TYPEC數(shù)據(jù)線規(guī)格書

TYPEC數(shù)據(jù)線規(guī)格書V1.0關鍵詞：TYPEC、數(shù)據(jù)線摘要：本文介紹了數(shù)據(jù)線的規(guī)格，性能及測試規(guī)范?？s略語：范圍標準適用于TYPEATOC數(shù)據(jù)線需求規(guī)格書，未盡規(guī)格描述以TYPEC協(xié)會規(guī)范V1.1為準。編寫依據(jù)序號No.文件編號DocNo.文件名稱DocTitle1GJB1217電連接器試驗方法2MIL-STD-202GTestmethodstandardelectronicandelectricalcomponentparts3GB/T3048電線電纜電性能試驗方法4GB4098射頻電纜試驗方法5EIA-364-101AttenuationTestProcedureforElectricalConnectors,Sockets,CableAssembliesorInterconnectionSystems6EIA-364-106StandingWaveRatio(SWR)TestProcedureforElectricalConnectors7EIA-364-108Impedance,ReflectionCoefficient,ReturnLoss,andVSWRMeasuredintheTimeandFrequencyDomainTestProcedureforElectricalConnectors,CableAssembliesorInterconnectionSystems8GB5441.2工作電容試驗-電橋法9EIA-364-103PropagationDelayTestProcedureforElectricalConnectors,Sockets,CableAssembliesorInterconnectionSystems10IEC68-2-1基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：寒冷11GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法12IEC68-2-2基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：干熱13GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法14IEC68-2-10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗J和導則：長霉0020的15GB/T2423.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗J和導則：長霉16ASTMG21StandardPracticeforDeterminingResistanceofSyntheticPolymericMaterialstoFungi17IEC61587-1Mechanicalstructuresforelectronicequipment―TestsforIEC60917andIEC60297―Part1Climaticmechanicaltestsandsafetyaspectsforcabinetsrackssubracksandchassis18GR487GenericRequirementsforElectronicEquipmentCabinets19IEC68-2-30基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db及導則：交變濕熱（12＋12h循環(huán)）20GB/T2423.4電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db：交變濕熱試驗方法21IEC68-2-52電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）22GB/T2423.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）23IEC529Degreesofprotectionprovidedbyenclosure(IPcode)24GB4208外殼防護等級（IP代碼）25EIA-364-38BCablepull-outtestprocedureforelectricalconnectors26EIA-364-Cableflexingtestprocedureforelectricalconnectors27IEC60950Safetyofinformationtechnologyequipment28EN60950Safetyofinformationtechnologyequipment