質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)課件

質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)2023/7/17質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)平均值說明一組變量值的集中趨勢(shì)、中心位置或平均水平算術(shù)平均值（均值）反映分布的集中趨勢(shì)，適用于正態(tài)分布資料質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)方差總體方差：樣本方差：質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)差是實(shí)驗(yàn)室建立自己質(zhì)量控制誤差限的基礎(chǔ)常用均值描述正態(tài)分布特征常用的方法是以X+1.96S計(jì)算出95%觀察值所在范圍界限，作為臨床的參考范圍質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)變異系數(shù)（CV）：是標(biāo)準(zhǔn)差與平均值之比用百分?jǐn)?shù)表示極差：最大值與最小值的差值極差越大，變異度可能越大，各變量值的離均值越遠(yuǎn)，數(shù)據(jù)越分散，均值的代表性越差質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)正態(tài)分布以均值為中心、左右完全對(duì)稱的鐘型曲線正態(tài)分布有兩個(gè)參數(shù)，既均值u和標(biāo)準(zhǔn)差σ質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)分布規(guī)律u+1σ的面積占總面積的68.2%u+2σ的面積占總面積的95.5%u+3σ的面積占總面積的99.7%質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)正態(tài)分布的應(yīng)用估計(jì)參考值范圍質(zhì)量控制的基礎(chǔ)質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)直線回歸分析從一組實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)出發(fā),找出描述兩個(gè)變量間互相關(guān)系的直線回歸方程,以確定一條最接近于各實(shí)驗(yàn)點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)曲線從一個(gè)變量所取的值去估計(jì)另一變量評(píng)價(jià)和量度變量間關(guān)系的密切程度評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)曲線的精密度與置信區(qū)間質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)Y=a+bX相關(guān)系數(shù)r：相關(guān)系數(shù)為正，表示Y隨X的增加而增加，為正相關(guān)相關(guān)系數(shù)為負(fù)，表示Y隨X的增加而減小，為負(fù)相關(guān)r=1為完全正相關(guān)，r=-1為完全負(fù)相關(guān)，r=0為無(wú)相關(guān)質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)誤差和檢測(cè)系統(tǒng)的性能要求質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)隨機(jī)誤差定義:測(cè)量結(jié)果與在重復(fù)性條件下,對(duì)同一被測(cè)量進(jìn)行無(wú)限多次測(cè)量所得結(jié)果的平均值之差。它在實(shí)驗(yàn)中總是存在，無(wú)法完全避免，但它服從幾率分布質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)

隨機(jī)誤差正態(tài)分布曲線

質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)隨機(jī)誤差的統(tǒng)計(jì)學(xué)規(guī)律對(duì)稱性：絕對(duì)值相等的正誤差和負(fù)誤差出現(xiàn)的機(jī)會(huì)幾乎相等，正態(tài)分布曲線以y軸對(duì)稱。單峰性：絕對(duì)值小的誤差出現(xiàn)的機(jī)會(huì)多，而絕對(duì)值大的誤差出現(xiàn)的機(jī)會(huì)比較少。有界性：在一定測(cè)量條件下的有限次測(cè)量值中，誤差的絕對(duì)值不超過某一定界限。為了減少隨機(jī)誤差的影響,在實(shí)際測(cè)量條件中常常對(duì)一個(gè)量進(jìn)行多次重復(fù)測(cè)量以提高測(cè)量的精密度和再現(xiàn)性.質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)系統(tǒng)誤差

定義:在指定測(cè)量條件下，多次測(cè)量同一量時(shí)，如果測(cè)量誤差的絕對(duì)值和符號(hào)總是保持恒定，使測(cè)量結(jié)果永遠(yuǎn)朝一個(gè)方向偏，那么這種測(cè)量誤差稱為系統(tǒng)誤差質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)系統(tǒng)誤差的產(chǎn)生

