UT無(wú)損檢測(cè)工作技術(shù)總結(jié)辦公文檔工作總結(jié)

X14K1.0探頭在第二介質(zhì)中勺近場(chǎng)長(zhǎng)度內(nèi)。這就可以解釋為什使反射回波聲壓不按與距離成反比的規(guī)律變化，而出現(xiàn)這種情況。那一種忽高忽低的鋸齒狀的現(xiàn)象。而用2.5P10X12K1.0X14K1.0探頭在第二介質(zhì)中勺近場(chǎng)長(zhǎng)度內(nèi)。這就可以解釋為什使反射回波聲壓不按與距離成反比的規(guī)律變化，而出現(xiàn)這種情況。那一種忽高忽低的鋸齒狀的現(xiàn)象。而用2.5P10X12K1.0、么斜探頭在CSK-mA試塊中的近場(chǎng)長(zhǎng)度又是多少呢？橫波聲場(chǎng)的（UT）何建紅岳陽(yáng)市長(zhǎng)達(dá)無(wú)損檢測(cè)有限公司二O一O年三月技術(shù)工作總結(jié)年2月，在海南賽福特檢測(cè)科技有限公司工作，主要負(fù)責(zé)化工設(shè)備安裝的無(wú)損檢測(cè)管理工參加工作以來(lái)，時(shí)刻不忘向身邊經(jīng)驗(yàn)豐富的前輩學(xué)習(xí)，以提高自己的專業(yè)知識(shí)和業(yè)務(wù)習(xí)，專業(yè)水平有了一定的提高，也積累了一些超聲檢測(cè)的經(jīng)驗(yàn)。下面就我在超聲檢測(cè)工作中遇到的一個(gè)問(wèn)題及解決此問(wèn)題的方法及過(guò)程做一個(gè)簡(jiǎn)要的師和同行們度對(duì)檢測(cè)的不利影響。以上總結(jié)，由于本人工作經(jīng)驗(yàn)的局限性，肯定計(jì)算整理后的結(jié)果如下：表1:各探頭測(cè)試時(shí)對(duì)應(yīng)的第二介質(zhì)中的近上表表師和同行們度對(duì)檢測(cè)的不利影響。以上總結(jié)，由于本人工作經(jīng)驗(yàn)的局限性，肯定計(jì)算整理后的結(jié)果如下：表1:各探頭測(cè)試時(shí)對(duì)應(yīng)的第二介質(zhì)中的近上表表2不難發(fā)現(xiàn)，用2.5P14X14K1.0探頭掃查CSK在實(shí)際工作中，橫波斜探頭應(yīng)用十分廣泛，常用于對(duì)接焊縫、鋼管、鋼板、鍛件等的鋼板、鍛件、厚的對(duì)接焊接接頭的橫波檢測(cè)及缺陷高度的測(cè)量中也經(jīng)常會(huì)用到K1探頭。用2.5P14X14K1橫波斜探頭在CSK-mA試塊上制作DAC曲線時(shí)發(fā)現(xiàn)：深度20mm的①1X6孔的反射回波比深度為10mm的孔要高3dB?左右，這樣在深度30mm以前的DAC曲線就會(huì)呈現(xiàn)一種忽高忽低的鋸齒狀。而2.5P14X14K2探頭卻沒(méi)有這種情況發(fā)導(dǎo)致這種情況發(fā)生的原因是什么？這種情況會(huì)對(duì)探傷產(chǎn)生什么影響及如何避免這種情況發(fā)生帶著這三個(gè)問(wèn)題，我做了如下的工作。初步分析，曲線呈現(xiàn)忽高忽低的鋸齒狀，可能的原因是深度10mm20mml的①1X6短橫孔處在探頭的近場(chǎng)長(zhǎng)度以內(nèi)，致使反射回波聲壓不按與距離成反比的規(guī)律變化，而那么斜探頭在CSK-mA試塊中的近場(chǎng)長(zhǎng)度又是多少呢？橫波聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度NF：波源的面積，F(xiàn)=aXb入S2:CSK-mA試塊中的橫波波長(zhǎng)B：CSK-mA試塊中的橫波折射角a：探頭在有機(jī)玻璃斜楔中的縱波入射角6mm小于2.5P14X14K1.0探頭在第二介質(zhì)中的近場(chǎng)長(zhǎng)超聲探傷儀一臺(tái)探頭型號(hào):2.5Pi4xi4Ki.0、2.5P要的總結(jié)，懇請(qǐng)老師指導(dǎo)問(wèn)題描述在實(shí)際工作中，橫波斜探頭應(yīng)用十超聲檢測(cè)工作中遇到的一個(gè)問(wèn)題及解決此問(wèn)題的方法及過(guò)程做一個(gè)簡(jiǎn)N6mm小于2.5P14X14K1.0探頭在第二介質(zhì)中的近場(chǎng)長(zhǎng)超聲探傷儀一臺(tái)探頭型號(hào):2.5Pi4xi4Ki.0、2.5P要的總結(jié)，懇請(qǐng)老師指導(dǎo)問(wèn)題描述在實(shí)際工作中，橫波斜探頭應(yīng)用十超聲檢測(cè)工作中遇到的一個(gè)問(wèn)題及解決此問(wèn)題的方法及過(guò)程做一個(gè)簡(jiǎn)N的關(guān)2鍵，那么如何求得入射點(diǎn)到波源的距離L1？