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文檔簡介
電力電子半導體器件GTR目前一頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點§4.1GTR結構雙極型大功率、高反壓晶體管——GTR(巨型晶體管)GiantTransistor三層半導體材料,兩個PN結(NPN型、PNP型)。一、工藝特點三重擴散;叉指型基極和發(fā)射極;特點:發(fā)射區(qū)高濃度摻雜基區(qū)很?。◣譽m—幾十um)N-摻雜濃度低,提高耐壓能力N+集電區(qū)收集電子使用時要求:發(fā)射結正偏,集電結反偏。目前二頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點二、GTR與普通晶體管區(qū)別1.普通晶體管:信號晶體管,用于放大信號;要求增益適當,fT高,噪聲系數(shù)低,線性度好,溫度漂移和時間漂移小。工作于放大區(qū),以載流子運動為出發(fā)點,分析載流子擴散、漂移、復合現(xiàn)象。電流控制特性為線性關系。2.GTR:用于功率開關;要求容量足夠大,高電壓,大電流,適當增益,較高工作速度,較低功率損耗。3.大電流工作下,普通晶體管出現(xiàn)的新特點:
①基區(qū)大注入效應:引起電流增益下降。②基區(qū)擴展效應:使基區(qū)注入效率降低,增益β下降,fT減小。③發(fā)射極電流集邊效應:引起電流局部集中,產(chǎn)生局部過熱。因此,GTR在結構上應采取適當措施,減小上述效應。目前三頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點三、單管GTR
采用三重擴散,臺面型結構;可靠性高,對二次擊穿特性有改善,易于提高耐壓,易于耗散體內(nèi)熱量。增加N-漂移區(qū),由它的電阻率和厚度決定器件阻斷能力,但阻斷能力提高,使飽和導通電阻增大,電流增益降低。一般:β約10—20
工作狀態(tài):開關狀態(tài)(導通、截止;開通、關斷)飽和壓降低漏電流小時間短目前四頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點四、達林頓GTR為提高電流增益,由兩個或兩個以上晶體管復合組成。NPN型PNP型驅動管輸出管目前五頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點特點:①電流增益β增大:β≈β1β2
,達幾十倍~幾千倍;②飽和壓降VCES增大:VCES
≈VCES1+VBES2
V2管無法飽和導通,VCE2=VCES1,反偏狀態(tài);導通損耗增大。③開關速度慢:開通時,V1驅動V2;關斷時,V1先關斷,V2才能關斷,且V2關斷無瀉流通路。改進:R1、R2穩(wěn)定電阻,提高溫度穩(wěn)定性和電流通路。
VD1引入,加速V2、V1的同時關斷,引出B2極可另外控制。目前六頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點五、GTR模塊
將GTR管芯、穩(wěn)定電阻R1R2、加速二極管VD1、續(xù)流二極管VD2組成一個單元。將幾個單元組合在一個外殼內(nèi)——模塊。利用集成工藝將上述單元集成于同一硅片上,器件集成度高,小型輕量化,性能/價格比高。單臂橋式電路模塊B1B2C1E2E1C2單相橋式電路模塊;三相橋式電路模塊;目前七頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點§4.2GTR特性與參數(shù)一、靜態(tài)特性與參數(shù)1.共射輸出特性:發(fā)射結正偏集電結反偏VCES很小臨界飽和斷態(tài),漏電流很小放大區(qū)嚴禁工作目前八頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點2.飽和壓降:如圖:GTR深飽和時,等效電路;VBES:基極正向壓降通態(tài)下,B-E極電壓;VCES:飽和壓降通態(tài)下,C-E極電壓;一般,由于發(fā)射區(qū)高濃度摻雜,rES可忽略;VCES的大小,關系器件導通功率損耗。達林頓管,VCES、VBES較大。目前九頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點TC35-400型GTR:電流50A,β=5;VCES隨IC電流增大而增大;IC不變時,隨溫度增加而增加。VBES隨IC電流增大而增大;小電流下,隨溫度增大而減小,PN結負溫度系數(shù)。大電流下,隨溫度增大而增大。飽和壓降特性曲線基極正向壓降特性曲線目前十頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點TC=250CVCE=400VTC=250CVCE=2VTC=1250C,VCE=2VTC=250C,VCE=-2V3.共射電流增益β:反映GTR的電流放大能力,IC與IB比值。①GTR正向偏置時,βF隨IC減小而減小,基區(qū)復合電流占的比例增大。②隨IC增大,β增大,IC增大到一定程度β=βmax,IC再增大,由于基區(qū)大注入效應、基區(qū)擴展效應,β開始下降。③管子溫度相同時,VCE越大,β越大。④β隨溫度增加而增加,大電流下,β隨溫度增加而減小。⑤GTR反接時,β很小。目前十一頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點4.最大額定值——極限參數(shù)由GTR材料、結構、設計水平、制造工藝決定。①最高電壓額定值:
