關(guān)于JB4730-2019標(biāo)準(zhǔn)宣貫對比部分-2019

NB/T47013.3-2015承壓設(shè)備無損檢測超聲檢測NB/T47013.3

標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展1、JB4730-94

第三篇超聲檢測包括鋼板、鍛件、復(fù)合鋼板、無縫鋼管、高壓螺栓件、

奧氏體鋼鍛件、鋼焊縫、不銹鋼堆焊層、鋁焊縫、超聲

測厚等；2、JB/T4730.3-2005去除了超聲測厚，增加了小徑管對接焊縫、奧氏體不銹鋼焊縫、

T

型焊接接頭、在用設(shè)備、測高、動(dòng)態(tài)波型等，

基本覆蓋了承壓設(shè)備部件的超聲檢測；3、NB/T47013-2015恢復(fù)了超聲測厚并增加了不銹鋼堆焊層的超聲測厚，擴(kuò)大了適用范圍，更多地采用了歐標(biāo)，體現(xiàn)了與國際接軌的發(fā)展方向。一

、NB/T47013-2015

的主要技術(shù)變化1、

增加了第3章"術(shù)語和定義",包括把原JB/T4730.1中的

有關(guān)超聲檢測的術(shù)語和定義；2、

用GB/T

27664.1

《無損檢測超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第1部分

:儀器》替代JB/T

10061《A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條

件》,對超聲檢測設(shè)備提出了更科學(xué)的要求；3、

增加了超聲檢測儀和探頭的具體性能指標(biāo)要求；4、

增加了超聲檢測儀和探頭的校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查的要求；5、

增加了“安全要求”,對人員在超聲檢測中的安全提出了要求；6、

增加了工藝文件的要求，并列出了制訂工藝規(guī)程的相關(guān)因素；7、

重新對本部分所用試塊類型進(jìn)行了劃分，主要按國內(nèi)相關(guān)通用的規(guī)

定進(jìn)行劃分，而不是在本部分自行劃定標(biāo)準(zhǔn)試塊和對比試塊的類型；8、

調(diào)整了"承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測方法和質(zhì)量分級"

內(nèi)容的順序，按板材、復(fù)合板、碳鋼和低合金鋼鍛件、鋼螺栓坯件、

奧氏體鋼鍛件、無縫鋼管等進(jìn)行編寫；9、

合并了碳素鋼和低合金鋼鋼板、鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材、

鎳及鎳合金板材、奧氏體不銹鋼及雙相不銹鋼鋼板等超聲檢測方法和質(zhì)

量分級。重新設(shè)計(jì)了對比試塊。檢測靈敏度主要以對比試塊平底孔距離

波幅曲線來確定。修改了質(zhì)量等級要求，各個(gè)級別的合格指標(biāo)均有所嚴(yán)

格，

JB/T

4730.3—2005的板材檢測質(zhì)量等級要求偏低，已難以控制板材質(zhì)量要求，且和IS0、

歐盟EN等標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)質(zhì)量要求的具體指標(biāo)有較大

差距，故參考?xì)W盟EN等標(biāo)準(zhǔn)對質(zhì)量分級進(jìn)行了修訂；10、

整合了2005版中“承壓設(shè)備對接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級”和“承壓設(shè)備管子、壓力管道環(huán)向?qū)咏宇^超聲檢測和質(zhì)量分級”兩章內(nèi)容。

按焊接接頭類型、工件厚度及檢測面曲率大小等內(nèi)容進(jìn)行分類；11、

對承壓設(shè)備焊接接頭工件厚度的適用范圍從8mm~

400mm擴(kuò)大到了6～500mm;12、

重新設(shè)計(jì)了CSK-IIA和CSK-IVA試塊上人工反射體

的位置和數(shù)量。這樣既保證檢測區(qū)域覆蓋，又適用于

直探頭檢測焊接接頭基準(zhǔn)靈敏度的調(diào)節(jié)。新CSK-IIA試

塊適用工件厚度范圍為6mm～200mm,

該試塊主要參考

歐盟(EN)和日本(JIS)標(biāo)準(zhǔn)，人工反射體直徑仍為φ2mm;

