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文檔簡(jiǎn)介
第一節(jié)概述第二節(jié)基本原理第三節(jié)儀器第四節(jié)干擾及其抑制第五節(jié)定量分析方法原
子
吸
收
光
譜
法AAS原子吸收法的特點(diǎn)1.高選擇性2.檢出限低,可達(dá)10-10g,
無(wú)火焰法可達(dá)10-4g3.準(zhǔn)確度高,
一般0.5%~2%測(cè)定誤差。4、可測(cè)定的元素多,于采用的火焰類型有關(guān)??諝?
乙炔火焰可測(cè)36種元素,
N2O-
乙炔火焰可測(cè)33種元
素,間接測(cè)定法可測(cè)16種元素,除交叉測(cè)定外,供
可測(cè)70多種元素。5.分析速度快6.
在通常情況下,分析一個(gè)元素,就要用該元素的
空心陰極燈作光源。Li
BeNa
MgBAlSiKCaScTiVCrMnFeCoNiCuZnGaGeAsSeRbSrYZrNbMoRuRhPdAgCdInSnSbTeCsBaLaHfTaWReOsIrPtAuHgTlPbBiRecommended
flames
for
atomic
absorption
spectroscopy.[Based
on
data
from
Varian-Techtron.]PrNdSmEuGdTbDyHoErTmYbLuAcetylene/Nitrous
OxideAcetylene/AirHydrogen/AirPropane/AirU原子吸收光譜分析原理原子吸收光譜法是基于基態(tài)原子對(duì)特征譜線的吸收而建立起來(lái)的一種元素分析方法。原理:從空心陰極燈(光源)輻射出來(lái)的特征譜線,通過(guò)含有該待測(cè)元素的基態(tài)原子蒸氣后,由于該待測(cè)元素對(duì)特征譜線進(jìn)行吸收而使特征譜線的強(qiáng)度減弱,
在一定范圍內(nèi),特征譜線的減弱程度(吸光度)與待
測(cè)元素的含量呈正比。SourceChopper(b)
AbsorptionFlame
photometer(a),
and
atomic
absorption
spectrometer
(b).Monochromatoror
FilterBurnerEmission原子吸收光譜儀與火焰光度計(jì)AmplifierMeterDetector(a)基態(tài)與激發(fā)態(tài)原子的分配關(guān)系在一定的火焰溫度下,火焰中基態(tài)原子數(shù)N,與激發(fā)態(tài)
原
子
數(shù)
目N
j
的
熱
平
衡
比
值
符
合
波
茨
曼
分
布
(Boltzman)。由上式可見,等號(hào)右邊除了火焰溫度T外,其
它均為常數(shù),據(jù)此便可以計(jì)算出:常見元素在不同火焰溫度下的基態(tài)原子與激發(fā)態(tài)原
子數(shù)見下頁(yè):Nj
NoPercent
Ionization
of
Alkali
and
Alkaline
Earth
Metals
in
Various
FlamesIonization
Propane-Acetylene-
Acetylene-potential
air
air
nitrous
oxideMetal
(eV)
(2200°K)
(2450°K)
(3200°K)LithiumSodiumPotassiumRubidium
4.16CesiumMagnesiumCalciumStrontiumBarium5.365.124.329143.877.616.095.675.1920.61.130710.003
0.030.20.357833
98.345
99.099.7.1.09
916333968基態(tài)與激發(fā)態(tài)原子的分配關(guān)系由以上表格中不同火焰溫度下的波茨曼分布
(Boltzman)
可見,原子吸收條件下,火焰中的基態(tài)原子數(shù)目占絕對(duì)優(yōu)勢(shì),與激發(fā)態(tài)原子比較,甚至可以火焰中全部是基態(tài)原子,使得原子吸收的基本要求(即基態(tài)原子蒸氣對(duì)特征譜線的吸收)能得到
