MOOC 材料結(jié)構(gòu)表征-鹽城工學(xué)院 中國大學(xué)慕課答案

MOOC材料結(jié)構(gòu)表征-鹽城工學(xué)院中國大學(xué)慕課答案緒論-隨堂測驗(yàn)1、問題：“材料結(jié)構(gòu)表征”主要研究材料內(nèi)部的物相組成和結(jié)構(gòu)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】2、問題：X射線衍射方法只能測試無機(jī)物的晶體結(jié)構(gòu)，不能測試有機(jī)物的晶體結(jié)構(gòu)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】3、問題：電子顯微分析可以獲得材料結(jié)構(gòu)、形貌和成分的信息。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】4、問題：振動(dòng)光譜分析可以獲得物質(zhì)的元素組成，而無法判斷分子結(jié)構(gòu)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】1.1X射線的性質(zhì)-隨堂測驗(yàn)1、問題：首先發(fā)現(xiàn)X射線的是（）選項(xiàng)：A、勞厄B、德拜C、倫琴D、愛因斯坦正確答案:【倫琴】2、問題：不屬于同步輻射X射線源的特點(diǎn)的是（）選項(xiàng)：A、強(qiáng)度高B、單色性好C、高偏振D、波段窄正確答案:【波段窄】3、問題：靶材屬于X射線產(chǎn)生裝置中的（）選項(xiàng)：A、X射線管B、低壓電源C、高壓電源D、整流電路正確答案:【X射線管】4、問題：X射線是從X射線管的陰極靶發(fā)出的。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】5、問題：輸入X射線管的能量只有少部分能轉(zhuǎn)換為X射線。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】6、問題：相對于硬X射線，軟X射線的穿透能力弱。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】1.2X射線譜-隨堂測驗(yàn)1、問題：連續(xù)X射線的總強(qiáng)度正比于()選項(xiàng)：A、管電壓平方B、管電流C、靶原子序數(shù)D、以上都是正確答案:【以上都是】2、問題：實(shí)現(xiàn)X射線單色化的器件包括（）選項(xiàng)：A、單色器B、濾波片C、波高分析器D、以上都是正確答案:【以上都是】3、問題：M層電子回遷到K層后，多余的能量放出的特征X射線稱（）選項(xiàng)：A、KαB、KβC、KγD、Lα正確答案:【Kβ】4、問題：在K系輻射線中Kα2波長比Kα1的長。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】5、問題：管電壓越高則特征X射線波長越短。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】6、問題：連續(xù)X射線的強(qiáng)度不隨波長連續(xù)變化。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】1.3X射線與物質(zhì)的相互作用-隨堂測驗(yàn)1、問題：1.與入射X射線相比，相干散射的波長（）選項(xiàng)：A、較短B、較長C、二者相等D、不一定正確答案:【二者相等】2、問題：2.L層電子回遷K層且多余能量將另一L層電子打出核外即產(chǎn)生（）選項(xiàng)：A、光電子B、二次熒光C、俄歇電子D、A和B正確答案:【俄歇電子】3、問題：3.熒光X射線是（）選項(xiàng)：A、X射線激發(fā)的連續(xù)X射線B、X射線激發(fā)的特征X射線C、電子激發(fā)的連續(xù)X射線D、電子激發(fā)的特征X射線正確答案:【X射線激發(fā)的特征X射線】4、問題：4.物質(zhì)對X射線的散射主要是物質(zhì)中的電子與X射線的相互作用。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】5、問題：5.非相干散射是X射線在晶體產(chǎn)生衍射的基礎(chǔ)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】6、問題：6.非相干散射在衍射過程中形成連續(xù)的背景，且原子序數(shù)愈小的物質(zhì)，非相干散射愈大。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】1.4倒點(diǎn)陣-隨堂測驗(yàn)1、問題：1.有一倒易矢量為g*=2a*+2b*+c*對應(yīng)的正空間晶面是()選項(xiàng)：A、（210）B、（220）C、（221）D、（110）正確答案:【（221）】2、問題：2.立方晶系中（100）、（110）、（111）、（200）四個(gè)晶面按晶面間距從大到小排列依次應(yīng)該是（）選項(xiàng)：A、（100）、（200）、（110）、（111）B、（111）、（110）、（200）、（100）C、（200）、（111）、（110）、（100）D、（100）、（110）、（111）、（200）正確答案:【（100）、（110）、（111）、（200）】3、問題：3.下列屬于[-111]晶帶的晶面是（）選項(xiàng)：A、（231）B、（111）C、（211）D、（120）正確答案:【（211）】4、問題：4.倒易矢量能唯一地代表對應(yīng)的正空間晶面。()選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】5、問題：5.低指數(shù)的晶面其面間距較小，而高指數(shù)面的面間距大。()選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】6、問題：6.倒點(diǎn)陣矢量和相應(yīng)正點(diǎn)陣中同指數(shù)晶面相互垂直。（）選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】1.5X射線衍射幾何條件-隨堂測驗(yàn)1、問題：1.關(guān)于厄瓦爾德反射球，正確的是（）選項(xiàng)：A、球心為倒易空間原點(diǎn)B、直徑即入射線波長之倒數(shù)C、衍射條件是倒易點(diǎn)與該球面相交D、以上都是正確答案:【衍射條件是倒易點(diǎn)與該球面相交】2、問題：2.以下說法正確的是（）選項(xiàng)：A、只有晶面間距大于入射束波長的晶面才能產(chǎn)生衍射B、只有晶面間距小于入射束波長的晶面才能產(chǎn)生衍射C、只有晶面間距大于入射束波長一半的晶面才能產(chǎn)生衍射D、只有晶面間距小于入射束波長一半的晶面才能產(chǎn)生衍射正確答案:【只有晶面間距大于入射束波長一半的晶面才能產(chǎn)生衍射】3、問題：3.在推導(dǎo)衍射條件（三組方程）時(shí)，有三條假設(shè)，以下不屬于的是（）選項(xiàng)：A、入射線與衍射線都是平面波B、晶胞中只有一個(gè)原子C、原子的尺寸忽略不計(jì)D、晶體是二維的正確答案:【晶體是二維的】4、問題：4.一束X射線照射一個(gè)原子列（一維晶體），只有鏡面反射方向上才有可能產(chǎn)生衍射線。()選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】5、問題：5.X射線衍射與光的反射一樣，只要滿足入射角等于反射角就行。（）選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】6、問題：6.布拉格方程只涉及X射線衍射方向，不能反映衍射強(qiáng)度。