BVCEO,BVCBO,BVCES,BVCER,BVCEXO:另一極開路;S:短路;R:外接電阻;X:反向偏置;目前十二頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點Va::IB=0時,IC電流急劇增加時電壓;Vb::IE=0時,IC電流急劇增加時電壓;
一般:另:BVEBO集電極開路時,發(fā)射結最高反向偏置電壓。幾伏,典型值8V。目前十三頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點②最大電流額定值:大電流下,三種物理效應會使GTR電氣性能變差,甚至損壞器件。集電極電流最大額定值ICM:
ICM定義:a.以β值下降到額定值1/2到1/3時,對應IC值。
b.以結溫和耗散功率為尺度確定ICM。最大脈沖電流額定值:直流ICM的1.5~3倍定額;引起內(nèi)部引線熔斷的集電極電流;引起集電結損壞的集電極電流。基極電流最大額定值IBM:內(nèi)部引線允許流過的最大基極電流,約為(1/2~1/6)ICM目前十四頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點③最高結溫TJM
塑封,硅管:1250~1500C;金屬封裝,硅管:1500~1750C;高可靠平面管:1750~2000C;④最大功耗PCMPCM=VCE?IC
受結溫限制,使用時注意散熱條件。例:3DF20型GTR各最大額定值參數(shù):目前十五頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點二、動態(tài)特性與參數(shù)動態(tài)特性是GTR開關過程的瞬態(tài)性能,稱開關特性;主要受結電容(勢壘電容、擴散電容)充、放電和兩種載流子運動影響。如圖:TC40U—400型GTR動態(tài)特性實驗電路和電流波形電路參數(shù):VCC=200V;RC=10Ω;
RB1=4.7Ω;RB2=1.2Ω;目前十六頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點1.開通時間ton:ton=td+tr(ns級,很?。?/p>
td:延遲時間,基極電流向發(fā)射結電容充電。大小取決于結電容大小、驅動電流大小和上升率,及反偏時電壓大小。
tr:上升時間,取決于穩(wěn)定電流和驅動電流大小。2.關斷時間toff:toff=ts+tfts:存儲時間,過剩載流子從體內(nèi)抽走時間,由反向驅動電流大小決定。(3~8us)tf:下降時間,取決于結電容、正向集電極電流大小。(1us)說明:為加速開通,采用過驅動方法,但基區(qū)過剩大量載流子,關斷時,載流子耗散嚴重影響關斷時間;減小關斷時間,可選用電流增益小的器件,防止深飽和,增加反向驅動電流。目前十七頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點3.集電極電壓上升率dv/dt對GTR的影響當GTR用于橋式變換電路時,如圖:B1B2C1E2E1C2dv/dt產(chǎn)生的過損耗現(xiàn)象嚴重威脅器件和電路安全;當基極開路時,dv/dt通過集電結寄生電容產(chǎn)生容性位移電流,注入發(fā)射結形成基極電流,放大β倍后,形成集電極電流,使GTR進入放大區(qū),因瞬時電流過大引起二次擊穿。在GTR換流關斷時,dv/dt會引起正在關斷的GTR誤導通,造成橋臂直通。抑制dv/dt,可在集射極間并聯(lián)RCD緩沖網(wǎng)絡進行吸收。目前十八頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點三、二次擊穿與安全工作區(qū)(一)二次擊穿現(xiàn)象一次擊穿電壓BVCEO
;發(fā)生一次擊穿后,電流急劇增大,若外接有限流電阻,不會損壞GTR。否則,集電極電流繼續(xù)增大,在某電壓、電流點產(chǎn)生向低阻抗區(qū)高速移動的負阻現(xiàn)象,稱為——二次擊穿。用S/B表示。二次擊穿時間很短,納秒到微秒數(shù)量級,短時間內(nèi)的大電流會使器件內(nèi)出現(xiàn)明顯的電流集中和過熱點(熱斑),輕者使GTR耐壓降低,性能變差;嚴重時,集電結、發(fā)射結熔通,永久損壞。二次擊穿按偏置狀態(tài)分為兩種:正偏二次擊穿和反偏二次擊穿。目前十九頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點1.正偏二次擊穿:B-E結正偏,GTR工作于放大區(qū)。PP+P+N+BBEN+N-C如圖,GTR正偏時,由于基極與發(fā)射極在同一平面,基區(qū)電阻存在,使發(fā)射結各點的偏置電壓不同,邊緣大而中心小。同時存在的集—射電場將電流集中到發(fā)射極邊緣下很窄的區(qū)域內(nèi),造成電流局部集中,電流密度大,溫度升高,出現(xiàn)負阻現(xiàn)象,嚴重時造成熱點、熱斑,使PN結失效。熱點嚴重程度與基區(qū)寬度成反比;與集電極外加電壓成正比。