滿足。但對(duì)于火焰光度法,激發(fā)態(tài)原子返回基態(tài)產(chǎn)生的發(fā)
射光譜是其分析基礎(chǔ),而在低溫火焰中,激發(fā)態(tài)原
子所占比例很少,比較原子吸收更容易受火焰溫度
變化的影響,所以測(cè)定誤差較大。譜線輪廓原子吸收線和原子發(fā)射線的輪廓是相同的,但在
原子吸收的條件下,吸收線的寬度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于空心
陰極燈的發(fā)射線。而且引起譜線變寬的主要因素
不同。激發(fā)態(tài)原子的生存壽命不一樣而產(chǎn)生的譜線寬度約為10-?nm,
在實(shí)際分析工作中,由于其它影響變
寬的因素很多,而且影響強(qiáng)度較大,因而實(shí)際上觀
察不到原子線的自然寬度。譜
線
變
寬自然寬度譜線變寬
熱變寬熱變寬又叫多普勒變寬。原子在熱運(yùn)動(dòng)中相對(duì)檢測(cè)
器位移而產(chǎn)生,離檢測(cè)器越近,頻率約高,波長(zhǎng)約
短;離檢測(cè)器越遠(yuǎn),頻率約低,波長(zhǎng)約長(zhǎng)。在日常
生活中,我們也可體會(huì)到聲波的多普勒效應(yīng),如在
鐵路旁站著等火車開過(guò)時(shí),當(dāng)火車從遠(yuǎn)處向近處開
來(lái),聲音由低沉變?yōu)楦呒?,反映了聲頻由低到高。
在光譜學(xué)中的這一現(xiàn)象相對(duì)于電磁波的頻率由低到
高,波長(zhǎng)由長(zhǎng)變短。由于熱變寬,可使原子線的寬度提高到10-
3nm
數(shù)量
級(jí)。壓力變寬(碰撞變寬)原子熱運(yùn)動(dòng)時(shí),由于相互碰撞而使能級(jí)的不
確定性增加,即引起能級(jí)稍有變化。在試樣原子化
過(guò)程中,由同類原子碰撞引起的變寬稱為赫茲馬克變寬;非同類原子碰撞引起的變寬稱為勞論茲變寬
它們是原子吸收分析不適宜分析高濃度試液的原因
之一。壓力變寬與熱變寬為同一數(shù)量級(jí),使原子線增
加到10-3nm。譜
線
變
寬壓力變寬譜線變寬
自吸變寬光源周圍同種元素的基態(tài)原子蒸氣吸收同種元素的發(fā)
射線引起的變寬(一般吸收共振線)。自吸嚴(yán)重時(shí),
發(fā)生譜線的自蝕,甚至出現(xiàn)譜線分裂。在以上各種影響變寬的因素中:吸收線的寬度主要
受熱變寬和壓力變寬的影響
;發(fā)射線的寬度主要受
自熱變寬和自吸變寬的影響。對(duì)于AAS,
一般條件下,發(fā)射線的寬度應(yīng)<吸收線寬
度的五倍。用單色器從連續(xù)光譜中分出
的單色光與原子吸收光譜寬
度的比較。在使用連續(xù)光譜
作光源的情況下,單色光的
帶寬為0.2nm,
原子吸收線
寬度為103nm,
即使100%
被吸收,發(fā)射光的強(qiáng)度也只
下降0
.5%,若只產(chǎn)生10%
吸收,則強(qiáng)度僅下降0.05%
無(wú)法檢測(cè)。連續(xù)光譜分出的光λ,nm0.2nm,100%積分吸收與峰值吸收原子線寬度
103nm原子吸收I積分吸收與峰值吸收以上分析表明無(wú)法用單色器分出的光進(jìn)行原子吸收測(cè)
定,所以盡管原子吸收現(xiàn)象在19世紀(jì)初便被人們發(fā)現(xiàn)
但是一直未能在分析中利用。1955年澳大利亞物理學(xué)
瓦爾西
(A.Walsh)
提出了峰值吸收的理論,從而奠
定了原子吸收分析的基礎(chǔ)。峰值吸收理論認(rèn)為:當(dāng)銳線光源發(fā)射的譜線,其中心
頻率剛好與原子吸收的中心頻率相同,且能保證銳線
光源的譜線寬度小于原子吸收譜線寬度的1/5時(shí),這樣
銳線光源的光理論上可以100%被原子吸收,從而實(shí)現(xiàn)
對(duì)峰值吸收的測(cè)量。由于只有同種元素的原
子才能發(fā)射相同波長(zhǎng)的
光,所以測(cè)定某種元素
就要使用該元素的空心
陰極燈。同時(shí)要控制空
心陰極燈使其發(fā)射的譜
線寬度比吸收線窄,滿
足測(cè)定要求。峰值吸收示意吸收線發(fā)射線sburce調(diào)制解調(diào)(b)
AbsorptionFlame
photometer(a),
and
