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文檔簡介
射線檢測RTI級
取證考試(閉卷)題庫
一、共580道題,其中:判斷題290,選擇題290。內(nèi)容如下:
1、金屬材料、焊接、熱處理知識
判斷題:30
選擇題:30
2、相關(guān)法規(guī)和規(guī)范
判斷題:30
選擇題:30
3、JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)
判斷題:30
選擇題:30
4、射線專業(yè)理論
判斷題:200
選擇題:200
二、組題要求:每套題100道題,每題1分,共100分。其中:
1、判斷題:50
金屬材料焊接熱處理:5題;相關(guān)法規(guī)規(guī)范:5題;JB/T4730標(biāo)
準(zhǔn):5題;專業(yè)理論知識:35題。
2、選擇題:50
金屬材料焊接熱處理:5題;相關(guān)法規(guī)規(guī)范:5題;JB/T4730標(biāo)
準(zhǔn):5題;專業(yè)理論知識:35題。
RTI級取證考試題庫
一.判斷題
金屬材料、焊接、熱處理知識(1?30)
1.金屬材料的性能包括使用性能和工藝性能。對
2.材料在外力作用下所表現(xiàn)出的力學(xué)性能指標(biāo)有強(qiáng)度、硬度、塑性、
韌性等。對
3.評價金屬材料的強(qiáng)度指標(biāo)有抗拉強(qiáng)度、屈服強(qiáng)度、伸長率和斷面收
縮率。錯
4.一般說來,鋼材的硬度超高,其強(qiáng)度也越高。對
5.承壓設(shè)備的沖擊試驗(yàn)的試樣缺口規(guī)定采用V型缺口而不采用U型缺
口,是因?yàn)榍罢呒庸と菀浊以囼?yàn)值穩(wěn)定。錯
6.材料的屈強(qiáng)比越高,對應(yīng)力集中就越敏感。對
7.材料的沖擊值不僅與試樣的尺寸和缺口形式有關(guān),而且與試驗(yàn)溫度
有關(guān)。對
8.應(yīng)力集中的嚴(yán)重程度與缺口大小和根部形狀有關(guān),缺口根部曲率半
徑越大,應(yīng)力集中系數(shù)越大。錯
9.氫在鋼材中心部位聚焦形成的細(xì)微裂紋群稱為氫白點(diǎn),可以用UT
檢測。對
10.低碳鋼金屬材料中,奧氏體組織僅存在于727℃以上的高溫范圍
內(nèi)。對
11.淬火加高溫回火的熱處理稱為調(diào)質(zhì)處理。對
12、在消除應(yīng)力退火中,應(yīng)力的消除主要是依靠加熱或冷卻過程中鋼
材組織發(fā)生變化和產(chǎn)生塑性變形帶來的應(yīng)力松弛實(shí)現(xiàn)的。錯
13.鍋爐壓力容器用鋼的含碳量一般不超過0.25%。對
14.低碳鋼中硫、磷、氮、氧、氫等都是有害雜質(zhì),應(yīng)嚴(yán)格控制其含
量。對
15.磷在鋼中會形成低熔點(diǎn)共晶物,導(dǎo)致鋼的冷脆。錯
16.硫是鋼中的有害雜質(zhì),會引起鋼的熱脆。對
17.一般說來,以正火狀態(tài)供貨的低合金鋼板比熱軋狀態(tài)供貨的低合
金鋼板具有更好的綜合力學(xué)性能。對
18.奧氏體不銹鋼焊接時不會產(chǎn)生延遲裂紋,但容易產(chǎn)生熱裂紋。對
19.介質(zhì)中含有H2S,會使奧氏體不銹鋼產(chǎn)生應(yīng)力腐蝕。錯
20.焊縫余高可增加焊接接頭的強(qiáng)度,因而余高超高越好。錯
21.焊接接頭熔合區(qū)的組織屬過熱組織,在很多情況下,熔合區(qū)是產(chǎn)
生裂紋和局部脆性破壞的發(fā)源地。對
22.低合金鋼的焊接特點(diǎn)是熱影響區(qū)有較大的淬硬傾向,焊接時易出
現(xiàn)冷裂紋。對
23.一般認(rèn)為,鋼材的強(qiáng)度等級越高、碳當(dāng)量越大,焊接性越差。對
24.焊后及時進(jìn)行消氫處理,是防止熱裂紋的一項有效措施。錯
25.常見的焊接外觀缺陷有咬邊、焊瘤、凹陷、焊接變形、表面氣孔、
表面裂紋、單面焊根部未焊透等。對
26.弧坑裂紋屬于冷裂紋。錯
27.再熱裂紋一般發(fā)生在焊接接頭的熱影響區(qū)。對
28.熱裂紋的主要特征是沿晶開裂。對
29.冷裂紋的特征是穿晶開裂。錯
30.焊接接頭的薄弱部位不在焊縫,而在熔合區(qū)和熱影響區(qū)。對
相關(guān)法規(guī)、規(guī)范知識(31?60)
31.《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》規(guī)定,特種設(shè)備是指涉及生命安全、
危險性較大的鍋爐、壓力容器(含氣瓶)、壓力管道。錯
32.軍事裝備、核設(shè)施、航空航天器、鐵路機(jī)車、海上設(shè)施和船舶以
及礦山井下使用的特種設(shè)備的安全監(jiān)察不適用《特種設(shè)備安全監(jiān)察條
例》。對
33.《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》規(guī)定,特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測機(jī)構(gòu),應(yīng)當(dāng)
接受特種設(shè)備安全監(jiān)督管理部門依法進(jìn)行的特種設(shè)備安全監(jiān)察。對
34.特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測機(jī)構(gòu)包括監(jiān)督檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)、定期檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)、型式
試驗(yàn)機(jī)構(gòu)和無損檢測機(jī)構(gòu)。對
35.《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》規(guī)定,特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測人員從事檢
驗(yàn)檢測工作,必須在特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測機(jī)構(gòu)執(zhí)業(yè),但不得同時在兩個
以上檢驗(yàn)檢測機(jī)構(gòu)中執(zhí)業(yè)。對
36.《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》規(guī)定,特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測機(jī)構(gòu)和檢驗(yàn)
檢測人員不得從事特種設(shè)備的生產(chǎn)、銷售,但可以監(jiān)制、監(jiān)銷特種設(shè)
備。錯
37.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定考核范圍內(nèi)的無損檢測
方法包括射線(RT)、超聲(UT)、磁粉(MT)、滲透(PT)、聲發(fā)
射(AE)和渦流(ECT)六種。錯
38.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定,特種設(shè)備《檢測人員
證》的有效期為4年。對
39.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》要求報考檢測人員至少單眼
或者雙眼的裸眼或者矯正視力不低于《標(biāo)準(zhǔn)對數(shù)視力表》的5.0級。
錯
40.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定,各級人員筆試和實(shí)際
操作考試的合格標(biāo)準(zhǔn)均為70分。對
41.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定,年齡65周歲以上(含
65周歲)人員的換證申請不再予以受理。錯
42.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定,換證分為考試換證和
審核換證兩種方式,審核換證應(yīng)當(dāng)在取證后首次換證時實(shí)施,以后采
取考試換證與審核換證交替實(shí)施,不得連續(xù)實(shí)施審核換證。對
43.《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》適用于符合《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》
范圍內(nèi)的固定式承壓蒸汽鍋爐、承壓熱水鍋爐、有機(jī)熱載體鍋爐、以
及以余熱利用為主要目的的煙道式、煙道與管殼組合式余熱鍋爐。對
44.《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定,鍋爐受壓元件及其焊接接頭質(zhì)
量檢驗(yàn),包括外觀檢驗(yàn)、通球試驗(yàn)、化學(xué)成份分析、無損檢測、力學(xué)
性能檢驗(yàn)、水壓試驗(yàn)等。對
45.《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定,B級以下熱水鍋爐和非承壓有
機(jī)熱載體鍋爐可免于無損檢測。錯
46.鍋爐受壓部件無損檢測方法應(yīng)當(dāng)符合NB/T47013(JB/T4730)《承
壓設(shè)備無損檢測》的要求。管子對接接頭X射線實(shí)時成像應(yīng)符合相應(yīng)
技術(shù)規(guī)定。對
47.《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定:蒸汽鍋爐、B級及以上熱水鍋
爐和承壓有機(jī)熱載體鍋爐的管子或者管道與無直段彎管頭的焊接接
頭應(yīng)當(dāng)進(jìn)行100%射線或者超聲檢測。對
48.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定,低壓容器均為第一
