第14章-過程控制方法

14過程控制方法14.1工序質(zhì)量控制的根本概念工序質(zhì)量產(chǎn)品可分割的工序——產(chǎn)品質(zhì)量特性〔尺寸、強(qiáng)度等〕產(chǎn)品不可分割的工序——工藝質(zhì)量特性〔溫度、濃度等〕屬于制造質(zhì)量的范疇優(yōu)劣判斷：符合性質(zhì)量14過程控制方法14.1過程質(zhì)量控制的根本概念質(zhì)量的波動與分布正常波動：影響較小；難以防止異常波動：影響較大；可以控制生產(chǎn)過程控制系統(tǒng)的目標(biāo)正態(tài)分布的特點14過程控制方法14.2過程能力和過程能力指數(shù)過程能力定義：過程在一定時間，處于控制狀態(tài)〔穩(wěn)定狀態(tài)〕下的實際加工能力〔固有能力/質(zhì)量保證能力〕量化：可用過程質(zhì)量特性值的波動范圍來衡量過程能力B=6σ。由于P〔x∈μ±3σ〕=99.73%,故6σ近似于過程質(zhì)量特性值的全部波動范圍。顯然，B越小，過程能力就越強(qiáng)。14過程控制方法14.2過程能力和過程能力指數(shù)過程能力指數(shù)定義：表示過程能力滿足過程質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)要求程度的量值。過程質(zhì)量要求的范圍〔公差〕和過程能力的比值公式：無偏時雙向公差過程能力指數(shù)計算過程有偏時雙向公差過程能力指數(shù)計算單項公差過程能力指數(shù)計算過程能力指數(shù)的判斷與處置〔P158〕過程能力和過程能力指數(shù)(1)無偏時雙向公差工序能力指數(shù)(2)過程有偏時雙向公差過程能力指數(shù).引用偏移系數(shù)那么有

過程能力和過程能力指數(shù)(3)單項公差過程能力指數(shù)當(dāng)只要求公差上限時，那么假設(shè)只要求公差下限，那么Cp與Cpk的比較無偏情況下的Cp表示過程加工的一致性，即“質(zhì)量能力〞，Cp越大，那么質(zhì)量特性值的分布“越苗條〞，質(zhì)量能力越強(qiáng)；有偏情況的Cpk表示過程中心與中心Tm偏移情況下的過程能力指數(shù)，Cpk越大，那么二者偏離越小，也即過程分布中心對標(biāo)準(zhǔn)中心越“瞄準(zhǔn)〞，是過程的“質(zhì)量能力〞與“管理能力〞二者綜合的結(jié)果。過程能力指數(shù)和不合格率的關(guān)系(1)無偏時Cp和不合格率p的關(guān)系設(shè)Pu=PL分別為超出標(biāo)準(zhǔn)上、下界限的不合格率，于是總的不合格率：故〔2〕有偏移過程能力指數(shù)Cpk、偏移度K和不合格率p之間的關(guān)系當(dāng)分布中心向標(biāo)準(zhǔn)上限TU偏移時同理，可得于是總不合品率當(dāng)K較大時，PL接近于零，可略去，故過程能力評價和分析14過程控制方法14.3控制圖〔controlchart〕法——控制圖概念又叫管理圖或休圖。它是判斷和預(yù)報生產(chǎn)過程中質(zhì)量狀況是否發(fā)生異常波動的一種有效的方法。可用3σ原那么確定控制圖的控制線〔ControlLines〕CL=μUCL=μ+3σLCL=μ-3σ控制圖的根本原理控制圖是把造成質(zhì)量波動的六個原因〔人機(jī)料法環(huán)、測量等〕分為兩個大類：隨機(jī)性原因〔偶然性原因〕和非隨機(jī)性原因〔系統(tǒng)原因〕。這樣，我們就可以通過控制圖來有效地判斷生產(chǎn)過程質(zhì)量的穩(wěn)定性，及時發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過程中的異常現(xiàn)象，查明生產(chǎn)設(shè)備和工藝裝備的實際精度，從而為制定工藝目標(biāo)和規(guī)格界限確立可靠的根底，使得過程的本錢和質(zhì)量成為可預(yù)測的，并能夠以較快的速度和準(zhǔn)確性測量出系統(tǒng)誤差的影響程度。14過程控制方法14.3控制圖〔controlchart〕法——控制圖類型〔計量〕均值-標(biāo)準(zhǔn)差控制圖——設(shè)計過程：P160平均值-級差控制圖——設(shè)計過程：P16314過程控制方法14.3控制圖〔controlchart〕法——控制圖類型〔計量〕中位數(shù)-級差控制圖——設(shè)計過程：P166單值-移動級差控制圖——設(shè)計過程：P16714過程控制方法14.3控制圖〔controlchart〕法——控制圖類型〔計件〕不合格率控制圖——設(shè)計過程：P168不合格品數(shù)控制圖——設(shè)計過程：P16914過程控制方法14.3控制圖〔controlchart〕法——控制圖類型〔計點〕缺陷數(shù)控制圖——設(shè)計過程：P171單位缺陷數(shù)控制圖——設(shè)計過程：P171－17214過程控制方法14.3控制圖〔controlchart〕法——控制圖應(yīng)貫徹預(yù)防原那么“查出異因，