29UL60950Safetyofinformationtechnologyequipment30GB4943信息技術設備的安全31IEC60332Testsonelectriccabiesunderfireconditions32GB/T18380電纜在火焰條件下的燃燒試驗33UL1581Referencestandardforelecticalwires,cables,andflexiblecords34GR1217Genericrequirementsforseparableelectricalconnectorsusedintelecommunicationshardware35GR950GenericRequirementsforOpticalNetworkUnit(ONU)Closures36USBType-CCableandConnectorSpecificationV1.1數(shù)據(jù)線正常工作和存儲條件數(shù)據(jù)線應能在下列條件下正常工作：3.1.1工作環(huán)境溫度：-20℃～+55℃；（僅作單體驗證目的，與整機匹配時以整機試驗環(huán)境為準）；3.1.2相對濕度：5%～95%；3.1.3大氣壓力：86kPa～106kPa;3.1.4數(shù)據(jù)線的存儲溫度：-40℃～+85℃；數(shù)據(jù)線主要參數(shù)數(shù)據(jù)線連線規(guī)格詳細尺寸以及工藝要求以3D圖檔為準1、 typeC金屬插頭，要求必須是整體拉伸成型，不能是折彎成型，不接受接縫；2、 金屬插頭部分，要求做不銹鋼原色，表面噴砂處理:50u”~150u”MATTNICKELPLATINGOVERALL3、保證至少3A通流能力整條線纜產(chǎn)品詳細規(guī)格（BOM清單,包括端子圖紙2D&可拆解版本的3D）要有確認才能認可(認證時必須提供以上文件)。線材主體信息：外觀5V/3AAplugTOCplug,cover式，白色半霧面,素材細咬花處理，MT11006主體結構項目規(guī)格說明長度16mm不含金屬插頭部分顏色白色半霧面材質Overmold&Cable&Housing&其他輔料NON-PVC無鹵滿足ROSH,且無如下有害物質添加:溴系阻燃劑BrominatedFlameRetardants氯系阻燃劑ChlorinatedFlameRetardants聚氯乙烯PolyvinylChloride(PVC)鄰苯二甲酸酯Phthalates三氧化銻AntimonyTrioxide鈹及其化合物Beryllium(Be)anditscompounds接口USBμBreceptacletoTYPECplug滿足5V3A其他應符合5.2節(jié)測試標準VoltageRating:30VAC/DC導體材質規(guī)格如下：材質：鍍錫銅SignalNameWireGauge(AWG)VBUS/GND端到端阻抗不大于80mΩ絕緣材質NON-PVC，須滿足5.2章節(jié)測試性能要求關鍵尺寸USB2.0Bplug參考協(xié)會規(guī)范TYPECplug紅圈標示尺寸為重點尺寸，其余尺寸依據(jù)協(xié)會規(guī)范要求各組件BOMLIST原材料信息需明確到具體牌號應滿足TYPEC2.0規(guī)格鍍層厚度測試區(qū)域規(guī)定關于鍍層測試區(qū)域和方法：TYPEC/A：TYPEC/A產(chǎn)生接觸的關鍵區(qū)域為PIN針頭部觸點，因此鍍層工藝為考慮成本一般只覆蓋PIN針觸點位置，其他區(qū)域為flashAu,所以鍍層的量測范圍定義在PIN針觸點弧頂?shù)淖罡咛庡儗雍穸葹樵谟|點弧頂最高點0.5mm的范圍內(nèi)進行測量，同一觸點在0.5mm范圍內(nèi)測量三次取平均值0.5mm0.5mm鍍層厚度為在觸點弧頂最高點0.5mm的范圍內(nèi)進行測量，同一觸點在0.5mm范圍內(nèi)測量三次取平均值0.5mm0.5mm線序Table3-20USBType-CtoUSB2.0AMWiringUSBType-CPlugUSB2.0AMPinSignalNamePinSignalNameA1,B1,A12,B12GND4GNDA4,B4,A9,B9VBUS1VBUSA5CCA6Dp13D+A7Dn12D?ShellShieldShellShieldNotes:1.PinA5(CC)oftheUSBType-CplugshallbeconnectedtoVBUS2.ContactsB6andB7shouldnotbepresentintheUSBType-Cplug.3.AllVBUSpinsshallbeconnectedtogetherwithintheUSBType-Cplug.BypasscapacitorsarenotrequiredfortheVBUSpinsatthiscable.4.AllGroundreturnpinsshallbeconnectedtogetherwithintheUSBType-Cplug.5.AllUSBType-Cplugpinsthatarenotlistedinthistableshallbeopen(notconnected).Table4-13DFPCCTermination(Rp)RequirementsDFPAdvertisementCurrentSourceto1.7–5.5VResistorpull-upto4.75–5.5VResistorpull-upto3.3V±5%DefaultUSBPower80μA±20%56kΩ±20%(Note1)36kΩ±20%1.5A@5V180μA±8%22kΩ±5%12kΩ±5%3.0A@5V330μA±8%10kΩ±5%4.7kΩ±5%Notes:1.ForRpwhenimplementedintheUSBType-CplugonaUSBType-CtoUSB3.1Standard-ACableAssembly,aUSBType-CtoUSB2.0Standard-ACableAssembly,aUSBType-CtoUSB2.0Micro-BReceptacleAdapterAssemblyoraUSBType-CcaptivecableconnectedtoaUSBhost,avalueof56kΩ±5%shallbeused,inordertoprovidetolerancetoIRdroponVBUSandGNDinthecableassembly.技術要求線材外觀要求線材外觀要求如下：外觀金屬插頭/pin腳檢查參照樣品和PDM圖紙檢驗，線纜兩端插頭的結構外型（型號）要求與樣品一致；插頭不允許氧化/生銹、殘缺、變形；用干布（無塵布）能擦除的臟污，允許；用干布（無塵布）不能擦除的臟污，不允許；【注：金屬插頭臟污不良超出1%（不良數(shù)/樣本數(shù)）時，提交不合格電子流確認】插頭上不允許有油漬；5、劃痕L≤2mm,W≤0.1mm,用手觸摸無深度感，允收一條；6、USBA公插頭內(nèi)不允許有溢膠的現(xiàn)象；7、USBA公插頭內(nèi)的連接器PIN腳不允許氧化/生銹、翹高、變形、PIN腳內(nèi)陷/斷裂不良；8、金屬插頭（USBA公以及TYPEC公）與注塑部分匹配正常，不允許歪斜，夾角90o±2.5o標簽檢查1、參照樣品和PDM圖紙檢驗，標簽上的印刷圖案和字體要求一致；2、標簽不允許破損、漏貼；注塑部位1、注塑部位（USBA公外膜、DC插頭外膜、磁環(huán)外膜）不允許缺膠、破損；2、合模線(毛邊)H≤0.2mm；3、水口位（毛邊）在不刺手的前提下，H≤1mm，可接收；4、壓痕L≤5mm，W≤0.2mm，USBA公外膜每面允收一條，DC外膜允收一條；5、點狀壓痕D≤1.5mm，USBA公外膜每面允收一條，DC外膜允收一條；線材外觀線材不允許有破損、漏銅；線材上不允許有臟污；點狀壓痕D≤2.5mm，DS≥25mm，允收6個；線狀壓痕L≤5mm，W≤1mm，DS≥25mm，允收3條；扎帶下的壓痕允許；5、有感刮傷：L≤5mm,W≤1mm，DS≥25mm，允收2條；無感刮傷：L≤30mm,W≤1mm，DS≥30mm，允收3條；未盡事宜參考《HYPERLINK終端數(shù)據(jù)線檢驗通用操作指導書》線材性能要求TestconditionTemperature：15℃to35℃Airpressure：86to106kPaRelativehumidity：25%to85%NOTestdescriptionTestprocedurePerformanceRelatedstandard1插拔耐久測試數(shù)據(jù)線插頭無破損，配件插頭尺寸在規(guī)格內(nèi)，接觸良好，電氣性能正常。測試前，測試后插拔力應滿足要求，樣品外觀結構、功能及電氣性能應正常，允許端子接觸點表面有正常磨損，但不允許有物理損壞測試速度為12.5mm/分鐘以插入力和拔出力測試標準為依據(jù)，測試TYPEC端子插拔次數(shù)10000次（正反方向各5000次，每2500次換一個方向）做完25次插拔之后，插拔力變化不能超過33%A公插拔1500次測試結束后端子外觀無異常、插拔力需要滿足要求EIA364-092插入力EIA364-131.插拔力測試儀器2.測試速度為12.5mm/分鐘3.單位為N插拔耐久測試前后：TypeC:插入力5～20N；USBAM:35N(MAX)EIA364-133拔出力EIA364-131.插拔力測試儀器2.測試速度為12.5mm/分鐘3.單位為N插拔耐久測試前后：TypeC:拔出力8～20NUSBAM:10N(Min)EIA364-134滾筒測試跌落高度1米，跌落次數(shù)150次，每50檢查一次，跌落速度參考值10-12次/分次（以跌落在滾筒鐵板中心位置為準）測試后，樣品外觀、機械結構應正常，功能和電氣性能正應常的5端子強度測試1.F1/F2(+/-Y)=50N，做到75N觀察損壞情況

