集成電路測試和可測性設(shè)計

/集成電路測試和可測性設(shè)計ICTestingandDesignforTestability教學(xué)大綱課程名稱：集成電路測試和可測性設(shè)計課程編號：M702004課程學(xué)分：3適用學(xué)科：集成電路工程、電子科學(xué)和技術(shù)一、課程性質(zhì)本課程的授課對象為集成電路工程專業(yè)探討生和電子和科學(xué)技術(shù)專業(yè)探討生，課程屬性為專業(yè)基礎(chǔ)必修課（對電子和科學(xué)技術(shù)專業(yè)探討生為專業(yè)選修課）。本課程主要講授集成電路測試尤其是大規(guī)模集成電路測試的基本概念、基本方法，數(shù)字集成電路測試向量生成算法、可測試性設(shè)計、可測試性度量、數(shù)?；旌闲盘栯娐窚y試方法以及測試設(shè)備和測試過程等內(nèi)容。通過基本思想、基本算法的引入、推導(dǎo)并配以大量的實例進(jìn)行分析，使學(xué)生能夠?qū)y試相關(guān)理論有全面的理解，并能夠利用所學(xué)的方法解決實際的電路測試及可測試性設(shè)計方面的問題。二、課程教學(xué)目的學(xué)生通過本課程的學(xué)習(xí)，應(yīng)能夠理解集成電路測試及可測性的基本概念、基本思想；駕馭重要的測試向量生成算法以及典型的可測性設(shè)計的結(jié)構(gòu)；了解集成電路測試的發(fā)展趨勢及面臨的主要問題。通過利用可測性設(shè)計方法構(gòu)建實際的可測性方案，熬煉培育解決測試問題的實踐動手實力。同時通過對主要算法的發(fā)展歷程、思想演化等的學(xué)習(xí)，培育發(fā)覺問題、解決問題的實力以及創(chuàng)新思維。為今后從事集成電路測試方面的工程或探討工作打下基礎(chǔ)。三、教學(xué)基本內(nèi)容及基本要求第一章 測試?yán)碚摶A(chǔ)教學(xué)內(nèi)容：1.1引言1.2VLSI測試過程和設(shè)備教學(xué)要求：1、駕馭：集成電路測試的工作原理和工作過程。2、理解：集成電路測試的基本概念。3、了解：集成電路測試的特點(diǎn)，測試技術(shù)的發(fā)展及現(xiàn)狀。其次章 測試經(jīng)濟(jì)學(xué)故障和故障模擬教學(xué)內(nèi)容：2.1測試經(jīng)濟(jì)學(xué)和產(chǎn)品質(zhì)量2.2故障模型教學(xué)要求：1、駕馭：測試的經(jīng)濟(jì)性和故障定義。2、理解：故障的含義和分類方法。3、了解：測試和產(chǎn)品質(zhì)量間的關(guān)系。第三章邏輯和故障模型教學(xué)內(nèi)容：3.1

用于設(shè)計驗證的模擬3.2用于設(shè)計評估的模擬3.3用于模擬的模型電路3.4用于真值模擬的算法3.5故障模擬算法3.6故障模擬的統(tǒng)計學(xué)方法教學(xué)要求：1、駕馭：模型電路概念及類型，真值模擬的算法和故障模擬算法。2、理解：用于真值模擬的算法以及故障模擬算法的原理及意義。3、了解：設(shè)計驗證和測試評估的模擬，故障模擬的統(tǒng)計。第四章可測試性度量教學(xué)內(nèi)容：4.1

SCOAP可限制性和可觀測性4.2

高層次可測試性度量教學(xué)要求：1.駕馭：集成電路測試中SCOAP可限制性和可觀測性概念理論。2.理解：SCOAP可限制性和可觀測性理論，以及VLSI電路可測試性的行為綜合。3.了解：集成電路測試的可限制性和可觀測性概念。第五章組合電路測試生成教學(xué)內(nèi)容：5.1

算法和表示5.2

冗余識別5.3

全局測試問題5.4重要的組合ATPG算法5.5測試生成系統(tǒng)5.6測試矢量壓縮教學(xué)要求：1、駕馭：重要的組合ATPG算法，測試生成和壓縮。2、理解：冗余識別，全局測試相關(guān)理論。3、了解：算法和冗余識別的概念；算法在集成電路測試中的作用。第六章時序電路的測試矢量生成教學(xué)內(nèi)容：6.1

