2024組裝式應(yīng)用開發(fā)平臺(tái)第3部分 自研能力要求和測(cè)試方法

組裝式應(yīng)用開發(fā)平臺(tái)第3部分：自研能力要求和測(cè)試方法目 次目 次 I前 言 II范圍 3規(guī)范性引用文件 3縮略語 3下列縮略語適用于本文件。 3自研能力要求 3開源許可 3代碼自研率 3關(guān)鍵技術(shù)實(shí)現(xiàn) 3測(cè)試方法 4開源許可 4代碼自研率 4關(guān)鍵技術(shù)實(shí)現(xiàn) 4I組裝式應(yīng)用開發(fā)平臺(tái)第3部分：自研能力要求和測(cè)試方法范圍本文件規(guī)定了組裝式應(yīng)用開發(fā)平臺(tái)的自研能力要求和測(cè)試方法。本文件適用于組裝式應(yīng)用開發(fā)平臺(tái)的開發(fā)者、提供商及專業(yè)測(cè)評(píng)機(jī)構(gòu)開展自研能力測(cè)試工作，為提升組裝式應(yīng)用開發(fā)平臺(tái)自主研發(fā)水平、強(qiáng)化測(cè)試能力、健全技術(shù)手段提供指引和依據(jù)。規(guī)范性引用文件下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T25069-2010信息安全技術(shù)術(shù)語縮略語下列縮略語適用于本文件。BSD 伯克利軟件分發(fā) BerkeleySoftwareDistributionMIT 麻省理工學(xué)院 MassachusettsInstituteofTechnologyARM 安謀國際科技股份公司芯片架構(gòu) AdvancedRISC(InstructionComputer)Machine自研能力要求開源許可非開源性質(zhì)的平臺(tái)，使用開源代碼對(duì)應(yīng)的許可應(yīng)為商業(yè)友好的開源許可，如BSD、APACHE、MIT等許可協(xié)議。代碼自研率代碼自研率評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)按以下3個(gè)等級(jí)評(píng)判：卓越-代碼自研率80%以上優(yōu)異-代碼自研率65%合格-代碼自研率50%關(guān)鍵技術(shù)實(shí)現(xiàn)具備以下核心競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵技術(shù)自研能力（標(biāo)準(zhǔn)、模型算法可驗(yàn)證性、專利、測(cè)試報(bào)告等）1、“模型驅(qū)動(dòng)”技術(shù)實(shí)現(xiàn)（可選）2（可選）3（可選）4、工作流：多版本化切換機(jī)制、流程高并發(fā)策略（可選）5、表單設(shè)計(jì)：可視化拖拽配置、擴(kuò)展點(diǎn)擴(kuò)展模式、標(biāo)簽組件機(jī)制（可選）3測(cè)試方法開源許可編號(hào)4.1預(yù)置條件開源友好類型的license清單，組裝式應(yīng)用開發(fā)平臺(tái)使用開源軟件license清單測(cè)試方法以開源友好類型的license清單作為基準(zhǔn),對(duì)應(yīng)用開發(fā)平臺(tái)使用開源軟件license清單對(duì)比過濾，生成使用友好license開源軟件清單預(yù)期結(jié)果應(yīng)用開發(fā)平臺(tái)使用開源軟件license全部被識(shí)別為開源友好類型。代碼自研率編號(hào)4.2預(yù)置條件平臺(tái)自研源碼和依賴使用第三方源碼（開源或非開源）具備識(shí)別區(qū)分性。比如java源碼文件可以通過package定義的命名空間區(qū)分。測(cè)試方法1、通過工具掃描應(yīng)用開發(fā)平臺(tái)源碼(忽略注釋和無效【如無關(guān)聯(lián)引用】源碼)，掃描后得到自研源碼量(比如代碼行數(shù))、全平臺(tái)源碼量。對(duì)掃描后得到的自研源碼通過源碼比對(duì)工具和業(yè)界同類型開源軟件源碼進(jìn)一步比對(duì)去重只保留重復(fù)性低或無重復(fù)的源碼最為最終自研源碼，從而通過公式【自研源碼量/應(yīng)用開發(fā)平臺(tái)源碼量)*100%】,計(jì)算得出代碼自研率。2、自研關(guān)鍵技術(shù)是對(duì)自研率提升的一個(gè)主要補(bǔ)充，判定每項(xiàng)提升自研率5%預(yù)期結(jié)果代碼自研率至少達(dá)到合格級(jí)別(代碼自研率>50%)關(guān)鍵技術(shù)實(shí)現(xiàn)編號(hào)4.3預(yù)置條件1、關(guān)鍵技術(shù)專利已通過實(shí)質(zhì)審查或技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)提案被標(biāo)準(zhǔn)組織采納或關(guān)鍵技術(shù)論文被類似IEEE和ACL等論文庫發(fā)表或第三方組織頒發(fā)的認(rèn)證技術(shù)成果報(bào)告2、具備驗(yàn)證業(yè)務(wù)場(chǎng)景測(cè)試能力和環(huán)境。測(cè)試方法1、獲取并查驗(yàn)前置條件中描述的專利、論文、標(biāo)準(zhǔn)、認(rèn)證報(bào)告文書23次，根據(jù)測(cè)試結(jié)果生成業(yè)界關(guān)鍵指標(biāo)項(xiàng)的值，和業(yè)界指標(biāo)值進(jìn)行對(duì)比。預(yù)期結(jié)果1、相關(guān)證明的文書可獲取2、關(guān)鍵項(xiàng)指標(biāo)值均與業(yè)界標(biāo)桿頭接近甚至領(lǐng)先。編號(hào)4.3預(yù)置條件1、關(guān)鍵技術(shù)專利已通過實(shí)質(zhì)審查或技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)提案被標(biāo)準(zhǔn)組織采納或關(guān)鍵技術(shù)論文被類似IEEE和ACL等論文庫發(fā)表或第三方組織頒發(fā)的認(rèn)證技術(shù)成果報(bào)告。2、具備驗(yàn)證業(yè)務(wù)場(chǎng)景測(cè)試能力和環(huán)境。4測(cè)試方法1、可視化規(guī)則模型實(shí)時(shí)模擬。2、規(guī)則樹可視化配置。預(yù)期結(jié)果1、相關(guān)功能符合預(yù)期，可對(duì)標(biāo)業(yè)界標(biāo)桿企業(yè)同類型產(chǎn)品。編號(hào)4.3預(yù)置條件1、關(guān)鍵技術(shù)專利已通過實(shí)質(zhì)審查或技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)提案被標(biāo)準(zhǔn)組織采納或關(guān)鍵技術(shù)論文被類似IEEE和ACL等論文庫發(fā)表或第三方組織頒發(fā)的認(rèn)證技