類壓力容器。錯
49.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定,壓力容器拼接封頭
對接接頭必須在成形后進(jìn)行無損檢測。錯
50.按照《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》的規(guī)定,進(jìn)行局部無
損檢測的壓力容器,制造單位也要對未檢測部分的質(zhì)量負(fù)責(zé)。對
51.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定,壓力容器焊接接頭
當(dāng)采用不可記錄的脈沖反射法超聲檢測時,應(yīng)當(dāng)采用射線檢測或衍射
時差法超聲檢測做為附加局部檢測。對
52.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定,鐵磁性材料制壓力
容器焊接接頭的表面檢測應(yīng)當(dāng)優(yōu)先采用磁粉檢測。對
53.《移動式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定,罐體以及與罐體連
接的接管、管路的對接接頭應(yīng)進(jìn)行全部射線或超聲檢測;夾套殼體的
A、B類對接接頭應(yīng)進(jìn)行局部射線或超聲檢測。對
54.《超高壓容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定,超高壓容器筒體及主要
受壓元件在制造期間(耐壓試驗(yàn)前),至少應(yīng)做兩次100%的射線檢測
(調(diào)質(zhì)熱處理前后各一次)。錯
55.GB150-2011《壓力容器》規(guī)定,第III類容器的對接焊接接頭應(yīng)進(jìn)
行100%射線或超聲波檢測。錯
56.GB150-2011《壓力容器》規(guī)定,對于進(jìn)行局部射線或者超聲波檢
測的壓力容器,其公稱直徑02250mm的接管與長頸法蘭、接管與接
管對接連接的焊接接頭應(yīng)進(jìn)行100%射線或超聲波檢測。錯
57.GB150-2011《壓力容器》規(guī)定,進(jìn)行局部檢測的焊接接頭,發(fā)現(xiàn)
有不允許的缺陷時,應(yīng)在該缺陷兩端的延長部位增加檢測長度,增加
的長度為該焊接接頭長度的10%,且兩側(cè)均不少于250nm1。對
58.GB150-2011《壓力容器》規(guī)定,壓力容器無損檢測檔案應(yīng)完整,
保存時間不得少于容器設(shè)計使用壽命。對
59.GB12337-1998《鋼制球形儲罐》規(guī)定,用有延遲裂紋傾向的鋼材制
造的球罐,應(yīng)在焊接結(jié)束至少24小時后,方可進(jìn)行焊縫的無損檢測。
錯
60.《壓力管道安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程一工業(yè)管道》規(guī)定,無損檢測的合格
要求應(yīng)當(dāng)不低于JB/T4730的規(guī)定。錯
JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)(61?90)
61.JB/T4730.1-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,缺陷評定區(qū)是在質(zhì)量分級評定時,
為評價缺陷的性質(zhì)、數(shù)量和密集程度而設(shè)置的一定尺寸的區(qū)域。錯
62.按照J(rèn)B/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,對外徑Do^lOOnun的環(huán)向?qū)?/p>
接頭進(jìn)行100%檢測,所需要的最少透照次數(shù)僅與透照方式和透照厚
度比有關(guān)。錯
63.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,現(xiàn)場進(jìn)行V射線檢測時,應(yīng)按
GB18465的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)、設(shè)置警告標(biāo)志,檢測作業(yè)時,
應(yīng)圍繞監(jiān)督區(qū)邊界測定輻射水平。錯
64.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,筒體縱焊縫的一次透照長度應(yīng)按透
照厚度比K值進(jìn)行控制,A級、AB級為KW1.03。此規(guī)定的目的是為
了增大透照厚度寬容度。錯
65.按JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,由透照次數(shù)圖確定透照次數(shù)時,
如交點(diǎn)在兩區(qū)域的分界線上,則所需最少透照次數(shù)應(yīng)取較大數(shù)值。對
66.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,對小徑管進(jìn)行雙壁雙影透照橢圓成
像時,應(yīng)控制影像的開口寬度在一倍焊縫寬度左右。其主要目的是提
高橫向裂紋的檢出率。錯
67.按照J(rèn)B/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,對規(guī)格4)76X7mm且焊縫寬度為
20mm的管子環(huán)向?qū)雍附咏宇^100%射線照相時,應(yīng)采用雙壁雙影傾
斜透照,相隔90°,透照2次。錯
68.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,承壓設(shè)備在用檢測中,由于結(jié)構(gòu)、
環(huán)境、射線設(shè)備等方面限制,檢測條件不能滿足AB級射線檢測技術(shù)
條件的要求時,經(jīng)技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn),在采取有效補(bǔ)償措施(例如選用
更高類別的膠片)的前提下,若底片像質(zhì)計靈敏度達(dá)到了AB級射線
檢測技術(shù)的規(guī)定,則可認(rèn)為按AB級射線技術(shù)進(jìn)行了檢測。對
69.按JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,用大于12MeV高能X射線照相時,
可不使用后屏。其原因是在高能射線照中,后屏對增感并不重要,有
時不使用后屏清晰度反而有所提高。對
70.按照J(rèn)B/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,對于外徑Do>100mm的容器根
部內(nèi)凹和根部咬邊深度也可采用附錄H規(guī)定的一般對比試塊(II)進(jìn)
行測定。對
71.按照J(rèn)B/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,當(dāng)采用高能X射線照相時,透
照厚度范圍的確定與檢測技術(shù)等級無關(guān)。錯
72.按照J(rèn)B/T4730.1-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,當(dāng)采用同種檢測方法按不同工
藝進(jìn)行檢測時,如果檢測結(jié)果不一致,應(yīng)對該工藝重新進(jìn)行鑒定。錯
73.按照J(rèn)B/T4730.1-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,當(dāng)應(yīng)用高能X射線照相時,宜
采用高梯度噪聲比膠片。對
74.對單個條形缺陷最大長度的下限值和一組缺陷累計最大長度的下
限值,JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)均作出了明確規(guī)定。對
75.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,對于鋁和鋁合金,當(dāng)IE級對接接頭
允許的缺陷點(diǎn)數(shù)連續(xù)存在,并超過評定區(qū)尺寸的3倍時,對接焊接接
頭的質(zhì)量應(yīng)評定為IV級。對
76.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,X射線實(shí)時成像檢測不適用于承壓設(shè)
備對接接頭的實(shí)時快速檢測。錯
77.按照J(rèn)B/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,用V射線對截面厚度變化大的
工件照時,不允許降低底片的最低黑度。對
78.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,承壓設(shè)備在用檢測中,由于結(jié)構(gòu)、
環(huán)境、射線設(shè)備等方面限制,檢測的某些條件不能滿足AB級射線檢
測技術(shù)的要求時,在采取有效補(bǔ)償措施(例如選用更高類別的膠片)
后可采用A級技術(shù)進(jìn)行射線檢測,但同時采用其它無損檢測方法進(jìn)行
補(bǔ)充檢測。錯
79.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,底片評定范圍的寬度一般為焊縫本
身及焊縫兩側(cè)的熱影響區(qū)。錯
80.按照J(rèn)B/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,AB級檢測技術(shù),觀察黑度值在
2.0WDW3.8的底片,此時觀片燈的亮度應(yīng)不低于63096cd/m2。對
81.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,應(yīng)根據(jù)被檢工件的公稱厚度限定X
射線最高管電壓。錯