（）選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】1.6X射線衍射束的強(qiáng)度-隨堂測驗(yàn)1、問題：某晶面族X射線衍射強(qiáng)度正比于該晶面的（）選項(xiàng)：A、結(jié)構(gòu)因子的平方B、多重因子C、晶面間距D、A和B正確答案:【A和B】2、問題：面心立方點(diǎn)陣的消光條件是晶面指數(shù)（）選項(xiàng)：A、全奇B、全偶C、奇偶混雜D、以上都是正確答案:【奇偶混雜】3、問題：X射線衍射強(qiáng)度公式中需要引入溫度因子的原因是（）選項(xiàng)：A、由于熱脹冷縮，晶面間距發(fā)生變化，衍射條件部分遭到破壞，導(dǎo)致衍射強(qiáng)度的減弱。B、晶體中的原子在不停地做熱振動(dòng)，使原子脫離平衡節(jié)點(diǎn)位置，衍射條件部分遭到破壞，導(dǎo)致衍射強(qiáng)度的減弱。C、由于晶體發(fā)生相變，衍射條件遭到破壞，導(dǎo)致衍射強(qiáng)度的減弱。D、由于溫度發(fā)生變化，X射線波長發(fā)生變化，導(dǎo)致衍射強(qiáng)度的減弱。正確答案:【晶體中的原子在不停地做熱振動(dòng)，使原子脫離平衡節(jié)點(diǎn)位置，衍射條件部分遭到破壞，導(dǎo)致衍射強(qiáng)度的減弱?！?、問題：衍射強(qiáng)度實(shí)際是大量原子散射強(qiáng)度的疊加。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】5、問題：粉末樣品粒度尺寸直接關(guān)系到衍射峰形質(zhì)量。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】1.7單晶體的研究方法-隨堂測驗(yàn)1、問題：1.以下不屬于單晶衍射方法的是（）選項(xiàng)：A、勞厄法B、轉(zhuǎn)晶法C、德拜法D、魏森堡法正確答案:【德拜法】2、問題：2.以下衍射方法中，使用連續(xù)X射線的是（）選項(xiàng)：A、勞厄法B、回?cái)[法C、魏森堡法D、四圓單晶衍射儀法正確答案:【勞厄法】3、問題：3.在透射勞厄法中，當(dāng)晶帶軸與入射線夾角小于45度時(shí)，光斑的形狀為（）選項(xiàng)：A、點(diǎn)B、直線C、雙曲線D、橢圓正確答案:【橢圓】4、問題：4.勞厄法采用特征X射線照射單晶體獲得衍射斑點(diǎn)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】5、問題：5.在勞厄法中，（hkl）、(2h2k2l)、（3h3k3l）晶面形成的是同一個(gè)勞厄斑點(diǎn)，其強(qiáng)度是各級(jí)衍射強(qiáng)度的疊加。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】6、問題：6.背射勞厄法中，底片只能與夾角大于45度的圓錐相交，從而只能出現(xiàn)雙曲線和直線。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】1.8多晶體的研究方法-隨堂測驗(yàn)1、問題：1.多晶樣品可采用的X射線衍射方法是（）選項(xiàng)：A、德拜法B、勞厄法C、周轉(zhuǎn)晶體法D、A和B正確答案:【德拜法】2、問題：2.某一粉末相上背射區(qū)線條與透射區(qū)線條比較起來，其θ，相應(yīng)的d。選項(xiàng)：A、較低、較小B、較高、較小C、較高、較大D、較低、較大正確答案:【較高、較小】3、問題：3.德拜法中有利于提高測量精度的底片安裝方法是（）選項(xiàng)：A、正裝法B、反裝法C、偏裝法D、A和B正確答案:【偏裝法】4、問題：4.粉末樣品不存在擇優(yōu)取向即織構(gòu)問題.選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】5、問題：5.德拜相機(jī)的直徑一般為57.3mm或114.6mm。其優(yōu)點(diǎn)在于可簡化衍射花樣的計(jì)算。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】6、問題：6.德拜照片中，每對衍射圓弧代表一組等同晶面族的衍射。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】1.9粉末衍射儀的構(gòu)造及衍射圖樣的獲得-隨堂測驗(yàn)1、問題：1.X射線衍射儀的測量參數(shù)不包括（）選項(xiàng)：A、管電壓B、管電流C、掃描速度D、曝光時(shí)間正確答案:【曝光時(shí)間】2、問題：2.測角儀半徑增大則衍射的（）選項(xiàng)：A、分辨率增大B、強(qiáng)度降低C、峰位移D、A和B正確答案:【A和B】3、問題：3.最常用的X射線衍射方法是（）。選項(xiàng)：A、勞厄法B、粉末衍射儀法C、周轉(zhuǎn)晶體法D、德拜法正確答案:【粉末衍射儀法】4、問題：4.德拜法比衍射儀法測量衍射強(qiáng)度更精確。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】5、問題：5.衍射儀法和德拜法一樣，對試樣粉末的要求是粒度均勻、大小適中，沒有應(yīng)力。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】6、問題：6.粉末衍射儀的結(jié)構(gòu)原理是與勞厄相機(jī)類似的。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】1.10衍射線峰位的確定與重疊峰的分離-隨堂測驗(yàn)1、問題：1.Kα雙線分離度隨2θ增大而（.）選項(xiàng)：A、減小B、增大C、不變D、不一定正確答案:【增大】2、問題：2.d值誤差隨2θ增大而（）選項(xiàng)：A、減小B、增大C、不變D、不一定正確答案:【減小】3、問題：3.衍射峰半高寬與積分寬之關(guān)系通常選項(xiàng)：A、近似相等B、半高寬更大C、積分寬更大D、不一定正確答案:【積分寬更大】4、問題：4.峰頂法適用于線形頂部平坦但兩側(cè)直線性較好的情況。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】5、問題：5.確定衍射線峰位前是不需要去除背底的。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】6、問題：6.圖形法分離雙峰，簡單易行，并且精確度高。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】1.11X射線物相分析-定性相分析-隨堂測驗(yàn)1、問題：1.基于X射線衍射峰位的測量項(xiàng)目是（）選項(xiàng)：A、結(jié)晶度B、點(diǎn)陣常數(shù)C、織構(gòu)D、以上都是正確答案:【點(diǎn)陣常數(shù)】2、問題：2.定性物相分析的主要依據(jù)是（）選項(xiàng)：A、衍射峰位B、積分強(qiáng)度C、衍射峰寬D、以上都是正確答案:【衍射峰位】3、問題：3.衍射譜線物理線形寬度隨衍射角增大而（）選項(xiàng)：A、減小B、增大C、不變D、不一定正確答案:【增大】4、問題：4.標(biāo)準(zhǔn)PDF卡片中數(shù)據(jù)是絕對可靠的。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】5、問題：5.定性物相分析中的主要依據(jù)是d值和I值。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】6、問題：6.材料中織構(gòu)不會(huì)影響到各晶面的衍射強(qiáng)度。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】1.12X射線物相分析-定量分析-隨堂測驗(yàn)1、問題：1.