新CSK-IVA試塊適用工件厚度大于200mm~500mm。CSK-IVA試塊主要在參考美國ASME規(guī)范的基礎(chǔ)

上進(jìn)行了改進(jìn)，人工反射體直徑統(tǒng)一為φ6mm;13、

細(xì)化了不同類型焊接接頭超聲檢測要求。涉及內(nèi)容包括平板對接接頭、

T型焊接接頭、插入式接管角接

接頭、

L型焊接接頭、安放式接管與筒體(或封頭)角

接接頭、十字焊接接頭、嵌入式接管與筒體(或封頭)

對接接頭等；14、

重新設(shè)計(jì)了GS試塊。增加了圓弧反射面等。主要有利

于弧面探頭的時(shí)基線調(diào)整；15、

對焊接接頭質(zhì)量等級中對

I

區(qū)非裂紋類缺陷的長度給

出了限制；16、

調(diào)整了涉及焊接接頭超聲檢測的整體編制結(jié)構(gòu)，把接

管與筒體(封頭)角接接頭超聲檢測方法、

T型焊接接頭超

聲檢測方法、堆焊層超聲檢測方法和質(zhì)量分級等放入了附

錄；17、

根據(jù)實(shí)際檢驗(yàn)檢測需要，增加了"承壓設(shè)備厚度超聲

測量方法",包括不銹鋼堆焊層厚度的測量方法；18、

對在用承壓設(shè)備進(jìn)行超聲檢測時(shí)，增加了根據(jù)使用過

程中可能造成主體材料、零部件或焊接接頭的失效模式，

或者風(fēng)險(xiǎn)評估

(RBI)

的分析結(jié)果等選擇超聲檢測技術(shù)、檢測部位和檢測比例。1

范圍修改概述：增加了條文1.3

承壓設(shè)備厚度的超聲測量方法，原來JB4730-94有超聲測厚內(nèi)容，但JB/T4730.3-2005沒有列入。1.1

NB/T

47013(JB/T

4730)

的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備采用A型脈

沖反射式超聲檢測儀檢測工件缺陷的超聲檢測方法和質(zhì)量分級要求。1.2

本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料或零部件和焊接接

頭的超聲檢測，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測。1.3本部分規(guī)定了承壓設(shè)備厚度的超聲測量方法。1.4

與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測，也可參照本部分使用。二、

標(biāo)準(zhǔn)修改及內(nèi)容解析三、標(biāo)準(zhǔn)修改及內(nèi)容解析2

規(guī)范性引用文件下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版

本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T11259

無損檢測超聲波檢測用鋼參考試塊的制作與檢驗(yàn)方法GB/T12604.1

無損檢測術(shù)語

超聲檢測GB/T27664.1

無損檢測超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第1部分：儀器GB/T27664.2

無損檢測超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第2部分：探頭JB/T8428

無損檢測超聲檢測用試塊JB/T9214

無損檢測

A型脈沖反射式超聲檢測系統(tǒng)工作性能測試方法JB/T10062

超聲探傷用探頭性能測試方法NB/T47013.1

承壓設(shè)備無損檢測

第1部分：通用要求解釋：GB/T

11259-2008替代JB/T

7913-1995;GB/T

12604.1-2005替代GB/T

12604.1-1990;(最新版本)GB/T

27664.1-2011替代JB/T

10061-1999;GB/T

27664.2-2011替代JB/T

10062-1999;JB/T

9214-2010替代JB/T

9214-1999;

(除儀器和探頭組合頻率的測試方法外)JB/T

8428-2006替代JB/T

10063-1999。3

術(shù)語和定義修改概述：重新定義了基準(zhǔn)靈敏度和掃查靈敏度，增加了“工件厚度”。GB/T

12604.1和NB/T

47013.1界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本部分。3.1

底波降低量BG/BF鍛件檢測時(shí)，在靠近缺陷處的完好區(qū)域內(nèi)第一次底面回波波幅BG與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底面回波波幅BF的比值，用dB值

來表示。3.2

密集區(qū)缺陷鍛件檢測時(shí)，在顯示屏掃描線上相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號，或是在50×50mm的檢測面