82.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,采用源在內(nèi)透照方式,在保證像質(zhì)
計靈敏度達(dá)到4.11.3要求的前提下,允許的V射線透照厚度范圍與
檢測技術(shù)級別有關(guān)。對
83.根據(jù)JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,采用源在內(nèi)中心透照方式周向
曝光時,只要得到的底片質(zhì)量符合4.11.2和4.11.3的要求,f值可
以減小,但減小值不得超過規(guī)定值的50%。這一規(guī)定與檢測技術(shù)級別
無關(guān)。對
84.按JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,確定小徑管的透照次數(shù)與焦距大
小無關(guān)。對
85.按照J(rèn)B/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,對初次制定的檢測工藝,或使
用中檢測工藝的條件、環(huán)境發(fā)生改變時,應(yīng)進(jìn)行背散射防護(hù)檢查。對
86.按照J(rèn)B/T4730.1-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,當(dāng)應(yīng)用Y射線照時,宜采用高
梯度噪聲比膠片;當(dāng)應(yīng)用X射線對Rm2540MPa的高強(qiáng)鋼材料對接焊
接接頭檢測時,也應(yīng)采用高梯度噪聲比膠片。對
87.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,確定圓形缺陷評定區(qū)尺寸和條形缺
陷評定區(qū)尺寸均與被檢工件的公稱厚度有關(guān)。對
88.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,外徑DO^100mm的管對接接頭,對
斷續(xù)根部內(nèi)凹和根部咬邊評定時,以根部內(nèi)凹和根部咬邊本身的長度
累加計算總長度。對
89.按照J(rèn)B/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi),如果圓
形缺陷的長徑大于10mm時,該焊接接頭應(yīng)評為W級。錯
90.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,像質(zhì)計放于膠片一側(cè)時,應(yīng)進(jìn)行對
比試驗(yàn)。錯
專業(yè)理論知識(91?290)
91.原子序數(shù)Z等于原子核中的質(zhì)子數(shù)。對
92.當(dāng)原子核內(nèi)的中子數(shù)改變時,它就會變?yōu)榱硪环N元素。錯
93.當(dāng)一個原子增加一個質(zhì)子時,仍可保持元素的種類不變。錯
94.原子序數(shù)相同而原子量不同的元素,我們稱它為同位素。對
95.不穩(wěn)定的同位素在衰變過程中始終要輻射Y射線。錯
96.原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。對
97.放射性同位素的半衰期是其能量減小到一半所需的時間。錯
98.各種V源產(chǎn)生的射線都單能輻射。錯
99.在化學(xué)反應(yīng)中,原子的種類和性質(zhì)都會發(fā)生變化。錯
100.不穩(wěn)定的核素會自發(fā)蛻變,變成另一種元素,同時放出各種
射線,這種現(xiàn)象稱為放射性衰變。對
101.射線能量越高,其傳播速度就越快,因而Y射線傳播速度要比
X射線快。錯
102.當(dāng)X射線穿過2個半價層后,其能量僅果J下最初的1/4O錯
103.Y射線是原子核由低能級躍遷到高能級而產(chǎn)生的。錯
104.標(biāo)識X射線具有高能量,那是由于高速電子與靶原子核相碰撞的
結(jié)果。錯
105.X射線和丫射線是以光速傳播的微小的物質(zhì)粒子。錯
106.連續(xù)X射線是高速電子與靶原子的軌道電子相碰撞而產(chǎn)生的。錯
107.標(biāo)識X射線是高速電子同靶原子核外殼層電子相碰撞的結(jié)果。對
108.連續(xù)X射線的能量與管電壓有關(guān),與管電流無關(guān)。對
109.X射線的產(chǎn)生效率與管電壓和靶材料的原子序數(shù)成正比。對
110.同能量的Y射線和X射線具有完全相同的性質(zhì)。對
in.x射線的強(qiáng)度不僅取決于管電流,而且取決于管電壓。對
112.光電效應(yīng)中光子被完全吸收,而康普頓效應(yīng)中光子未被完全
吸收。對
113.光電效應(yīng)的發(fā)生幾率隨光子能量的增大而減小。對
114.光電效應(yīng)的發(fā)生幾率隨原子序數(shù)的增大而增加。對
115.光電子又稱反沖電子。錯
116.光子能量必須大于電子的結(jié)合能是發(fā)生光電效應(yīng)的前提條件。對
117.連續(xù)X射線穿透物質(zhì)后,強(qiáng)度減弱,線質(zhì)不變。錯
118.當(dāng)射線穿過三個半價層后,其強(qiáng)度來I下最初的1/8o對
119.所有Y射線的能量都是相同的。錯
120.放射性同位素的衰變常數(shù)入越大,該同位素越穩(wěn)定。錯
121.X射線和V射線都是電磁輻射,而中子射線不是電磁輻射。對
122.X射線與可見光的區(qū)別是波長和產(chǎn)生方式不同。對
123.高速電子與靶原子的軌道電子相撞擊產(chǎn)生X射線的過程稱為韌
致輻射。錯
124.連續(xù)X射線的強(qiáng)度與管電流有關(guān),與管電壓無關(guān)。錯
125.標(biāo)識X射線的能量與管電壓、管電流均無關(guān),僅取決于靶材料。
對
126.放射性同位素的衰變常數(shù)人越小,該同位素的半衰期越長。對
127.在管電壓、管電流不變的前提下,將X射線管的靶材由鋁改為鐺,
所發(fā)生的射線強(qiáng)度將會增大。錯
128.在工業(yè)X射線探傷中,使膠片感光的主要是連續(xù)X射線,標(biāo)識X
射線不起什么作用。對
129.連續(xù)X射線透過物質(zhì)后,強(qiáng)度減弱,平均波長變短。對
130.不包括散射線成份的射線束稱為窄束射線。對
131.單一波長電磁波組成的射線稱為“單色”射線,又稱為“單能
輻射”。對
132.原子由一個原子核和若干個核外電子組成。對
133.原子核的核外電子帶正電荷,在原子核周圍高速運(yùn)動。錯
134.原子序數(shù)邙亥外電子數(shù)=質(zhì)子數(shù)=核電荷數(shù)。對
135.原子的質(zhì)量數(shù)=質(zhì)子數(shù)+中子數(shù)。對
136.不穩(wěn)定的同位素又稱放射性同位素。對
137.目前射線檢測所用的同位素均為人工放射性同位素。對
138.X射線譜中波長連續(xù)變化的部分,稱為“連續(xù)”譜。對
139.只有入射光子能量大于1.02MeV時才能發(fā)生電子對效應(yīng)。對
140.光電效應(yīng)和電子對效應(yīng)引起的吸收有利于提高射線照相對比度。
對
141.康普頓效應(yīng)產(chǎn)生的散射線會降低射線照相對比度。對
142.射線照相法適合于各種熔化焊接方法的對接接頭和鋼板、鋼管的
檢測。錯
143.X射線管的有效焦點(diǎn)總是小于其實(shí)際焦點(diǎn)。對
144.X射線機(jī)中的焦點(diǎn)尺寸應(yīng)盡可能大,這樣發(fā)射的X射線能量大,
同時也可防止靶過分受熱。錯
145.X射線管中電子速度越小,則所發(fā)生的X射線能量也就越小。對
146.移動式X射線機(jī)只能在窒內(nèi)小范圍移動,不適合到野外作業(yè)。對
147.移動式X射線機(jī)有油冷和氣冷兩種冷卻方式。錯
148.同千伏值的金屬陶瓷管和玻璃管,前者體積和重量小于后者。對
149.變頻是減小X射線機(jī)重量的有效措施之一。對
150.各種放射同位素源的活度越大,其輻射強(qiáng)度也就越大。錯
151.底片黑度D=L即意味著透射光強(qiáng)為入射光強(qiáng)的十分之一。對
152.用來說明管電壓、管電流和透照厚度之間關(guān)系的曲線稱為膠片特
性曲線。錯
153.膠片灰霧度包括片基固有密度和化學(xué)灰霧密度兩部分。對
154.在常用的100?400KV范圍內(nèi),鉛增感屏的增感系數(shù)隨其厚度的
增大而減小。對
155.對X射線機(jī)進(jìn)行“訓(xùn)練”的目的是為了排出絕緣油中的氣泡。錯
156.X和丫射線的本質(zhì)是相同的,但Y射線來自同位素,而X射線來
自于一個以高壓加速電子的裝置。對
157.對于某一同位素放射源,其活度越大,則所發(fā)出的射線強(qiáng)度就越
大。對
158.周向X射線機(jī)產(chǎn)生的X射線束向270。方向輻射。錯
159.相同標(biāo)稱千伏值和毫安值的X射線機(jī)所產(chǎn)生的射線強(qiáng)度和能量
必定相同。錯
160.所謂“管電流”是指通過X射線管燈絲的電流。錯
161.放射源的活度越大,其半衰期就越短。錯
162.膠片對比度與射線能量有關(guān),射線能量越高,膠片對比度就越小。
錯
163.膠片特性曲線的斜率用來度量膠片的梯度。對
164.寬容度大的膠片,其梯度必然低。對
165.膠片特性曲線在座標(biāo)上的位置左移,意味著膠片感光速度減小。
錯
166.“潛影”是指在沒有強(qiáng)光燈的條件下不能看到的影像。錯
167.鉛增感屏除有增感作用外,還有減少散射線的作用,因此在射線
測穿透的前提下,應(yīng)盡量選用較厚的鉛屏。錯
168.透照不銹鋼焊縫,可使用碳素鋼絲像質(zhì)計。對
169.透照鈦焊縫,應(yīng)使用鈦金屬絲像質(zhì)計。對
170.透照銀基合金焊縫時使用碳素鋼絲像質(zhì)計,如果底片上顯示的線