目前二十頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點2.反偏二次擊穿:GTR導通→截止變化時,發(fā)射結反偏。存儲電荷存在,使C—E間仍流過電流,由于基區(qū)電阻存在,使發(fā)射極與基極相接的周邊反偏電壓大,中心反偏很弱,甚至仍為正偏。造成發(fā)射極下,基區(qū)的橫向電場由中心指向邊緣,形成集電極電流被集中于發(fā)射結中心很小局部的不均勻現(xiàn)象。在該局部電流密度很高,形成二次擊穿熱點。一般,比正向偏置時低很多的能量水平下,即可發(fā)生二次擊穿。影響二次擊穿的因素:集電極電壓、電流;負載性質;導通脈沖寬度;基極電路的配置、材料和工藝等。二次擊穿由于器件芯片局部過熱引起,熱點形成需要能量積累,需要一定的電壓、電流數(shù)值和一定的時間。目前二十一頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點二次擊穿特性曲線:IS/B:二次擊穿觸發(fā)電流PS/B:二次擊穿觸發(fā)功率
PS/B=IS/B
*VCE集射極保持電壓外加電壓越高,電流更易集中而產(chǎn)生熱點,IS/B下降。目前二十二頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點(二)安全工作區(qū):SOAGTR運行中受電壓、電流、功率損耗和二次擊穿定額限制的安全工作范圍。正向偏置安全工作區(qū)FBSOA反向偏置安全工作區(qū)RBSOA反向關斷電流脈沖寬度直流安全工作區(qū)目前二十三頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點四、溫度特性與散熱半導體器件特性參數(shù)隨溫度升高而變差,如:耐壓降低,VCES升高、IC增大、輸出功率下降,PCM和PS/B下降,安全區(qū)面積縮小。為保證GTR不超過規(guī)定的結溫,應根據(jù)容量等級配以相應的散熱器和采用相應的冷卻方式。否則,會因結溫過高導致熱損壞。減小GTR的發(fā)熱,應從根本上減小功耗。在開關狀態(tài)下工作的GTR,功耗由靜態(tài)導通功耗、動態(tài)開關損耗和基極驅動功耗三部分。減小導通壓降,采用緩沖電路、改變主電路形式(諧振型)均可減小功耗,減少發(fā)熱。
目前二十四頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點GTR靜態(tài)參數(shù):目前二十五頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點GTR動態(tài)參數(shù):目前二十六頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點§4.3GTR驅動和保護一、驅動電路設計原則1.GTR的特點全控型器件,功率大,熱容量小,過載能力低。與SCR相比,具有自關斷能力,使DC—AC,DC—DC,AC—AC變換電路的變換方式靈活,控制方便,主電路結構簡單。但GTR驅動方式直接影響管子工作狀態(tài)和管子特性。如:過驅動(驅動電流大)可減小開通損耗,降低導通壓降,但對關斷不利,增加關斷損耗,對管子di/dt影響很大。
GTR過載/短路時,us級時間內(nèi),結溫會超過最大允許值,導致器件損壞,不能用快速熔斷器、過流繼電器(ms級)進行主電路切斷保護。在系統(tǒng)出現(xiàn)故障時,需快速檢測,對控制信號加以關斷(緩關斷),因此驅動與保護密切聯(lián)系。目前二十七頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點2.驅動電路設計原則①最優(yōu)化驅動特性:應提高開關速度,減小開關損耗。開通時:基極電流上升沿快速且短時過沖,加速開通。導通后:VCES較低,導通損耗小。為減小關斷時間,應工作在準飽和狀態(tài)。關斷時:提供反向驅動電流,加速載流子耗散,縮短關斷時間,減小關斷損耗。目前二十八頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點②驅動方式:由主電路結構決定直接驅動:簡單驅動、推挽驅動、抗飽和驅動隔離驅動:光電隔離、電磁隔離③快速保護功能:
GTR故障時,自動關斷基極驅動信號,保護GTR。如:抗飽和、退抗飽和、過流、過壓、過熱、脈寬限制、智能化自保護能力。目前二十九頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點二、基極驅動電路基本形式(一)恒流驅動電路:基極電流恒定,不隨IC電流變化而變化。IB>ICmax/β
問題:空載、輕載時,飽和深度加劇,存儲時間大,關斷時間長。改進:1.抗飽和電路(貝克嵌位電路)VD2存在,使GTR導通時b-c結處于零偏或輕微正偏,基極多余電流由VD2從集電極流出,管子處于準飽和狀態(tài)。VCES=VBE+VD1-VD2=VBEVD1、VD2抗飽和二極管;根據(jù)不同情況調(diào)整VD1數(shù)量,控制VCES大小。VD2應選快速二極管,耐壓與GTR一致,電流>IB′VD1、VD3為普通二極管,VD1反向恢復有助于GTR關斷。缺點:導通損耗增大。目前三十頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點2.截止反偏驅動電路目的:關斷時加反偏驅動,迅速抽出基區(qū)過剩載流子,減小存儲時間,加速GTR關斷。