atomic
absorption
spectrometer
(b).Monochromatoror
FilterBurnerEmission原子吸收光譜儀與火焰光度計(jì)AmplifierMeterDetector(a)光源—HCL光
源
—HCL機(jī)理:高壓電場(chǎng)(300400V
左右),電離惰
性氣體,正離子向陰極加速轟擊,濺射出金屬原子
金屬原子在陰陽(yáng)間接受電子和正離子的撞擊而獲得
能量
,從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài),在返回基態(tài)時(shí)輻射出
該元素的發(fā)射線,在控制條件下,發(fā)射線主要是該
元素的共振線。以上機(jī)理可概括為:電離-濺射-撞擊
-激發(fā)-退激發(fā)。空心陰極燈的壽命一般為5A/
小時(shí),若以5mA
工作可用1000小時(shí)。鎳空心陰極燈
的發(fā)射光譜原子吸收測(cè)定選擇
譜線:232.0nm火焰原子化裝置有全消耗型和預(yù)混合型,前者一般不用。預(yù)混合型通常
包括四個(gè)部分:噴霧器、霧化室、燃燒器和火焰。噴霧器的主要技術(shù)指標(biāo)是提升率,
一般在3~8m
l/
分之間,高好。霧化室的主要技術(shù)指標(biāo)是霧化率,
一般為7%~15%之
間,高好。燃燒器一般有兩類,分別適用于空氣-乙炔火焰和氧化亞氮-乙炔火焰,均為長(zhǎng)縫型,前者縫長(zhǎng)80~120mm,
縫寬
0.4~0.7mm;
后者縫長(zhǎng)40~60mm,
縫寬0.4~0.5mm。噴霧器是提升試樣溶
液的關(guān)鍵部件,主要
技術(shù)指標(biāo)是提升率,
一般以3~8ml/分之
間,高一點(diǎn)較好?;鹧嬖踊b置_
噴霧器火焰原子化裝置火焰原子化裝置火焰燃燒器的缺點(diǎn)1.霧化率低,稀釋倍數(shù)大,原子化效率低一般提升率為3~8ml/
分,霧化率10%左右,最佳
15%。若前者為5ml/
分,則每分鐘只有1/10的試液即0.5ml
可能進(jìn)入火焰,而在火焰中,燃?xì)馀c助燃?xì)?/p>
的流量為10升/分,會(huì)進(jìn)一步稀釋10000/0.5=20000(2
萬(wàn)
)
倍
。在火焰中氣體受熱大約要膨脹80倍,此外
還有大氣的擴(kuò)散作用,故實(shí)際倍數(shù)稀釋倍數(shù)可達(dá)10
萬(wàn)到20萬(wàn)倍。這樣一來(lái),火焰原子吸收法的絕對(duì)靈
敏度便大大降低了。2.不能分析固體試樣無(wú)火焰燃燒器石墨爐原子化器的結(jié)構(gòu)特點(diǎn):低電壓、大電流、
水冷卻、通氮?dú)?,微量進(jìn)樣(5~10ml)
或微
量固體樣品。在應(yīng)用上,該原子化法的靈敏度可達(dá)10
12g,
比火焰法高3~5個(gè)數(shù)量級(jí);精密度低
一般10%,甚至達(dá)50%;裝置復(fù)雜、價(jià)格
高,主要用于環(huán)境研究中。Metal
JacketH?O
OutMassmann
furnace.
[Courtesy
of
Perkin-Elmer
Corporation.]InsulatorGraphite
TubeElectricalConnectionLight
PathElectricalConnectionH?O
InRemovableWindowGas
In化學(xué)原子化器(氫化物原子化法)原理該方法是基于某些金屬元素在酸性溶液中,能被某種
還原劑還原成該金屬的氫化物,并在室溫的條件下能從溶
液里揮發(fā)出來(lái),然后經(jīng)低溫(900℃以下)即能熱解分離形成金屬的基態(tài)原子,進(jìn)行吸收測(cè)定。例如,砷在酸性溶液中,被KBH,
或NaBH?
還原,反應(yīng)
式如下:AsCl?+4NaBH?+HCl+H?O?AsH?T+NaCl+4HBO?+BH?
個(gè)化學(xué)原子化器(氫化物原子化法)碲、錫、硒、銻、鉛、鍺、鉍、汞等元素均能發(fā)生上述
反應(yīng),分別生成相應(yīng)的氫化物為H?Te
、Sn
H?
、H?Se、SbH?
、PbH?
、GeH?
、BiH?