上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號，

其反射波幅均大于等于某一特定當(dāng)量平底孔的缺陷。3.3基準(zhǔn)靈敏度將對比試塊人工反射體回波高度或被檢工件底面回波高度調(diào)整到某一基準(zhǔn)時(shí)的靈敏度。3.4掃查靈敏度在基準(zhǔn)靈敏度基礎(chǔ)上，根據(jù)表面狀況、檢測缺陷要

求及探頭類型等適當(dāng)提高dB數(shù)(增益)進(jìn)行實(shí)際檢

測的靈敏度。

3.5缺陷自身高度缺陷在工件厚度方向上的尺寸。3.6回波動(dòng)態(tài)波形回波動(dòng)態(tài)波形是探頭移動(dòng)距離與相應(yīng)缺陷反射體回波波幅變化的包絡(luò)線。3.7

工件厚度t>a)

對于平板對接接頭，焊縫兩側(cè)母材厚度相

等時(shí)，工件厚度t為母材厚度；焊縫兩側(cè)母材厚

度不等時(shí)，工件厚度t為薄側(cè)母材公稱厚度；

>b)

對于插入式接管角接接頭，工件厚度t為筒

體或封頭公稱厚度；安放式接管與筒體(或封

頭)角接接頭，工件厚度t為接管公稱厚度；

c)

對于T型焊接接頭，工件厚度t為腹板公稱

厚度。

解釋：根據(jù)實(shí)際需要明確了幾種工件的厚度，把工件厚度

作為確定對比試塊類型、檢測靈敏度大小及質(zhì)量分

級的參數(shù)固定下來。4

一般要求4.1

人員修改概述：增加了4.1.2條文。4.1.1

超聲檢測人員的一般要求應(yīng)符合NB/T

47013.1的

有關(guān)規(guī)定。4.1.2

超聲檢測人員應(yīng)具有一定的金屬材料、設(shè)備制造

安裝、焊接及熱處理等方面的基本知識(shí)，應(yīng)熟悉被檢工

件的材質(zhì)、幾何尺寸及透聲性等，對檢測中出現(xiàn)的問題能作出分析、判斷和處理。

解釋：對超聲檢測人員提出了更高的要求，即不僅會(huì)操作儀器

,還要具備一定的基礎(chǔ)知識(shí)，并對檢測出現(xiàn)的問題作出

判定，這一點(diǎn)對超聲檢測來說尤為重要。4.2

設(shè)備和器材修改概述：對設(shè)備、探頭、試塊和耦合劑等都提出了新的要求。

4.2.1

設(shè)備和器材產(chǎn)品質(zhì)量合格證超聲檢測儀產(chǎn)品質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給出預(yù)熱時(shí)間、低電壓報(bào)警或低電壓自動(dòng)關(guān)機(jī)電壓、發(fā)射脈沖重復(fù)頻率、

有效輸出阻抗、發(fā)射脈沖電壓、發(fā)射脈沖上升時(shí)間、發(fā)射脈沖寬度(采用方波脈沖作為發(fā)射脈沖的)和接收器

頻帶等主要性能參數(shù)；探頭產(chǎn)品質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給

出中心頻率、帶寬、電阻抗或靜電容、相對脈沖回波靈

敏度、脈沖寬度以及聲束性能(包括探頭入射點(diǎn)、折射

角(K

值)、主聲束偏離、偏向角及偏移、聲束擴(kuò)散角等

)等主要參數(shù)。解釋：>2005版只要求超聲檢測設(shè)備具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的

證明文件?，F(xiàn)列出了至少要包括的項(xiàng)目，并有相應(yīng)指標(biāo)的

要求。4.2.2

檢測儀器、探頭和系統(tǒng)性能4.2.2.1

檢測儀器采

用

A型脈沖反射式超聲檢測儀，其工作頻率按-3dB測

量應(yīng)至少包括0.5MHz～10MHz

頻率范圍，超聲儀

器各性能指標(biāo)和測試條件按照附錄A

(規(guī)范性附錄)

