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文檔簡(jiǎn)介
ICS
81.040.30CCS
Q
T/CSTM
—2023微小間距發(fā)光二極管用基板玻璃Substrate
glass
light
2023-07-21
發(fā)布 2023-10-21
實(shí)施
發(fā)布T/CSTM
01039-2023 本文件參照GB/T
—《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則
第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。本文件由中國(guó)材料與試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)建筑材料標(biāo)準(zhǔn)化領(lǐng)域委員會(huì)
提出。本文件由中國(guó)材料與試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)建筑材料領(lǐng)域特種玻璃標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。T/CSTM
01039-20231 范圍本文件規(guī)定了微小間距發(fā)光二極管(Mini
)背光和直顯用基板玻璃的術(shù)語和定義、產(chǎn)品分類、要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、包裝、標(biāo)志、運(yùn)輸和貯存。本文件適用于厚度不大于
1.1
的微小間距發(fā)光二極管(Mini
)背光和直顯用基板玻璃2 規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T2828.1—2012
計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序 第
1
部分:按接收質(zhì)量限檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃GB/T5432
玻璃密度測(cè)定
浮力法GB/T5700—2008
照明測(cè)量方法GB/T
平板玻璃GB/T16920
平均線熱膨脹系數(shù)的測(cè)定GB/T31838.3
固體絕緣材料
介電和電阻特性 第
3
部分:電阻特性(DC
)
表面電阻和表面電阻率GB/T31838.6
固體絕緣材料
介電和電阻特性 第
6
部分:介電特性(AC
)相對(duì)介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)(
Hz-10
MHz)GB/T31958
薄膜晶體管液晶顯示器用基板玻璃GB/T32639
平板顯示器基板玻璃術(shù)語GB/T32643
平板顯示器基板玻璃表面波紋度的測(cè)量方法GB/T32644—
平板顯示器基板玻璃化學(xué)耐久性的試驗(yàn)方法GB/T32647
平板顯示器玻璃基板規(guī)范GB/T37780
玻璃材料彈性模量、剪切模量和泊松比試驗(yàn)方法GB/T37900
超薄玻璃硬度和斷裂韌性試驗(yàn)方法
小負(fù)荷維氏硬度壓痕法GB/T38712
超薄玻璃導(dǎo)熱系數(shù)試驗(yàn)方法
熱流法GB/T39815—2021
超薄玻璃抗劃傷性能試驗(yàn)方法SJ/T
電子玻璃退火點(diǎn)和應(yīng)變點(diǎn)的測(cè)試方法3 術(shù)語和定義GB/T31958、GB/T
32639、GB/T
32647、中界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.121.0
/m
300
>100
μm不準(zhǔn)許;≤100
2/m
mm域內(nèi)數(shù)量≤3個(gè)2
mm/m工作面不準(zhǔn)許
1/2長(zhǎng)度≤0.5