、Hg被還原后直接形成汞的原子蒸氣,故測(cè)汞時(shí)吸收池?zé)o需加熱。N?氫化物或汞還原劑出射光入射光氫化法的主要特點(diǎn)氫化物產(chǎn)生的過(guò)程本身又是一個(gè)分離過(guò)程,可以克服樣
品其他組分的干擾,并且靈敏度比火焰原子化法約高3
個(gè)數(shù)量級(jí)。氫化物法的局限性在于,能夠形成揮發(fā)性氫化物氣體的
元素很少,到目前為止,報(bào)道的只有9種,因而,它的
廣泛應(yīng)用受到限制。另外,這種方法的測(cè)量精密度不如
火焰原子化法高,分析元素的濃度線性范圍較窄。元素吸收線(nm)氫化物法(μg/ml)火焰法(μg/ml)As193.70.00020.9Bi223.10.00040.32Sb217.60.00020.4Se196.00.00060.8Te214.30.00050.3Pb217.00.00060.15Ge265.10.051.0Sn286.30.00020.4Hg253.70.0013.7氫化法的靈敏度比較干擾及其抑制盡管原子吸收分析是檢測(cè)元素的特征譜
線,干擾較少,但仍然存在,
AAS
中的干擾可
分為三類:增強(qiáng)干擾,使測(cè)定結(jié)果偏高。減弱干擾,使測(cè)定結(jié)果偏低。不定干擾,可高可低。增強(qiáng)干擾增強(qiáng)干擾,使測(cè)定結(jié)果偏高,其中包括:光譜干擾,不同元素吸收線因分不開而重疊,
或同元素鄰近譜線分不開引起,但很少見;背景吸收干擾,來(lái)自于光散射和分子吸收干擾,分
子吸收干擾是原子吸收分析中最難克服的一類干擾,
多數(shù)情況下,必需靠?jī)x器硬件設(shè)計(jì)來(lái)克服。減弱干擾不定干擾減弱干擾,包括電離干擾和化學(xué)干擾實(shí)質(zhì)是由于火焰中基態(tài)原子數(shù)目因此而減少。不定干擾,主要是由于試液基質(zhì)不同而
導(dǎo)致,又稱為物理干擾,如試液酸度不
同
,
粘度不同會(huì)引起提升率、霧化率變化。光譜干擾光譜干擾非測(cè)定譜線進(jìn)入檢測(cè)器所引起的干擾,包括同
元素的譜線干擾,如Mn,279.5、279.8、280.1nm;和
不同
元
素
譜
線
,
如Fe
的
2
7
1
.
9
0
2
5
和
Pt
的271.9038nm。消除方法:1.使用較小通帶,分離相鄰譜線;2.使用無(wú)干擾線,如Fe
使用248
.
3nm
不
用271.9nm。電離干擾當(dāng)火焰溫度的能量大于元素的電離能時(shí),元素會(huì)被電離
成離子,導(dǎo)致基態(tài)原子數(shù)減少,
一般電離能小于6eV
的元
素易發(fā)生。在使用AIR-C?H?
時(shí)
,K、Na
等堿金屬應(yīng)注
意;在使用N?O-C2H?
時(shí)
,Ca、Ba、K、Na
等堿土金
屬也應(yīng)注意。乙炔-一氧化二氮火焰中,加鉀對(duì)減少
鋇電離的正效應(yīng)。消除方法:1.加入更容易電離的元素提供電子(作為消電
離劑),使火焰中的電離平衡向基態(tài)原子方向移動(dòng)。
K++e?K;2.
使用較低溫度的火焰氣體,防止電離。電離干擾加銫,852.1nmI加鈉,589.0nm
500
1000
1500
2000
2500
3000
mg/L
POTASSIUM
ADDEDRESONANCEION
LINE553.5nmX電離干擾EFFECT
OF
ADDED
POTASSIUM0.
.30.
.20.1553.5nm
455.3nmABSORBANCEBARIUM455.4nm0.50.4基質(zhì)干擾或物理干擾導(dǎo)致火焰溫度、燃燒速度、試液提升率、霧化率發(fā)生
變化引起。此類變化的直接后果是,進(jìn)入火焰的原子
數(shù)目不確定性增加,而火焰中基態(tài)原子數(shù)目影響吸光度的大小。消除方法:1.控制試液介質(zhì)或化學(xué)組成盡可能相同。2.