徑編號剛剛達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,則該底片的實(shí)際靈敏度肯定達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)
定的要求。錯
171.因?yàn)殂U增感屏的增感系數(shù)高于熒光增感屏,所以得到廣泛使用。
錯
172.膠片中鹵化銀粒度與膠片的感光速度無關(guān)。錯
173.梯燥比高的膠片成像質(zhì)量好。對
174.像質(zhì)計一般擺放在射線透照區(qū)內(nèi)顯示靈敏度較低的部位。對
175.X射線管的陰極是產(chǎn)生X射線的部分。錯
176.X射線管的陽極是由陽極靶、陽極體和陽極罩三個部分組成。對
177.攜帶式X射線機(jī)的散熱形式多采用輻射散熱式。對
178.一般陽極體采用導(dǎo)熱率大的無氧銅制成。對
179.X射線管的陽極特性就是X射線管的管電壓和管電流的關(guān)系。對
180.在換Y射線源的操作過程中,必須使用V射線劑量儀及音響報
警儀進(jìn)行監(jiān)測。對
181.射線膠片由片基、結(jié)合層、感光乳劑層和保護(hù)層組成。對
182.膠片感光后產(chǎn)生的眼睛看不見的影像叫“潛影”。對
183.射線膠片的感光特性可在曝光曲線上定量表示。錯
184.射線底片上產(chǎn)生一定黑度所用曝光量的倒數(shù)定義為感光度。對
185.未經(jīng)曝光的膠片經(jīng)暗窒處理后產(chǎn)生的一定黑度稱為本底灰霧度。
對
186.膠片對不同曝光量在底片上顯示不同黑度差的固有能力稱為梯
度。對
187.膠片有效黑度范圍相對應(yīng)的曝光量變動范圍稱為寬容度。對
188.膠片的特性指標(biāo)只與膠片有關(guān),與增感屏和沖洗條件無關(guān)。錯
189.黑度計和光學(xué)密度計是兩種不同類型的測量儀器。錯
190.增感系數(shù)Q是指不用增感屏的曝光量E。與使用增感屏的曝
光量E之間的比值,即:Q=E0/Eo對
191.由于增感系數(shù)高,熒光增感屏多用于承壓設(shè)備的焊縫射線照相。
錯
192.金屬增感屏具有增感效應(yīng)和吸收效應(yīng)兩個基本效應(yīng)。對
193.使用金屬增感屏所得底片質(zhì)量最佳,其增感系數(shù)也最大。錯
194.像質(zhì)計是用來檢查和評定射線底片影像質(zhì)量的工具。對
195.像質(zhì)計通常用與被檢工件材質(zhì)相同或?qū)ι渚€吸收性能相似的材
料制作。對
196.一般來說,射線照相像質(zhì)計靈敏度等于自然缺陷靈敏度。錯
197.使用較低的能量可得到較高的主因?qū)Ρ榷?。?/p>
206.射線照相時,若干伏值提高,將會使膠片對比度降低。錯
207.增大曝光量可提高主因?qū)Ρ榷?。錯
208.一般來說,對厚度差較大的工件,應(yīng)使用較高能量的射線透照,
其目的是降低對比度增大寬容度。對
209.射線照相對比度AD只與主因?qū)Ρ榷扔嘘P(guān),與膠片對比度無關(guān)。
錯
210.射線照相主因?qū)Ρ榷扰c入射線的能譜有關(guān),與強(qiáng)度無關(guān)。對
211.用增大射源到膠片距離的方法可降低射線照相固有不清晰度。錯
212.減小幾何不清晰度的途徑之一,就是使膠片盡可能地靠近工件。
對
213.利用陽極側(cè)射線照相所得到的底片幾何不清晰度比陰極側(cè)好。對
214.膠片的顆粒越粗,引起的幾何不清晰度越大,錯
215.使用Y射線源可以消除幾何不清晰度。錯
216.增加源到膠片距離可減小幾何不清晰度,但會引起固有不清晰度
增大。錯
217.膠片成像的顆粒性會隨著射線能量的提高而變差。對
218.對比度、清晰度、顆粒度是決定射線照相靈敏度的三個主要因素。
對
219.使用較低的能量可提高的主因?qū)Ρ榷?但同時會降低膠片對比度。
錯
220.可以采用增大焦距的辦法使尺寸較大的源的照相幾何不清晰度
與尺寸較小的源完全一樣。對
221.膠片對比度與膠片類型或梯度G有關(guān)。對
222.底片黑度只影響膠片對比度,與主因?qū)Ρ榷葻o關(guān)。對
223.底片黑度只影響對比度,不影響清晰度。對
224.散射線只影響主因?qū)Ρ榷?,不影響膠片對比度。對
235.射線的能量同時影響射線照相的對比度、清晰度和顆粒度。對
236.射線照相對比度就是缺陷影像與其周圍背景的黑度差。對
237.固有不清晰度是由于使溟化銀感光的電子在乳劑層中有一定穿
越行程而造成的。對
238.對有余高的縫,應(yīng)盡量選擇較低能量的射線,以保證焊縫區(qū)有較
高的對比度。錯
239.底片能夠記錄的影像細(xì)節(jié)的最小尺取決于顆粒度。對
240.射線照相不清晰度就是影像輪廓邊緣黑度過渡區(qū)的寬度。對
241.射線照相顆粒度表示影像黑度的不均勻程度。對
242.射線照相不清晰度包含幾何不清晰度和固有不清晰度兩部分。對
243.射線照相固有不清晰度與增感屏種類無關(guān)。錯
244.焦點(diǎn)至工件的距離是影響幾何不清晰度的原因之一。對
245.幾何不清晰度與焦點(diǎn)尺寸和工件厚度成正比,與焦點(diǎn)至工件表面
距離成反比。對
246.焦點(diǎn)尺寸的大小與幾何不清晰度沒有關(guān)系。錯
247.增感屏與膠片未貼緊會增大固有不清晰度。對
248.選擇較小的射源尺寸df,或增大焦距值F,都可使照相Ug值減
小。對
249.環(huán)焊縫的各種透照方式中,以源在內(nèi)中心透照周向曝光法為最隹
方式。對
250.欲提高球缺罐內(nèi)壁表面小裂紋檢出率,采用源在外的透照方式比
源在內(nèi)的透照方式好。對
251.無論采用何種透照方式,一次透照長度都隨著焦距的增大而增大。
錯
252.不論采用何種透照布置,為防止漏檢,搭接標(biāo)記均就放在射線源
一側(cè)。錯
253.源在內(nèi)透照時,搭接標(biāo)記必須放在射線側(cè)。錯
254.由于“互易定律”失效,采用熒光增感時,根據(jù)曝光因子選擇透
照參數(shù)可能會產(chǎn)生較大誤差。對
255.對有余高的焊縫進(jìn)行透照,熱影響區(qū)的散射比要比焊縫中心部位
大得多。錯
256.背散射的存在會影響底片的對比度,通??稍诠ぜ湍z片之間放
置一個鉛字B來驗(yàn)證背散射線是否存在。錯
257.當(dāng)被檢工件厚度差較大時,就會有“邊蝕散射”發(fā)生。對
258.使用濾板可增大射線照相寬容度,但濾板最好放置在工件和膠片
之間。錯
259.在源和工件之間放置濾板來減小散射線的措施對于平板工件照
相并不適用。對
260.采用平靶X射線機(jī)對環(huán)焊縫作內(nèi)透中心周向曝光時,有利檢出橫
向裂紋,但不利于檢出縱向裂紋。對
261.用單壁法透照環(huán)焊縫時,所用搭接標(biāo)記均應(yīng)放在射線側(cè)工件表面,
以免端部缺陷漏檢。錯
262.采用源在外單壁透照方式,如K值不變,則焦距越大,一次透照
長度L3就越大。對
263.采用雙壁單影法透照時,如K值不變,則焦距越大,一次透照長
度L3就越大。錯
264.某一曝光曲線,應(yīng)使用同一類型膠片,但可更換不同的X射線機(jī)。
錯
265.用Y射線曝光曲線時,首先應(yīng)知道射源在給定時間的活度。對
266.常規(guī)射線照相檢驗(yàn)中,散射線是無法避免的。對
267.增大透照厚度寬容度最常用的方法是適當(dāng)提高射線能量。對
268.環(huán)縫雙壁單影照相,搭接標(biāo)記應(yīng)放在膠片側(cè),底片的有效評定長
度是底片上兩搭接標(biāo)記之間的長度。對
269.縱焊縫雙壁單影照相,搭接標(biāo)記應(yīng)放在膠片側(cè),底片的有效評定
長度是兩搭接標(biāo)記之間的長度。錯
270.在小徑管透照中,影像各處的幾何不清晰度都是一樣的。錯
271.小徑管雙壁透照的要點(diǎn)是選用較高的管電壓、較低的曝光量,其
目的是減小底片對比度,擴(kuò)大檢出區(qū)域。對
272.小徑管射線照相采用垂直透照法比傾斜透照法更有利于檢出根
部未熔合。對
273.對于散射源來說,往往最大的散射源來自于試件本身。對
274.使用鉛增感屏對減少散射線幾乎不起作用。錯
275.從射線照相靈敏度的角度考慮,在保證穿透力的前提下,應(yīng)僅量
選擇能量較低的X射線。對
276.膠片在顯影液中顯影時,如果不進(jìn)行任何攪動,則使反應(yīng)產(chǎn)生的
溟化物無法擴(kuò)散。對
277.對曝光不足的膠片,可采用增加顯影時間或提高顯影溫度的方法
來增加底片黑度,從而獲得符合要求的底片。錯
278.定影液有兩個作用,即溶解未曝光的溟化銀和堅膜作用。對
279.減少底片上水跡的方法是使膠片快速干燥。錯
280.所謂“通透時間”是指從膠片放入定影液到乳劑層變?yōu)橥该鞯倪@
段時間。對
281.沖洗膠片時,只要使用安全燈,膠片上就不會出現(xiàn)灰霧。錯
282.如果顯影時間過長,有些未曝光的溟化銀也會被溶解,從而增大
了底片灰霧。對
283.定影液老化會導(dǎo)致底片長期保存后出現(xiàn)泛黃的現(xiàn)象。對
284.水洗是膠片手工處理過程中重要步驟,水洗不充分的底片長期保
存后會發(fā)生變色現(xiàn)象。對
285.顯影液中抑制劑的主要作用是抑制灰霧。對
286.顯影液中保護(hù)劑的作用是阻止顯影劑不被氧化,延長顯影液的
使用壽命。對
287.暗窒內(nèi)的工作人員在沖洗膠片過程中,會受到膠片上的衍生的
射線照射,因而白血球也會降低。錯
288.當(dāng)X或Y射線移去后工件不再受輻射作用,但工件本身仍殘留
極低的輻射。錯
289.X射線比v射線更容易被人體吸收,所以X射線對人體危害比Y
射線大。錯
290.輻射源一定,當(dāng)距離增加一倍時,其劑量或劑量率減少到原來的
l/2o錯
二.選擇題
材料、焊接、熱處理知識(1-30)
1.下列各項指標(biāo)中,哪一項不屬于材料的力學(xué)性能?。
A.強(qiáng)度/B.塑性/C.韌性/D.熱穩(wěn)定性/答案D
2.衡量材料抵抗沖擊載荷作用時斷裂的力學(xué)性能指標(biāo)是。
A.強(qiáng)度/B.塑性/C.韌性/D.硬度/答案C
3.在金屬材料的拉伸試驗(yàn)過程中,下列哪一階段材料所受應(yīng)力不再增
加而應(yīng)變卻在繼續(xù)增加?
