標準解讀

《JJF 2017-2022 (20~150)kV X射線束半值層儀校準規(guī)范》是一項針對X射線束半值層測量儀器的校準技術(shù)文件,旨在確保此類儀器測量結(jié)果的一致性和準確性。該標準適用于工作電壓在20kV至150kV范圍內(nèi)的X射線裝置所使用的半值層儀的校準過程。它詳細規(guī)定了校準條件、校準項目及方法、以及不確定度評估等方面的要求。

首先,在校準條件方面,明確了環(huán)境溫度應控制在(20±5)℃之間,并且相對濕度不超過80%,以保證測量過程中外界因素對結(jié)果影響最小化。同時,對于被測設(shè)備的狀態(tài)也有具體要求,如需處于良好工作狀態(tài)等。

其次,關(guān)于校準項目與方法部分,主要涵蓋了半值層厚度測定、重復性測試等內(nèi)容。其中,半值層厚度測定是通過比較已知材料不同厚度下的衰減程度來確定;而重復性測試則是用來驗證儀器讀數(shù)穩(wěn)定性的一種手段。此外,還提出了使用標準物質(zhì)進行比對試驗的方法,以此來進一步提高校準精度。

再者,在不確定度分析章節(jié)中,列出了可能影響最終結(jié)果的各種因素及其貢獻量級,并給出了計算合成標準不確定度的具體公式。這部分內(nèi)容對于理解和控制整個校準流程中的誤差來源非常重要。


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....

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  • 2022-12-27 頒布
  • 2023-06-27 實施
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JJF 2017-2022(20~150)kV X射線束半值層儀校準規(guī)范_第1頁
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文檔簡介

中華人民共和國國家計量技術(shù)規(guī)范

JJF2017—2022

(20~150)kVX射線束半值層儀校準規(guī)范

CalibrationSpecification

forHalf-valueLayerMetersof(20~150)kVX-raybeam

2022-12-27發(fā)布2023-06-27實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

JJF2017—2022

(20~150)kVX射線束

??

???????????????

半值層儀校準規(guī)范??

?JJF2017—2022?

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??

CalibrationSpecificationforHalf-valueLayer??

Metersof(20~150)kVX-raybeam

歸口單位全國電離輻射計量技術(shù)委員會

:

主要起草單位中國測試技術(shù)研究院

:

廣東省計量科學研究院

參加起草單位山東第一醫(yī)科大學第一附屬醫(yī)院

:

西藏自治區(qū)計量測試所

海南省計量測試所

本規(guī)范委托全國電離輻射計量技術(shù)委員會負責解釋

JJF2017—2022

本規(guī)范主要起草人

:

許詩朦中國測試技術(shù)研究院

()

何韻廣東省計量科學研究院

()

楊乾中國測試技術(shù)研究院

()

參加起草人

:

范杰中國測試技術(shù)研究院

()

范醫(yī)魯山東第一醫(yī)科大學第一附屬醫(yī)院

()

謝浩東西藏自治區(qū)計量測試所

()

王鼎鳳海南省計量測試所

()

JJF2017—2022

目錄

引言

………………………(Ⅱ)

范圍

1……………………(1)

引用文件

2………………(1)

術(shù)語和計量單位

3………………………(1)

術(shù)語

3.1…………………(1)

計量單位

3.2……………(1)

概述

4……………………(1)

計量特性

5………………(2)

校準條件

6………………(2)

環(huán)境條件

6.1……………(2)

標準裝置

6.2……………(2)

參考輻射場

6.3…………(2)

校準項目和校準方法

7…………………(2)

校準項目

7.1……………(2)

一般性檢查

7.2…………(2)

重復性

7.3………………(3)

示值誤差

7.4……………(3)

校準結(jié)果表達

8…………(4)

復校時間間隔

9…………(4)

附錄和系列輻射質(zhì)

ARQR、RQA、RQT、RQR-MRQA-M……(5)

附錄參考輻射場半值層的測量方法

B………………(7)

附錄半值層儀校準記錄推薦格式

C…………………(8)

附錄半值層儀校準證書內(nèi)頁格式

D…………………(9)

附錄半值層儀示值誤差的不確定度評定示例

E……(10)

JJF2017—2022

引言

本規(guī)范的編寫以國家計量校準規(guī)范編寫規(guī)則

JJF1071—2010《》、JJF1001—2011

通用計量術(shù)語及定義電離輻射計量術(shù)語及定義

《》、JJF1035—2006《》、JJF1059.1—

測量不確定度評定與表示為基礎(chǔ)和依據(jù)校準方法及計量特性主要參考了

2012《》。

醫(yī)用診斷射線設(shè)備測量特性使用的輻射條件

IEC61267:2005《X》(Medicaldiag-

nosticX-rayequipment—Radiationconditionsforuseinthedeterminationofcharacteris-

醫(yī)用電氣設(shè)備射線診斷影像中使用的電離室和或半導體

tics)、IEC61674:2012《X/

探測器劑量計

》(Medicalelectricalequipment—Dosimeterswithionizationchambers

and/orsemiconductordetectorsasusedinX-raydiagnosticimaging)IAEATRS457

放射診斷劑量學國際規(guī)定

:(DosimetryinDiagnosticRadiology:AnInternational

CodeofPractice)。

本規(guī)范為首次發(fā)布

JJF2017—2022

(20~150)kVX射線束半值層儀校準規(guī)范

1范圍

本規(guī)范適用于放射診斷射線的直讀式半值層儀校準其測量范

(20~150)kVX,

圍不得小于

14mmAl。

2引用文件

本規(guī)范引用了下列文件

:

醫(yī)用電氣設(shè)備射線診斷影像中使用的電離室和或半

GB/T19629—2005X()

導體探測器劑量計

放射診斷劑量學國際規(guī)定

IAEATRS457:(DosimetryinDiagnosticRadiology:

AnInternationalCodeofPractice)

醫(yī)用診斷射線設(shè)備測量特性使用的輻射條件

IEC61267:2005X(Medicaldi-

agnosticX-rayequipment—Radiationconditionsforuseinthedeterminationofcharac-

teristics)

醫(yī)用電器設(shè)備射線診斷影像中使用的電離室和或半導體探

IEC61674:2012X/

測器劑量計

(Medicalelectricalequipment—Dosimeterswithionizationchambersand/or

semiconductordetectorsasusedinX-raydiagnosticimaging)

凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本規(guī)范凡是不注日期的引用文

,;

件其最新版本包括所有的修改單適用于本規(guī)范

,()。

3術(shù)語和計量單位

術(shù)語

3.1

半值層

3.1.1Half-valueLayer;HVL

置于射線輻射束通過的路徑上能使空氣比釋動能率的值減小一半所需的給定

X,

材料的厚度通常用鋁片的厚度表示

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