基于X射線衍射強(qiáng)度的測量項(xiàng)目是（）選項(xiàng)：A、定量物相分析B、晶塊尺寸C、內(nèi)應(yīng)力D、以上都是正確答案:【定量物相分析】2、問題：2.測定鋼中奧氏體含量時(shí)的X射線定量物相分析方法是（）選項(xiàng)：A、外標(biāo)法B、內(nèi)標(biāo)法C、直接比對法D、K值法正確答案:【直接比對法】3、問題：3.定量物相分析要求采用的掃描方式是（）選項(xiàng)：A、連續(xù)掃描B、快速掃描C、階梯掃描D、A和B正確答案:【階梯掃描】4、問題：4.定量物相分析可以確定樣品中的元素含量。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】5、問題：5.定量物相分析法中必須采用衍射積分強(qiáng)度。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】6、問題：6.理論上X射線物相定性分析可以告訴我們被測材料中有哪些物相，而定量分析可以告訴我們這些物相的含量有多少。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】第一章X射線衍射分析-單元作業(yè)第一章X射線衍射分析-單元測驗(yàn)1、問題：以下措施中，目的不是為了提高X射線源強(qiáng)度的是（）選項(xiàng)：A、采用細(xì)聚焦X射線管B、增大管電壓C、提高功率密度D、旋轉(zhuǎn)陽極正確答案:【采用細(xì)聚焦X射線管】2、問題：當(dāng)電子把所有能量都轉(zhuǎn)換為X射線時(shí)，該X射線波長稱（）選項(xiàng)：A、短波限λ0B、激發(fā)限λkC、吸收限D(zhuǎn)、特征X射線正確答案:【短波限λ0】3、問題：實(shí)驗(yàn)中最常用的特征X射線是（）選項(xiàng)：A、KαB、KβC、KγD、Lα正確答案:【Kα】4、問題：各散射波之間產(chǎn)生干涉作用需要滿足一些條件，但不需要包括的條件是（）選項(xiàng)：A、振幅相同B、振動(dòng)方向相同C、頻率相同D、位向差恒定正確答案:【振幅相同】5、問題：X射線相干散射的特點(diǎn)是（）選項(xiàng)：A、改變方向，改變能量B、不改變方向，也不改變能量C、不改變方向，但改變能量D、改變方向，不改變能量正確答案:【改變方向，不改變能量】6、問題：倒點(diǎn)陣矢量和相應(yīng)正點(diǎn)陣中同指數(shù)晶面相互,并且它的長度等于該平面族的。（）選項(xiàng)：A、垂直、面間距的倒數(shù)B、垂直、面間距C、平行、面間距的倒數(shù)D、平行、面間距正確答案:【垂直、面間距的倒數(shù)】7、問題：以下說法正確的是（）選項(xiàng)：A、只有晶面間距大于入射束波長的晶面才能產(chǎn)生衍射B、只有晶面間距小于入射束波長的晶面才能產(chǎn)生衍射C、只有晶面間距大于入射束波長一半的晶面才能產(chǎn)生衍射。D、只有晶面間距小于入射束波長一半的晶面才能產(chǎn)生衍射。正確答案:【只有晶面間距大于入射束波長一半的晶面才能產(chǎn)生衍射?！?、問題：在推導(dǎo)衍射條件（三組方程）時(shí)，有三條假設(shè)，以下不屬于的是（）選項(xiàng)：A、入射線與衍射線都是平面波B、晶胞中只有一個(gè)原子C、原子的尺寸忽略不計(jì)D、晶體是二維的正確答案:【晶體是二維的】9、問題：衍射線的強(qiáng)度正比于（）選項(xiàng)：A、參與衍射的晶面的數(shù)目B、晶面間距C、原子半徑D、晶粒尺寸正確答案:【參與衍射的晶面的數(shù)目】10、問題：以下衍射方法中，使用連續(xù)X射線的是（）選項(xiàng)：A、勞厄法B、回?cái)[法C、魏森堡法D、四圓單晶衍射儀法正確答案:【勞厄法】11、問題：以下方法中能使勞厄斑數(shù)目增多的是（）選項(xiàng)：A、增大X射線管電壓B、增大X射線管電流C、將陽極靶材料改為原子序數(shù)更高的材料D、使用特征X射線正確答案:【增大X射線管電壓】12、問題：德拜相機(jī)照相時(shí)，試樣在不停地旋轉(zhuǎn)，其目的是（）選項(xiàng)：A、增大衍射強(qiáng)度B、使德拜線寬化C、盡量使晶粒在空間各個(gè)方位出現(xiàn)的概率相等D、A、B和C正確答案:【盡量使晶粒在空間各個(gè)方位出現(xiàn)的概率相等】13、問題：德拜法中獲得衍射面面間距的依據(jù)是（）選項(xiàng)：A、衍射線的強(qiáng)度B、衍射線的寬度C、衍射線的數(shù)量D、衍射線的位置正確答案:【衍射線的位置】14、問題：X射線衍射儀的主要部分包括（）選項(xiàng)：A、光源B、測角儀光路C、計(jì)數(shù)器D、以上都是正確答案:【以上都是】15、問題：相對于連續(xù)掃描，屬于步進(jìn)掃描的特點(diǎn)是（）選項(xiàng)：A、沒有滯后及平滑效應(yīng)B、衍射線峰位正確、分辨力好C、速度快，耗費(fèi)時(shí)間短D、A和B正確答案:【A和B】16、問題：Kα1和Kα2譜線的原始強(qiáng)度比近似為（）選項(xiàng)：A、2:1B、1:2C、1:1D、不確定正確答案:【2:1】17、問題：決定衍射線位置的是（）選項(xiàng)：A、晶胞的形狀B、晶胞的大小C、晶胞內(nèi)原子的種類和數(shù)目D、A和B正確答案:【A和B】18、問題：在利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行PDF卡片與實(shí)驗(yàn)衍射圖的對比工作時(shí)，一下說法錯(cuò)誤的是（）選項(xiàng)：A、應(yīng)盡量了解試樣的來源與化學(xué)組成B、高角度的衍射峰比低角度的衍射峰重要C、對于無機(jī)物樣品，d值比強(qiáng)度的對比更重要D、強(qiáng)線比弱線重要正確答案:【高角度的衍射峰比低角度的衍射峰重要】19、問題：定量物相分析要求采用的掃描方式（）選項(xiàng)：A、連續(xù)掃描B、快速掃描C、階梯掃描D、以上都是正確答案:【階梯掃描】20、問題：可對物相數(shù)大于2的試樣進(jìn)行定量分析的方法是（）選項(xiàng)：A、直接對比法B、外標(biāo)法C、內(nèi)標(biāo)法D、以上都是正確答案:【內(nèi)標(biāo)法】21、問題：提高X射線衍射源的強(qiáng)度可縮短X射線衍射實(shí)驗(yàn)的時(shí)間。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】22、問題：連續(xù)X射線的強(qiáng)度與管壓和管流有關(guān)，與靶材無關(guān)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】23、問題：當(dāng)需要連續(xù)X射線時(shí)，采用重元素的靶能得到較強(qiáng)的連續(xù)X射線。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】24、問題：康普頓散射是指波長不變的散射。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】25、問題：俄歇效應(yīng)是外層電子躍遷到空位時(shí)將多余能量激發(fā)到另一個(gè)核外電子，使之脫離。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】26、問題：倒易矢量能唯一地代表對應(yīng)的正空間晶面。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】27、問題：倒點(diǎn)陣矢量與正點(diǎn)陣矢量的標(biāo)積為整數(shù)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】28、問題：布拉格方程、勞厄方程、厄瓦爾德圖解三組描述衍射條件的方程在本質(zhì)上是相同的。