單時鐘同步電路的ATPG6.2

時間幀綻開方法6.3

基于模擬的時序電路ATPG教學(xué)要求：1、駕馭：時間幀的綻開方法。2、理解：基于模擬的時序電路ATPG和時間幀的綻開理論。3、了解：時序電路的測試矢量生成的具體過程。第七章數(shù)字電路DFT和掃描設(shè)計教學(xué)內(nèi)容：12.1

特定的DFT方法12.2

掃描設(shè)計12.3

部分掃描設(shè)計12.4掃描的變種教學(xué)要求：1、駕馭：數(shù)字電路的可測性設(shè)計以及掃描設(shè)計的相關(guān)理論。2、理解：掃描設(shè)計的原理和實現(xiàn)方法。3、了解：特定的可測性設(shè)計方法，掃描設(shè)計和它的演化。第八章內(nèi)建自測試教學(xué)內(nèi)容：13.1

BIST的經(jīng)濟(jì)性狀況13.2

隨機(jī)邏輯BIST13.3

存儲器BIST13.4延遲故障BIST教學(xué)要求：1、駕馭：內(nèi)建自測試的工作原理和實現(xiàn)方法。2、理解：內(nèi)建自測試的工作原理和實現(xiàn)方法。3、了解：內(nèi)建自測試的經(jīng)濟(jì)性狀況。第九章邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)教學(xué)內(nèi)容：14.1

邊界掃描的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)14.2

邊界掃描的描述語言教學(xué)要求：1、駕馭：邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)定義的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。2、理解：邊界掃描語言。3、了解：邊界掃描的相關(guān)學(xué)問。第十章模擬測試總線標(biāo)準(zhǔn)教學(xué)內(nèi)容：15.1

模擬電路的可測試性設(shè)計15.2

模擬測試總線教學(xué)要求：1、駕馭：模擬電路的可測性設(shè)計相關(guān)理論，模擬測試總線要求。2、理解：模擬測試和測試總線的相關(guān)概念和具體要求。3、了解：模擬電路可測試性和測試總線的具體實現(xiàn)方法。四、本課程和其它相關(guān)課程的聯(lián)系和分工在學(xué)習(xí)本課程之前，應(yīng)對數(shù)字集成電路、模擬集成電路和超大規(guī)模集成電路設(shè)計有深化的了解。本課程的先修課程為《數(shù)字集成電路》和《模擬集成電路》。五、實踐環(huán)節(jié)教學(xué)內(nèi)容的支配和要求無六、本課程課外練習(xí)的要求每章布置確定的思索題或探討題，學(xué)生須要自己上網(wǎng)搜集資料，課堂上針對問題狀況和學(xué)生反饋支配探討。有時須要留少量的作業(yè)要求學(xué)生完成。七、本課程的教學(xué)方法及運(yùn)用現(xiàn)代化教學(xué)手段方面的要求1、本課程以課堂講授為主，輔以確定的探討環(huán)節(jié)。2、運(yùn)用MSPowerPoint幻燈片作為主要教學(xué)幫助工具，主要方法用軟件演示其效果。八、本課程成果的考查方法及評定標(biāo)準(zhǔn)本課程成果由平常成果及期末考試成果二部分組成。課程成果以百分制計算，平常成果占30%（其中出勤成果占10%，作業(yè)成果占20%），期末考試成果占70%。九、教材及參考書教材：MichaelL.Bushnell,VishwanniD.Agrawal著，將安平、馮建華等譯，超大規(guī)模集成電路測試——數(shù)字、存儲器和混合信號系統(tǒng)，電子工業(yè)出版社，2005.8參考書：雷紹充等著，超大規(guī)模集成電路測試，電子工業(yè)出版社，2008.5十、課程各章節(jié)學(xué)時支配章節(jié)內(nèi)容總學(xué)時講授課時探討、論文、試驗、設(shè)計備注第一章測試?yán)碚摶A(chǔ)22其次章測試經(jīng)濟(jì)學(xué)故障和故障模擬22第三章邏輯和故障模型22作業(yè)第四章可測試性度量422作業(yè)第五章組合電路測