中的要求，測試方法按GB/T27664.1

的規(guī)定。解釋：工作頻率范圍為0.5～10MHz,

應(yīng)按-3dB

法測量得出；其他性能指標(biāo)見附錄A。4.2.2.2

探頭圓形晶片直徑一般不應(yīng)大于

40mm,

方形晶片任一邊長一般不應(yīng)大于40mm,

其性能指標(biāo)應(yīng)符合附錄B

(規(guī)范性

附錄)的要求，測試方法按GB/T

27664.2的規(guī)定。4.2.2.3

儀器和探頭的組合性能4.2.2.3.1

儀器和探頭的組合性能包括水平線性、垂直線性、組合頻率、靈敏度余量、盲區(qū)(僅限直探頭)和遠(yuǎn)場

分辨力。4.2.2.3.2

以下情況時(shí)應(yīng)測定儀器和探頭的組合性能：a)

新購置的超聲儀器和(或)探頭；>b)

儀器和探頭在維修或更換主要部件后；c)

檢測人員有懷疑時(shí)。解釋：晶片尺寸上限，從25mm放寬到40mm。探頭性能指標(biāo)見附錄

B,

比2005版標(biāo)準(zhǔn)的要求具體且全面。4.2.2.3.3

水平線性偏差不大于1%,垂直線性偏差不

大于5%。4.2.2.3.4

儀器和探頭的組合頻率與探頭標(biāo)稱頻率之

間偏差不得大于±10%。4.2.2.3.5

儀器-直探頭組合性能要求a)

靈敏度余量應(yīng)不小于32dB:b)

在基準(zhǔn)靈敏度下，對于標(biāo)稱頻率為5MHz的探頭，

盲區(qū)不大于10mm;

對于標(biāo)稱頻率為2.5MHz的探頭，

盲區(qū)不大于15mm;>c)

直探頭遠(yuǎn)場分辨力不小于20dB。解釋：靈敏度余量為新增加要求；直探頭遠(yuǎn)場分辨力從30dB改為20dB。4.2.2.3.6

儀器-斜探頭組合性能要求a)

靈敏度余量應(yīng)不小于42dB;b)

斜探頭遠(yuǎn)場分辨力不小于12dB。4.2.2.3.7

在達(dá)到所探工件的最大檢測聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB4.2.2.3.8

儀器和探頭組合頻率的測試方法按JB/T10062的規(guī)定，其它組合性能的測試方法按JB/T

9214的

規(guī)定。解釋：靈敏度余量為新增加要求；斜探頭遠(yuǎn)場分辨力從6dB改為12dB。4.2.3

試塊修改概述：對標(biāo)準(zhǔn)試塊和對比試塊重新進(jìn)行定義，與2005版有較大的不同。4.2.3.1

標(biāo)準(zhǔn)試塊4.2.3.1.1

標(biāo)準(zhǔn)試塊是指具有規(guī)定的化學(xué)成分、表面粗

糙度、熱處理及幾何形狀的材料塊，用于評定和校準(zhǔn)超

聲檢測設(shè)備，即用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)的試塊。本

部分采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為20號優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼制的CSK-IA、

DZ-1和DB-PZ20-2。4.2.3.1.2

CSK-IA試塊的具體形狀、尺寸見本部分。

DZ-1和DB-PZ20-2的具體形狀和尺寸見JB/T9214。4.2.3.1.

3

標(biāo)準(zhǔn)試塊制造商應(yīng)滿足JB/T8428的要求，試塊制造商應(yīng)提供產(chǎn)品質(zhì)量合格證，并確保在相同測試條件下

比較其所制造的每一標(biāo)準(zhǔn)試塊與國家標(biāo)準(zhǔn)樣品或類似具備

量值傳遞基準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)試塊上的同種反射體(面)時(shí)，其最

