數(shù)字電路實驗流程

數(shù)字電路實驗流程2024/3/25數(shù)字電路實驗流程實驗要求當(dāng)堂交實驗交實驗報告（第一個下一次課交）不允許遲到，不早退愛護(hù)儀器，損壞儀器要賠償！2數(shù)字電路實驗流程實驗簡介驗證性實驗---要求自己能驗證(預(yù)習(xí)報告)一共八個實驗，第一個實驗報告和第二個的一起交，前七個每個10分，最后一個30分，一共100分三部分：輸入---邏輯電平；數(shù)字電路核心---TTL芯片；輸出---電平指示，示波器，數(shù)碼顯示3數(shù)字電路實驗流程74LS20二4輸入與非門4數(shù)字電路實驗流程74LS86四2輸入異或門5數(shù)字電路實驗流程74LS00四2輸入與非門6數(shù)字電路實驗流程實驗一門電路邏輯功能及測試實驗前按學(xué)習(xí)機(jī)使用說明先檢查學(xué)習(xí)機(jī)電源是否正常，然后選擇實驗用的集成電路，按自己設(shè)計的實驗接線圖接好連線，特別注意及地線不能接錯。實驗中改動接線需斷開電源，接好線后再通電實驗。圖1.1&V12457Vcc146Y7數(shù)字電路實驗流程1、測試門電路邏輯功能選用雙四輸入與非門74LS20一只，插入面包板，按圖1.1接線、輸入端接S1－S4（電平開關(guān)輸出插口），輸出端D1－D8接顯示發(fā)光二極管（任意一個）將電平開關(guān)按表1.1置位，分別測輸出電壓及邏輯狀態(tài)。輸入輸出1245Y電壓(V)HHHHLHHHLLHHLLLHLLLL表1.18數(shù)字電路實驗流程2、異或門邏輯功能測試選二輸入端四異或門電路74LS86，如圖1.2接線，輸入端1、2、4、5接電平開關(guān)，輸出端A、B、Y接電平顯示發(fā)光二極管。將電平開關(guān)按表1.2置位，將結(jié)果填入表中。

表1.2輸入輸出XZYY(V)00001000110011011110101圖1.2=1=1=1ABCDZXY9數(shù)字電路實驗流程&&A311198211B&Y132&Z13121&54612圖1.3103、測試邏輯電路的邏輯函數(shù)關(guān)系10填表1.3，寫出邏輯表達(dá)式AB數(shù)字電路實驗流程表1.3輸入AB輸出YZLLLHHLHH11數(shù)字電路實驗流程4、利用與非門控制輸出用一片74LS00按圖1.4接線。S接任一電平開關(guān)，用示波器觀察S對輸出脈沖的控制作用。圖1.4&S2311Y12數(shù)字電路實驗流程4、利用與非門控制輸出用一片74LS00按圖1.5接線。S接任一電平開關(guān)，用示波器觀察S對輸出脈沖的控制作用。圖1.5&S465Y&23113數(shù)字電路實驗流程5.與非門測試平均延遲時間采用環(huán)路振蕩法測量tpd，輸入端A接入100kHz的固定脈沖，用雙蹤示波器觀察輸入端A和輸出端Y的波形，并測量它們之間的相位差，計算每個門電路的平均延遲時間tpd。圖1.6&&&&&&1235416109128113112354611122數(shù)字電路實驗流程6.用與非門組成其它門電路用二輸入端四與非門74LS00組成同或門（1）寫出同或門表達(dá)式轉(zhuǎn)化為與非門邏輯表達(dá)式（2）畫出邏輯電路圖將與非門轉(zhuǎn)化成同或門的邏輯電路圖（3）自擬實驗步驟，將測試結(jié)果填入表1.4中數(shù)字電路實驗流程表1.4輸入AB輸出Y00010011數(shù)字電路實驗流程6.回答問題怎樣判斷門邏輯功能是否正常？與非門一個接連續(xù)脈沖，其余狀態(tài)什么時候允許脈沖通過？什么時候禁止脈沖通過？異或門又叫可控反相門，為什么？17數(shù)字電路實驗流程實驗二組合邏輯電路的設(shè)計