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】29、問題：假設(shè)原子的原子序數(shù)為Z，則整個(gè)原子的散射振幅Ea為Z個(gè)電子的散射波矢量的模的加和。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】30、問題：勞厄照片上的強(qiáng)斑，一般與高指數(shù)的晶面相對應(yīng)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】31、問題：德拜相機(jī)使用的是垂直于入射線的平板底片。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】32、問題：利用衍射儀測試試樣的各條衍射線的相對強(qiáng)度時(shí)，要求試樣本身的面積小于X射線入射線所照射的試樣表面積。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】33、問題：隨著計(jì)算機(jī)的應(yīng)用，相對于圖形法，解析法更為方便，成為雙峰分離的主要方法。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】34、問題：X射線衍射之所以可以進(jìn)行物相定性分析，是因?yàn)闆]有兩種物相的衍射花樣是完全相同的。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】35、問題：X射線衍射強(qiáng)度與物相的相對含量之間成絕對的線性比例關(guān)系，這有利于我們進(jìn)行定量分析。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】36、填空題：勞厄進(jìn)行了第一次X射線衍射實(shí)驗(yàn)，并取得了成功，一箭雙雕地解決了X射線的和晶體結(jié)構(gòu)的。正確答案:【波動(dòng)性周期性】37、填空題：特征X射線強(qiáng)度與、及有關(guān)。正確答案:【管電流管電壓特征激發(fā)電壓】38、填空題：X射線被物質(zhì)散射時(shí)，產(chǎn)生兩種散射現(xiàn)象：和。正確答案:【相干散射非相干散射】39、填空題：倒易矢量的方向是對應(yīng)正空間晶面的。正確答案:【法線方向】40、填空題：只要倒易陣點(diǎn)落在厄瓦爾德球面上，就表示該滿足條件。正確答案:【該倒易點(diǎn)對應(yīng)的晶面衍射】41、填空題：結(jié)構(gòu)因子等于零稱為。正確答案:【消光】42、填空題：體心立方晶系的低指數(shù)衍射晶面為、和。正確答案:【（110）（200）（211）】43、填空題：試樣獲取衍射花樣的方法可分為照相法和兩類。正確答案:【衍射儀法】44、填空題：根據(jù)照相底片的位置不同，勞厄法可以分為與。正確答案:【透射法背射法】45、填空題：衍射儀的核心是。正確答案:【測角儀】46、填空題：根據(jù)定義不同，衍射線強(qiáng)度可分為和。正確答案:【峰高強(qiáng)度積分強(qiáng)度】47、填空題：X射線物相分析包括和。正確答案:【定性分析定量分析】48、填空題：PDF卡片以衍射數(shù)據(jù)，即一張對應(yīng)于的表，代替衍射圖。正確答案:【晶面間距衍射強(qiáng)度】49、填空題：X射線定量物相分析包括、、和K值法正確答案:【直接對比法內(nèi)標(biāo)法外標(biāo)法】50、填空題：外標(biāo)法是根據(jù)試樣中待測相某條衍射線與純的該相的衍射線的強(qiáng)度比來進(jìn)行定量分析的。正確答案:【同一條】2.1電子光學(xué)基礎(chǔ)-隨堂測驗(yàn)1、問題：光學(xué)顯微鏡的分辨本領(lǐng)取決于（）。A物點(diǎn)B光學(xué)顯微鏡C照明光源強(qiáng)度D照明光源的波長選項(xiàng)：A、物點(diǎn)B、光學(xué)顯微鏡C、照明光源強(qiáng)度D、照明光源的波長正確答案:【照明光源的波長】2、問題：一束平行于主軸的入射電子束通過電磁透鏡時(shí)，其運(yùn)動(dòng)軌跡為：()A圓錐螺旋近軸運(yùn)動(dòng)；B螺旋運(yùn)動(dòng)；C直線運(yùn)動(dòng)；D園周運(yùn)動(dòng)選項(xiàng)：A、圓錐螺旋近軸運(yùn)動(dòng)；B、螺旋運(yùn)動(dòng)；C、直線運(yùn)動(dòng)；D、園周運(yùn)動(dòng)正確答案:【圓錐螺旋近軸運(yùn)動(dòng)；】3、問題：電磁透鏡軸向磁感應(yīng)強(qiáng)度廣延度最小為：()A裸線圈；B有極靴；C無極靴選項(xiàng)：A、裸線圈；B、有極靴C、無極靴D、無正確答案:【有極靴】4、問題：電磁透鏡是—種變焦距或變倍率的會(huì)聚透鏡。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】5、問題：改變激磁電流，電磁透鏡的焦距和放大倍數(shù)將發(fā)生相應(yīng)變化。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】6、問題：電磁透鏡景深大，對于圖像的聚焦操作(尤其是在高放大倍數(shù)情況下)是非常不利的。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】2.2電子光學(xué)基礎(chǔ)2-隨堂測驗(yàn)1、問題：電磁透鏡的分辨本領(lǐng)由：（）（A）像散；（B）衍射效應(yīng)和球面像差；(C)色差；（D）球差選項(xiàng)：A、像散B、衍射效應(yīng)和球面像差C、色差D、球差正確答案:【衍射效應(yīng)和球面像差】2、問題：電磁透鏡的像差是：()（A）球差；（B）像散；(C)色差；（D）以上全是選項(xiàng)：A、球差B、像散C、色差D、以上全是正確答案:【以上全是】3、問題：電磁透鏡在制造過程中已存在固有的像散，下列說法，哪一種對？()（A）極靴內(nèi)孔不圓；（B）上下極靴的軸線錯(cuò)位；(C)制作極靴的材料材質(zhì)不均勻以及極靴孔周圍局部污染；（D）上述說法都對選項(xiàng)：A、極靴內(nèi)孔不圓B、上下極靴的軸線錯(cuò)位C、制作極靴的材料材質(zhì)不均勻以及極靴孔周圍局部污染D、上述說法都對正確答案:【上述說法都對】4、問題：使球差變小，可通過增大α來實(shí)現(xiàn)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】5、問題：電磁透鏡總是會(huì)聚透鏡，至今還沒有找到一種矯正球差行之有效的方法。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】6、問題：球差使成為限制電磁透鏡分辨本領(lǐng)的主要因素。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】2.3電子與物質(zhì)的交互作用-1隨堂測驗(yàn)1、問題：經(jīng)典散射，散射角θn的大小取決于：（）（A）距核距離；（B）核電荷數(shù)；(C)入射電子的能量；（D）以上全是選項(xiàng)：A、距核距離B、核電荷數(shù)C、入射電子的能量D、以上全是正確答案:【以上全是】2、問題：二次電子：（）（A）對樣品表面形貌敏感；（B）對樣品成分敏感；(C)對樣品形狀敏感；（D）對樣品厚度敏感；選項(xiàng)：A、對樣品表面形貌敏感B、對樣品成分敏感C、對樣品形狀敏感D、對樣品厚度敏感正確答案:【對樣品表面形貌敏感】3、問題：原子核對電子的非彈性散射，損失的能量ΔE轉(zhuǎn)化為：（）（A）熱；（B）連續(xù)的無特征波長x射線；(C)特征x射線；（D）形成自由載流子選項(xiàng)：A、熱B、連續(xù)的無特征波長x射線C、特征x射線D、形成自由載流子正確答案:【連續(xù)的無特征波長x射線】4、問題：原子對電子的散射還較對x射線的散射為強(qiáng)選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】5、問題：二次電子由于本身能量很低，信號(hào)收集效率低選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】6、問題：原子對電子的散射中距核越近，則散射角越大。