使用標(biāo)準(zhǔn)加入法(測(cè)定不同來(lái)源或組成復(fù)雜的試樣
時(shí)
)3.稀釋待測(cè)液(適宜于濃度較高的測(cè)定對(duì)象)?;瘜W(xué)干擾待測(cè)元素與共存元素發(fā)生化學(xué)反應(yīng),因而引起原
子化程度改變所造成的影響,稱為化學(xué)干擾。如磷酸
對(duì)鈣測(cè)定的干擾。影響化學(xué)干擾的因素很多,除與待測(cè)元素及共存元素的性質(zhì)有關(guān)外,還與由噴霧器、燃燒器、火焰類型、
溫度以及火焰部位等有關(guān)系。使用高效率噴霧器時(shí),霧
滴細(xì),蒸發(fā)速度快,因而干擾較小?;瘜W(xué)干擾在低溫火焰中可以看到化學(xué)干擾,大多在高溫火
焰中消失。相反,在低溫火焰中看不到的干擾,在高
溫火焰中有時(shí)卻呈現(xiàn)出來(lái)。例如磷酸在空氣一乙炔火
焰中降低鈣的吸收強(qiáng)度,但在氧化亞氮-乙塊火焰中
卻稍微呈現(xiàn)增感效果?;鹧娌课徊煌?,化學(xué)干擾也不相同。例如在空氣
-乙快火餡中,火焰上部磷對(duì)鈣的干擾較小,而在火焰
下部干擾最大?;瘜W(xué)干擾磷酸根對(duì)銩測(cè)定的影響0.0
0.5
1.0
1.5
2.0mgL
Ca化學(xué)干擾在各種干擾中?;瘜W(xué)干擾是最主要的一種干擾。為了
抑制化學(xué)于擾,除了選擇適當(dāng)?shù)姆治鰲l件外,
主要還
有下列幾種方法:1.加入抑制劑常見抑制劑包括釋放劑、保護(hù)劑和緩沖劑。2.采用標(biāo)準(zhǔn)加入法3.化學(xué)分離方法加入抑制劑
釋放劑當(dāng)欲測(cè)元素和干擾元素在火焰中形成穩(wěn)定的化合物時(shí),
加入另一種物質(zhì)使之與干擾元素化合,生成更穩(wěn)定或更
難揮發(fā)的化合物,從而使待測(cè)元素從干擾元素的化合物
中釋放出來(lái),加入的這種物質(zhì)稱為釋放劑。例如,測(cè)定
植物中的鈣時(shí),為了消除磷酸鹽和鋁的干擾,在標(biāo)準(zhǔn)和
試樣中加入等量的鎂和硫酸,使鈣從磷酸鹽和鋁的化合
物中釋放出來(lái),因而消除了干擾,鍶和鑭可使鈣和鎂從
磷酸鹽、硫酸鹽、硅酸鹽和鋁的化臺(tái)物中釋放出來(lái)。加
入
抑
制
劑
保護(hù)劑由于保護(hù)劑的加入,使待測(cè)元素不與干
擾元素起反應(yīng),從而“保護(hù)”了待測(cè)元素不受
干擾。加入的保護(hù)劑(一般是絡(luò)合劑)或者是
與待測(cè)元素起作用,形成穩(wěn)定的絡(luò)合物,
EDTA
抑制磷酸對(duì)鈣的干擾時(shí),是由于鈣與
EDTA
絡(luò)合。而不再與磷酸反應(yīng)的結(jié)果;或是
加入的絡(luò)合劑與干擾元素起作用,而把待測(cè)元
素釋放出來(lái),如用8-羥基喹啉消除鋁對(duì)鋅的干
擾,加氟離子防止鋁對(duì)鈹?shù)母蓴_均屬此類。加入抑制劑
緩沖劑在原子收分析中,可用吸收緩沖劑消除干擾元素的影響。假若干擾元素產(chǎn)生正干擾,或當(dāng)高濃度的干擾物質(zhì)存在時(shí)
不會(huì)使待測(cè)元素的吸收顯著降低,那么,在標(biāo)準(zhǔn)和試樣中
就可以加入過(guò)量的干擾物質(zhì)以消除干擾元素的影響。加入
的這種過(guò)量的干擾物質(zhì)就稱為吸收緩沖劑。例如,用氧化
亞氮-乙塊火焰測(cè)定Ti時(shí)
,Al抑制Ti的吸收,當(dāng)Al濃度大于
200ppmS