與下列因素有關(guān):儀器裝置本身的精確度有限儀器使用時(shí)的環(huán)境因素測(cè)量方法的限制所用化學(xué)試劑純度不符合要求測(cè)量者個(gè)人的習(xí)慣性誤差質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)過失誤差定義：由于實(shí)驗(yàn)者的粗心,如標(biāo)度看錯(cuò),記錄寫錯(cuò),計(jì)算錯(cuò)誤所引起的誤差,稱為過失誤差.質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)精密度定義：在一定條件下進(jìn)行多次測(cè)定時(shí)，所得測(cè)定結(jié)果之間的符合程度以不精密度表達(dá)，有標(biāo)準(zhǔn)差表示精密度評(píng)價(jià)：平行試驗(yàn)和重復(fù)性試驗(yàn)質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)準(zhǔn)確度定義：測(cè)量結(jié)果中系統(tǒng)誤差與隨機(jī)誤差的綜合，表示測(cè)量結(jié)果與真值的一致程度以不準(zhǔn)確度來(lái)衡量準(zhǔn)確度評(píng)價(jià)：回收實(shí)驗(yàn)，干擾試驗(yàn)質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)總誤差（TE）定義：測(cè)定結(jié)果與真值的差異是隨機(jī)誤差和系統(tǒng)誤差的總和允許總誤差質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)分析靈敏度(檢測(cè)限)定義:可檢測(cè)的最低分析物濃度為檢測(cè)系統(tǒng)的分析靈敏度或稱檢測(cè)限.質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)基質(zhì)效應(yīng)（1）基質(zhì)：分析樣品中，除了分析物以外的所有其他物質(zhì)和組分稱為該分析物的基質(zhì)（2）基質(zhì)效應(yīng)：檢測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)標(biāo)本中的分析物時(shí)，處于分析物周圍的所有非分析物對(duì)分析物參與反應(yīng)的影響質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)正態(tài)曲線下面積有一定的規(guī)律，u+1σ的面積占總面積的A、50.5%B、55.2%C、62.8D、68.2正態(tài)曲線下面積有一定的規(guī)律，u+2σ的面積占總面積的A、85.5%B、88.5%C、90.5%D、95.5%正態(tài)曲線下面積有一定的規(guī)律,u+3σ的面積占總面積的A、85.7%B、98.7%C、99.7%D、99.9%質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)正態(tài)分布的兩個(gè)參數(shù)是:A、均數(shù)u和標(biāo)準(zhǔn)差σB、均數(shù)X和標(biāo)準(zhǔn)差sC、標(biāo)準(zhǔn)差和方差D、標(biāo)準(zhǔn)差和變異系數(shù)在評(píng)價(jià)方法精密度的過程中常用的統(tǒng)計(jì)學(xué)指標(biāo)是A、平均數(shù)B、標(biāo)準(zhǔn)差和變異系數(shù)C、相關(guān)系數(shù)D、標(biāo)準(zhǔn)誤質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)關(guān)于正態(tài)分布，錯(cuò)誤的是：A、是完全對(duì)稱的鐘型曲線B、曲線分布越寬，其標(biāo)準(zhǔn)差越小C、可以用來(lái)估計(jì)參考值范圍D、可以應(yīng)用于質(zhì)量控制E、是很多統(tǒng)計(jì)方法的理論基礎(chǔ)質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)關(guān)于直線回歸分析的敘述，不正確的是：A、是為解決兩組變量之間的關(guān)系B、是評(píng)價(jià)變量間關(guān)系的密切程度C、應(yīng)用直線回歸方程，能從一個(gè)變量的取值來(lái)估計(jì)另一變量值D、相關(guān)系數(shù)r=1表示完全正相關(guān)E、相關(guān)系數(shù)r=0表示完全負(fù)相關(guān)質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)同一批號(hào)濃度的質(zhì)控品，血糖在A實(shí)驗(yàn)室20天測(cè)定結(jié)果的極差為0.5mmol/L,B實(shí)驗(yàn)室20天測(cè)定結(jié)果的極差為0.4mmol/L.下列哪項(xiàng)是正確的：A、對(duì)于血糖的變異度，A實(shí)驗(yàn)室小于B實(shí)驗(yàn)室B、對(duì)于血糖的變異度，A實(shí)驗(yàn)室大于B實(shí)驗(yàn)室C、對(duì)于血糖的變異度，A實(shí)驗(yàn)室等于B實(shí)驗(yàn)室D、對(duì)于血糖的變異度，A實(shí)驗(yàn)室和B實(shí)驗(yàn)室難以比較質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)同一批號(hào)濃度的質(zhì)控品，血糖在A實(shí)驗(yàn)室20天測(cè)定結(jié)果的變異系數(shù)為3.2%,B實(shí)驗(yàn)室20天測(cè)定結(jié)果的變異為2.1%.下列哪項(xiàng)是正確的A、對(duì)于血糖的精密度，A實(shí)驗(yàn)室大于B實(shí)驗(yàn)室B、對(duì)于血糖的精密度，A實(shí)驗(yàn)室等于B實(shí)驗(yàn)室C、對(duì)于血糖的精密度，B實(shí)驗(yàn)室高于A實(shí)驗(yàn)室D、對(duì)于血糖的精密度，A實(shí)驗(yàn)室和B實(shí)驗(yàn)室難以比較質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)測(cè)定血糖20天室內(nèi)質(zhì)量控制數(shù)據(jù)，計(jì)算出其均值為5.0mmol/L，標(biāo)準(zhǔn)差為0.25mmol/L，其變異系數(shù)應(yīng)為：A、5%B、4%C、3%D、2%質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)直線回歸分析中，相關(guān)系數(shù)為正時(shí)A、表示Y隨X的增加而減少B、表示Y隨X的增加而增加C、表示Y隨X的增加而不變D、表示Y隨X的減少而減少質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)常用的平均值包括