;寬度≤0.5
1/2T/CSTM
01039-2023微小間距發(fā)光二極管
light
emitting
diodeMini
單顆芯片(不含封裝)短邊尺寸為
100
μm~300
μm
的發(fā)光二極管。背光基板玻璃
substrate
glass應(yīng)用微小間距發(fā)光二極管制造液晶顯示背光源的玻璃。3.2直顯基板玻璃 direct
display
substrate
glass應(yīng)用微小間距發(fā)光二極管制造顯示像素的玻璃。4 產(chǎn)品分類按基板玻璃的產(chǎn)品功能分為背光基板玻璃、直顯基板玻璃。其中直顯基板玻璃按驅(qū)動(dòng)方式分為被動(dòng)式驅(qū)動(dòng)(PM)直顯基板玻璃、主動(dòng)式驅(qū)動(dòng)(AM)直顯基板玻璃。5 要求5.1 外觀質(zhì)量參照
GB/T
和
GB/T31958
外觀質(zhì)量的要求,基板玻璃外觀質(zhì)量要求應(yīng)符合表
1
表
1
基板玻璃外觀質(zhì)量要求
×a920
0.20a1300
0.25a1500
0.30a1850
0.400.02%a3.0±1.0≥3.0±1.5T/CSTM
01039-2023 5.2 尺寸偏差5.2.1
長(zhǎng)度偏差及寬度偏差基板玻璃的長(zhǎng)度偏差及寬度偏差應(yīng)符合表2的規(guī)定。表2
基板玻璃的長(zhǎng)度偏差及寬度偏差要求5.2.2
厚薄差基板玻璃厚薄差應(yīng)不大于0.025
5.2.2
厚薄差5.2.3
定位角偏差直顯基板玻璃的定位角偏差應(yīng)符合表3的規(guī)定。表3
基板玻璃的定位角偏差5.2.4
切角尺寸直顯基板玻璃切角尺寸長(zhǎng)度應(yīng)不大于2.0
mm;寬度應(yīng)不大于
5.2.4
切角尺寸5.2.5
直角度基板玻璃直角度的絕對(duì)值應(yīng)不大于0.1%。5.2.6
波紋度基板玻璃的波紋度應(yīng)不大于0.25
m/20
mm。5.2.7
翹曲翹曲應(yīng)不大于0.20
。5.3 理化性能不同類型的基板玻璃的理化性能應(yīng)符合表
4
的規(guī)定。PM
AM
g/cm32.502.452.40GPa707173GPa5.15.35.42.53.04.0MPa≥0.9≥1.1≥1.2-610
9.05.0-8.03.2-3.6W/(m1.11.11.1510515660lg
13.514.015.01kHz
7.57.05.81kHz
0.01800.00950.00352mg/cm11.08.04.02mg/cm0.90.90.92mg/cm1.81.81.8T/CSTM
01039-2023表4
不同類型的基板玻璃的理化性能a表4
不同類型的基板玻璃的理化性能a)環(huán)境溫度:5
C;6.1 試驗(yàn)環(huán)境除特殊規(guī)定外,試驗(yàn)應(yīng)在下述環(huán)境條件下進(jìn)行:ob)相對(duì)濕度:不大于。6.2 外觀質(zhì)量6.2.1 試驗(yàn)裝置外觀質(zhì)量檢驗(yàn)裝置如圖1所示,該裝置由光源、樣品支撐架(或吊架及試樣夾)、讀數(shù)放大鏡組成。具體要求如下:a) 反射光光源:檢驗(yàn)區(qū)光照強(qiáng)度不小于8000
lx;T/CSTM
01039-2023b) 透射光光源:檢驗(yàn)區(qū)光照強(qiáng)度不小于1500
lx;c) 邊緣側(cè)光光源:檢驗(yàn)區(qū)光照強(qiáng)度不小于4000
;d) 樣品支撐架:不小于試樣尺寸的中空硬質(zhì)合金框架,框架應(yīng)不影響對(duì)試樣有效面的觀察,與水平面夾角呈75°
°,見圖1
a);e) 吊架及試樣夾:兩個(gè)試樣夾裝配在水平吊架上,用于試樣垂直懸吊,1
d);f)
讀數(shù)放大鏡:放大倍數(shù)為倍、精度為0.05
mm和放大倍數(shù)為10倍、精度為0.1
mm的讀數(shù)放大鏡b)
c)
T/CSTM
01039-2023θ——