①單極性脈沖變壓器驅動電路VAVB缺點:變壓器單邊工作,有直流磁化現(xiàn)象,鐵心體積大。反偏電壓大小隨導通時間變化。ttVA00VBW3回饋能量目前三十一頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點②電容儲能式驅動電路工作原理:Vi高電平,*端為正,W2經(jīng)GTR的B-E結、C、VD2使GTR導通,V截止,電容C充電。Vi低電平,*端為負,VD2截止,W2經(jīng)還在導通的B-E結、R2、V發(fā)射結、C使V迅速飽和導通,電容C上電壓反加于GTR的B-E結,GTR迅速截止。下一次導通前,C上電壓經(jīng)VD1、R1、R2、V發(fā)射結放電完畢。目前三十二頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點③固定反偏互補驅動電路目前三十三頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點(二)比例驅動電路使GTR基極電流正比于集電極電流變化,在不同負載時,管子飽和深度基本相同,而且輕載時,驅動功率大大減小。1.反激式比例驅動電路特點:靠正反饋加速GTR開通,當工作頻率較高時,分布參數(shù)影響使開通速度變慢。目前三十四頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點2.具有強制開通、強制關斷的比例驅動電路特點:電路復雜。目前三十五頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點三、過電流檢測與保護
GTR運行時,過流檢測能保證管子正常工作。要求檢測電路靈敏度高,響應快。(一)狀態(tài)識別法
GTR過載或短路時,集電極電流急劇變化,引起基極電壓VBE,集電極電壓VCE相應變化。目前三十六頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點
管子開通時,電流上升越快,VBE變化越大。如GTR短路時開通,監(jiān)測VBE變化,確認故障快。但導通后,較輕過載時,監(jiān)測VBE靈敏度低。但VCE電壓監(jiān)測適合過載電流保護,但不適合短路電流保護,二者結合,效果較好。VBE識別電路VCE識別電路存在問題:保護電路存在盲區(qū),等GTR開通后,保護電路才能使用。目前三十七頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點典型VCE識別電路:GTRVCE目前三十八頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點(二)橋臂互鎖保護法檢測電路檢測電路當逆變器運行時,由于GTR關斷時間過長、驅動信號失誤重疊、或某一GTR損壞,導致橋臂直通,損壞器件。利用互鎖可保證管子一個關斷后,另一個才能開通。目前三十九頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點1.電流法檢測電路:電流互感器,LEM霍爾元件其中LEM是磁場平衡式霍爾電流傳感器,反映速度1us,一次、二次絕緣電壓2KV,無慣性、線性度好、使用簡單、方便。利用電流法判斷時,存在問題,如特定負載下,GTR導通,但無集電極電流,判斷發(fā)生錯誤。2.電壓法檢測電路:由VBE電壓判斷管子狀態(tài),更加可靠。目前四十頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點(三)實用驅動電路要求:信號隔離,過電流保護,過電壓保護,抗飽和導通,信號互鎖等。常用:由小規(guī)模集成電路構成的專用驅動電路混合微膜組件驅動電路(三菱M57917L)集成化驅動電路(法國UAA4002)
目前四十一頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點§4.4緩沖電路一、概述緩沖電路也稱吸收電路,在電力半導體器件應用中有著極其重要的作用。開關元件開通時,流過大電流;關斷時,承受高反壓;開關轉換瞬間,電路中各種儲能元件能量釋放,導致器件沖擊很大,造成器件超出安全工作區(qū)而損壞。吸收電路用來減小器件在電路中承受的各種應力(電、熱),如:浪涌電壓、dv/dt、di/dt等。應力越低,器件可靠性越高。吸收電路還能減少開關損耗,避免二次擊穿,抑制電磁干擾,提高可靠性。目前四十二頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點1.GTR開關波形及緩沖電路作用:無緩沖電路
圖b為復合緩沖電路,LS開通保護,限制di/dt;CS、VDS緩沖電路,限制dv/dt;RD放電回路,消耗能量。2.種類①耗能式緩沖電路:用電阻消耗緩沖電路吸收的開關損耗,簡單,效率低。②饋能式緩沖電路:將開關損耗以一定方式送至負載或回饋給電源,復雜,效率高。目前四十三頁\總數(shù)五十四頁\編于十六點二、耗能式緩沖電路(一)關斷緩沖電路電容為0電容較小電容較大緩沖電容越大,關斷損耗越小,關斷時間長同時,CS上儲存的能量,必須在GTR開通時,經(jīng)RS放掉,消耗在電阻上;CS越大,RS
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