利用數(shù)字電位計實現(xiàn)開關(guān)電源的輸出電壓調(diào)整-設(shè)計應(yīng)用

精品文檔-下載后可編輯利用數(shù)字電位計實現(xiàn)開關(guān)電源的輸出電壓調(diào)整-設(shè)計應(yīng)用很多系統(tǒng)應(yīng)用都必須在較窄的限幅內(nèi)調(diào)整開關(guān)電源（SMPS）輸出電壓，以便移除電源路徑上的誤差和壓降、驗證系統(tǒng)限幅的運作，或者實現(xiàn)微處理器的簡單動態(tài)電壓控制。此外，系統(tǒng)設(shè)計人員可能需要調(diào)整電源電壓，從而優(yōu)化它們的電平，或者通過強制產(chǎn)生非正常電平來測試系統(tǒng)在極端條件下的性能。該功能通常在在線測試（ICT）期間執(zhí)行，以滿足制造商想要保證產(chǎn)品在標(biāo)稱電源的±10%范圍內(nèi)正常工作的期望。這種輸出電壓的變化步驟稱為裕量，即有意識地在預(yù)期范圍內(nèi)改變電源電壓。其他輸出變化應(yīng)用，比如微處理器的動態(tài)電壓控制，必須能即時改變電壓，即在低功耗模式下降低電壓而在高性能模式下增加電壓。

圖1.開關(guān)電源電壓控制環(huán)路的反饋網(wǎng)絡(luò)采用兩個電阻

將典型開關(guān)電源輸出電壓（圖1）與內(nèi)部基準(zhǔn)電壓進行比較，可看到差別集中在脈寬調(diào)制器（PWM）。PWM將斜坡與放大器輸出進行比較，生成PWM信號來控制開關(guān)，從而向負載供電。

圖2.使用數(shù)字電位計調(diào)整DC-DC轉(zhuǎn)換器輸出電壓，組成可變反饋電阻

控制誤差放大器引腳電壓，便可調(diào)整輸出電壓。這可以通過使用DAC,或者使用數(shù)字電位計，以外部方式實現(xiàn)，如圖2所示。某些電壓調(diào)節(jié)器允許使用串行接口（比如PMBus、I2C或SPI）在內(nèi)部控制反饋電壓。表1比較了三種方法的調(diào)整能力和功耗。

數(shù)字電位計（或稱digiPOT）工作方式與傳統(tǒng)電位計相似，但用電子開關(guān)和數(shù)字信號代替機械游標(biāo)進行操作，如圖3所示。digiPOT將一串小數(shù)值電阻與位于每兩個電阻交叉點上的電子開關(guān)串聯(lián)。digiPOT分辨率與電阻網(wǎng)絡(luò)中的位控制節(jié)點量有關(guān)?？刂乒?jié)點的數(shù)量越高，分辨率越高。

圖3.顯示電子開關(guān)的64位數(shù)字電位計。同一時間只能閉合一個電子開關(guān)，該開關(guān)決定電阻比。

某些數(shù)字電位計采用非易失性存儲器，因此可在測試期間編程輸出電源。相比其他兩種方式，這項易于使用的特性具有極大的優(yōu)勢。

線性化傳遞函數(shù)

反饋電阻R1和R2的比值決定了開關(guān)電源輸出電壓。

其中：

VFB=內(nèi)部基準(zhǔn)電壓

VOUT=輸出電壓

R1=連接輸出的反饋電阻

R2=接地反饋電阻

以數(shù)字電位計代替R1和R2時，需考慮一些問題。數(shù)字電位計內(nèi)部有兩個電阻串（RAW和RWB），如圖4所示。

圖4.數(shù)字電位計電阻命名法

兩串電阻互補。

其中：

RAB=端到端電阻或標(biāo)稱值

以RAW和RWB代替R1和R2可實現(xiàn)對數(shù)傳遞函數(shù)。數(shù)字碼和輸出電壓之間的非線性關(guān)系降低了低端分辨率。圖5顯示了這個取自數(shù)字電位計的對數(shù)傳遞函數(shù)。

圖5.以數(shù)字電位計代替反饋電阻后得到的對數(shù)傳遞函數(shù)

圖6.在可變電阻模式下使用數(shù)字電位計

有多種方法可以克服此分辨率問題。比較常用的方法是在可變電阻模式下使用數(shù)字電位計（如圖6所示）；或者將電阻與電位計串聯(lián)（如圖7所示）。

圖7.在電位計模式下線性化

化誤差

由于電阻公差，將數(shù)字電位計與外部電阻一同使用可能導(dǎo)致失配問題。精密器件可能具有1%的電阻公差，但大部分數(shù)字電位計只能達到20%的電阻公差。