6.2.2 測(cè)試步驟測(cè)試步驟如下:a)光照強(qiáng)度確認(rèn)。照度計(jì)正對(duì)光源,在待測(cè)點(diǎn)測(cè)試光照強(qiáng)度,以確認(rèn)其滿足要求。照度計(jì)應(yīng)符合GB/T
5700—2008中5.1的規(guī)定。b)反射光、透射光檢查時(shí),將試樣緊貼支撐架背框放置,觀察者在距試樣約
mm處目視檢查并記錄缺陷數(shù)量、位置等信息。如圖1
b)、圖1
c)所示。邊緣側(cè)光檢查時(shí),將試樣垂直懸吊于試樣夾上,移動(dòng)側(cè)光源至試樣邊緣20
mm,光源垂直入射試樣橫斷面,觀察者在距試樣約
mm處目視檢查并記錄。如圖1
d)所示。c)采用放大倍數(shù)不低于倍、精度為0.05
mm的讀數(shù)放大鏡測(cè)定內(nèi)部缺陷、表面缺陷尺寸。采用放大倍數(shù)不低于10倍、精度為
mm的讀數(shù)放大鏡測(cè)定邊緣缺陷的尺寸。T/CSTM
01039-20236.3 尺寸偏差6.3.1 以制品為試樣,將試樣工作面向上放置在測(cè)量平臺(tái)(
00級(jí)平面度大理石)上,采用精度不低于0.1
mm的游標(biāo)卡尺或相同精度的三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x測(cè)量四個(gè)邊長(zhǎng)尺寸,長(zhǎng)邊測(cè)量值與長(zhǎng)度標(biāo)稱值的最大差值為長(zhǎng)度偏差,短邊測(cè)量值與寬度標(biāo)稱值的最大差值為寬度偏差。6.3.2 厚薄差以制品為試樣,將試樣工作面向上放置在測(cè)量平臺(tái)(
00級(jí)平面度大理石)上,按照?qǐng)D2所示,以p點(diǎn)作為測(cè)試起點(diǎn),p點(diǎn)距離定位角所在長(zhǎng)邊、短邊邊緣距離均不大于10
mm。用測(cè)量精度為0.001
mm的螺旋測(cè)微計(jì)或非接觸式三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,垂直流向方向每隔
mm固定間距進(jìn)行測(cè)量,測(cè)試終點(diǎn)距試樣邊緣距離不大于10
mm。所有測(cè)試點(diǎn)的厚度測(cè)量值的最大值與最小值的差值為厚薄差。1p3
2p
6.3.3 定位角偏差和切角尺寸T/CSTM
01039-2023以制品為試樣,將試樣工作面向上放置在測(cè)量平臺(tái)(
00級(jí)平面度大理石)上,工作面向上,按照?qǐng)D3所示,采用放大倍數(shù)為10倍、精度為0.1
mm的讀數(shù)放大鏡,讀數(shù)放大鏡置于試樣角部,且十字線同時(shí)與試樣長(zhǎng)邊、短邊對(duì)齊,分別測(cè)量4個(gè)角在長(zhǎng)邊、短邊上被切掉的長(zhǎng)度。所測(cè)短邊長(zhǎng)度為切角尺寸;所測(cè)長(zhǎng)邊尺寸為定位角尺寸,該尺寸與標(biāo)稱值的偏差即為定位角偏差。31
2x21 1 x
6.3.4 直角度6.3.4.1 試樣以基板玻璃為試樣。6.3.4.2 試驗(yàn)裝置直角度測(cè)量裝置示意圖如圖
4
所示,該裝置由支撐背板、定位銷、百分表及架體組成,具體要求如下:a) 支撐背板:合金材質(zhì),用于支撐玻璃試樣,應(yīng)無明顯扭曲變形,板面與水平面夾角θ為75°85°,高度和長(zhǎng)度均不小于試樣長(zhǎng)度。安裝百分表一側(cè)的背板上沿垂直方向應(yīng)有尺寸標(biāo)識(shí),精度為1
mm,用于讀出垂直定位銷(圖4中IB)與百分表之間的距離。T/CSTM
01039-2023b) 定位銷:水平定位銷2個(gè)(圖4中IC、ID),用于支撐玻璃試樣,兩個(gè)定位銷上表面應(yīng)保持水平,且保證試樣穩(wěn)定擺放。垂直定位銷1個(gè)(圖4中IB),用于試樣側(cè)邊卡位。定位銷IC、IB中心距試樣待測(cè)角頂點(diǎn)距離分別為10
