有的同位素分布特征及其相對豐度信息,可以定量地分析出樣品中所含有的特定雜質(zhì)元素種類及其含量水平。


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....

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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2013-10-17 頒布
  • 2014-03-01 實施
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文檔簡介

ICS7712099

H63..

中華人民共和國有色金屬行業(yè)標準

YS/T901—2013

高純鎢化學分析方法

痕量雜質(zhì)元素的測定

輝光放電質(zhì)譜法

Methodsforchemicalanalysisofhighpuritytungsten—

Determinationoftraceimpurityelementcontent—

Glowdischargemassspectrometry

2013-10-17發(fā)布2014-03-01實施

中華人民共和國工業(yè)和信息化部發(fā)布

YS/T901—2013

前言

本標準按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標準由全國有色金屬標準化技術委員會歸口

(SAC/TC243)。

本標準起草單位北京有色金屬研究總院金川新材料科技股份有限公司東方電氣集團峨嵋半導

:、、

體材料有限公司

。

本標準主要起草人李寶城劉英孫澤明童堅李繼東臧慕文李娜程紫輝張江峰邱平秦芳林

:、、、、、、、、、、、

文英王攀峰

、。

YS/T901—2013

高純鎢化學分析方法

痕量雜質(zhì)元素的測定

輝光放電質(zhì)譜法

1范圍

本標準規(guī)定了高純鎢中痕量元素含量的測定方法測定元素見表

,1。

本標準適用于高純鎢中痕量元素含量的測定各元素測定范圍為

。1μg/kg~5000μg/kg。

2方法原理

試料作為陰極進行輝光放電其表面原子被濺射而脫離試料進入輝光放電等離子體中離子化后再被

,,

導入質(zhì)譜儀中進行測定在每一元素同位素質(zhì)量數(shù)處以預設的掃描點數(shù)和積分時間對相應譜峰積分所

。,

得面積即為譜峰強度在缺少標準樣品時計算機根據(jù)儀器軟件中的典型相對靈敏度因子自動計算出

。,“”

各元素的質(zhì)量分數(shù)有標準樣品時則需要通過在與被測樣品相同的分析條件離子源結構以及測試條件

;,、

下對標準樣品進行獨立測定獲得相對靈敏度因子應用該相對靈敏度因子計算出各元素的質(zhì)量分數(shù)

,。

被測元素的含量以質(zhì)量分數(shù)wX計以表示按式計算

(),μg/kg,(1):

XIXA

wX=RSF(/W)··Ww

()IAX·(W)……(1)

式中

:

wX待測元素質(zhì)量分數(shù)單位為微克每千克

()———,(μg/kg);

X在特定輝光放電條件下測定中X元素的校正系數(shù)

RSF(/W)———W;

IX待測元素X的同位素譜峰強度

———,cps;

I元素的同位素譜峰強度

W———W,cps;

AX待測元素X的同位素豐度

———;

A元素的同位素豐度

W———W;

w的質(zhì)量分數(shù)定義為9

(W)———W1.00×10μg/kg。

3試劑與材料

除非另有說明分析中所用的試劑均為優(yōu)級純所用的水為一級水

,;。

31無水乙醇

.。

32氬氣φ

.(≥99.999%)。

33氫氟酸

.(1+9)。

34鎢標準樣品被測元素質(zhì)量分數(shù)在

.,50μg/kg~500μg/kg。

35鎢空白樣品要求被測元素質(zhì)量分數(shù)低于被測試樣的倍以上

.,10。

4儀器

41高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜儀中分辨率模式下分辨率

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