及功能測試預(yù)習(xí)要求：組合邏輯電路的分析方法用與非門和異或門構(gòu)成的半加器、全加器的工作原理二進(jìn)制的運(yùn)算熟悉組合邏輯電路的分析方法18數(shù)字電路實驗流程1.組合邏輯電路功能測試用兩片74LS00芯片組成如圖電路，為便于接線與檢查，已經(jīng)給出芯片的編號與引腳。（1）A、B、C接S0-S9邏輯電平中任意三個。（2）改變輸入端A、B和C的邏輯狀態(tài)，測試輸出Y1和Y2的值，完成表2.1。（3）寫出輸出端Y1和Y2的邏輯表達(dá)式。19數(shù)字電路實驗流程&&Y&A3110982213121BC&Y1461&Y210982&Y5462&12131115圖2.120數(shù)字電路實驗流程輸入輸出ABCY1Y2000001011111110100101010

表2.121數(shù)字電路實驗流程2、測試用異或門（74LS86）和與非門組成的半加器的邏輯功能圖2.2根據(jù)半加器的邏輯表達(dá)式可知：半加器Y是A、B的異或，而進(jìn)位Z是A、B相與，故半加器可用一個集成異或門和兩個與非門組成如圖2.2。在學(xué)習(xí)機(jī)上用異或門和與門接成以上電路。A、B接電平開關(guān)S，Y、Z接電平顯示，按表2.2要求改變A、B狀態(tài)，填表。輸入A0101B0011輸出YZ表2.2&A31102213=12B&C5462S22數(shù)字電路實驗流程&&&Ai111BiCi-1&2&X32&2&1圖2.3&Si2&Ci3X1X2AiBiAiBiAiAiBiBiAiBi+AiBiAiBi+AiBiCi-1數(shù)字電路實驗流程&&&Ai111BiCi-1&2&X32&2&1圖2.3&Si2&Ci3X1X2數(shù)字電路實驗流程3、測試全加器的邏輯功能ABCi-1CiSi000010100110001011101111寫出圖2.3電路的邏輯表達(dá)式2.填寫表2.3表2.325數(shù)字電路實驗流程設(shè)計四人表決電路多數(shù)贊成決議通過，反之決議未通過，表決結(jié)果用二極管電平指示燈顯示若用A、B、C、D表示表決的四人，用Y表示表決的結(jié)果，寫出四人表決電路的邏輯表達(dá)式畫出邏輯電路圖。在實驗箱上按設(shè)計的電路圖進(jìn)行接線自擬步驟，測試結(jié)果填到表格中。26數(shù)字電路實驗流程27四人表決電路的卡諾圖數(shù)字電路實驗流程課后習(xí)題總結(jié)組合邏輯電路的分析方法和設(shè)計方法。28數(shù)字電路實驗流程實驗三譯碼器和數(shù)據(jù)選擇器實驗?zāi)康氖煜ぷg碼器的邏輯功能。掌握數(shù)據(jù)選擇器的邏輯功能掌握集成譯碼器和數(shù)據(jù)選擇器的應(yīng)用29數(shù)字電路實驗流程74LS139譯碼器芯片引腳圖30數(shù)字電路實驗流程74LS153數(shù)據(jù)選擇器芯片引腳圖31數(shù)字電路實驗流程將74LS139譯碼器按圖2.4接線，按表3.1輸入電平分別置位，填輸出狀態(tài)表。1、譯碼器功能測試

表3.1輸入輸出使能選擇GBAY1Y2Y3Y4HXXLLLLLHLHLLHH

圖2.432數(shù)字電路實驗流程2、譯碼器應(yīng)用將雙2-4線譯碼器轉(zhuǎn)換為3-8線譯碼器畫出轉(zhuǎn)換電路圖。在學(xué)習(xí)機(jī)上接線并驗證設(shè)計是否正確。設(shè)計并填寫該3-8譯碼器功能表，畫出輸入、輸出波形。33數(shù)字電路實驗流程數(shù)字電路實驗流程3、數(shù)據(jù)選擇器的測試將雙4選1數(shù)據(jù)選擇器74LS153參照圖3.3接線，測試其功能并填寫功能表將學(xué)習(xí)機(jī)脈沖信號源中固定脈沖4個不同頻率號接到數(shù)據(jù)選擇器4個輸入端，選擇端置位，使輸出端可分別觀察到4種不同頻率脈沖信號，分析上述實驗結(jié)果并總結(jié)數(shù)據(jù)選擇器作用