,ID可水平移動(dòng)。定位銷直徑推薦?20
。c)
百分表:精度不低于0.1
,安裝位置應(yīng)在垂直方向和水平方向可調(diào),以保證檢測(cè)點(diǎn)距離試樣上邊緣約10
,且百分表的測(cè)桿可接觸到試樣的側(cè)邊緣。2 3D1II I
6.3.4.3 測(cè)量步驟直角度測(cè)量按照如下步驟進(jìn)行:a) 選擇試樣任一長(zhǎng)邊作為支撐邊,兩短邊為被測(cè)量邊;b) 調(diào)整水平定位銷ID,使其距試樣邊緣約為10
;c) 調(diào)整百分表位置至檢測(cè)點(diǎn)高度,推薦檢測(cè)點(diǎn)比試樣上邊緣低約10
;
θT/CSTM
01039-2023d) 將試樣支撐邊向下放置到IC、ID定位銷、試樣緊貼支撐背板,水平方向移動(dòng)試樣,使短邊緊貼定位銷IB;e) 水平移動(dòng)百分表位置,使百分表測(cè)桿頂在試樣邊緣并固定百分表。旋轉(zhuǎn)百分表盤,使百分表讀數(shù)為0;f) 保持支撐邊不變,將試樣沿水平方向翻轉(zhuǎn)180°,重復(fù)d),確認(rèn)百分表測(cè)桿頂在試樣邊緣,讀取百分表變化值,為兩個(gè)被測(cè)量邊偏離垂直線之和,記為δ;g) 讀取定位銷IB與百分表中心線的間距,記為L(zhǎng);h) 以當(dāng)前支撐邊對(duì)面的平行邊作為支撐邊,重復(fù)步驟d)~
gi) 選擇試樣任一短邊作為試樣支撐邊,兩長(zhǎng)邊為被測(cè)量邊;重復(fù)步驟b)~
h6.3.4.4 數(shù)據(jù)處理6.3.4.4.1
按公式(1)分別計(jì)算以上
4
次測(cè)量的直角度。選取
4
次計(jì)算結(jié)果的最大值作為測(cè)試結(jié)果。直角度=
×100%?????????????????(1)δmm)。L——垂直定位銷與百分表中心線的間距,單位為毫米(mm)。6.4 波紋度按照GB/T
32643的規(guī)定進(jìn)行,試樣數(shù)量為16.5 翹曲以制品為試樣,將試樣工作面向上放置在測(cè)量平臺(tái)(
00級(jí)平面度大理石)上,采用精度為mm的塞尺或精度不低于
mm的三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,測(cè)量試樣下表面與平臺(tái)表面之間的最大距離;再將試樣翻轉(zhuǎn),使工作面向下,再次測(cè)量試樣下表面與平臺(tái)表面之間的最大距離,測(cè)量結(jié)果取最大值。6.6 密度按照
GB/T
5432
的規(guī)定進(jìn)行,推薦試樣尺寸為(30±2)mm×(30±2)mm。6.7 彈性模量按照GB/T
37780的規(guī)定進(jìn)行,推薦試樣尺寸為120
mm×25
mm。T/CSTM
01039-20236.8 維氏硬度按照
GB/T
37900
的規(guī)定進(jìn)行,推薦試樣尺寸為(45~50)mm×(45~50)mm,樣品數(shù)量為
1
片,測(cè)試
5
次取平均值。6.9 抗劃傷閾值按照
39815—
B
方法進(jìn)行預(yù)判,然后再按
A
方法間隔
0.5
N
進(jìn)行測(cè)試。6.10 斷裂韌性按照
GB/T
37900
的規(guī)定進(jìn)行,推薦試樣尺寸為(4~)mm×(~50)mm,樣品數(shù)量為
1
片,測(cè)試
5
次取平均值。6.11 平均線熱膨脹系數(shù)按照
GB/T
16920
的規(guī)定進(jìn)行,推薦試樣尺寸為(5~)mm×(~50)mm,測(cè)試溫度范圍為
℃~
6.12 平均導(dǎo)熱系數(shù)按照
GB/T
38712
的規(guī)定進(jìn)行,設(shè)置導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量?jī)x的冷板溫度為
℃,熱板溫度為
6.13 應(yīng)變點(diǎn)溫度按照
SJ/T
11039