大反射波幅差應(yīng)小于等于2dB。JB/T9214-2010

標(biāo)準(zhǔn)試塊：

DZ-1和DB-PZ20-2用途：DB-P

Z20-2

測定直探頭垂直線性和直探頭靈敏度余量

DZ-1

和DB-PZ20-2

組合，測定直探頭盲區(qū)型號尺寸mmlLDZ20—2200+0.1225±0.052±0.05Z20—4200±0.1225±0.054±0.05A.2.1

DB—P

試塊0.03

A0.02圖

A.1

DB—P

試

塊

表A.1DB-P試塊尺寸0.03

A100±1.2804120.1

A萬圖

A.2

DZ-

I

試

塊A.2.2

DZ-

I

試

塊5.04044.2.3.2

對比試塊4.2.3.2.1

對比試塊是指與被檢件或材料化學(xué)成分相似，

含有意義明確參考反射體(反射體應(yīng)采用機(jī)加工方式制作)的試塊，用以調(diào)節(jié)超聲檢測設(shè)備的幅度和聲程，以將所檢出的缺陷信號與已知反射體所產(chǎn)生的信號相比較，

即用于檢測校準(zhǔn)的試塊。

4.2.3.2.2

對比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特

征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對應(yīng)。如果涉及到

不同工件厚度對接焊接接頭的檢測，試塊厚度的選擇應(yīng)

由較大工件厚度確定。解釋：對于不等厚工件，靈敏度按薄的選擇，試塊厚度按厚的選擇。4.2.3.2.3

對比試塊應(yīng)采用與被檢材料聲學(xué)性能相同或

相似的材料制成，當(dāng)采用直探頭檢測時(shí)，不得有大于或

等于φ

2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。4.2.3.2.4

不同被檢工件超聲檢測用對比試塊人工反射

體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合相關(guān)章節(jié)的規(guī)定。4.2.3.2.5

對比試塊的尺寸精度在本部分有明確要求時(shí)

應(yīng)提供相應(yīng)的證明文件，無明確要求時(shí)參照GB/T8428的

規(guī)定。4.2.4

耦合劑4.2.4.1

耦合劑透聲性應(yīng)較好且不損傷檢測表面，如機(jī)

油、化學(xué)漿糊、甘油和水等。4.2.4.2

耦合劑污染物含量的控制4.2.4.2.1

鎳基合金上使用的耦合劑含硫量不應(yīng)大于250mg/L。

4.2.4

.2.2

奧氏體不銹鋼或鈦材上使用的耦合劑鹵素

(氯和氟)的總含量不應(yīng)大于250mg/L。

解釋：對使用在奧氏體不銹鋼、鎳基合金和鈦材上的耦合

劑規(guī)定了污染物含量要求，避免因耦合劑污染物的

殘留對工件造成腐蝕，也是與國際標(biāo)準(zhǔn)接軌。4.2.5

超聲檢測設(shè)備和器材的校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和

檢查的要求4.2.5.1

校準(zhǔn)、核查和運(yùn)行核查應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，應(yīng)使探頭主聲束垂直對準(zhǔn)反射體的反射面，

以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號。4.2.5.2

校準(zhǔn)或核查>

4.2.5.2.1

每年至少對超聲儀器和探頭組合性能中的

水平線性、垂直線性、組合頻率、盲區(qū)(僅限直探頭

)、靈敏度余量、分辨力和儀器的衰減器精度，進(jìn)行

一次校準(zhǔn)并記錄，測試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定。>4

.2.5.2.2

每年至少對標(biāo)準(zhǔn)試塊與對比試塊的表面腐

蝕與機(jī)械損傷，進(jìn)行一次核查。4.2.5.3

運(yùn)行核查4.

2.5.3.1

模擬超聲檢測儀每隔3個(gè)月或數(shù)字超聲檢測

儀每隔6月至少對儀器和探頭組合性能中的水平線性和垂

直線性，進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記錄，測試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定。4.2.5.3.2

每3個(gè)月至少對盲區(qū)(僅限直探頭)、靈敏度

余量和分辨力進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記錄，測試要求應(yīng)滿足

4.2.2.3的規(guī)定。4.2.5.4

檢查4.2.5.4.1

每次檢測前應(yīng)對檢查儀器設(shè)備器材外觀、線纜

連接和開機(jī)信號顯示等情況是否正常。4.2.5.4.2

使用斜探頭時(shí)，檢測前應(yīng)測定入射點(diǎn)(前沿距

離)和折射角

(K

值

)