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】2.4電子與物質(zhì)的交互作用-2-隨堂測驗(yàn)1、問題：背散射電子信號(hào)的收集效率較低是：（）（A）背散射電子能量高；（B）檢測器質(zhì)量；(C)背散射電子可能來自樣品內(nèi)較大的體積范圍內(nèi)（D）運(yùn)動(dòng)方向選項(xiàng)：A、背散射電子能量高B、檢測器質(zhì)量C、背散射電子可能來自樣品內(nèi)較大的體積范圍內(nèi)D、運(yùn)動(dòng)方向正確答案:【背散射電子能量高】2、問題：俄歇電子具有表面探針的作用，可用于分析：（）（A）輕元素及超輕元素；（B）樣品表面的成分；(C)晶界或相界面處的成分；（D）以上全是選項(xiàng)：A、輕元素及超輕元素B、樣品表面的成分C、晶界或相界面處的成分D、以上全是正確答案:【以上全是】3、問題：特征x射線的波長（）（A）入射電子能量；（B）樣品物質(zhì)的原子序數(shù)；(C)樣品物質(zhì)的形貌；（D）樣品厚度選項(xiàng)：A、入射電子能量B、樣品物質(zhì)的原子序數(shù)C、樣品物質(zhì)的形貌D、樣品厚度正確答案:【樣品物質(zhì)的原子序數(shù)】4、問題：背散射電子產(chǎn)額δBE隨原于序數(shù)z增大而增加。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】5、問題：特征x射線譜疊加在連續(xù)譜上，利用它固定波長進(jìn)行成分分析和晶體結(jié)構(gòu)研究。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】6、問題：吸收電子圖像的襯度正好與背散射電子圖像相反。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】2.5電子與物質(zhì)的交互作用-3隨堂測驗(yàn)1、問題：透射電子的強(qiáng)度、運(yùn)動(dòng)方間及能量分布上：（）（A）樣品厚度；（B）晶體結(jié)構(gòu)；(C)樣品成分；（D）以上全部有關(guān)選項(xiàng)：A、樣品厚度B、晶體結(jié)構(gòu)C、樣品成分D、以上全部有關(guān)正確答案:【以上全部有關(guān)】2、問題：（2）質(zhì)厚襯度效應(yīng)引起：（）（A）樣品質(zhì)量；（B）樣品厚度；(C)散射；（D）A和B選項(xiàng)：A、樣品質(zhì)量B、樣品厚度C、散射D、A和B正確答案:【散射】3、問題：衍襯效應(yīng)：（）（A）樣品相鄰區(qū)域位向；（B）質(zhì)量還是厚度的差別；(C)結(jié)構(gòu)不同；（D）A和C選項(xiàng)：A、樣品相鄰區(qū)域位向B、質(zhì)量還是厚度的差別C、結(jié)構(gòu)不同D、A和C正確答案:【A和C】4、問題：衍襯效應(yīng)可顯示單相合金晶粒的形貌．或多相合金中不同相的分布狀況。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】5、問題：對特征能量損失電子信息進(jìn)行能量測量，就可以進(jìn)行成分分析。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】6、問題：衍襯效應(yīng)不可顯示晶體內(nèi)部的結(jié)構(gòu)缺陷。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】2.6透射電子顯微分析-1-隨堂測驗(yàn)1、問題：透射電鏡的兩種主要功能：（）（a）表面形貌和晶體結(jié)構(gòu)（b）內(nèi)部組織和晶體結(jié)構(gòu)（c）表面形貌和成分價(jià)鍵（d）內(nèi)部組織和成分價(jià)鍵選項(xiàng)：A、表面形貌和晶體結(jié)構(gòu)B、內(nèi)部組織和晶體結(jié)構(gòu)C、表面形貌和成分價(jià)鍵D、內(nèi)部組織和成分價(jià)鍵正確答案:【內(nèi)部組織和晶體結(jié)構(gòu)】2、問題：下面關(guān)于電鏡分析敘述中正確的是（）A.電鏡只能觀察形貌；B.電鏡可觀察形貌、成分分析、結(jié)構(gòu)分析和物相鑒定；C．電鏡分析在材料研究中廣泛應(yīng)用，是因?yàn)榉糯蟊稊?shù)高，與分辨率無關(guān)；D．電鏡在材料研究中廣泛應(yīng)用，是因?yàn)榉糯蟊稊?shù)高，分辨率高。選項(xiàng)：A、電鏡只能觀察形貌B、電鏡可觀察形貌、成分分析、結(jié)構(gòu)分析和物相鑒定C、電鏡分析在材料研究中廣泛應(yīng)用，是因?yàn)榉糯蟊稊?shù)高，與分辨率無關(guān)D、電鏡在材料研究中廣泛應(yīng)用，是因?yàn)榉糯蟊稊?shù)高，分辨率高正確答案:【電鏡可觀察形貌、成分分析、結(jié)構(gòu)分析和物相鑒定#電鏡在材料研究中廣泛應(yīng)用，是因?yàn)榉糯蟊稊?shù)高，分辨率高】3、問題：采用強(qiáng)激磁、短焦距的物鏡，像差大。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】4、問題：透射電子顯微鏡分辨本領(lǐng)的高低主要取決于物鏡。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】5、問題：欲獲得物鏡的高分辨本領(lǐng)，必須盡可能降低像差。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】2.7透射電子顯微分析-2-隨堂測驗(yàn)1、問題：聚光鏡光闌的作用是：（）（A）散射電子束；（B）衍射電子束；(C)限定的微區(qū)；（D）限制照明孔徑角選項(xiàng)：A、散射電子束B、衍射電子束C、限定的微區(qū)D、限制照明孔徑角正確答案:【限制照明孔徑角】2、問題：質(zhì)厚襯度效應(yīng)引起：（）（A）樣品質(zhì)量；（B）樣品厚度；(C)散射；（D）A和B選項(xiàng)：A、樣品質(zhì)量B、樣品厚度C、散射D、A和B正確答案:【散射】3、問題：物鏡光闌又稱為襯度光闌、通常它被安放在：（）（A）物鏡的后焦面上；（B）物鏡的像平面上；(C)物鏡的物平面上；（D）都不是選項(xiàng)：A、物鏡的后焦面上B、物鏡的像平面上C、物鏡的物平面上D、都不是正確答案:【物鏡的后焦面上】4、問題：利用明暗場顯微照片的對照分析，可以方便地進(jìn)行物相鑒定和缺陷分析。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】5、問題：透鏡的數(shù)值孔徑與折射率有關(guān)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】6、問題：透射電鏡圖像的襯度與樣品成分無關(guān)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】2.8復(fù)型技術(shù)-1-隨堂測驗(yàn)1、問題：1）制備復(fù)型的材料：（）（A）非晶態(tài)材料；（B）粒子尺寸必須很小；(C)耐電子轟擊；（D）A、B和C選項(xiàng)：A、非晶態(tài)材料B、粒子尺寸必須很小C、耐電子轟擊D、A、B和C正確答案:【A、B和C】2、問題：復(fù)型方法：（）（A）一級(jí)復(fù)型法；（B）二級(jí)復(fù)型法；(C)萃取復(fù)型法；（D）A和B和C選項(xiàng)：A、一級(jí)復(fù)型法B、二級(jí)復(fù)型法C、萃取復(fù)型法D、A和B和C正確答案:【萃取復(fù)型法】3、問題：而非彈性散射引起的色差將使背景強(qiáng)度增高，圖像襯度降低。