A、算術(shù)平均值

B、幾何平均值

C、中位數(shù)

D、百分位數(shù)E、四分位數(shù)質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)某方法經(jīng)反復(fù)測(cè)定得出的結(jié)果很接近于真值，說明該方法A、準(zhǔn)確度高B、精密度高C、靈敏度高D、重復(fù)性好質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)經(jīng)常用計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)或標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)對(duì)測(cè)量?jī)x器進(jìn)行調(diào)整或校準(zhǔn)，是為了盡可能消除A、總誤差B、隨機(jī)誤差C、人為干擾D、不確定度E、系統(tǒng)誤差質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)過失誤差是A、一種顯然與事實(shí)不符的誤差B、主要由于分析人員的粗心或疏忽而造成的C、沒有一定規(guī)律可循D、只要分析人員加強(qiáng)工作責(zé)任心，這種誤差是完全可以避免的E、系統(tǒng)誤差加隨機(jī)誤差質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)直線回歸分析的主要用途是什么？試述正態(tài)分布的應(yīng)用？準(zhǔn)確度、精密度及兩者之間的關(guān)系是什么？質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)質(zhì)控圖和質(zhì)控規(guī)則質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)質(zhì)控圖L-J質(zhì)控圖：Z-分?jǐn)?shù)圖：Youden圖：質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)L-J質(zhì)控圖數(shù)據(jù)采集和處理：連續(xù)測(cè)定同一批號(hào)的質(zhì)控品20天以上或一個(gè)月，求出均值及標(biāo)準(zhǔn)差質(zhì)控上限值為X+3S，質(zhì)控下限值X-3S質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)繪制質(zhì)控圖及記錄質(zhì)控結(jié)果Levey-Jennings控制圖質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)Z-分?jǐn)?shù)圖質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)把不同濃度水平的質(zhì)控品繪制在同一個(gè)質(zhì)控圖上質(zhì)控品的質(zhì)控測(cè)定值和其均值之差，除以該質(zhì)控品的標(biāo)準(zhǔn)差質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)Youden圖

質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)又稱雙值質(zhì)控圖以低值為水平軸，高值為垂直軸，形成正方形圖穩(wěn)定型質(zhì)控圖隨機(jī)誤差質(zhì)控圖系統(tǒng)誤差質(zhì)控圖質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)常用的質(zhì)控規(guī)則質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)常用質(zhì)控規(guī)則符號(hào)12s：1個(gè)質(zhì)控測(cè)定值超過X+2S，警告限13s：