。4.2.5.5

校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查時(shí)的注意事項(xiàng)校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查時(shí)，應(yīng)將影響儀器線性的控制器(如抑制或?yàn)V波開關(guān)等)均置于"關(guān)"的位置或

處于最低水平上。解釋：為了提高超聲檢測數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、結(jié)論可靠，加強(qiáng)了對儀器、探頭和試塊的校準(zhǔn)或核查。4.3

工藝文件4.3.1

工藝文件包括工藝規(guī)程和操作指導(dǎo)書。4.3.2

工藝規(guī)程除滿足NB/T

47013.1的要求外，還應(yīng)規(guī)

定表1和相關(guān)章節(jié)所列相關(guān)因素的具體范圍或要求。相關(guān)

因素的變化超出規(guī)定時(shí)，應(yīng)重新編制或修訂進(jìn)行工藝規(guī)

程。4.3.3

應(yīng)根據(jù)工藝規(guī)程的內(nèi)容以及被檢工件的檢測要求

編制操作指導(dǎo)書。其內(nèi)容除滿足NB/T

47013.1的要求外，

至少還應(yīng)包括：a)

檢測技術(shù)要求：檢測技術(shù)(直探頭檢測、斜探頭檢

測、直接接觸法、液浸法等)和檢測波形等；>b)

檢測對象：承壓設(shè)備類別，檢測對象的名稱、規(guī)格、

材質(zhì)和熱處理狀態(tài)、檢測部位等；c)

檢測設(shè)備器材：儀器型號、探頭規(guī)格、耦合劑、試

塊種類，儀器和探頭性能檢測的項(xiàng)目、時(shí)機(jī)和性能指

標(biāo)等；序

號相

關(guān)

因

素

的

內(nèi)

容1工件形狀包括規(guī)格、材質(zhì)等2檢測面要求3檢測技術(shù)(直探頭檢測、斜探頭檢測、直接接觸法、液浸法等)4探頭折射角及在工件中的波形(橫波、縱波);探頭標(biāo)稱頻率、晶片尺寸和晶片形狀5檢測儀器類型6耦合劑類型7校準(zhǔn)(試塊及校準(zhǔn)方法)8掃查方向及掃查范圍9掃查方式(手動(dòng)或自動(dòng))10缺陷定量方法11計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)采集(用到時(shí));自動(dòng)報(bào)警和/或記錄裝置(用到時(shí))12人員資格要求；檢測報(bào)告要求d)

檢測工藝相關(guān)技術(shù)參數(shù)：掃查方向及掃查范圍、缺陷定量方法、檢測

記錄和評定要求、檢測示意圖等。4.3.4

操作指導(dǎo)書在首次應(yīng)用前應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證，驗(yàn)證方式可在相關(guān)對比試塊上進(jìn)行，驗(yàn)證內(nèi)容包括檢測范圍內(nèi)靈敏度、信噪比等是否滿足檢測要求。

表1

超聲檢測工藝規(guī)程涉及的相關(guān)因素解釋：本條為新增條款；工藝文件有工藝規(guī)程和

操作指導(dǎo)書。>參照ASME規(guī)范，列出了規(guī)程應(yīng)包括的相關(guān)因素；>參照ASME規(guī)范應(yīng)對規(guī)程進(jìn)行演示的要求，本條

規(guī)定了規(guī)程首次應(yīng)用前應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證。但這

種驗(yàn)證采取一種簡化的方法，即可在相關(guān)的對

比試塊上進(jìn)行。驗(yàn)證內(nèi)容包括檢測范圍內(nèi)靈敏

度、信噪比等是否滿足檢測要求。4.4

安全要求檢測場所、環(huán)境及安全防護(hù)應(yīng)符合NB/T

47013.1的規(guī)