選擇端數(shù)據(jù)輸出端輸出控制輸出BAC0C1C2C3GXXXXXXHLLLXXXLLLHXXXLLHXLXXLLHXXHXLHLXXLXLHLXXHXLHHXXXLLHHXXXHL35數(shù)字電路實驗流程4.數(shù)據(jù)選擇器的應(yīng)用將實驗箱上的四個固定連續(xù)脈沖按圖3.4接到數(shù)據(jù)選擇器的四個輸入端C0、C1、C2和C3，輸出控制端G以及選擇輸入端B、A的不同邏輯狀態(tài)下，分別觀察輸出端的波形，將測試結(jié)果填入表3.4中。分析輸出端4種不同頻率脈沖信號波形與選擇輸入端B、A的關(guān)系，并總結(jié)數(shù)據(jù)選擇器作用。數(shù)字電路實驗流程輸出控制選擇端數(shù)據(jù)輸出端輸出GBAC0C1C2C3HXX2550100200LLL2550100200LLL2550100200LLH2550100200LHH2550100200表3.4數(shù)字電路實驗流程課后習(xí)題總結(jié)譯碼器和數(shù)據(jù)選擇器的使用體會數(shù)字電路實驗流程實驗四觸發(fā)器R-S，D，J-K實驗?zāi)康氖煜げ⒄莆栈綬S觸發(fā)器的構(gòu)成，工作原理和功能測試方法，熟悉并理解不定的含義。2.熟悉并掌握D-FF和JKFF的邏輯功能和功能測試方法。3.學(xué)會正確使用觸發(fā)器的集成芯片。39數(shù)字電路實驗流程1、基本R-SFF功能測試兩個TTL與非門首尾相接構(gòu)成的基本R-SFF的電路如圖3.1所示試按下面的順序在端加信號：

圖4.1基本R-SFF電路

QG1Rd&&SdQG21Sd，Rd2345640數(shù)字電路實驗流程基本R-S觸發(fā)器測試1.觀察并記錄FF的，、端的狀態(tài)，將結(jié)果填入下表4.1中，并說明在上述各種輸入狀態(tài)下，F(xiàn)F執(zhí)行的是什么功能？邏輯功能011110115.當(dāng)、都接低電平時，觀察，端的狀態(tài)，當(dāng)、同時由低電平跳為高電平時，注意觀察，端的狀態(tài)，重復(fù)3-5次看，端的狀態(tài)是否相同，以正確理解“不定”狀態(tài)的含義。表4.141數(shù)字電路實驗流程（2）Sd端接低電平，Rd端加脈沖。（3）Sd端接高電平，Rd端加脈沖。（4）連接Sd、Rd，并加脈沖。記錄并觀察(2)(3)(4)三種情況下Q，Q端狀態(tài)。從中總結(jié)出基本R-SFF的Q或Q端的狀態(tài)改變和輸入端Sd、Rd的關(guān)系。42數(shù)字電路實驗流程例子RDSDQQ0001100011111011010043數(shù)字電路實驗流程2、維持-阻塞型D觸發(fā)器功能測試圖4.2DFF邏輯符號74LS74雙D觸發(fā)器（正沿觸發(fā)）RdCPDSdQQGNDVc字電路實驗流程維持-阻塞型D觸發(fā)器功能測試的實驗步驟(1)分別在Sd、Rd端加低電平，觀察并記錄Q，Q端的狀態(tài)。(2)令Sd、Rd端為高電平，D端分別接高，低電平，用點(diǎn)動脈沖作為CP，觀察并記錄當(dāng)CP為0、↑、1、↓時Q端的狀態(tài)變化。(3)當(dāng)Sd=Rd=1、CP=0（或CP=1），改變D端信號，觀察Q端的狀態(tài)是否變化？整理上述實驗數(shù)據(jù)，將結(jié)果填入表3.2中。CPD01xx0110xx0111↑00111↑101表4.245數(shù)字電路實驗流程令Sd=Rd=1，將D和端相連，CP加連續(xù)脈沖，用雙蹤示波器觀察并記錄Q相對與CP的波形。46數(shù)字電路實驗流程3、負(fù)邊沿J-K觸發(fā)器功能測試74LS112雙J-K觸發(fā)器（負(fù)沿觸發(fā)）47數(shù)字電路實驗流程雙J-K負(fù)邊沿觸發(fā)器74LS112的邏輯符號如4.3所示。自擬實驗步驟，測試其功能，并將結(jié)果填入表3.3中。若令J=K=1時，CP端加連脈沖，用雙蹤示波器觀察Q-CP端波形，和DFF的D和端相連接時觀察到的Q端的波形比較，有和異同點(diǎn)？