A.彈性階段/B.屈服階段/C.強(qiáng)化階段/D.頸縮階段/答案B
4.長期承受交變應(yīng)力的構(gòu)件,最可能發(fā)生的破壞形式是。
A.脆性斷裂破壞/B.失穩(wěn)破壞/C.疲勞破壞/D.蠕變破壞/答案C
5.影響試件沖擊韌度值的因素是。
A.試樣的尺寸/B.試樣的缺口形式/C.試驗(yàn)溫度/D.以上都是/答案D
6.下列哪一種組織不是鐵碳合金的基本組織?
A.鐵素體/B.珠光體/C.滲碳體/D.奧氏體/答案B
7.淬火加高溫回火的熱處理稱為。
A.退火/B.正火/C.消氫處理/D.調(diào)質(zhì)/答案D
8.將工件加熱到Ac3或Ac3以上30-501保持一定時間后在空氣中
冷卻的熱處理方法稱為。
A.正火/B.不完全退火/C.退火/D.調(diào)質(zhì)/答案A
9.含碳量小于或等于多少的碳素鋼稱為低碳鋼?
A.0.15%/B.0.20%/C.0.25%/D.0.20%/答案C
10.如欲減少鍛件超聲探傷的聲能衰減,提高信噪比,應(yīng)采用的熱處
理方法是。
A.退火/B.不完全退火/C.正火/D.調(diào)質(zhì)/答案C
11.下列材料中屬于不銹鋼的是。
A.Q235A/B.20g/C.16MnR/D.lCrl7/答案D
12.下列材料中屬于碳素鋼的是。
A.16Mng/B.20g/C.16MnR/D.lCrl8Ni9Ti/答案B
13.用于制造低溫壓力容器的15Mn26Al4屬于。
A.奧氏體鋼/B.鐵素體鋼/C.馬氏體鋼/D.貝氏體鋼/答案A
14.以下哪一種方法不屬于熔化焊?
A.激光焊/B.電渣焊/C.等離子弧焊/D.摩擦焊/答案D
15.以下哪一條不屬于堿性焊條的優(yōu)點(diǎn)?
A.抗裂性好/B.接頭沖擊韌性高/C.脫硫、脫磷能力強(qiáng)/D.不易產(chǎn)生氣
孔/答案D
16.下列焊接方法中,生產(chǎn)效率高、沒有熔渣、成本低的是。
A.氮弧焊/B.二氧化碳?xì)怏w保護(hù)焊/C.手工電弧焊/D.埋弧焊/答案B
17.下列焊接接頭中,承載后應(yīng)力分布比較均勻的接頭是。
A.對接接頭/B.搭接接頭/C.角接接頭/D.T型接頭/答案A
18.焊接接頭的薄弱環(huán)節(jié)是。
A.焊縫/B.熔合區(qū)和過熱粗晶區(qū)/C.正火區(qū)/D.部分相變區(qū)/答案B
19.以下哪些材料焊接時易出現(xiàn)熱裂紋?
A.低溫鋼/B.低合金鋼/C.倍銀奧氏體不銹鋼/D.以上都是/答案C
20.焊接接頭的使用性能可通過哪種方法評價?
A.計算碳當(dāng)量/B.焊接性試驗(yàn)/C.焊接工藝評定試驗(yàn)/D.以上都是/答
案C
21.焊接工藝評定試驗(yàn)的焊接接頭需進(jìn)行哪些項目的檢測試驗(yàn)?
A.外觀檢查/B.無損檢測/C.力學(xué)性能試驗(yàn)/D.以上都是/答案D
22.坡口不清潔,有水、油、銹,最有可能導(dǎo)致的焊接缺陷是。
A.氣孔/B.夾渣/C.未熔合/D.裂紋/答案A
23.低合金鋼焊接時減少熱影響區(qū)淬硬傾向的有效措施是。
A.烘烤焊條/B.預(yù)熱焊件/C.提高焊速/D.焊后熱處理/答案B
24.焊接接頭冷卻到多少溫度以下所產(chǎn)生的裂紋稱為冷裂紋?
A.大約HO。。以下時/B.大約800℃以下時/C.大約300℃以下時/D.大
約一20C以下時/答案C
25.下列哪一因素不是導(dǎo)致冷裂紋產(chǎn)生的原因?
A.焊縫和熱影響區(qū)的含氫量/B.熱影響區(qū)的淬硬程度/C.焊接應(yīng)力的
大小/D.焊縫中低熔點(diǎn)共晶物的含量/答案D
26.電渣焊焊縫進(jìn)行超聲檢測應(yīng)在。
A.焊接36小時以后/B.焊接24小時后/C.消除應(yīng)力熱處理后/D.正火
處理后/答案D
27.以下哪一條不是產(chǎn)生未焊透的原因?
A.接電流過大/B.坡口鈍邊過大/C.組對間隙過小/D.焊根清理不好/
答案A
28.下列焊接缺陷中屬于面積型缺陷的是。
A.氣孔/B.夾渣/C.裂紋/D.夾鴇/答案C
29.下列哪一種缺陷危害性最大?
A.圓形氣孔/B.未焊透/C.未熔合/D.裂紋/答案D
30.結(jié)晶裂紋一般發(fā)生在。
A.焊縫中間/B.熔合區(qū)/C.過熱粗晶區(qū)/D.部分相變區(qū)/答案A
相關(guān)法規(guī)、規(guī)范知識(31?60)
31.《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》規(guī)定,以下哪些單位應(yīng)當(dāng)接受特種設(shè)
備安全監(jiān)督管理部門的安全監(jiān)察?
A.特種設(shè)備生產(chǎn)單位/B.特種設(shè)備使用單位/C.特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測機(jī)
構(gòu)/D.以上都是/答案D
32.以下關(guān)于《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》對于特種設(shè)備事故分類的說
法中,正確的是。
A.分為特別重大事故、特大事故、重大事故、嚴(yán)重事故和一般事故五
類/B.分為特別重大事故、重大事故、較大事故和一般事故四類/C.
分為特大事故、重大事故、嚴(yán)重事故和一般事故四類/D.以上都不對/
答案B
33.以下關(guān)于《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》對壓力容器適用范圍的說法
中,錯誤的是。
A.盛裝氣體或者液體,承載一定壓力的所有密閉設(shè)備/B.盛裝最高工
作壓力大于或者等于0.IMPa(表壓),且壓力與容積的乘積大于或
者等于2.5MPa.L的氣體、液化氣體和最高工作溫度高于或者等于標(biāo)
準(zhǔn)沸點(diǎn)的液體的固定式移動式容器/C.盛裝公稱工作壓力大于或者等
于0.2MPa(表壓),且壓力與容積的乘積大于或者等于1.OMPa.L的
氣體、液化氣體和標(biāo)準(zhǔn)沸點(diǎn)等于或者低于60℃液體的氣瓶/D.氧艙/
答案A
34.以下關(guān)于《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》對鍋爐適用范圍的說法中,
錯誤的是。
A.容積大于或者等于30L的承壓蒸汽鍋爐/B.出口水壓大于或者等于
0.IMPa(表壓),且額定功率大于或者等于0.1MW的承壓熱水鍋爐/C.