定。解釋：本條為新增條款，按標(biāo)準(zhǔn)的統(tǒng)一要求增加。現(xiàn)場檢測應(yīng)以安全第一

。較差的條件，如交叉作業(yè)、高空作業(yè)、空間受限及存在可燃?xì)怏w和有毒有害

物質(zhì)等等，容易使檢測人員受到傷害，所以必須采

取可靠的防范措施。4.5

檢測實(shí)施4.5.1

檢測準(zhǔn)備4.5.1.1

在承壓設(shè)備的制造、安裝及在用檢驗(yàn)

中，超聲檢測時(shí)機(jī)及檢測比例的選擇等應(yīng)符合

相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定。4.5.1.2

所確定的檢測面應(yīng)保證工件被檢部分能得到充分檢測。4.5.1.3

焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格。檢測面(探頭經(jīng)過的區(qū)域)上所有影響檢測的

油漆、銹蝕、飛濺和污物等均應(yīng)予以清除，其

表面粗糙度應(yīng)符合檢測要求。表面的不規(guī)則狀

態(tài)不應(yīng)影響檢測結(jié)果的有效性。4.5.2

掃查覆蓋為確保檢測時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域

,探頭的每次掃查覆蓋應(yīng)大于探頭直徑或?qū)挾鹊?5%或

優(yōu)先滿足相應(yīng)章節(jié)的檢測覆蓋要求。4.5.3

探頭的移動(dòng)速度探頭的掃查速度一般不應(yīng)超過150mm/s。

當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，

掃查速度應(yīng)通過對比試驗(yàn)進(jìn)行確定。

4.5.4

掃查靈敏度掃查靈敏度的設(shè)置應(yīng)符合相關(guān)章節(jié)的規(guī)定。

4.5.6靈敏度補(bǔ)償a)

耦合補(bǔ)償：在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對由對比

試塊與被檢工件表面粗糙度不同引起的耦合損失進(jìn)

行補(bǔ)償；>b)

衰減補(bǔ)償：在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對由對比

試塊與被檢工件材質(zhì)衰減不同引起的靈敏度下降和

缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償；>c)

曲面補(bǔ)償：在檢測和缺陷定量時(shí)，對檢測面是

曲面的工件，應(yīng)對由工件和對比試塊曲率半徑不同

引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。4.5.6

儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核4.5.6.1

發(fā)生以下情況時(shí)應(yīng)對系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：a)

探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)發(fā)生改變時(shí)；

>b)

懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)；c)

連續(xù)工作4h以上時(shí)；

>d)

工作結(jié)束時(shí)。4.6.6.2

掃描量程的復(fù)核如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描線該點(diǎn)讀數(shù)

的10%或全掃描量程的5%,

則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并

對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢。4.6.6.3

掃查靈敏度的復(fù)核復(fù)核時(shí)，在檢測范圍內(nèi)如發(fā)現(xiàn)掃查靈敏度或距離—波

幅曲線上任一深度人工反射體回波幅度下降2dB,

則

應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅

度上升2dB,

則應(yīng)對所有的記錄信號進(jìn)行重新評定。解釋：與原版基本

一致；按

ASME規(guī)范，補(bǔ)充了“全掃描量程的5%”的要求。要求更嚴(yán)。5承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測方法和質(zhì)量分級5.1

范圍本章規(guī)定了承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測方法和質(zhì)量分級。5.2

承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測工藝文件原材料或零部件的超聲檢測工藝文件應(yīng)滿足4.3的要求之外，還應(yīng)包括表2所列的相關(guān)因素。表2

原材料或零部件超聲檢測工藝規(guī)程涉及的相關(guān)因素序號相關(guān)因素的內(nèi)容1產(chǎn)品形式(板材、管材、鍛件等)2檢測時(shí)機(jī)(如熱處理前或后)3檢測范圍4質(zhì)量驗(yàn)收等級板材檢測概述加工方式：由板坯軋制而成。主要缺陷：分層、折疊、白點(diǎn)、裂紋等，分層和折疊大都平行于表面，白點(diǎn)和裂紋具有不同的方向。檢測方法：直探頭(檢測分層、折疊)斜探頭(檢測白點(diǎn)、裂紋)主要國際標(biāo)準(zhǔn)：1、JIS