CPJK

01XXXX10XXXX11↓0X011↓1X011↓X0111↓X11圖4.3表3.3RdCPJSdQQGNDVcc156316845K2148數(shù)字電路實驗流程4.觸發(fā)器功能轉(zhuǎn)換（1）將D觸發(fā)器和J-K觸發(fā)器轉(zhuǎn)換成T’觸發(fā)器，列出表達(dá)式，畫出實驗電路圖。（2）接入連續(xù)脈沖，觀察各觸發(fā)器CP及Q端波形，比較兩者關(guān)系。（3）自擬實驗數(shù)據(jù)并填寫之。49數(shù)字電路實驗流程6、觸發(fā)器功能轉(zhuǎn)換將D觸發(fā)器和J-K觸發(fā)器轉(zhuǎn)換成觸發(fā)器，列出表達(dá)式，畫出實驗電路圖。接入連續(xù)脈沖，觀察各觸發(fā)器CP及Q端波形，比較兩者關(guān)系。自擬實驗數(shù)據(jù)并填寫之。50數(shù)字電路實驗流程實驗五時序電路測試及研究實驗芯片：74LS00二輸入端四與非門74LS10三輸入端三與非門74LS1944位雙向移位存儲器74LS175四D觸發(fā)器51數(shù)字電路實驗流程VCCQDQD4DQC3DQCCPRQAQA1D2DQBQBGND74LS175四D觸發(fā)器52數(shù)字電路實驗流程1DC12DC23DC3CP4DC4“1”74LS175RRRRABCD接LED電平指示燈1、自循環(huán)移位寄存器—環(huán)行計數(shù)器斷開1D和QD，將A、B、C、D置為1000，用單脈沖計數(shù)，用狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖表示各觸發(fā)器狀態(tài)。斷開1D和QD，將A、B、C、D置為1100，用單脈沖計數(shù)，用狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖表示各觸發(fā)器狀態(tài)。53數(shù)字電路實驗流程1DC12DC23DC3CP4DC4“1”74LS175RRRRABCD接LED電平指示燈&&54數(shù)字電路實驗流程74LS10三輸入端三與非門55數(shù)字電路實驗流程56數(shù)字電路實驗流程2、測試40194的邏輯功能74LS194（CD40194）的引腳圖2153456781413121110957數(shù)字電路實驗流程CD40194芯片功能表58數(shù)字電路實驗流程清除模式時鐘串行輸入輸出功能總結(jié)CRS1S0CPSLSRD0D1D2D30XX↑XXXXXX111↑XXabcd101↑X0XXXX101↑X1XXXX101↑X0XXXX101↑X0XXXX110↑1XXXXX110↑1XXXXX110↑1XXXXX110↑1XXXXX100↑XXXXXX表5.1寄存器功能表59數(shù)字電路實驗流程3、用CD40194實現(xiàn)環(huán)形計數(shù)器自擬實驗電路，用并行送數(shù)法輸入二進(jìn)制代碼（0100），然后實現(xiàn)右移循環(huán)，觀察寄存器輸出狀態(tài)的變換，填表5.2CPQ0Q1Q2Q3001001234560數(shù)字電路實驗流程4、實現(xiàn)數(shù)據(jù)的串行、并行轉(zhuǎn)換串行輸入，并行輸出61數(shù)字電路實驗流程課后問題總結(jié)時序電路的特點(diǎn)62數(shù)字電路實驗流程實驗六集成計數(shù)器實驗芯片74LS00二輸入端四與非門1片74LS90二-五-十混合進(jìn)制計數(shù)器2片實驗內(nèi)容90芯片的功能測試任意進(jìn)制計數(shù)器(1)復(fù)位法(2)置位法(3)45進(jìn)制計數(shù)63數(shù)字電路實驗流程74LS00四2輸入與非門64數(shù)字電路實驗流程74LS90(二—五—十進(jìn)制異步計數(shù)器)9(1)9(2)0(2)0(1)65數(shù)字電路實驗流程模二模五A(CP1)B(CP2)74LS90(二—五—十進(jìn)制異步計數(shù)器)R0(1)R0(2)S9(1)S9(2)直接置9直接置零66數(shù)字電路實驗流程67二進(jìn)制計數(shù)：CP1輸入QA輸出五進(jìn)制計數(shù)：CP2輸入QDQCQB輸出模二模五A(CP1)B(CP2)74LS90(二—五—十進(jìn)制異步計數(shù)器)R0(1)R0(2)S9(1)S9(2)67數(shù)字電路實驗流程（A）十進(jìn)制計數(shù)R0(1)R0(2)S9(1)S9(2)BA單脈沖計數(shù)C