有機(jī)載體鍋爐/D.利用各種能源,將所承裝的液體加熱到一定的參數(shù),
并承載一定壓力的所有密閉設(shè)備/答案D
35.以下關(guān)于《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》對壓力管道適用范圍的說法
中,錯誤的是。
A.最高工作壓力大于或者等于0.IMPa(表壓)/B.介質(zhì)為氣體、液化
氣體、蒸汽介質(zhì)或者可燃、易爆、有毒、有腐蝕性、最高工作溫度高
于或者等于標(biāo)準(zhǔn)沸點(diǎn)的液體介質(zhì)/C.公稱直徑大于25mm/D.利用一定
的壓力輸送氣體或者液體的所有管狀設(shè)備/答案D
36.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定的超聲檢測方法項目為。
A.脈沖反射法超聲檢測/B.衍射時差法超聲檢測/C.超聲檢測(自動)
/D.以上都是/答案D
37.以下哪一條不是《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定的對II
級人員的能力要求?
A.調(diào)試和校準(zhǔn)檢測儀器/B.編制或者審核無損檢測報告/C.編制和審
核無損檢測工藝規(guī)程/D.編制針對具體工件的作業(yè)指導(dǎo)書或工藝卡/
答案C
38.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定,可以直接報考II級持
證項目的學(xué)歷條件是。
A.理工類研究生和本科生/B.無損檢測大專生/C.非理工本科和理工
科大專生/D.無損檢測中專生/答案A
39.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定,考試成績未達(dá)到合格
標(biāo)準(zhǔn)的允許補(bǔ)考,考試單科合格成績有效期為。
A.I級一年/B.II級二年/III級三年/D.二年/答案D
40.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定,持證人員證件到期后,
需要繼續(xù)從事持證項目的無損檢測工作,應(yīng)在有效期屆滿,按照要求
向具有相應(yīng)項目考試的考試機(jī)構(gòu)提出換證申請。
A.當(dāng)年的2月底前/B.前6個月/C.前3個月/D.當(dāng)年年底/答案C
41.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定,用于焊接結(jié)構(gòu)壓力
容器主要受壓力元件的碳素鋼和低合金鋼,其含碳量應(yīng)小于或等于。
A.0.20%/B.0.25%/C.0.20%/D.0.40%/答案B
42.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定:壓力容器的對接焊
接接頭的無損檢測比例,一般分為全部(100%)和局部(大于等于
20%)兩.種。對鐵素體鋼制低溫容器,局部無損檢測的比例應(yīng)大于等
于。
A.10%/B.20%/C.50%/D.60%/答案C
43.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定:壓力容器的無損檢
測按JB/T4730《承壓設(shè)備無損檢測》執(zhí)行。對壓力容器對接接頭進(jìn)
行局部(20%)無損檢測時,如采用射線檢測,其透照質(zhì)量不應(yīng)低于
AB級,其合格級別為級。
A.I/B.n/c.in/D.w/答案C
44.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定,壓力容器焊接接頭
超聲檢測方法包括。
A.衍射時差法超聲檢測(TOFD)/B.可記錄的脈沖反射法超聲檢測/C.
不可記錄的脈沖反射法超聲檢測/D.以上都是/答案D
45.以下是《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》關(guān)于無損檢測時機(jī)
的敘述,錯誤的是。
A.焊接接頭應(yīng)當(dāng)經(jīng)過形狀、尺寸及外觀檢查,合格后再進(jìn)行無損檢測
/B.拼接封頭應(yīng)當(dāng)在成型前進(jìn)行無損檢測/C.有延遲裂紋傾向的材料
應(yīng)當(dāng)至少在焊接完成24小時后進(jìn)行無損檢測/D.低合金高強(qiáng)鋼制壓
力容器在耐壓試驗(yàn)后還應(yīng)當(dāng)對焊接接頭進(jìn)行表面無損檢測/答案B
46.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定,厚度大于或等于12mm
的碳素鋼和低合金鋼板,用于制造壓力容器殼體時,在哪些情況下需
逐張進(jìn)行超聲檢測?。
A.盛裝介質(zhì)毒性程度為極度、高度危害介質(zhì)的/B.在濕H2s腐蝕環(huán)境
中使用的/C.設(shè)計壓力大于或等于10MPa/D.以上都是/答案D
47.《移動式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》適用的移動式容器不包括。
A.鐵路罐車和汽車罐車/B.長管拖車/C.罐式集裝箱和管束式集裝箱
/D.氣瓶/答案D
48.《移動式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定,用于制作罐體的碳
素鋼和低合金鋼板,在哪些情況下需逐張進(jìn)行超聲檢測?。
A.厚度大于或者等于20mm的/B.厚度大于或者等于12mm,且充裝介
質(zhì)毒性程度為極度、高度危害的/C.引用標(biāo)準(zhǔn)中要求逐張進(jìn)行超聲檢
測的/D.以上都是/答案D
49.《移動式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定,需進(jìn)行全部射線或
超聲檢測的對接接頭有。
A.罐體的對接接頭/B.與罐體連接的接管、管路的對接接頭/C.A和
B/D.夾套殼體的A、B類對接接頭/答案C
50.《超高壓容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》對于筒體及主要受壓元件的無
損檢測沒有規(guī)定采用的無損檢測方法是。
A.超聲檢測/B.射線檢測/C.磁粉檢測/D.滲透檢測/答案B
51.《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》適用于《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》范
圍內(nèi)的。
A.固定式承壓蒸汽鍋爐和承壓熱水鍋爐/B.有機(jī)熱載體鍋爐/C.以利
用余熱為主要目的的煙道式或煙道與管殼組合式余熱鍋爐/D.以上都
是/答案D
52.《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》不適用于。
A.設(shè)計正常水位水容積小于30L的蒸汽鍋爐/B.額定出水壓力小于
0.IMpa的熱水鍋爐/C.額定熱功率小于0.1MW的熱水鍋爐/D.以上都
是/答案D
53.下面關(guān)于《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》對鍋爐分類的敘述哪一條是
錯誤的?
A.A級鍋爐是額定工作壓力大于3.8MPa的鍋爐/B.B級鍋爐包括蒸汽
鍋爐、熱水鍋爐和有機(jī)熱載體鍋爐/C.C級鍋爐包括蒸汽鍋爐、熱水
鍋爐和有機(jī)熱載體鍋爐D/D級鍋爐不包括有機(jī)熱載體鍋爐/答案D
54.以下是《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》關(guān)于無損檢測時機(jī)的敘述,錯
誤的是。
A.有延遲裂紋傾向的材料應(yīng)當(dāng)在焊接完成24h后進(jìn)行無損檢測/B.有
再熱裂紋傾向的焊接接頭,應(yīng)當(dāng)在最終熱處理后再進(jìn)行一次相同的無
損檢測/C.封頭(管板)、波形爐膽、下腳圈的拼接接頭的無損檢測
應(yīng)當(dāng)在成形后進(jìn)行/D.電渣焊焊接接頭應(yīng)當(dāng)在正火后進(jìn)行超聲檢測/
答案B
55.以下是《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》關(guān)于無損檢測技術(shù)級別和焊接
接頭質(zhì)量等級的敘述,錯誤的是。
A.鍋爐受壓部件焊接接頭射線檢測技術(shù)級別不低于AB級,焊接接頭
質(zhì)量等級全部檢測不低于H級,局部檢測不低于in級/B.鍋爐受壓部
件焊接接頭超聲檢測技術(shù)級別不低于B級,焊接接頭質(zhì)量等級不低于
I級/C.表面檢測的焊接接頭質(zhì)量等級不低于I級/D.以上都對/答案
A
56.根據(jù)《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》的規(guī)定,判斷下述有關(guān)無損探傷
的要求哪些適用于有機(jī)熱載體爐?