時(shí),則干擾趨于穩(wěn)定。因此在試樣和標(biāo)準(zhǔn)中均加
入超過(guò)200ppm
的干擾元素Al以消除干擾。采用標(biāo)準(zhǔn)加入法標(biāo)準(zhǔn)加入法也是消除化學(xué)干擾的一種簡(jiǎn)單有效的
方法。使用這種方法,能夠自動(dòng)補(bǔ)償試樣中微量
元素的干擾,準(zhǔn)確度良好。同時(shí)還可以補(bǔ)償粘度、
表面張力等物理干擾。但是應(yīng)注意,當(dāng)存在背景吸收時(shí)不能使用標(biāo)準(zhǔn)加入
法,否則會(huì)造成正誤差。同時(shí),使用標(biāo)準(zhǔn)加入法時(shí),
標(biāo)準(zhǔn)曲線必須是通過(guò)原點(diǎn)的直線。化學(xué)分離方法用上述方法消除化學(xué)干擾無(wú)效時(shí),可以采用化學(xué)分
離方法,不僅可消除干擾,而且還可以起到富集作
用。但是化學(xué)分離較麻煩費(fèi)時(shí),有時(shí)也會(huì)引起沾污
或損失。常用的方法有萃取和離子交換法等,其中
以有機(jī)溶劑萃取法應(yīng)用最廣。因?yàn)樗四芨患?/p>
測(cè)元素和分離干擾元素外,而且直接將有機(jī)相噴霧
到火焰中進(jìn)行測(cè)定,對(duì)一般金屬說(shuō),其測(cè)定靈敏度
比在水相時(shí)約提高2~8倍。個(gè)別元素甚至達(dá)20倍以
上。因此,有機(jī)溶劑萃取一原子吸收法在痕量元素
分析中得到了廣泛的應(yīng)用。但要注意選擇適宜的有
機(jī)溶劑,避免負(fù)作用。背景吸收干擾光散射背景吸收包括光散射和分子吸收。它使吸收值增加產(chǎn)生
正誤差。光散射是在原子化過(guò)程中產(chǎn)生的固體微粒對(duì)入射
光產(chǎn)生散射作用,造成
一種“假吸收”效應(yīng),便
待測(cè)元素的吸光度增加。按照雷利定律,散射光
的強(qiáng)度與波長(zhǎng)的四次方成反比(即I=1/λ4)
所以
光散射的影響隨波長(zhǎng)的變短而增加。另外基體的濃度
越高,溫度越低,散射影響就越大,因此,當(dāng)測(cè)定短
波區(qū)元素,而基體濃度又較高時(shí),應(yīng)特別注意這種干
擾。背景吸收干擾
分子吸收是指在原子化過(guò)程中生成的氣體分子、氧化物、氫
氧化物和鹽類這類分子對(duì)輻射的吸收所引起的干擾。
分子吸收是一種寬帶吸收。不同的化合物有不同的
吸收波長(zhǎng)。例如,在空氣-乙快焰中Ca
形成Ca0H,
它在約530-560nm
有一個(gè)吸收峰,干擾Ba553.5nm和Na589.0nm的
吸收測(cè)定;
SrO在約640-690nm有一個(gè)吸收峰,干擾Li670.7nm的測(cè)定,MgO
在360-390nm
有一個(gè)吸收峰,Cr357.9nm在它的邊緣也受到干擾等等。背景吸收干擾
堿金屬鹵化物的分子吸收在原子吸收分析中,常碰到的分子吸收有下面三類:1.堿金屬的鹵化物在大部分紫外區(qū)有很強(qiáng)的分子
吸收。例如。
KBr、KI
在200-400nm
均有分子吸收。下頁(yè)
的圖是10%和5%NaC1
溶液的分子吸收曲線。顯然,
它干擾Zn、Cd、Ni、Fe、Hg、Mn、Pb、Mg、Cu
等元素的測(cè)定。背景吸收干擾
NaOH的分子吸收光譜如左圖所示
,
在波長(zhǎng)250nm
以
下
,H?SO?
和
H?PO?
有很強(qiáng)的分子吸收,而HNO
則吸收很小。所
以在原子吸收分析中,大
多
采
用HNO
、HCl
作
溶
劑
,
盡可能少用或不用H?SO?
、
H?PO?
