全膜電容器熱穩(wěn)定試驗研究

全膜電容器熱穩(wěn)定試驗研究嚴玉婷1，倪學鋒2(1武漢大學99575班，武漢430072；

2武漢高壓研究所，武漢430074)

摘

要：全膜電容器由于絕緣性能優(yōu)良，比特性遠優(yōu)于其它介質電容器。但正因為如此，其散熱面積也遠小于其它介質電容器。因此，其熱的穩(wěn)定特性并不一定就優(yōu)于其它電容器。本文通過對電容器比例單元熱穩(wěn)定性能的試驗研究，確定了內部最熱點與外殼最熱點的關系，為更好地做好電容器熱穩(wěn)定性能試驗提供了參考依據(jù)。

關鍵詞：電容器；溫升；介質損耗0前言

由于全膜電容器優(yōu)良的介電性能和比特性，近年來全膜電容器已獲得越來越廣泛的使用。大有替代其它介質電容器的勢頭。雖然全膜電容器的介質損耗小于膜紙電容器，但全膜電容器的體積和表面積也小于膜紙電容器。因此，全膜電容器的熱穩(wěn)定性能不一定就較膜紙電容器好，這一點已從耐久性試驗和運行中得到證實。

然而全膜電容器的熱穩(wěn)定試驗一直無深入的試驗研究，而一直沿用膜紙電容器的經(jīng)驗數(shù)據(jù)。由于全膜電容器同膜紙電容器相比，不僅介質變了，而且結構方式也變了。因此，其熱過程顯然是會有差別的，這種差別將直接影響熱穩(wěn)定試驗的試驗結果。本文通過在電容器內預埋熱電偶和控制注入能量，找出了內部最熱點、外殼最熱點等部分的溫升值同介質損耗量間的相互關系。為科學、準確的進行全膜電容器的熱穩(wěn)定試驗提供了參考依據(jù)。

以介損為0.01%時的電容器為例，外包

式中：d1、d2—外包封厚和油隙厚；

由(2)式分別可計算出介損為0.02%、0.03%下的溫差值分別為11.2℃和16.8℃。

同室溫條件下試驗結果相比，計算結果偏小較多，但同烘箱內試驗結果相比較接近。這主要是在室溫條件下，外殼散熱主要是對流散熱，對流散熱可用函數(shù)式(3)表示：

Q=f(Δtαdβ)(3)

溫度隨距離變化激劇變化，因此采用有尺寸的鉑電阻(Φ3mm圓柱體)測溫，所測得值偏小，致使測量所得溫升值較計算值大，而烘箱中對流散熱作用小于室溫條件下，因此，所測溫升值與計算值接近。

另一現(xiàn)象是在溫度較低時，電容器最熱點與外殼最熱點的溫差值基本上同介損成比例關系。但隨著溫度的升高，這種比例關系不再存在，而趨于變化變緩，這可能同隨溫度升高后，其它散熱方式的作用增大有關。但從0.01%～0.03%介損條件下的試驗結果看，以15℃控制熱穩(wěn)定試驗中外殼同內部最熱點溫差之值，對于介質損耗不大于0.03%的電容器是合理的，這不僅試驗是如此，計算結果亦較接近。

4結論

4.1電容器的熱穩(wěn)定試驗中，電容器內最熱點與外殼最熱點之間的溫差值，同介損的大小關系密切，介損越大，這個溫差值也越大。

4.2電容器的熱穩(wěn)定試驗中，以15℃作為內部最熱點同外殼最熱點的溫度之差值，對介損不大于0.03%的電容器是合理的。參考文獻［1］秦允豪熱學［M］高等教育出版社

［2］GB/T