68數(shù)字電路實驗流程計數(shù)輸出QDQCQBQA00000123456789表6.3十進(jìn)制數(shù)字電路實驗流程（B）二-五混合進(jìn)制計數(shù)R0(1)R0(2)S9(1)S9(2)BA單脈沖計數(shù)C70數(shù)字電路實驗流程計數(shù)輸出QAQDQCQB00000123456789表6.2二五進(jìn)制數(shù)字電路實驗流程七進(jìn)制計數(shù)-復(fù)位法(置零法)R0(1)R0(2)S9(1)S9(2)B單脈沖計數(shù)C&A74LS90&12543672數(shù)字電路實驗流程七進(jìn)制計數(shù)-置位法(置數(shù)法)R0(1)R0(2)S9(1)S9(2)B單脈沖計數(shù)CA74LS9073數(shù)字電路實驗流程畫出七進(jìn)制的

有效狀態(tài)狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖

注意進(jìn)位！數(shù)字電路實驗流程75R0(1)R0(2)S9(1)S9(2)BAR’0(1)R’0(2)S’9(1)S’9(2)B’A’CPC74LS90(1)74LS90(2)&&單脈沖計數(shù)45進(jìn)制計數(shù)器123456數(shù)字電路實驗流程課后習(xí)題整理實驗數(shù)據(jù)(45進(jìn)制的寫前四個狀態(tài)和后四個狀態(tài))總結(jié)計數(shù)器的使用特點(diǎn)76數(shù)字電路實驗流程實驗七555定時器實驗儀器實驗箱，數(shù)字萬用表，雙蹤示波器，實驗箱附件實驗芯片NE556雙定時器1片電阻、電容77數(shù)字電路實驗流程實驗內(nèi)容555時基電路基本功能測試555定時器構(gòu)成多諧振蕩器555定時器構(gòu)成單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器78數(shù)字電路實驗流程N(yùn)E5561467891011121314352VCCTR2OUT2R2VC2TH2DIS2TR1GNDDIS1R1VC1OUT1TH179數(shù)字電路實驗流程QQ++--A1A2T5K&&RVccTHVC5K5KTRDISGNDOUTNPNTH高電平觸發(fā)端TR低電平觸發(fā)端R復(fù)位端VC電壓控制端DIS放電端OUT輸出端VCC電源GND地分壓器比較器RS觸發(fā)器輸出緩沖晶體管開關(guān)1數(shù)字電路實驗流程