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】4、問題：透鏡的數(shù)值孔徑與折射率有關(guān)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】5、問題：對于非晶體樣品來說，入射電子透過樣品時(shí)碰到的原子數(shù)目越多(或樣品越厚)，樣品原子核庫侖電場越弱。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】2.10掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與原理-隨堂測驗(yàn)1、問題：不屬于熱發(fā)射型電子槍的優(yōu)點(diǎn)的是：選項(xiàng)：A、價(jià)格便宜B、對真空度要求低C、易維護(hù)D、分辨率高正確答案:【分辨率高】2、問題：用于場發(fā)射型電子槍燈絲的是：選項(xiàng)：A、鎢燈絲B、LaB6單晶C、鎢單晶D、以上都不是正確答案:【鎢單晶】3、問題：掃描電鏡中的信號(hào)探測器安置在以下哪個(gè)部分？選項(xiàng)：A、電子槍B、電磁透鏡C、掃描線圈D、樣品室正確答案:【樣品室】4、問題：與透射電鏡一樣，電壓是決定掃描電鏡分辨率的主要因素。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】5、問題：電磁透鏡的作用是把電子槍的電子束逐級(jí)放大。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】6、問題：掃描線圈的作用是使電子束偏轉(zhuǎn)，并在試樣表面作有規(guī)律的掃描。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】2.11掃描電鏡圖像及其襯度-隨堂測驗(yàn)1、問題：僅僅反映固體樣品表面形貌信息的物理信號(hào)是：選項(xiàng)：A、背散射電子B、二次電子C、吸收電子D、透射電子正確答案:【二次電子】2、問題：在掃描電鏡中，用來成像的信號(hào)主要是：選項(xiàng)：A、二次電子B、背散射電子C、吸收電子D、透射電子正確答案:【二次電子】3、問題：背散射電子主要顯示的是：選項(xiàng)：A、形貌襯度B、成分襯度C、晶體取向襯度D、以上都不是正確答案:【成分襯度】4、問題：掃描電子顯微鏡的襯度和透射電鏡一樣取決于質(zhì)厚襯度和衍射襯度。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】5、問題：掃描電子顯微鏡具有大的景深，所以它可以用來進(jìn)行斷口形貌的分析觀察。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】6、問題：在原子序數(shù)Z40的范圍內(nèi)，背散射電子的產(chǎn)額對原子序數(shù)十分敏感。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】2.12電子探針的結(jié)構(gòu)與工作原理-隨堂測驗(yàn)1、問題：掃描電子顯微鏡配備的成分分析附件中最常見的儀器是：選項(xiàng)：A、波譜儀B、能譜儀C、俄歇電子譜儀D、特征電子能量損失譜正確答案:【能譜儀】2、問題：電子探針的主要功能是進(jìn)行：選項(xiàng)：A、表面形貌分析B、晶體結(jié)構(gòu)分析C、導(dǎo)電性能分析D、微區(qū)成分分析正確答案:【微區(qū)成分分析】3、問題：電子探針的分析方法有：選項(xiàng)：A、定點(diǎn)分析B、線分析C、面分析D、以上都是正確答案:【以上都是】4、問題：電子探針的信號(hào)檢測系統(tǒng)是X射線譜儀。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】5、問題：電子探針僅能分析元素種類，不能分析元素含量。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】6、問題：電子探針可看做掃描電鏡、能譜儀、波譜儀、光學(xué)顯微鏡的有機(jī)組合。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】2.13波譜儀和能譜儀的比較-隨堂測驗(yàn)1、問題：與波譜儀相比，能譜儀最大的優(yōu)點(diǎn)是：選項(xiàng)：A、分辨率高B、快速高效C、價(jià)格便宜D、沒有機(jī)械傳動(dòng)部件正確答案:【快速高效】2、問題：波譜儀是逐一接收元素的特征波長進(jìn)行成分分析；能譜儀是同時(shí)接收所有元素的特征X射線進(jìn)行成分分析的。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】第二章電子顯微分析-單元作業(yè)第二章電子顯微分析-單元測試1、問題：光學(xué)顯微鏡的分辨本領(lǐng)取決于（）。選項(xiàng)：A、物點(diǎn)B、光學(xué)顯微鏡C、照明光源強(qiáng)度D、照明光源的波長正確答案:【照明光源的波長】2、問題：一束平行于主軸的入射電子束通過電磁透鏡時(shí)，其運(yùn)動(dòng)軌跡為：(）選項(xiàng)：A、圓錐螺旋近軸運(yùn)動(dòng)B、螺旋運(yùn)動(dòng)C、直線運(yùn)動(dòng)D、圓周運(yùn)動(dòng)正確答案:【圓錐螺旋近軸運(yùn)動(dòng)】3、問題：原子核對電子的非彈性散射，損失的能量ΔE轉(zhuǎn)化為：選項(xiàng)：A、熱B、連續(xù)的無特征波長x射線C、特征x射線D、形成自由載流子正確答案:【連續(xù)的無特征波長x射線】4、問題：俄歇電子具有表面探針的作用，可用于分析：（）選項(xiàng)：A、輕元素及超輕元素B、樣品表面的成分C、晶界或相界面處的成分D、以上全是正確答案:【以上全是】5、問題：僅僅反映固體樣品表面形貌信息的物理信號(hào)是：選項(xiàng)：A、背散射電子B、二次電子C、吸收電子D、透射電子正確答案:【二次電子】6、問題：掃描電子顯微鏡配備的成分分析附件中最常見的儀器是：選項(xiàng)：A、波譜儀B、能譜儀C、俄歇電子譜儀D、特征電子能量損失譜正確答案:【能譜儀】7、問題：波譜儀與能譜儀相比，能譜儀最大的優(yōu)點(diǎn)是：選項(xiàng)：A、快速高效B、精度高C、沒有機(jī)械傳動(dòng)部件D、價(jià)格便宜正確答案:【快速高效】8、問題：透射電鏡的兩種主要功能：（）選項(xiàng)：A、表面形貌和晶體結(jié)構(gòu)B、內(nèi)部組織和晶體結(jié)構(gòu)C、表面形貌和成分價(jià)鍵D、內(nèi)部組織和成分價(jià)鍵正確答案:【內(nèi)部組織和晶體結(jié)構(gòu)】9、問題：下面關(guān)于電鏡分析敘述中正確的是（）選項(xiàng)：A、電鏡只能觀察形貌B、電鏡可觀察形貌、成分分析、結(jié)構(gòu)分析和物相鑒定C、電鏡分析在材料研究中廣泛應(yīng)用，是因?yàn)榉糯蟊稊?shù)高，與分辨率無關(guān)D、電鏡在材料研究中廣泛應(yīng)用，是因?yàn)榉糯蟊稊?shù)高，分辨率高正確答案:【電鏡可觀察形貌、成分分析、結(jié)構(gòu)分析和物相鑒定】10、問題：電子探針的主要功能是進(jìn)行：選項(xiàng)：A、表面形貌分析B、晶體結(jié)構(gòu)分析C、導(dǎo)電性能分析D、微區(qū)成分分析正確答案:【微區(qū)成分分析】11、問題：放大倍數(shù)是判斷顯微鏡性能的根本指標(biāo)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】12、問題：掃描電鏡的二次電子像的分辨率比背散射電子像更高。