的規(guī)定進(jìn)行,將試樣制備成纖維狀,推薦纖維直徑(0,長(zhǎng)度
200mm~
。6.14
室溫表面電阻率按照
GB/T
31838.3
的規(guī)定進(jìn)行,將測(cè)試結(jié)果以
10
為底求對(duì)數(shù),保留小數(shù)點(diǎn)后一位。6.15 1kHz
介電常數(shù)按照
31838.6
的規(guī)定進(jìn)行,推薦試樣尺寸為(50±2)mm×(50±2)mm,3
塊,測(cè)量頻率為1
kHz。6.16 1kHz
介電損耗按照
31838.6
的規(guī)定進(jìn)行,推薦試樣尺寸為(50±2)mm×(50±2)mm,3
塊,測(cè)量頻率為1
kHz。6.17 化學(xué)耐久性按照GB/T
32644—2016中的失重法進(jìn)行,分別選擇如下試驗(yàn)條件:a)10%
HF,在
℃下侵蝕20
;b)5%
HCl,在
℃下侵蝕24
h;c)5%
NaOH,在95
℃下侵蝕6
h。其中,化學(xué)試劑濃度為質(zhì)量百分比,每種試驗(yàn)條件各選取試樣3試樣總表面積按照公式(2)計(jì)算。每種試驗(yàn)條件下,取3個(gè)試樣測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值作為結(jié)果。批量
N樣本量
n接收數(shù)
Ac拒收數(shù)
Re2~2530126~90131291~2023151~3234281~5056T/CSTM
01039-2023A=(L×W×2)+[(L+W)×T×2]???????????(2)(cm7 檢驗(yàn)規(guī)則7.1 檢驗(yàn)分類檢驗(yàn)分為出廠檢驗(yàn)和型式檢驗(yàn)。7.2 出廠檢驗(yàn)7.2.1
檢驗(yàn)項(xiàng)目包括外觀質(zhì)量和尺寸偏差。7.2.2
組批相同原材料、相同配方、相同工藝條件下生產(chǎn)的同一規(guī)格產(chǎn)品,以班產(chǎn)量或生產(chǎn)線產(chǎn)量或機(jī)臺(tái)產(chǎn)量為一批。7.2.3
抽樣基板玻璃出廠檢驗(yàn)的抽樣方案應(yīng)符合表5的規(guī)定。當(dāng)該批產(chǎn)品批量大于片時(shí),以每片為一批分批抽取試樣。表5依據(jù)
2828.1-2012的要求,采用“正常檢驗(yàn)一次抽樣方案”,適用于所有試驗(yàn)項(xiàng)目。表
5
表
5
基板玻璃出廠檢驗(yàn)的抽樣方案7.2.4.1 單項(xiàng)判定若外觀質(zhì)量、尺寸偏差的不合格數(shù)小于表5中規(guī)定的拒收數(shù),則認(rèn)為該批產(chǎn)品的上述指標(biāo)合格,否則為不合格。7.2.4.2 綜合判定外觀質(zhì)量、尺寸偏差均符合要求時(shí),則認(rèn)為該批產(chǎn)品出廠檢驗(yàn)合格,否則為不合格。T/CSTM
01039-20237.3 型式檢驗(yàn)型式檢驗(yàn)項(xiàng)目為第5章中規(guī)定的全部項(xiàng)目。有下列情況之一時(shí),應(yīng)進(jìn)行型式檢驗(yàn):a)新產(chǎn)品或產(chǎn)品轉(zhuǎn)廠生產(chǎn)的試制定型鑒定時(shí);b)正式生產(chǎn)后,如結(jié)構(gòu)、材料和工藝等有較大改變,可能影響產(chǎn)品性能時(shí);c)出廠檢驗(yàn)結(jié)果與上次型式檢驗(yàn)有較大差異時(shí)。7.3.1 同7.2.2。7.3.2 外觀質(zhì)量、尺寸偏差項(xiàng)目的抽樣同7.2.3。7.3.3 7.3.3.1 單項(xiàng)判定7.3.3.1.1
外觀質(zhì)量、尺寸偏差同7.2.1。7.3.3.1.2 理化性能所列項(xiàng)目測(cè)試結(jié)果符合要求時(shí)為合格,否則為不合格。7.3.3.
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