GO801

壓力容器用鋼板超聲檢測；2、BS

EN10160厚度大于等于6mm

鋼板的超聲檢測；3、ASME

規(guī)范5.3

承壓設(shè)備用板材超聲檢測方法和質(zhì)量分級5.3.1

范圍5.3.1.1

本條適用于板厚≥6mm～250mm的碳素鋼、低合

金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測方法和質(zhì)量分級。5.3.1.2

鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材、

鎳及鎳合

金板材和銅及銅合金板材的超聲檢測方法參照本條執(zhí)行，質(zhì)量分級按本條。5.3.1.3

奧氏體不銹鋼和奧氏體-鐵素體雙相不銹鋼板

材超聲檢測方法可參照本條執(zhí)行，質(zhì)量分級按本條。解釋：增加了鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材和銅及銅合金板材的超聲檢測。5.3.2

檢測原則5.3.2.1

板材一般采用直探頭進(jìn)行檢測。

5.3.2.2

在檢測過程中對缺陷有疑問或合同雙方技術(shù)協(xié)

議中有規(guī)定時(shí)，可采用斜探頭進(jìn)行檢測。5.3.2.3

可選板材的任一軋制表面進(jìn)行檢測。若檢測人

員認(rèn)為需要或技術(shù)條件有要求時(shí)，也可選板材的上、下兩

軋制表面分別進(jìn)行檢測。解釋：基本內(nèi)容與2015版相同，增加了5.3.2.1條款，強(qiáng)調(diào)了以直探頭為主進(jìn)行檢測，在檢測過程中對缺陷有疑問或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用斜探頭進(jìn)行檢測。在板材的上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測一般較少使用，要求很高。5.3.3

探頭選用5.3.3.1

直探頭5.3.3.1.1

直探頭選用應(yīng)按表3的規(guī)定進(jìn)行。5.3.3.1.

2

當(dāng)采用液浸法檢測板厚小于等于20mm的板材時(shí)，也可選用單晶直探頭進(jìn)行檢測。

5.3.3.1.3

雙晶直探頭性能應(yīng)符合附錄C

(規(guī)范性附錄)的要求。表3

承壓設(shè)備用板材超聲檢測直探頭選用板厚/mm采用探頭標(biāo)稱頻率/MHz探頭晶片尺寸(推薦)/mm6~20雙晶直探頭4~5圓形晶片直徑φ10~30方形晶片邊長10~30>20~60雙晶直探頭或單晶直探頭2~5>60單晶直探頭2~5解釋：增加了條款5.3.3.

1.2,采用液浸法時(shí)，由于

盲區(qū)在液體中，所以可以使用單晶直探頭；與2005版相比，降低了對探頭頻率和尺寸的

要求，有更大的選擇范圍，但應(yīng)注意頻率和

晶片尺寸對檢測結(jié)果的影響；板

厚

2

0mm～60mm

時(shí)也可使用雙晶探頭，但這

對雙晶探頭的要求更高。5.3.3.2

斜探頭斜探頭的選用應(yīng)按附錄D

(規(guī)范性附錄)的規(guī)

定進(jìn)行。5.3.4

對比試塊5.3.4.1

用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm的

板材時(shí)，可以采用如圖1所示的階梯平底試塊。5.3.4.2

檢測厚度大于20mm的板材時(shí)，對比試

塊形狀和尺寸應(yīng)符合表4和圖2的規(guī)定。

對比試塊

人工反射體為φ

5mm平底孔，反射體個(gè)數(shù)至少3

個(gè)。4010×40圖

1

階梯平底試塊全部>40試塊編號板材厚度t檢測面到平底孔的距離S試塊厚度T試塊寬度b1>20~4010、20、3040302>40~6015、30、4560403>60~10015、30、45、60、80100404>100~15015、30、45、60、80、110、140150605>150~20015、30、45、60、80、110、140、180200606>200~25015、30、45、60、80、110、140、180、23025060注1:板材厚度大于40mm時(shí)，試塊也可用厚代薄。注2;為減輕單個(gè)試塊尺寸和重量，聲學(xué)性能相同或相似的試塊上的平底孔可加工在不同厚度試塊上。圖

2

板

材

超

聲

檢

測

用