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】13、問題：掃描電子顯微鏡的襯度和透射電鏡一樣取決于質(zhì)厚襯度和衍射襯度。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】14、問題：掃描電子顯微鏡具有大的景深，所以它可以用來進(jìn)行斷口形貌的分析觀察。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】15、問題：波譜儀是逐一接收元素的特征波長進(jìn)行成分分析；能譜儀是同時(shí)接收所有元素的特征X射線進(jìn)行成分分析的。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】16、填空題：電磁透鏡的像差有、、和。正確答案:【球差、色差、軸上像散、畸變】17、填空題：掃描電子顯微鏡常用的信號(hào)是和.正確答案:【二次電子、背散射電子】18、填空題：透射電子顯微鏡的分辨率主要受和兩因素影響.正確答案:【衍射效應(yīng)、像差】19、填空題：采用透射電鏡觀察超細(xì)粉末的尺寸和形狀，其樣品制備方法主要有兩種，即和。正確答案:【膠粉混合法、支持膜分散粉末法】20、填空題：電子探針的信號(hào)檢測系統(tǒng)是X射線譜儀，用來測定的譜儀叫做波譜儀。用來測的譜儀叫做能量分散譜儀。正確答案:【特征波長、特征能量】21、填空題：電子探針儀的分析方法有定性分析和定量分析。其中定性分析包括、、。正確答案:【定點(diǎn)分析、線分析、面分析】22、填空題：電子顯微鏡的襯度像包括、、。正確答案:【質(zhì)厚襯度、衍射襯度、相位襯度】23、填空題：在電鏡的電子光學(xué)系統(tǒng)中，負(fù)責(zé)將電子槍的束斑逐級(jí)縮小的部件是。正確答案:【電磁透鏡】24、填空題：掃描電鏡圖像的襯度包括、和電壓襯度。正確答案:【形貌襯度、原子序數(shù)襯度】25、填空題：波譜儀和能譜儀中分析元素范圍更寬的是。正確答案:【波譜儀】3.1差熱分析-隨堂測驗(yàn)1、問題：放熱或吸熱的量與差熱峰面積成正比關(guān)系。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】2、問題：差熱分析實(shí)驗(yàn)時(shí)，熱容量大，導(dǎo)熱性差，分析要求較高，則升溫速度應(yīng)快些。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】3、問題：從試樣的差熱曲線上，可獲得試樣吸放熱所發(fā)生的溫度、試樣吸收或放出的熱量的大小等基本信息。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】4、填空題：()是在程序控制溫度下，測量物質(zhì)的物理性質(zhì)與溫度關(guān)系一種技術(shù)。正確答案:【熱分析】5、填空題：()是在程序控制溫度下，測量物質(zhì)和參比物之間的溫度差與溫度關(guān)系一種技術(shù)。正確答案:【差熱分析##%_YZPRLFH_%##DTA】6、填空題：含水化合物在脫水時(shí)都是吸熱反應(yīng)，差熱曲線上出現(xiàn)吸熱峰，水的存在狀態(tài)不同就會(huì)導(dǎo)致吸熱峰的峰型和峰位不同。一般認(rèn)為，水在晶體中的存在狀態(tài)有三種類型，即()、()和()。正確答案:【結(jié)晶水、結(jié)構(gòu)水、層間水】3.2熱重分析-隨堂測驗(yàn)1、問題：DTG曲線是TG曲線對溫度（或時(shí)間）的一階導(dǎo)數(shù)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】2、問題：熱分析時(shí)存在一些基本規(guī)律，如一般認(rèn)為有吸熱反應(yīng)，且伴有失重時(shí)，為分解或脫水過程；有放熱反應(yīng)，且伴有增重時(shí)，為氧化過程。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】3、填空題：()是在程序控制溫度下，測量物質(zhì)的質(zhì)量與溫度關(guān)系一種技術(shù)。正確答案:【熱重法】4、填空題：熱重分析通常有兩種方法，即()和動(dòng)法。正確答案:【靜法】5、填空題：TG熱失重曲線的標(biāo)注常常需要參照DTG曲線，DTG曲線上一個(gè)谷代表一個(gè)失重階段，而拐點(diǎn)溫度顯示的是()最快的溫度。正確答案:【失重】3.3熱膨脹分析-隨堂測驗(yàn)1、問題：物質(zhì)的熱膨脹是基于構(gòu)成物質(zhì)的質(zhì)點(diǎn)間的平均距離隨溫度升高而增大。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】2、問題：對于純金屬而言，一般是熔點(diǎn)越高，膨脹系數(shù)越大。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】3、填空題：物質(zhì)的膨脹系數(shù)可以分為線膨脹系數(shù)與()膨脹系數(shù)。正確答案:【體】4、填空題：熱膨脹系數(shù)是材料的主要物理性質(zhì)之一，它是衡量材料的()好壞的一個(gè)重要指標(biāo)。正確答案:【熱穩(wěn)定性】5、填空題：()在程序控溫條件下，測定試樣尺寸變化與溫度或時(shí)間的關(guān)系的方法。正確答案:【熱膨脹分析】第三章熱分析單元作業(yè)第三章熱分析單元考試1、問題：DTG曲線是TG曲線對溫度（或時(shí)間）的一階導(dǎo)數(shù)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】2、問題：熱分析時(shí)存在一些基本規(guī)律，如一般認(rèn)為有吸熱反應(yīng)，且伴有失重時(shí)，為分解或脫水過程；有放熱反應(yīng)，且伴有增重時(shí)，為氧化過程。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】3、問題：DTG曲線是TG曲線對溫度（或時(shí)間）的一階導(dǎo)數(shù)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】4、問題：對于純金屬而言，一般是熔點(diǎn)越高，膨脹系數(shù)越大。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】5、問題：物質(zhì)的熱膨脹是基于構(gòu)成物質(zhì)的質(zhì)點(diǎn)間的平均距離隨溫度升高而減小。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】6、問題：熱分析時(shí)存在一些基本規(guī)律，如一般認(rèn)為有吸熱反應(yīng)，且伴有失重時(shí)，為分解或脫水過程；有放熱反應(yīng)，且伴有增重時(shí)，為氧化過程。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】7、填空題：差熱分析是在程序控溫條件下，測量樣品坩堝與()坩堝間的溫度差與溫度的關(guān)系的方法。正確答案:【參比】8、填空題：硅酸鹽類樣品在進(jìn)行熱分析時(shí)，不能選用()材質(zhì)的樣品坩堝。正確答案:【剛玉】9、填空題：差示掃描量熱分析根據(jù)所用測量方法的不同，可以分類為熱流型DSC與()型DSC。正確答案:【功率補(bǔ)償】10、填空題：與差熱分析（DTA）的不同，差示掃描量熱分析（DSC）既可以用于定性分析，又可以用于()分析。