A.鍋筒的縱環(huán)焊縫和封頭拼接焊縫:氣相100%RT,液相50%RT/B.鍋筒
的縱環(huán)焊縫和封頭拼接焊縫進(jìn)行100%UT加至少2596RT/C.鍋筒的縱環(huán)
焊縫、封頭拼接焊縫進(jìn)行大于等于20%RT/D.受熱面管的對接焊縫進(jìn)
行100%UT/答案A
57.以下是《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》關(guān)于B級鍋爐無損檢測方法選
擇和檢測比例的敘述,錯誤的是。:
A.鍋筒(鍋殼)、啟動(汽水)分離器縱、環(huán)向?qū)咏宇^、封頭(管
板)、下腳圈拼接接頭、集箱縱向?qū)咏宇^100%RT或100%UT/B.壁
厚t<20mm時應(yīng)采用RT/C.壁厚12201nm可可采用UT/D.UT宜采用數(shù)
字式可記錄儀器,也可采用模擬式超聲儀/答案D
58.以下是《壓力管道安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程一工業(yè)管道》關(guān)于管道受壓
元件焊接接頭檢測方法和檢測數(shù)量要求的敘述,錯誤的是。
A.名義厚度小于或者等于301nm的管道,對接接頭采用射線檢測,不
能用超聲檢測代替/B.名義厚度大于30mm的管道,對接接頭可以采用
超聲檢測代替射線檢測/C.公稱直徑大于或者等于500nun的管道,對
每個環(huán)向?qū)咏宇^進(jìn)行局部檢測,公稱直徑小于500mm的管道,可以
根據(jù)環(huán)向焊接接頭的數(shù)量按照規(guī)定的檢測比例進(jìn)行抽樣檢測/D.抽樣
檢測中,固定焊焊接接頭的檢測數(shù)量不得小于其數(shù)量的40%/答案A
59.根據(jù)GB12337-1998《鋼制球形儲罐》規(guī)定,下面關(guān)于局部射線或
超聲檢測的球罐,需要全部檢測的部位的敘述中,錯誤的是。
A.焊縫交叉部位/B.嵌入式接管與球殼板連接的對接接頭/C.公稱直
徑小于250mm接管與長頸法蘭、接管與接管對接連接的焊接接頭/D.
凡被補(bǔ)強(qiáng)圈、支柱、墊板、內(nèi)件等所覆蓋的焊接接頭/答案C
60.JB/T4732-1995《鋼制壓力容器-分析設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)》規(guī)定,需進(jìn)行百
分之百射線或超聲檢測的受壓部件焊接接頭包括。
A.A類或B類焊接接頭/B.筒體或封頭名義厚度大于651nm的C類焊
接接頭/C.開孔直徑大于100mm,且筒體或封頭名義厚度大于65mm的
D類焊接接頭/D.以上都是/答案D
JB/T4730,3-2005標(biāo)準(zhǔn)(61?90)
61.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,采用多膠片法時,AB級、A級檢測
技術(shù)不允許雙片疊加觀察,這一規(guī)定的主要理由是。
A.雙片疊加觀察時,底片黑度達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)的有關(guān)要求/B.雙片疊加觀
察時,底片靈敏度達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)的有關(guān)要求/C.雙片疊加觀察時,由于
單片的黑度較低。底片對比度小,易造成缺陷漏檢/D.雙片疊加觀察
時,由于底片黑度較大,缺陷不容易觀察/答案C
62.按照J(rèn)B/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn),下面哪些規(guī)定不涉及檢測技術(shù)等
級?
A.采用源在內(nèi)中心透照方式,允許Y射線最小透照厚度的規(guī)定/B.對
100mmVDoW400mm的環(huán)向?qū)雍附咏宇^允許采用K值的規(guī)定/C.采用
源在內(nèi)中心透照方式,允許f值可以減小的規(guī)定/D.采用X射線透照
小徑管或其它截面厚度變化大的工件時,允許降低底片黑度值的規(guī)定
/答案C
63.下面是關(guān)于射線透照時選擇膠片的敘述,不符合
JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的是。
A.A級、AB級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用T3類或更高類別的膠片/B.B級射
線檢測技術(shù)應(yīng)采用T2類或更高類別的膠片/C.使用丫射線對裂紋敏
感性大的材料進(jìn)行檢測時,應(yīng)采用T2類或更高類別的膠片/D.對于
Rm2540MPa的高強(qiáng)度材料對接焊接接頭射線檢測時,應(yīng)采用T3類或
更高類別的膠片/答案D
64.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定采用Y射線透照時,總的曝光時間
應(yīng)不少于輸送源往返所需時間的10倍。這一規(guī)定的主要目的是
O
A.盡可能提高底片的黑度/B.盡可能提高底片對比度和減小照相不清
晰度/C.盡可能降低底片的顆粒度/D.以上都是/答案B
65.在下列敘述中,與JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定不相符合的是。;
A.底片黑度均勻部位能夠清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)金屬絲
影像時,則認(rèn)為該絲是可識別的/B.單壁透照時允許象質(zhì)計放置在膠
片側(cè),且無需進(jìn)行對比試驗(yàn)/C.當(dāng)象質(zhì)計放于膠片側(cè)時,應(yīng)在象質(zhì)計
上適當(dāng)位置放置鉛字“F”標(biāo)記/D.小徑管雙壁雙影透照,象質(zhì)計可放
在源側(cè),也可放在膠片側(cè)/答案B
66.下面是對JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)選用增感屏規(guī)定的理解,錯誤的
是。
A.500KV以下X射線照相,選擇增感屏的厚度僅與X射線的能量有關(guān)
B.Y射線照相,選擇增感屏的厚度與檢測技術(shù)等級有關(guān),與源的種類
無關(guān)/C.采用高能X射線(>12MeV)照相,選擇增感屏厚度與檢測技
術(shù)等級無關(guān)/D.100KV以下X射線照如使用增感屏,則增感屏厚度應(yīng)
WO.03mm/答案B
67.按照J(rèn)B/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,當(dāng)觀察底片黑度為2.2時,觀
片燈的亮度應(yīng)不低于。
A.220cd/m2/B.2200cd/m2/C.4800cd/m2/D.6600cd/m2/答案C
68.下面是對JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于射線能量的理解,不正確
的是。
A.應(yīng)按公稱厚度確定允許的最高管電壓/B.當(dāng)透照區(qū)截面厚度變化較
大時,標(biāo)準(zhǔn)允許采用超出圖1的規(guī)定值/C.在一般射線照相中所采用
的透照電壓應(yīng)低于標(biāo)準(zhǔn)中圖1的規(guī)定值/D.標(biāo)準(zhǔn)中圖1規(guī)定的主要不
足是允許的最高透照管電壓未與所使用的膠片類別相關(guān)聯(lián)/答案A
69.下面是對JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于標(biāo)記規(guī)定的敘述,錯誤的是。
A.透照部位標(biāo)記由識別標(biāo)記和定位標(biāo)記組成/B.標(biāo)記一般放置在距焊
縫邊緣至少5mm以外的部位/C.搭接標(biāo)記也是連續(xù)檢測時的透照分段
標(biāo)記/D.所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊,且不應(yīng)干擾缺陷評定區(qū)內(nèi)的影像
/答案D
70.下面是對JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量分級內(nèi)容的理解,不正確的
是。
A.質(zhì)量分級中給出的缺陷類型與缺陷性質(zhì)不一定完全相同/B.缺陷評
定區(qū)應(yīng)選在缺陷最嚴(yán)重的部位/C.在進(jìn)行質(zhì)量分級評定中,各類缺陷
都應(yīng)在缺陷評定區(qū)中評定/D.圓形缺陷按點(diǎn)數(shù)在缺陷評定區(qū)內(nèi)評定,
實(shí)際上是對缺陷允許的尺寸、數(shù)量、密集程度等進(jìn)行評定/答案C
71.按照J(rèn)B/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,在下列焊接接頭的射線照相中。
不能使用鐵(Fe)象質(zhì)計的是。
A.銀、銀合金/B.銅、銅合金/C.不銹鋼/D.鈦、鈦合金/答案D
72.下列關(guān)于對無損檢測人員要求的敘述中,不符JB/T4730.2-2005
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的是。
A.從事承壓設(shè)備無損檢測的人員,應(yīng)按《特種設(shè)備無損檢測人員考核
規(guī)則》的要求取得相應(yīng)的無損檢測資格/B.取得無損檢測方法各
資格級別的人員,只能從事與該方法和級別相應(yīng)的無損檢測工作,并
承擔(dān)相應(yīng)的責(zé)任/C.僅從事Y射線檢測的人員上崗前應(yīng)進(jìn)行輻射安全
知識的培訓(xùn)并取得放射工作人員證/D.射線檢測人員未經(jīng)校正或經(jīng)校
正的近(距)視力和遠(yuǎn)(距)視力應(yīng)不低于5.0,測試方法應(yīng)符合
GBH533的規(guī)定,從事評片的人員應(yīng)每年檢查一次視力/答案C
73.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,應(yīng)根據(jù)工件特點(diǎn)和技術(shù)條件選擇適
宜的透照方式。在可以實(shí)施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式,在單壁透
照不能實(shí)施時才允許采用雙壁透照方式。這一規(guī)定的主要目的是。
A.單壁透照最有利于缺陷的檢出/B.單壁透照在實(shí)際工作中最容易實(shí)
施/C.單壁透照所用的管電壓低,可延長X射線機(jī)的使用壽命/D.以上
都是/答案A
74.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)中與檢測技術(shù)級別無關(guān)的規(guī)定是。
A.一次透照長度的規(guī)定/B.用X射線透照小徑管和其它截面厚度變化
大的工件時,底片黑度值允許降低的規(guī)定/C.增感屏選用的規(guī)定/D.