1個(gè)質(zhì)控測(cè)定值超過X+3S，對(duì)隨機(jī)誤差敏感22s：2個(gè)連續(xù)的質(zhì)控測(cè)定值同時(shí)超過X+2S，X-2S質(zhì)控限，對(duì)系統(tǒng)誤差敏感R4s：在同一批內(nèi)最高質(zhì)控測(cè)定值與最低質(zhì)控測(cè)定值之間的差值超過4s，對(duì)隨機(jī)誤差敏感31s：3個(gè)連續(xù)的質(zhì)控測(cè)定值同時(shí)超過X+1S，X-1S.對(duì)系統(tǒng)誤差敏感。質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)41s：3個(gè)連續(xù)的質(zhì)控測(cè)定值同時(shí)超過X+1S，X-1S，對(duì)系統(tǒng)誤差敏感。7X：7個(gè)連續(xù)的質(zhì)控測(cè)定值落在均值的同一側(cè)，對(duì)系統(tǒng)誤差敏感。7T：7個(gè)連續(xù)的質(zhì)控測(cè)定值呈現(xiàn)出向上或向下的趨勢(shì)8X：8個(gè)連續(xù)的質(zhì)控測(cè)定值落在均值的同一側(cè)，對(duì)系統(tǒng)誤差敏感。質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)9X：9個(gè)連續(xù)的質(zhì)控測(cè)定值落在均值的同一側(cè)，對(duì)系統(tǒng)誤差敏感。10X：10個(gè)連續(xù)的質(zhì)控測(cè)定值落在均值的同一側(cè)，對(duì)系統(tǒng)誤差敏感。12X：12個(gè)連續(xù)的質(zhì)控測(cè)定值落在均值的同一側(cè)，對(duì)系統(tǒng)誤差敏感。質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)Westgard多規(guī)則質(zhì)控方法是在L-J方法基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的通過單值質(zhì)控圖進(jìn)行簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)分析和顯示具有低的假失控或假報(bào)警概率當(dāng)失控時(shí)，能確定產(chǎn)生失控的分析誤差的類型質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)有六個(gè)質(zhì)控規(guī)則，12s/13s/22s/R4s/41s/10X以12s警告規(guī)則啟動(dòng)其他規(guī)則質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)質(zhì)控?cái)?shù)據(jù)12s13s在控，接受分析批的結(jié)果22sR4s41s10X失控否否否否否是是是是是是否質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)在日常使用時(shí)，需注意的是：1、12s為警告規(guī)則，不是失控規(guī)則。2、出現(xiàn)失控時(shí)，必然已經(jīng)有了12s表現(xiàn)。3、幾種不恰當(dāng)?shù)淖龇捌浔苊夥椒ǎ海?）控制結(jié)果落在+2S線上就認(rèn)為失控，這是錯(cuò)誤的理解。（2）控制結(jié)果超出+2S，馬上重做。（3）直接使用廠商的定值及允許范圍作為控制圖上的均值和標(biāo)準(zhǔn)差。質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)質(zhì)控圖的繪制單個(gè)質(zhì)控品的常規(guī)質(zhì)控圖Z-分?jǐn)?shù)質(zhì)控圖質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)具體步驟分析兩個(gè)不同濃度的質(zhì)控品由12S質(zhì)控啟動(dòng)質(zhì)控過程檢查同一批內(nèi)質(zhì)控?cái)?shù)據(jù)檢查不同批次的質(zhì)控?cái)?shù)據(jù)質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)失控問題的解決當(dāng)同一批兩個(gè)不同濃度的質(zhì)控品都違背規(guī)則時(shí)，通常不是質(zhì)控品本身的問題，更可能是校準(zhǔn)品、儀器校準(zhǔn)、試劑空白等因素的問題試劑或測(cè)定條件不穩(wěn)定，計(jì)時(shí)、注加液體、或個(gè)人技術(shù)的變異質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)失控后的不當(dāng)做法1、重做質(zhì)控品：2、試用新控制品：質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)解決問題和排除失控原因1、檢查控制圖或失控的規(guī)則，確定誤差的類型：系統(tǒng)誤差？Or隨機(jī)誤差？2、判斷誤差類型和失控原因的關(guān)系：系統(tǒng)誤差因素：包括使用不同批號(hào)的試劑、不同批號(hào)的校準(zhǔn)品、校準(zhǔn)值設(shè)定錯(cuò)誤、試劑的質(zhì)量問題、反應(yīng)加熱塊溫度改變等。隨機(jī)誤差因素：試劑沒混勻或有氣泡、電源電壓不穩(wěn)定、檢驗(yàn)人員操作不熟練等。質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)3、檢查自動(dòng)分析儀多項(xiàng)目檢測(cè)系統(tǒng)上常見的因素：4、查找與近期變化有關(guān)的原因： 5、確認(rèn)解決問題，作好記錄。質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)質(zhì)控規(guī)則的性能特征真失控（TR）：指質(zhì)控方法對(duì)有誤差分析批作出了失控判斷假失控（FR）：指質(zhì)控方法對(duì)無(wú)誤差分析批作出了失控判斷假在控（FA）：指質(zhì)控方法對(duì)無(wú)誤差分析批作出了失控判斷真在控（TA）：指質(zhì)控方法對(duì)無(wú)誤差分析批作出了在控判斷質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)誤差檢出概率：假失控概率：質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)功效函數(shù)圖及計(jì)算機(jī)模擬質(zhì)量管理的統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)如果