等。3.6mol
H?SO?4.0mol
H?PO?A1.8mol
HNO?背景吸收干擾
無(wú)機(jī)酸的分子吸收200
250
300
350
nm背景吸收干擾
干擾元素分子吸收分子吸收與干擾元素的濃度有關(guān),濃度越高,分子
吸收越強(qiáng)(參見上述的NaOH
分子吸收光譜圖)
,
同時(shí)還與火焰溫度有關(guān)。例如,堿金屬鹵化物在低
溫火焰中(如空氣-煤氣火焰)存在分子吸收。但在
溫度較高的空氣-乙炔火焰中,由于分子離解,因而
觀察不到分子吸收。在氧化亞氮-
乙炔火焰中,
CaOH
對(duì)Ba
的分子吸收也消除了。因此,使用高溫
火焰是消除分子吸收干擾的簡(jiǎn)單方法。背景吸收干擾
火焰氣體分子吸收火焰氣體的分子吸收。波長(zhǎng)越短,火焰氣體吸
收越強(qiáng)。對(duì)于空氣。乙塊火焰,在波長(zhǎng)小于
250nm
時(shí),就開始有明顯的吸收?;鹧鏆怏w的
分子吸收,
一般可用零點(diǎn)扣除(即調(diào)零)的方
法來(lái)消除,但嚴(yán)重時(shí)影響穩(wěn)定性。為了盡量減
少火焰氣體的吸收。保證有較好的測(cè)量精度,
測(cè)定象As、Se、Te、Sb、Zn、Cd
等這樣一些
在短波元素時(shí),可使用空氣-氫或氬-氫火焰??鄢尘暗姆椒ū尘拔寨B加在總的吸收值中,因此只有測(cè)得背景吸收
并從待測(cè)元素的總吸收中減去背景吸收部分,才能獲得
原子吸收??鄢尘拔盏姆椒ㄓ校?.1
非吸收線扣除背景3.3背景測(cè)定扣除;3.4用連續(xù)光源扣除背景-氘燈背景校正器扣除背景的方法
非吸收線扣除采用的非吸收線,不為待測(cè)元素的基態(tài)原子吸收,但能被背景吸收,因此,就可以測(cè)得背景吸收部分
,
如,測(cè)定Pb217.0nm時(shí),當(dāng)樣品中確實(shí)沒(méi)有Sb
時(shí)
,則可用Sb217.6nm
測(cè)量背景吸收。然后從Pb的總吸
收中扣除背景吸收即為Pb
的原子吸收。但是,非吸收線扣除背景的缺點(diǎn)是難于找到合適的非吸
收線,另外每個(gè)樣品要測(cè)定2次,實(shí)際上使用不多??鄢尘暗姆椒?/p>
背景測(cè)定扣除配制不含待測(cè)元素的基體溶液,在測(cè)量試樣的工作條
件下測(cè)定背景吸收,然后從待測(cè)元素的總吸收中減去
背景吸收。也可以用與試樣溶液有相似成分的標(biāo)準(zhǔn)溶
液繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線的辦法來(lái)抵消背景吸收的干擾。采用
此法時(shí)應(yīng)抓住主要矛盾,全力找出產(chǎn)生背景吸收的主
要成分,然后使標(biāo)準(zhǔn)溶液中主要成分的濃度與試樣中
的濃度一致。例如,測(cè)定人體組織灰分中的鋅時(shí),發(fā)
現(xiàn)背景吸收是來(lái)源于加入的擇放劑鑭,因此只要使標(biāo)
準(zhǔn)溶液和試液中鑭的濃度抑制就可消除背景吸收??鄢尘暗姆椒疅舯尘靶U尘拔罩饕獊?lái)源于分子吸收和光散射。而分子吸收是寬帶吸收,原子吸收是窄帶-譜線吸收。因此當(dāng)氘燈輻射光(連續(xù)光譜)通過(guò)火焰時(shí),產(chǎn)生的背
景吸收,原子吸收部分可忽略不計(jì)(<1%);當(dāng)空心陰極燈輻射光(窄線光譜)通過(guò)火焰時(shí),既產(chǎn)生
原子吸收,又有背景吸收,因此,如果將空心陰極燈和氘燈輻射光以不同的頻率通過(guò)火焰,利用電子
線路裝置,將兩者的吸收信號(hào)(原子吸收+背景吸收)
與氘燈信號(hào)(背景吸收)相減,便可得到扣除背景
吸收后的原子吸收信號(hào)。測(cè)原子吸收:沒(méi)有樣品時(shí),調(diào)節(jié)HCL
228.8nm光強(qiáng)度=100,A=0。
測(cè)定樣品
時(shí),A總=A原子+A分子;都是銳線光譜
均不能忽略。測(cè)分子吸收:沒(méi)有樣品時(shí),調(diào)節(jié)D?