根據(jù)超聲波傳播的距離d二聲速ex傳播時(shí)間t。有機(jī)玻璃中的縱波聲速通過(guò)查資料可數(shù)字式超聲探傷儀上直接讀取。而超聲波傳播的距離d，約等于入射點(diǎn)播的時(shí)間比較很小，此處將其中忽略不計(jì)）即得到求入射點(diǎn)到波源的距離Li的公式如下：L=Cxt/2三、對(duì)以上分析的驗(yàn)證對(duì)于以上分析是否正確，我按照以上的分析思路做了如下的試驗(yàn)和計(jì)算加以驗(yàn)試塊：CSK-IACSK-mA各一塊試驗(yàn)所測(cè)得的各探頭的零點(diǎn)偏移時(shí)間及數(shù)據(jù)經(jīng)計(jì)算整理后的結(jié)果如下：表1:各探頭測(cè)試時(shí)對(duì)應(yīng)的第二介質(zhì)中的近場(chǎng)長(zhǎng)度N2.5P14X14K2.0探頭掃查CSK-HA試塊上的①1X一種忽高忽低的鋸齒狀的現(xiàn)象。而用2.5P14X14K2.0探頭掃查CSK-HA試塊上的①1X一種忽高忽低的鋸齒狀的現(xiàn)象。而用2.5P10X12K1.0、際值低，這樣會(huì)把大缺陷判小。又因?yàn)榻鼒?chǎng)區(qū)的聲壓分布與遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)不有不全不深之處，請(qǐng)老師多多指正。我會(huì)珍惜這次學(xué)習(xí)機(jī)會(huì)，多向老N零點(diǎn)偏移時(shí)間實(shí)測(cè)K值L10mm探頭型號(hào)T表1不同探頭測(cè)試時(shí)不同深度的孔所對(duì)應(yīng)的實(shí)際聲程①1①1X6短橫孔深度d10mm20mm30mm40mmX實(shí)際聲程13.8mm27.6mm41.4mm55.2mmX實(shí)際聲程14.1mm28.3mm42.4mm56.6mmX實(shí)際聲程21.2mm42.4mm63.6mm84.8mm中：F：波源的面積，F(xiàn)=aXb入S2:CSK-mA試塊中的橫度對(duì)檢測(cè)的不利影響。以上總結(jié)，由于本人工作經(jīng)驗(yàn)的局限性，肯定來(lái)，參數(shù)鍵，那么如何求得入射點(diǎn)到波源的距離Li:入射點(diǎn)到波源帶著這三個(gè)問(wèn)題，我做了如下的工作。二、導(dǎo)致這種情況發(fā)生的原因比較以上表1、表2不難發(fā)現(xiàn)，用2.5P14X14K1.0探頭掃查CSK-mA試塊上深度20mm勺①1X6短橫孔時(shí)，實(shí)際聲程（27.6mm小于2.5P14X14K1.0探頭在第二介質(zhì)中介質(zhì)中勺近場(chǎng)長(zhǎng)度內(nèi)。這就可以解釋為什么用2.5P14X14K1橫波斜探頭在CSK-rnA試塊上制作DAC曲線時(shí)深度20mm的①1X6孔的反射回波比深度為10mm的孔要高3dB?左右，在深度小于中：F：波源的面積，F(xiàn)=aXb入S2:CSK-mA試塊中的橫度對(duì)檢測(cè)的不利影響。以上總結(jié)，由于本人工作經(jīng)驗(yàn)的局限性，肯定來(lái)，參數(shù)鍵，那么如何求得入射點(diǎn)到波源的距離Li:入射點(diǎn)到波源帶著這三個(gè)問(wèn)題，我做了如下的工作。二、導(dǎo)致這種情況發(fā)生的原因而用2.5P10X12K1.0、2.5P14X14K2.0探頭掃查CSK-HA試塊上的①1X6短橫四、以上這種情況會(huì)對(duì)探傷產(chǎn)生什么影響及如何避免這種情況發(fā)生顯然，通過(guò)以上的分析和驗(yàn)證，可以肯定導(dǎo)致這種情況的原因就是近場(chǎng)長(zhǎng)度過(guò)長(zhǎng)所引起的。而近場(chǎng)長(zhǎng)度過(guò)長(zhǎng)，對(duì)探傷的定位定量都會(huì)產(chǎn)生不利的影響，處在近場(chǎng)長(zhǎng)度內(nèi)的一個(gè)小缺陷如果正好位于聲壓極大值的點(diǎn)上時(shí)，反射回波就會(huì)過(guò)高，這樣會(huì)把小缺陷判大，而一個(gè)大缺陷如果正好位于聲壓極小值的點(diǎn)上時(shí)，反射回波就會(huì)比實(shí)際值低，這樣會(huì)把大缺陷判成定位誤差。在橫波斜探頭探傷時(shí)因