這種情況下，可通過串并聯(lián)電阻組合減少失配（如圖8和圖9所示）；其缺點是動態(tài)范圍也會縮小。

圖8.可變電阻和串聯(lián)電阻

圖9.電位計模式

在可變電阻模式下，串聯(lián)電阻必須足夠高，才能忽略數(shù)字電位計的公差，即R2≥10×RAB。在電位計模式下，并聯(lián)電阻必須足夠小，即R3≤RAB/10。

使用串并聯(lián)組合對電位計進行線性化可能十分復(fù)雜，如圖10中的等效電路所示。

圖10.終Y-Δ變換

其中：

反饋輸入引腳通常具有較高的阻抗，因此R6的影響可以忽略。

開關(guān)調(diào)節(jié)器工作在較高頻率下（通常高于1MHz），因而允許使用小數(shù)值外部元件。在差情況下，它必須為動態(tài)負載供電，因此反饋電阻網(wǎng)絡(luò)必須提供足夠的帶寬，才能跟蹤輸出電壓。由于存在寄生內(nèi)部開關(guān)電容，數(shù)字電位計可用作低通濾波器，如圖11所示。如果反饋網(wǎng)絡(luò)無法提供足夠的帶寬，則輸出電壓可能振蕩。

圖11.如果反饋電阻網(wǎng)絡(luò)無法提供足夠的帶寬來跟蹤輸出電壓，則雜散電容導(dǎo)致的寄生效應(yīng)可能帶來麻煩。

克服這一限制的一種簡單方法，是將一個電容并聯(lián)放置在輸出與反饋網(wǎng)絡(luò)之間（如圖12所示），以便降低高頻阻抗，并地縮短振蕩時間。

圖12.并聯(lián)電容降低高頻阻抗，地減少振蕩

更簡單的解決方案

ADI公司的AD5141digiPOT克服了其他數(shù)字電位計的某些問題。它提供：

●非易失性256位調(diào)整

●10kΩ和100kΩ電阻選項

●8%電阻公差

●±6mA游標(biāo)電流

●35ppm/°C溫度系數(shù)

●3MHz帶寬

●75μS啟動時間

●線性增益設(shè)置模式

●單電源及雙電源供電

●1.8V至5.5V獨立邏輯電源

●-40°C至+125°C工作溫度

●3mm×3mmLFCSP封裝

●4kVESD保護

圖13.AD5141功能框圖

AD5141（圖13）可作為真可變電阻使用，用于處理端電壓范圍為VSSVTERMVDD的模擬信號。電阻游標(biāo)位置取決于RDAC寄存器內(nèi)容。RDAC寄存器用作暫存寄存器，允許無限制地更改電阻設(shè)置。輔助寄存器（輸入寄存器）可用于預(yù)載入RDAC寄存器數(shù)據(jù)。

低電阻公差和低標(biāo)稱溫度系數(shù)簡化了開環(huán)應(yīng)用和需要公差匹配的應(yīng)用。

AD5141的主要優(yōu)勢是采用了的功能，稱為“線性增益設(shè)置模式”.該模式允許對數(shù)字電位計端子RAW和RWB兩串電阻之間的電阻值獨立編程，使得：

采用這種模式，則無需通過外部電阻實現(xiàn)線性開關(guān)電源電壓調(diào)整；另外，電阻公差也可以忽略了，同時傳遞函數(shù)總誤差僅與內(nèi)部電阻串失配有關(guān)，而后者通常不足1%，并具有低溫漂特性。

每一個電阻串都有一個對應(yīng)的EEPROM位置，因此上電時可載入每一個電阻串的獨立值。此外，器件還為快速反饋環(huán)路提供了高達3MHz的帶寬。

寬帶寬和低總諧波失真（THD）確保對于交流信號具有性能，適合濾波器設(shè)計。在電阻陣列末端的游標(biāo)電阻低至40Ω，允許進行引腳到引腳連接。

游標(biāo)電阻值可通過一個SPI/I2C兼容數(shù)字接口設(shè)置，也可利用該接口回讀游標(biāo)寄存器和EEPROM內(nèi)容。

可利用I2C或SPI接口（使用DIS引腳便可通過硬件來加以選