正確答案:【定量】11、填空題：差熱分析（DTA）需要()校正，但不需要靈敏度校正。正確答案:【溫度】12、填空題：TG熱失重曲線的標(biāo)注常常需要參照DTG曲線，DTG曲線上一個(gè)谷代表一個(gè)失重階段，而拐點(diǎn)溫度顯示的是()最快的溫度。正確答案:【失重】13、填空題：物質(zhì)的膨脹系數(shù)可以分為線膨脹系數(shù)與()膨脹系數(shù)。正確答案:【體】14、填空題：熱膨脹系數(shù)是材料的主要物理性質(zhì)之一，它是衡量材料的()好壞的一個(gè)重要指標(biāo)。正確答案:【熱穩(wěn)定性】15、填空題：()是在程序控制溫度下，測量物質(zhì)的物理性質(zhì)與溫度關(guān)系一種技術(shù)。正確答案:【熱分析】16、填空題：()是在程序控制溫度下，測量物質(zhì)和參比物之間的溫度差與溫度關(guān)系一種技術(shù)。正確答案:【差熱分析】17、填空題：含水化合物在脫水時(shí)都是吸熱反應(yīng)，差熱曲線上出現(xiàn)吸熱峰，水的存在狀態(tài)不同就會(huì)導(dǎo)致吸熱峰的峰型和峰位不同。一般認(rèn)為，水在晶體中的存在狀態(tài)有三種類型，即()、結(jié)構(gòu)水和層間水。正確答案:【結(jié)晶水】18、填空題：熱重分析通常有兩種方法，即靜法和()。正確答案:【動(dòng)法】19、填空題：TG熱失重曲線的標(biāo)注常常需要參照DTG曲線，DTG曲線上一個(gè)谷代表一個(gè)失重階段，而拐點(diǎn)溫度顯示的是()最快的溫度。正確答案:【失重】20、填空題：()在程序控溫條件下，測定試樣尺寸變化與溫度或時(shí)間的關(guān)系的方法。正確答案:【熱膨脹分析】4.1振動(dòng)光譜的基本原理-隨堂測驗(yàn)1、問題：紅外吸收光譜的產(chǎn)生是由于選項(xiàng)：A、分子外層電子振動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的躍遷B、原子外層電子振動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的躍遷C、分子振動(dòng)-轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的躍遷D、分子外層電子的能級(jí)躍遷正確答案:【分子振動(dòng)-轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的躍遷】2、問題：下面分子中能產(chǎn)生紅外光譜的物質(zhì)是選項(xiàng)：A、HeB、O2C、H2D、CO2正確答案:【CO2】3、問題：振動(dòng)光譜是與分子振動(dòng)有關(guān)的光譜，指物質(zhì)因受光的作用，引起分子或原子基團(tuán)的振動(dòng)，從而產(chǎn)生對光的吸收。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】4、問題：紅外吸收光譜用紅外光波的范圍是0.78-1000μm。絕大多數(shù)有機(jī)物和無機(jī)離子的化學(xué)鍵基頻吸收都出現(xiàn)在中紅外區(qū)（2.5-50μm）。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】5、問題：凡極性分析的各種振動(dòng)都是紅外活性的，非極性分子的各種振動(dòng)都不是紅外活性的。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】6、問題：分子的偶極矩在振動(dòng)時(shí)周期地變化，即為紅外活性振動(dòng)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】7、問題：分子偶極矩的大小在振動(dòng)時(shí)周期地變化，必為紅外活性振動(dòng)，反之則不。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】4.2分子振動(dòng)與紅外輻射吸收-隨堂測驗(yàn)1、問題：若C=C鍵的力學(xué)常數(shù)是1.0*10N/cm，則該鍵的振動(dòng)頻率是選項(xiàng)：A、10.2*1013HZB、7.7*1013HZC、5.1*1013HZD、2.6*1013HZ正確答案:【5.1*1013HZ】2、問題：C-O、C-C、C=C、C≡C四種鍵的吸收波數(shù)最高的是選項(xiàng)：A、C-OB、C-CC、C=CD、C≡C正確答案:【C≡C】3、問題：分子振動(dòng)是指分子中化學(xué)鍵的振動(dòng)。分子吸收了特定波長的紅外光輻射后可導(dǎo)致其振動(dòng)能級(jí)的躍遷。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】4、問題：紅外吸收峰的位置取決于各化學(xué)鍵的振動(dòng)頻率。鍵的振動(dòng)頻率與組成化學(xué)鍵的原子的質(zhì)量和化學(xué)鍵的性質(zhì)有關(guān)。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】5、問題：成鍵原子的質(zhì)量越小，吸收峰的波數(shù)就越低。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】6、問題：鍵長越短，鍵能越高，吸收峰所在的波數(shù)也越高。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】4.3紅外光與紅外光譜-隨堂測驗(yàn)1、問題：分子中增加羰基的極性會(huì)使分子中該鍵的紅外吸收帶選項(xiàng)：A、向高波數(shù)方向移動(dòng)B、向低波數(shù)方向移動(dòng)C、不移動(dòng)D、稍有振動(dòng)正確答案:【向低波數(shù)方向移動(dòng)】2、問題：下列說法中不正確的是選項(xiàng)：A、共軛效應(yīng)將改變共價(jià)鍵電子云分布，使鍵力系數(shù)改變從而使振動(dòng)頻率變化。B、鍵應(yīng)力增大，使雙鍵電子云密度增加，譜峰向低頻方向移動(dòng)。C、空間位阻增大將使振動(dòng)困難，導(dǎo)致鍵力系數(shù)增大，最終使譜峰向高頻移動(dòng)。D、氫鍵作用使羥基電子云密度減弱，使頻率低移同時(shí)使峰變寬。正確答案:【鍵應(yīng)力增大，使雙鍵電子云密度增加，譜峰向低頻方向移動(dòng)?！?、問題：隨取代基類型不同，誘導(dǎo)效應(yīng)由吸電子向供電子轉(zhuǎn)變，導(dǎo)致鍵力系數(shù)變化最終使振動(dòng)頻率改變。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】4、問題：紅外光譜圖中可以看出譜帶的數(shù)目、位置、形狀、強(qiáng)度。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】5、問題：被測物的濃度和吸收帶的強(qiáng)度成反比關(guān)系。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【錯(cuò)誤】4.4紅外分光光度計(jì)-隨堂測驗(yàn)1、問題：色散型紅外分光光度計(jì)的檢測器多用選項(xiàng)：A、電子倍增器B、光電倍增管C、高真空熱電偶D、無線電線圈正確答案:【高真空熱電偶】2、問題：一種能作為色散型紅外光譜儀色散原件的材料為選項(xiàng)：A、玻璃B、石英C、鹵化物晶體D、有機(jī)玻璃正確答案:【鹵化物晶體】3、問題：熾熱的氧化鋁棒可以作為紅外輻射光源。選項(xiàng)：A、正確B、錯(cuò)誤正確答案:【正確】4、問題：傅里葉變換紅外光譜儀式是色散型儀器。選項(xiàng)：A、