小徑管使用對比試塊的規(guī)定/答案D
75.下面關(guān)于象質(zhì)計使用的敘述中,不符合JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)
定的是。
A.當(dāng)一張膠片上同時透照多條焊接接頭時,應(yīng)在透照區(qū)中間和最邊緣
的焊縫處各放置一個象質(zhì)計/B.單壁透照中象質(zhì)計放置在膠片側(cè)時,
應(yīng)進(jìn)行對比試驗(yàn)/C.當(dāng)象質(zhì)計放在膠片側(cè)時,應(yīng)在象質(zhì)計適當(dāng)位置放
置鉛字“F”標(biāo)記/D.小徑管雙壁雙影透照,象質(zhì)計可放于源側(cè),也可
放于膠片側(cè)/答案A
76.下面是對JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于曝光量規(guī)定的解釋,錯誤
的是。
A.曝光量與焦距有關(guān),與技術(shù)級別有關(guān)/B.曝光量與焦距有關(guān),與技
術(shù)級別無關(guān)/C.采用Y射線源透照時,總曝光時間與檢測技術(shù)級別無
關(guān)/D.當(dāng)焦距改變時,可按平方反比定律對曝光量的推薦值進(jìn)行換算/
答案B
77.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,對小徑管對接接頭透照時,當(dāng)g(焊
縫寬度)>D°/4時,應(yīng)采用垂直透照重疊成像。這一規(guī)定的目的是
O
A.當(dāng)g>D0/4時垂直透照可減少透照次數(shù)/B.當(dāng)g>D0/4時橢圓開口
寬度不好控制/C.當(dāng)g>D0/4時垂直透照有利于未部未熔合的檢出/D.
以上都是/答案C
78.在下列敘述中,與JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定相符合的
是。
A.對鋼、銅及銅合金材料,管電壓增量不應(yīng)超過30KV/B.有延遲裂紋
傾向的材料,至少應(yīng)在焊接完成36h后進(jìn)行射線檢測/C.制作對比試
塊的材料應(yīng)與被檢工件的材料的射線吸收系數(shù)相同或相近/
D.對使用中的曝光曲線,每年只需校驗(yàn)一次/答案C
79.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)在質(zhì)量分級中,對不同材質(zhì)的焊接接頭允
許的圓形缺陷評級的主要差異是。
A.對深孔缺陷的規(guī)定不同/B.對各級別圓形缺陷放寬點(diǎn)數(shù)的規(guī)定不同
/C.對圓形缺陷的定義不同/D.對鋁和鋁合金、鈦和鈦合金焊接接頭所
允許的圓形缺陷點(diǎn)數(shù)與鋼焊接接頭允許的點(diǎn)數(shù)不同/答案D
80.下面是對JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于小徑管環(huán)向?qū)咏宇^
100%透照次數(shù)規(guī)定的理解,錯誤的是。
A.按壁厚與直徑之比規(guī)定透照次數(shù),其目的是控制透照厚度比/B.按
壁厚與直徑之比規(guī)定透照次數(shù),其目的是增大透照厚度寬容度/C.理
論上相隔120°比相隔60°透照3次更有利于不同部位缺陷的檢出/D.
在特殊條件下允許透照一次,盡管采取有效措施擴(kuò)大缺陷的可檢出范
圍,但不能保證實(shí)現(xiàn)焊縫全長的100%檢測/答案B
81.按照J(rèn)B/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,下列各因素中與底片像質(zhì)計靈
敏度無關(guān)的是。
A.透照方式/B.像質(zhì)計擺放位置/C.射線源種類/D.透照厚度/答案C
82.按照J(rèn)B/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,當(dāng)被檢工件材料為低合金鋼時,
不可以使用材料制做的像質(zhì)計。
A.銅/B.低碳鋼/C.奧氏體不銹鋼/D.以上都可以/答案A
83.在下列敘述中,與JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定不相符合的是。
A.評片人員從陽光下進(jìn)入評片窒的暗適應(yīng)時間一般為5?10min/B.
如底片黑度均勻部位能夠清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)金屬絲
影像時,則認(rèn)為該絲是可識別的/C.若底片上出現(xiàn)黑度高于周圍背景
黑度的“B”字影像,則說明背散射防護(hù)不夠/D.對評定范圍內(nèi)黑度D
>4.0的底片,如有計量檢定報告證明評定范圍內(nèi)的亮度能夠滿足
4.10.3的規(guī)定,允許進(jìn)行評定/答案C
84.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,由于結(jié)構(gòu)原因不能進(jìn)行多次透照時,
可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次。鑒于透照一次不能實(shí)現(xiàn)焊
縫的100%檢測,此時應(yīng)采取有效措施擴(kuò)大可檢出范圍。這里的有效
措施是指。
A.適當(dāng)提高管電壓/B.雙膠片技術(shù)/C.窗口加濾波板/D.以上都是/答
案D
85.下列敘述中,與JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定相符合的是。
A.底片評定范圍內(nèi)的黑度是指不包括灰霧并的凈黑度/B.經(jīng)合同各方
同意,各級別圓形缺陷允許的點(diǎn)數(shù)可以放寬1-2點(diǎn)/C.采取其它透照
方式,在采取有效補(bǔ)償措施并保證像質(zhì)計靈敏度達(dá)到要求的前提下,
A級、AB級技術(shù)的Irl92源的最小透照厚度可降至10mm,Se75源的
最小透照厚度可降至5mm/D.采用雙膠片技術(shù),如以單片觀察,AB級
的單片黑度應(yīng)在2.0~4.0范圍內(nèi)/答案D
86.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,由于材質(zhì)或結(jié)構(gòu)等原因,進(jìn)行返修
可能會產(chǎn)生不利后果的對接接頭,各級別圓形缺陷點(diǎn)數(shù)可放寬1?2
點(diǎn)。下列哪種材料不存在上述情況?
A.奧氏體不銹鋼/B.16MnR/C.鈦合金及其復(fù)合材料/D.銀基合金及其
復(fù)合材料/答案B
87.按照J(rèn)B/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,下列關(guān)于評片時底片評定范圍
內(nèi)的亮度規(guī)定的敘述,正確的是。
A.當(dāng)?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度DW2.5時,透過底片評定范圍內(nèi)的亮度
應(yīng)不低于30cd/m2/B.當(dāng)?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度D>2.5時,透過底片
評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于lOcd/S/C.對評定范圍內(nèi)的黑度D>4.0
的底片,如有計量檢定報告證明所用觀片燈能滿足4.10.3的要求,
允許進(jìn)行評定/D.以上都對/答案D
88.按照J(rèn)B/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,4)133管子環(huán)形對接接頭射線
照應(yīng)采用的方法是。
A.單壁單影/B.雙壁單影/C.雙壁雙影/D.A或B/答案D
89.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,采用源在內(nèi)中心透照方式周向曝光
時,只要得到的底片質(zhì)量符合4.11.2和4.11.3的規(guī)定,f值可以減
小。但減小值不得超過規(guī)定值的。
A.50%/B.405/C.20%/D.10%/答案A
90.JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,小徑管環(huán)向?qū)咏宇^透照時,若使
用專用像質(zhì)計(等徑金屬絲),則應(yīng)至少能識別根金屬絲。
A.1/B.2/C.3/D.4/答案B
專業(yè)理論知識(91?290)
91.原子的主要組成部分是。
A.質(zhì)子、電子、光子/B.質(zhì)子、重子、電子/C.光子、電子、X射線/
D.質(zhì)子、中子、電子/答案D
92.原子核的質(zhì)子數(shù)等于。
A.中子數(shù)/B.原子序數(shù)/C.光子數(shù)/D.原子量/答案B
93.質(zhì)子和中子的區(qū)別是中子沒有。
A.電荷/B.質(zhì)量/C.自旋/D.半衰期/答案A
94.原子核外電子能量最高的是。
A.外殼層/B.中間殼層/C.內(nèi)殼層/D.以上均不是/答案A
95.同位素是指。
A.質(zhì)量數(shù)相同而中子數(shù)不同的元素/B.質(zhì)量數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元
素/C.中子數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素/D.質(zhì)子數(shù)相同而質(zhì)量數(shù)不同
的元素/答案D
96.電磁波的頻率(v)、速度(c)和波長(X)的關(guān)系是。A.v=
入?c/B.入=c/v/C.人=v.c/D.入=v/c/答案B
97.X射線、Y射線
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