0UOL飽和>2VCC/3

111UOL>VCC/3

飽和<2VCC/3

>VCC/3

不變不變<2VCC/3<VCC/3

UOH截止UTHuoTD的狀態(tài)URQQ++--A1A2T5K&&RVccTHVC5K5KTRDISGNDOUTNPN181數(shù)字電路實驗流程RTHTRVCCDISOUTGNDVC+5V+5V2K22K1KLED圖7.3基本功能測試82數(shù)字電路實驗流程THTRROUTDISXX00導(dǎo)通>2/3VCC>1/3VCC10導(dǎo)通<2/3VCC>1/3VCC1原狀態(tài)原狀態(tài)<2/3VCC<1/3VCC11關(guān)斷基本功能表83數(shù)字電路實驗流程RTHTRVCCDISOUTGNDVC+5VR2多諧振蕩器R1C2C1R1=15KΩR2=5KΩC1=0.033μFC2=0.1μF1、用示波器觀察并測量OUT端波形的頻率，和理論估算值，算出頻率的相對誤差值2、將電阻值R1改為R1=15KΩ，R2=10KΩ，電容C不變，測量誤差變化。84數(shù)字電路實驗流程在電容充電時，暫穩(wěn)態(tài)的持續(xù)時間在電容放電時，暫穩(wěn)態(tài)的持續(xù)時間電路輸出的矩形脈沖的周期85數(shù)字電路實驗流程RTHTRVCCDISOUTGNDVC+5V單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器RC2C1R=10KΩC1=0.01μFC2=0.1μF1、Vi是頻率為25KHz左右的方波時，用雙蹤示波器觀察并測量輸出脈沖的寬度Tw2、調(diào)節(jié)Vi的頻率，分析并觀察輸出端波形的變化。3、若想使Tw=30μS，怎樣調(diào)整電路，測出有關(guān)的參數(shù)。Vi86數(shù)字電路實驗流程暫穩(wěn)態(tài)的持續(xù)時間電路輸出的矩形脈沖的周期87數(shù)字電路實驗流程課后習(xí)題總結(jié)555芯片構(gòu)成的基本電路的使用方法88數(shù)字電路實驗流程實驗七555時基電路實驗?zāi)康模赫莆?55定時器的結(jié)構(gòu)、工作原理和應(yīng)用電路掌握NE556芯片的正確使用方法學(xué)會分析和測試555定時器構(gòu)成的多諧振蕩器和單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器實驗器材：雙蹤示波器、數(shù)字萬用表實驗器件：NE556雙時定時器、二極管、電阻和電容89數(shù)字電路實驗流程1、555時基電路功能測試本實驗所用的555時基電路芯片為NE556，同一芯片上集成了二個各自獨(dú)立的555時基電路，圖中各管腳的功能簡述如下：TH高電平觸發(fā)端：當(dāng)TH端電平大于2/3輸出端OUT呈低電平，DIS端導(dǎo)通。低電平觸發(fā)端：當(dāng)電平小于1/3時，OUT端呈現(xiàn)高電平，DIS關(guān)斷。復(fù)位端：=0，OUT端輸出低電平，DIS端導(dǎo)通。VC控制電壓端：VC接不同的電壓值可以改變TH。的觸發(fā)電平值。DIS放電端：其導(dǎo)通或關(guān)斷為RC回路提供了放電或充電的通路。圖8.1時基電路556管腳圖90數(shù)字電路實驗流程功能簡圖如圖7.2所示，芯片的功能如表7.1所示圖7.2時基電路功能簡圖THOUTDISXXLL導(dǎo)通>2/3Vcc>1/3VccHL導(dǎo)通<2/3Vcc>1/3VccH原狀態(tài)原狀態(tài)<2/3Vcc<1/3VccHH關(guān)斷表7.1

91數(shù)字電路實驗流程按圖7.3接線，可調(diào)電壓取自電位器分壓器。按表8.1邏輯測試其功能并記錄。

圖7.3測試接線圖92數(shù)字電路實驗流程2、555時基電路構(gòu)成的多諧振蕩器電路如圖7.4所示按圖接線。圖中元件參數(shù)如下：R1=15KΩR2=5KΩC1=0.033μFC2=0.1μF用示波器觀察并測量OUT端波形的頻率。和理論估算值比較，算出頻率的相對誤差值。若將電阻值改為R1=15KΩ、R2=10KΩ。電容C不變，上述的數(shù)據(jù)有何變化？

圖7.4多諧振蕩器93數(shù)字電路實驗流程根據(jù)上述的實驗原理，充電回路的支路是R1R2C1，放電回路的支路是R2C1，將電路略加修改，增加一個電位器Rw和兩個引導(dǎo)二極管，構(gòu)成圖8.5所示的占空比可調(diào)的多諧振蕩器。其占空比q為改變Rw的位置，可調(diào)節(jié)q值。合理選擇元件參數(shù)（電位器選用22KΩ），使電路的占空比q=0.2，調(diào)試正脈沖寬度為0.2ms.調(diào)試電路，測出所用元件的數(shù)值，估算電路的誤差。圖7.5占空比可調(diào)的多諧振蕩器94數(shù)字電路實驗流程3、555構(gòu)成的單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器實驗如圖7.5所示。按圖7.5接線，圖中R=10KΩ，=0.01μF，是頻率約為10KHZ左右的方波時，用雙蹤示