燈
光強(qiáng)度=100,A=0;
測(cè)定樣品時(shí),
AD?=A原子+A分子。分子為寬帶吸收,
原子銳線吸收所占比例可以忽略,Ap?=A分子??鄢尘暗姆椒?/p>
氖燈背景校正下面是NaCl
和Cd
共存時(shí)背景校正的
例
子
:200
250
300
nm
A
原子=
A
總-AD?Cd
228.8nmD2
寬帶扣
除
背
景
的
方
法
氘燈背景校正氘燈背景校正是一種快速、簡(jiǎn)便扣除背景的方法,然而
受氘燈發(fā)射光譜的限制,只能在400nm
以下進(jìn)行背景校
正(參見教材P.319)。
不過(guò),能適應(yīng)多數(shù)元素測(cè)定。氘燈背景校正是一種儀器扣除法,參見教材P320
頁(yè)。
如果沒(méi)有購(gòu)買帶氘燈背景校正的儀器,也可以用氫燈
作背景校正,不過(guò)要測(cè)定2次,而且測(cè)定前必須調(diào)整
氘燈象與元素?zé)粝笤谌紵魃戏街睾媳憧蓾M足???/p>
除
背
景
的
方
法
S-H法扣除背景該系統(tǒng)以雙脈沖供電給空心陰極燈的方式運(yùn)行。開始,
低電流脈沖使空心陰極燈產(chǎn)生發(fā)射線,與通常用于原
子吸收光譜分析的譜線類似,測(cè)定的原子吸收和背景
吸收的信號(hào)之和。接著,高電流脈沖使空心陰極燈產(chǎn)
生稍有自吸的變寬譜線,測(cè)得的吸光度主要是背景吸
收,再用電子學(xué)線路將兩種信號(hào)進(jìn)行比較,得到的兩
者的差值,就是被測(cè)元素原子的吸光度
,背景吸收被
扣除。目前我國(guó)沈陽(yáng)分析儀器廠已經(jīng)研制成功,
WY
X—403
型原
子吸收分光光度計(jì)就屬于這種類型的儀器。小電流測(cè)定時(shí),測(cè)得吸光度包括
原子吸收和分子吸收,均為銳線
光譜,不能忽略。大電流測(cè)定時(shí),譜線由于自吸變
寬,相當(dāng)于D?
測(cè)定,雖然測(cè)得吸
光度包括原子吸收和分子吸收,
小電流所占比例很小可以忽略。扣
除
背
景
的
方
法
S-H法扣除背景228.8nm,小電大電流ACd流S-H
法扣除背景示意A
原子=
A
小電流-A
大電流300
nm200250扣除背景的方法
塞曼效應(yīng)扣除背景原理:利用強(qiáng)磁鐵產(chǎn)生磁場(chǎng),使原子線分裂。不加磁場(chǎng)測(cè)定原子吸收和分子吸收,加上磁場(chǎng)后原
子線分裂,偏離不加磁場(chǎng)時(shí)的原子線,可以測(cè)定分
子吸收(背景吸收),相減得到原子吸收。磁場(chǎng)磁場(chǎng)扣除背景的方法
塞曼效應(yīng)扣除背景靈敏度與檢出限相對(duì)靈敏度與絕對(duì)靈敏度分別適用于液體和固體試樣。
相對(duì)靈敏度指吸光度為0.0044A時(shí)所對(duì)應(yīng)的待測(cè)元素水溶液的濃度,濃度單位是μg/ml,
之所以采用相對(duì)靈
敏度,是因?yàn)檫M(jìn)入光路的待測(cè)原子數(shù)無(wú)法準(zhǔn)確得知,
而且它受提升率、霧化率等因素得影響,故測(cè)定要在最佳工作條件下進(jìn)行,相對(duì)靈敏度的單位是μg/ml
·
1%。對(duì)于固體試樣,可以通過(guò)稱樣直接獲得進(jìn)入光路
的待測(cè)物質(zhì)的絕對(duì)重量,因而可用絕對(duì)靈敏度來(lái)表示。定義為,能產(chǎn)生0.0044A(1%
吸收)所對(duì)
應(yīng)的待測(cè)元素的重量,單位是g/1%。檢
出
限也有絕對(duì)和相對(duì)檢出限之分,指相當(dāng)于兩倍噪聲信號(hào)
所對(duì)應(yīng)的元素濃度或質(zhì)量。注意靈敏度與檢出限兩者之間的關(guān)系。儀器A的靈敏度能保證測(cè)
量精度。儀器B的靈敏度不能保證
測(cè)量精度。儀器的檢出限更重要。t儀器A儀器B0.0044測(cè)定條件及其選擇原子吸收的工作條件受多種因素的影響
,
常見的工作條件包括:1.燈電流
信噪比,保證靈敏度越小越好2.分析線
排除如譜線干擾、短波長(zhǎng)吸收干擾3.火焰類型
燃?xì)馀c助燃?xì)獗壤?.狹縫寬度
可靠分離吸收線前提下越大越好5.其它
如燃燒頭角度和高度、火焰高度、提升率和霧化率等。1.RecommendedFlame:
Air-acetylene,
oxidizing(lean,
blue)2.
Sensitivity
with
a
flow
spofler
&
N20-C2H2
flame
at
213.9
nm:3.
Table
contains
HCL
data.
EDL
sensitivity
values
approximat
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