F3,F4(+/-X)=50N

F5(+Z)=100N

F1和F2方向的測試均采用新樣品測試，F(xiàn)3-F5方向視情況進行互用

施力點為接口到SR處15mm（從外殼平面量起15mm；如SR不足15mm，以SR的末端為施力位置，如SR末端剛性不足以施加力，則以剛性位置的末端為施力位置）

測試速度：5mm/min上下左右4個方向力量要求大于5.0Kg，插入方向要求大于10Kg，連接器不允許有失效，接口允許有可恢復的變形，數(shù)據(jù)線電氣性能正常；結構無松脫，無斷裂6殼體抗拉脫器件選型標準:公頭鐵殼上掛重10kgf，持續(xù)時間1分鐘進料檢驗標準:公頭鐵殼上掛重6kgf，持續(xù)時間1分鐘兩端殼體都需要測試抗拉脫力，測試后兩端殼體不應有脫落現(xiàn)象7端子強度耐久測試測試力：F1=F2=2kgf

測試次數(shù)：2000次/方向；

施力點為接口到SR處15mm（從靠近金屬頭尾部量起15mm。如SR不足15mm，以SR的末端為施力位置，如SR末端剛性不足以施加力，則以剛性位置的末端為施力位置）；

測試速度：10-15次/min數(shù)據(jù)線外觀結構、功能及電氣性能應正常，端子不應有損壞或嚴重變形8端子鍍層膜厚膜厚測試儀。TypeC端/uB母座。最少樣品數(shù)量：每個端子3pcsTypeC/BplugPlatinggoldAu不小于30μ″,PlatingNi不小于80μ″9成品電阻測試1、CTOA測試2、屏蔽層測試殼對殼3、壽命前后均要滿足阻抗要求4、滿足協(xié)會規(guī)范1.1要求25℃時實驗室測試標準：Vbus:0.135Ω最大GND：0.135Ω最大線材規(guī)格1M,電源22AWG10溫升測試TYPECVbus/GND通電5A(4對pin)，USBAM單VBUS/GND通電3ATYPEC/USBAM非電源pin腳通流0.25A；利用shield//GND回流，通流不低于3A25℃時測試溫度穩(wěn)定30分鐘后測試針對plug單體和cable組件整體的兩項測試均需滿足任意點溫升不允許超過30度USBType-CCableandConnectorSpecification11接觸阻抗LLCR是從REC焊接點的尾部到Plug焊點,包括Plug端和Rec所有內(nèi)部的端子和PaddleCards*使用四線測試法*測試電壓20mV最大,電流100mA.VBUS/GND初始接觸阻抗30mΩ,其他pin初始接觸阻抗40mΩMax最大,所有Pin環(huán)境測試后LCCR最大增量為10mΩ連接器13耐壓測試兩兩pin之間打（含外殼）認證測試：100VAC/60s/0.5mA產(chǎn)線測試：100VAC/0.1s/0.5mA14絕緣電阻兩兩pin之間打（含外殼）認證測試：300VDC60s100MΩ產(chǎn)線測試：300VDC/0.1s/10M?15高溫存儲轉接頭：（70±2）℃,24H完成后返回常溫停留24小時以上,進行測試連接器：（105±2）℃,120H完成后返回常溫停留24小時以上,進行測試部品外觀無損壞;線纜電氣性能正常16低溫存儲（-40±2）℃,120H完成后返回常溫停留24小時以上,進行測試樣品外觀無損壞;線纜電氣性能正常17溫度沖擊采用兩箱法，低溫-40℃，高溫70℃，高低溫各停留不少于20分鐘，最大轉換時間為20秒，

10個循環(huán)。測試后，樣品外觀、機械結構應正常，功能和電氣性能應正常18鹽霧測試5%NaCl,35℃,連續(xù)噴霧48小時（針對pin針，uB鐵殼部分應可承受至少24H連續(xù)噴霧），噴霧時接口需斜向下放置，確保鹽霧能進入，但同時不能在接口中形成積水。然后移出進行2小時晾干。試驗后，樣品外觀應無明顯銹蝕、變色、及鍍層剝落等現(xiàn)象。VBUS/GND初始接觸阻抗30mΩ,其他pin初始接觸阻抗40mΩMax最大,所有Pin環(huán)境測試后LCCR最大增量為10mΩ(僅針對連接器)EIA36419高溫高濕試驗溫度（70±2）℃，濕度(85±3)%RH，進行168小時樣品外觀無損壞;主要考察膠料和線料20交變濕熱25～55℃，相對濕度（95±3）％，168小時測試后，樣品外觀、機械結構應正常，功能和電氣性能應正常主要考察端子21混合氣體腐蝕測試測試時間：7天,產(chǎn)品狀態(tài)：5天非配插，5天配插，溫濕度：70%RH，30℃,氣體種類：Cl2：10+/-3ppb,NO2:200+/-50ppb,H2S:10+/-5ppb,SO2:100+/-20ppb試驗后，樣品外觀應無明顯腐蝕、變色、及鍍層剝落等現(xiàn)象，功能應正常。VBUS/GND初始接觸阻抗30mΩ,其他pin初始接觸阻抗40mΩMax最大,所有Pin環(huán)境測試后LCCR最大增量為10mΩ(僅針對連接器)連接器22耐化學溶劑測試將家用化學物品（1.護手霜；2.防曬乳液；3.口紅；4.化妝粉底；5.驅蟲凍膠；6.食用油，所用化學用品型號或配方為我司終端現(xiàn)有用品）涂在線纜、SR、殼體上。放置72小時后用水清洗掉家用化學品再放置兩個小時后檢查2.將以下溶劑（1.汽油；2.酒精；3.人工汗液；4.5%食鹽水，所用化學用品型號或配方為我司終端現(xiàn)有用品）涂在線纜、SR、殼體上。放置72小時（汽油放置24小時）后用水清洗掉溶劑再放置兩個小時后檢查線纜、SR、殼體不會有明顯腐蝕、開裂23耐UV輻射測試耐UV輻照進行1個循環(huán)為24小時的測試，具體為在干熱40℃下，太陽輻射強度為1120W/㎡，保持20小時，再關閉太陽輻射源4小時，試驗持續(xù)循環(huán)96小時24EMC參考終端產(chǎn)品USB數(shù)據(jù)線充電線可靠性測試規(guī)范V1.2EMCclassA標準CE/FCC25DifferentialImpedanceThistestensuresthattheD+/D?linesofthecableassemblyhavetheproperimpedance.Fortheentirecableassembly.75ohmsminand105ohmsmax.400psrisetime(20%-80%).EIA364-10826PropagationDelayThepurposeofthetestistoverifytheend-to-endpropagationoftheD+/D?linesofthecableassembly.20nsmax.400psrisetime(20%-80%).EIA364-10327Intra-pairSkewThistestensuresthatthesignalonboththeD+andD?linesofcableassemblyarriveatthereceiveratthesametime.100psmax.400psrisetime(20%-80%).EIA364–103D+/D?PairAttenuat